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        基于拉格朗日插值法的ATS射頻信號(hào)衰減修正研究

        2018-04-25 07:05:58賈建兵杜傳斌
        關(guān)鍵詞:測量信號(hào)

        陳 飛,朱 坤,賈建兵,杜傳斌

        (海軍航空裝備計(jì)量監(jiān)修中心,上海200436)

        自動(dòng)測試系統(tǒng)(Automatic Test System,ATS)是一種集成化程度很高的自動(dòng)測試設(shè)備,為方便其中測試資源的共用及測試資源的輸入/輸出端口與被測單元(Unit Under Test,UUT)的輸入/輸出端口的連接,其硬件上會(huì)大量采用各種低中頻矩陣開關(guān)、高頻開關(guān)、微波開關(guān)及電纜等連接器件[1-8]。然而,這些器件的使用必然引入信號(hào)的衰減,且其衰減量的大小與工作頻率的高低及加工的工藝水平都有很大關(guān)系。這對于ATS中的時(shí)間、頻率信號(hào)、低頻信號(hào)等影響相對較小,一般可忽略不計(jì),但對于射頻信號(hào)電平、微波功率參數(shù)測量的影響卻比較大無法忽略不計(jì)[9-11]。

        國內(nèi)對ATS射頻電平、微波功率信號(hào)的修正大都采用的是固化在測試程序中的定量,隨著ATS中連接器件的老化或者更換,原有的修正值將不再適用,ATS將達(dá)不到原有技術(shù)指標(biāo)、失去原有良好的性能。針對這種情況,目前工程師采用的通常做法是:重新測量連接器件上相關(guān)頻點(diǎn)的衰減值,供每個(gè)測試程序使用。這種做法不但非常耗時(shí)耗力較易出錯(cuò),而且后期的維護(hù)難度也很大。

        為解決上述問題,擬建立一個(gè)連接器件衰減值數(shù)據(jù)庫,其中數(shù)據(jù)即為利用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測得的連接器件相應(yīng)頻段內(nèi)的衰減值,供拉格朗日插值得到測試程序所需的相應(yīng)頻點(diǎn)衰減,從而實(shí)現(xiàn)對射頻信號(hào)衰減的修正。該方法可在保證修正值準(zhǔn)確度的前提下既減少工作量又能很大程度上降低系統(tǒng)后期維護(hù)難度。

        1 問題分析

        ATS中的頻、微波類的測試資源到UUT往往需要經(jīng)過連接電纜、高頻開關(guān)和微波開關(guān)等中的一個(gè)或幾個(gè)。例如,某型ATS中無線電綜測儀到被測電臺(tái)經(jīng)過了電纜01、單刀六擲微波開關(guān)和電纜02,如圖1所示。測試資源和UUT間傳輸?shù)纳漕l、微波類信號(hào)的衰減同時(shí)和傳輸路徑、信號(hào)頻率以及使用時(shí)間相關(guān)。

        逐個(gè)測量傳輸路徑每一個(gè)測試需求頻點(diǎn)的衰減值是一個(gè)費(fèi)時(shí)費(fèi)力也容易出錯(cuò)的工作,使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀能一次性測量某頻段內(nèi)的衰減值并能得到一個(gè)可以直接導(dǎo)入數(shù)據(jù)庫的測試數(shù)據(jù)文檔,既可以減少很多的工作量又可以減少出錯(cuò)。

        矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可以測傳輸路徑單個(gè)頻點(diǎn)的衰減值,也可以一次測得一個(gè)頻段的衰減值。單個(gè)頻點(diǎn)測量時(shí),可以得到需求頻點(diǎn)上的衰減值,但同樣存在操作和數(shù)據(jù)使用上的困難。頻段衰減測量時(shí),工程師需要給出起始和終止頻點(diǎn)及采樣點(diǎn)數(shù),儀器會(huì)自動(dòng)按照采樣點(diǎn)數(shù)在相應(yīng)的頻段內(nèi)等間隔線性平均采樣。

        所以,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的采樣頻率間隔受采樣點(diǎn)數(shù)和起止頻率的影響。固定頻段,增加采樣點(diǎn)數(shù)可以減小采樣間隔。但采樣點(diǎn)數(shù)并不能任意增加,其選擇受儀器性能和開機(jī)校準(zhǔn)的制約。固定采樣點(diǎn)數(shù),縮短采樣頻段也可以減少采樣間隔,這樣勢必會(huì)增加工作量及測試數(shù)據(jù),會(huì)使數(shù)據(jù)庫變得臃腫,增大測試程序數(shù)據(jù)查詢的時(shí)間[12-13]。

        由此便產(chǎn)生了一個(gè)問題:矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀采得的數(shù)據(jù)并不能包含ATS所有測試需求頻點(diǎn)。將這一問題抽象到數(shù)學(xué)上就是求過已知數(shù)據(jù)點(diǎn)近似函數(shù)的問題,即插值問題??紤]到所研究的問題實(shí)際上又是一個(gè)恰好穿過二維平面上若干已知點(diǎn)的多項(xiàng)式函數(shù),正是拉格朗日插值多項(xiàng)式[14-17]。所以,本文將采用格朗日插值算法來解決ATS射頻信號(hào)衰減修正問題。

