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        基于相關(guān)性分析的個(gè)性化實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目自動(dòng)生成系統(tǒng)*

        2018-03-12 08:51:36呂夢平冷愛蓮鐘舒陽
        關(guān)鍵詞:效率實(shí)驗(yàn)模型

        呂夢平, 冷愛蓮, 段 斌, 鐘舒陽, 章 兢

        (1.湘潭大學(xué) 信息工程學(xué)院,湖南 湘潭 411105 2. 德州儀器半導(dǎo)體技術(shù)(上海)有限公司,上海 200120)

        2016年,我國正式成為《華盛頓協(xié)議》締約成員國,國內(nèi)高校開始對教育體制進(jìn)行改革,按照國際標(biāo)準(zhǔn)培養(yǎng)工科類學(xué)生,提高未來工程技術(shù)人才的質(zhì)量.在電力電子課程教學(xué)過程中,課程實(shí)驗(yàn)體現(xiàn)了理論與實(shí)踐的結(jié)合,是檢驗(yàn)學(xué)生對理論知識的掌握程度,培養(yǎng)學(xué)生實(shí)踐能力的重要環(huán)節(jié)[1-2].在傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)教學(xué)過程中,整班學(xué)生通常只做同樣的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目.這樣的模式存在很大的不足,教師不能根據(jù)學(xué)生的薄弱環(huán)節(jié),針對性的給學(xué)生分配實(shí)驗(yàn).這樣,一方面教師不能達(dá)到預(yù)期教學(xué)效果,另一方面學(xué)生的薄弱環(huán)節(jié)得不到加強(qiáng)訓(xùn)練,已經(jīng)掌握的環(huán)節(jié)卻被反復(fù)訓(xùn)練,造成精力浪費(fèi).

        文獻(xiàn)[3]分析了電力電子課程實(shí)驗(yàn)的作用以及重要性.文獻(xiàn)[4-5]提出了對教學(xué)實(shí)驗(yàn)改革的建議,但僅針對實(shí)驗(yàn)方法,實(shí)驗(yàn)過程,實(shí)驗(yàn)結(jié)果等方面,不能針對性地培養(yǎng)學(xué)生的能力.基于相關(guān)性分析的個(gè)性化項(xiàng)目自動(dòng)生成系統(tǒng),教師只需在系統(tǒng)中選擇相應(yīng)的性能指標(biāo),系統(tǒng)將會給出相關(guān)的個(gè)性化題目,保證每個(gè)學(xué)生拿到的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目都是根據(jù)自身情況而設(shè)計(jì)的.學(xué)生依據(jù)電源相關(guān)知識,自主設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn),并進(jìn)行一系列的測試,分析解釋數(shù)據(jù)并得到有效結(jié)論,從而加強(qiáng)訓(xùn)練了自己的薄弱環(huán)節(jié).

        本文針對當(dāng)今電力電子教學(xué)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目較少,學(xué)生不能根據(jù)自身情況針對性的做實(shí)驗(yàn)等問題,研究并分析了PMLK中各實(shí)驗(yàn)間約束關(guān)系;然后,通過WEBENCH仿真得到數(shù)據(jù),再利用SPSS軟件對電源的各因素與性能指標(biāo)進(jìn)行了相關(guān)性分析;最后,采用Java語言開發(fā)了個(gè)性化項(xiàng)目自動(dòng)生成系統(tǒng),并以自動(dòng)生成的項(xiàng)目——負(fù)載電流對效率的影響分析及優(yōu)化設(shè)計(jì)為例,通過設(shè)計(jì)電路并測試,證明了生成的項(xiàng)目是可行的.

        1 開關(guān)電源設(shè)計(jì)認(rèn)知模型設(shè)計(jì)

        1.1 開關(guān)電源設(shè)計(jì)認(rèn)知模型

        在開發(fā)項(xiàng)目生成系統(tǒng)之前,需要構(gòu)建一個(gè)電源設(shè)計(jì)的系統(tǒng)模型,為系統(tǒng)提供一個(gè)模板,PMLK是美國德州儀器公司針對其大學(xué)計(jì)劃而設(shè)計(jì)的一款電源管理實(shí)驗(yàn)套件,它代表著電源領(lǐng)域的專家知識,本身也是一個(gè)典型的復(fù)雜工程問題[6].在分析PMLK中的每個(gè)實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)上,構(gòu)建出了一個(gè)開關(guān)電源設(shè)計(jì)的認(rèn)知模型.

        開關(guān)電源設(shè)計(jì)認(rèn)知模型如圖1所示,該模型是將內(nèi)容按特定信息組織成結(jié)構(gòu)化的表示形式,表示設(shè)計(jì)者如何思考和解決測試問題.它包含三種類型的數(shù)據(jù):問題與場景,信息源和特征.這三種數(shù)據(jù)類型在認(rèn)知模型中被分為三個(gè)獨(dú)立的層次.中間層次指定了相關(guān)的信息來源,信息來源可具體到一個(gè)特定的問題也可以是通用問題,從而適用于許多類型的問題或場景.第三層突出了項(xiàng)目顯著特征,其中包括元素和約束條件.元素包含于約束關(guān)系當(dāng)中,可以為題目指定內(nèi)容.約束關(guān)系的作用是在內(nèi)容組建的過程中加以限制,以確保生成有意義的項(xiàng)目[7-8].

        1.2 實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目間的約束關(guān)系

        在認(rèn)知模型的第三層,需要給出實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目生成設(shè)置規(guī)則,目的在于確保生成實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目的有效性和可靠性[9-10],此規(guī)則就是所謂的約束關(guān)系.依據(jù)電源復(fù)雜工程問題的特征,即多因素之間有沖突,彼此之間有約束,文章基于PMLK挖掘出了各個(gè)實(shí)驗(yàn)之間的相互約束關(guān)系,總結(jié)出一張約束關(guān)系表.因約束關(guān)系表篇幅過長,此處只列出部分約束關(guān)系,如表1所示.

        表1 部分實(shí)驗(yàn)之間的相互約束關(guān)系

        注:其中如“21”表示實(shí)驗(yàn)2對實(shí)驗(yàn)1的約束關(guān)系,以此類推.

        21: 輸入電容Cin、輸出電容Cout有功率損耗,所以Cin、Cout對效率有影響,紋波對效率也有影響.

        12: 負(fù)載電流、開關(guān)頻率改變會對輸入電流紋波有影響,輸入電流紋波與負(fù)載電流成正比,與開關(guān)頻率成反比.

        31:開關(guān)頻率對功率組件有損耗,所以設(shè)置開關(guān)頻率的同時(shí)會對效率有影響.

        13:輸入電壓對負(fù)載暫態(tài)響應(yīng)有影響,輸入電壓越大負(fù)載暫態(tài)響應(yīng)就越差.

        32:設(shè)置開關(guān)頻率對電感電流紋波有重大影響,頻率越高紋波越小.

        23:開關(guān)頻率和輸出電壓都會對負(fù)載暫態(tài)響應(yīng)有影響.

        1.3 信息源數(shù)據(jù)產(chǎn)生

        表1已經(jīng)給出各實(shí)驗(yàn)之間的相互約束關(guān)系,但僅是一種宏觀的表示方法.需將這些約束關(guān)系轉(zhuǎn)換成數(shù)據(jù)的形式,作為圖1中第二層的信息源.信息源中的數(shù)據(jù)通過在WEBENCH中搭建電源仿真系統(tǒng),并經(jīng)實(shí)驗(yàn)測試仿真得到,部分?jǐn)?shù)據(jù)如表2所示.

        表2 WEBENCH仿真數(shù)據(jù)

        1.4 皮爾遜相關(guān)性分析

        基于PMLK電路中各實(shí)驗(yàn)之間的約束關(guān)系,將信息源中的數(shù)據(jù),通過皮爾遜相關(guān)性分析得到各因素與性能指標(biāo)間的關(guān)聯(lián)度.相關(guān)性計(jì)算方法為,設(shè)兩個(gè)變量X和Y,這兩個(gè)變量之間的皮爾遜相關(guān)系數(shù)可定義為兩個(gè)變量之間的協(xié)方差和標(biāo)準(zhǔn)差的商,即

        (1)

        (2)

        式中:E,μ表示數(shù)學(xué)期望,即均值;σ表示標(biāo)準(zhǔn)差;cov表示協(xié)方差[11-12].

        基于仿真數(shù)據(jù),采用SPSS軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,得到各因素與性能指標(biāo)之間的皮爾遜系數(shù)表,如表3所示.

        表3 各因素與性能指標(biāo)之間的相關(guān)性系數(shù)表

        表3中的數(shù)字為皮爾遜相關(guān)系數(shù),一般地,0.8

        2 基于貝葉斯心理測量模型的認(rèn)知診斷

        貝葉斯心理測量模型是一種以證據(jù)為中心(ECD)的評估模式,包括熟練度模型、任務(wù)模型和證據(jù)模型[13].基于貝葉斯心理測量模型的認(rèn)知診斷方法可以評估出學(xué)生對電源涉及的各個(gè)知識點(diǎn)的掌握情況,評估結(jié)果為教育者提供參考.教育者根據(jù)學(xué)生對知識點(diǎn)的掌握情況,利用項(xiàng)目自動(dòng)生成系統(tǒng)生成針對性的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目給學(xué)生,幫助學(xué)生加強(qiáng)訓(xùn)練.