        2 算法描述

        使用拉格朗日多項(xiàng)式插值求測試通路上各頻點(diǎn)衰減的具體步驟如下。

        1)使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀掃描ATS中某個(gè)射頻、微波類信號(hào)傳輸電纜所用頻段[a,b]內(nèi)m+1個(gè)不同頻點(diǎn)(X=[c0,c1,c2,…,cm]且c0<c1<c2<…<cm)上相應(yīng)測試資源到UUT的衰減值(Y=[d0,d1,d2,…,dm])及UUT到測試資源的衰減值(Y1=[e0,e1,e2,…,em]),不妨設(shè)用戶將使用的頻點(diǎn)集為X1=[f0,f1,f2,…,fl]。

        2)當(dāng)fi∈X?X1時(shí),則

        3)當(dāng)fi?X,在X中取n+1個(gè)連續(xù)點(diǎn),X2=[x0,x1,x2,…,xn],X2?X及 相 應(yīng) 的 衰 減 值Y2=[y0,y1,y2,…,yn] ,Y2?Y和Y3=[y′0,y′1,y′2,…,yn] ,Y3?Y1,在實(shí)際運(yùn)用中,綜合考慮計(jì)算速度和矩陣求解運(yùn)算精度,需使X2滿足且值最小。然后對X2進(jìn)行歸一化處理。

        ① 當(dāng)yi=y′i(i=0,1,2,…,n)時(shí),設(shè)過 ( )x0,y0,的n次多項(xiàng)式各系數(shù)則有:

        記式(2)系數(shù)矩陣為A,則有

        式(3)為范德蒙特行列式,且x0<x1<x2<…<xn。所以,式(1)有唯一解,即由式(1)可解得多項(xiàng)式系數(shù)a0,a1,a2,…,an的唯一值。進(jìn)而可得在頻點(diǎn)fi處的衰減值為:

        式(4)中,gi=fi/xn為fi的歸一化值。

        ② 當(dāng)yi≠y′i(i=0,1,2,…,n)時(shí),根據(jù)1)可解頻點(diǎn)fi處的衰減值zi,另外,設(shè)過(xn,y′n)的n次多項(xiàng)式各系數(shù)a′0,a′1,a2,…,a′n,同理由式(4)可解頻點(diǎn)fi處的衰減值z′i。

        3 算例驗(yàn)證及分析

        以圖1超短波電臺(tái)輸入輸出電平信號(hào)的測試為例,即該ATS需測試超短波電臺(tái)頻率范圍為60 MHz~1 GHz范圍內(nèi)的電平信號(hào)。使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(型號(hào)為 AgilentN5225A)在頻段 10 MHz~1.05 GHz內(nèi)等間隔掃描測試通道210個(gè)點(diǎn)的衰減值如圖2所示。

        圖2 測試通路的電平衰減Fig.2 Power attenuation of test path

        工程師在一個(gè)測試項(xiàng)目中需要測試超短波電臺(tái)在頻點(diǎn) 62 MHz、100 MHz、200 MHz、500 MHz、1 GHz處的電平值。

        根據(jù)本例的需求只需要計(jì)算62 MHz、100 MHz、200 MHz、500 MHz、1 GHz處從UUT到測試資源衰減值。以62 MHz頻點(diǎn)為例,其計(jì)算過程如下:比較矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀掃描的頻點(diǎn)中不包含62 MHz點(diǎn),則根據(jù)算法第三步選擇使用的已知10個(gè)頻點(diǎn)及衰減值如表1所示。表1中,S12為UUT到測試資源衰減值。進(jìn)而由式(2)求得9次多項(xiàng)式的各系數(shù)如表2所示。進(jìn)而根據(jù)式(4)計(jì)算可得62 MHz衰減值-0.733dB。

        表1 所選頻點(diǎn)上的衰減Tab.1 Attenuation of designated frequency

        表2 多項(xiàng)式各系數(shù)Tab.2 Coefficients of polymerization

        同理,可計(jì)算得到其他所需頻點(diǎn)的衰減插值。同時(shí),使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀逐點(diǎn)對相應(yīng)衰減值進(jìn)行測量。計(jì)算值(“計(jì)”)與實(shí)測值(“測”)如表3所示。

        表3 計(jì)算值和測試值對比Tab.3 Comparison between calculation and test

        實(shí)際工程應(yīng)用中,對超短波電臺(tái)電平測試只需要精確到0.1dB。所以,通過表3比較可知,該算法很好地解決了ATS射頻信號(hào)在所需頻點(diǎn)的衰減修正問題。

        4 結(jié)論

        為解決ATS測量中射頻信號(hào)衰減的修正和后期維護(hù)較為復(fù)雜的問題,研究利用通路已知頻點(diǎn)衰減值,使用拉格朗日插值計(jì)算所需頻點(diǎn)衰減值的方法,并通過算例驗(yàn)證了該算法的可行性。使用該算法不僅可以方便、統(tǒng)一地修正ATS中射頻信號(hào)測量衰減,還能通過軟件簡單地實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的后期維護(hù),并且可以為微波段測量通路衰減插值的研究提供一定的借鑒。

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