        2.1 電源設(shè)計(jì)ECD框架

        開關(guān)電源中的ECD框架體系由熟練度模型、證據(jù)模型和任務(wù)模型構(gòu)成,如圖2所示.其中,熟練度模型依據(jù)電源復(fù)雜工程問題特征點(diǎn)、工程教育專業(yè)認(rèn)證華盛頓協(xié)議知識和能力要求、CDIO教學(xué)大綱等三種工程教育標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)建,它們代表了與學(xué)生掌握的知識、技能等密切相關(guān)的潛在變量,可根據(jù)情況分為不同的等級;證據(jù)模型表征了學(xué)生與電源本身的關(guān)鍵特征,為熟練度模型提供證據(jù),并依據(jù)貝葉斯網(wǎng)絡(luò)推理知識得到證據(jù)模型中潛在變量達(dá)成的概率;任務(wù)模型是一種通用框架,用于設(shè)計(jì)符合熟練度模型中某些證據(jù)要求的任務(wù),每個(gè)任務(wù)是任務(wù)模型的實(shí)例化[14].任務(wù)模型描述了應(yīng)該設(shè)計(jì)什么樣的實(shí)驗(yàn)任務(wù)來獲得證據(jù)模型中所需要的證據(jù).

        2.2 貝葉斯網(wǎng)絡(luò)推理

        學(xué)生的能力受多方面的因素影響并且是不可觀測量,貝葉斯網(wǎng)絡(luò)具有強(qiáng)大的不確定性事件處理能力,通過貝葉斯推理可將學(xué)生的能力以概率的形式表征[15-16].

        在圖2的熟練度模型中,設(shè)熟練度模型變量θ受λ參數(shù)的影響,可觀測量X受η參數(shù)的影響,其中λ,η為超參數(shù).似然概率分布集記為π,根據(jù)這些參數(shù)與變量間的獨(dú)立性,它們的聯(lián)合概率分布為

        P(λ,η,θ,π,X)=p(λ)×p(θ|λ)×p(η)×p(π|η)×p(X|π,θ).

        (3)

        首先依據(jù)學(xué)生的平時(shí)測驗(yàn)成績確定學(xué)生對各個(gè)知識點(diǎn)掌握的概率,再確定熟練度變量與參數(shù)的先驗(yàn)概率及似然概率,貝葉斯推理的目標(biāo)是求解觀測到X值的條件下,其他參數(shù)與變量的后驗(yàn)概率,即

        P(λ,η,θ,π|X)∝p(X|π,θ)×p(θ|λ)×p(λ)×p(π|η)×p(η),

        (4)

        式中,P(λ,η,θ,π|X)是不可觀測參數(shù)和變量的后驗(yàn)概率分布.

        其中,似然概率由心理學(xué)測量理論等級反應(yīng)模型確定,即

        P(Xij≥k)=logit-1(aj(θi-bjk)),

        (5)

        式中:aj為總?cè)蝿?wù)中第j個(gè)任務(wù)的區(qū)分度;bjk為第j個(gè)任務(wù)的等級k的難度.在任務(wù)j中評估熟練度等級為k的似然概率為

        P(Xij=k)=P(Xij≥k)-P(Xij≥k+1).

        (6)

        任務(wù)模型中觀測和計(jì)算的證據(jù),即可觀測變量,需經(jīng)貝葉斯推理方法得到知識與能力掌握程度的概率,即

        (7)

        式中:θ表示熟練度模型變量;X表示可觀測變量;p(θ)指學(xué)生熟練度變量的先驗(yàn)概率;p(X|θ)反映了在給定的熟練度θ情況下可觀測量X的可信度,即似然概率;p(X)指標(biāo)準(zhǔn)化常量,指在θ取遍所有可能值的條件下得到可觀測值X的概率的平均值;p(θ|X)表示觀測到數(shù)據(jù)X后的熟練度變量θ的后驗(yàn)概率.

        在具體實(shí)施中,通過一套試卷的考試或工具軟件的仿真,或者對前一階段實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的收集,完成認(rèn)知診斷,找出知識或能力的弱項(xiàng),服務(wù)于個(gè)性化的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目自動(dòng)生成.因篇幅所限,該部分具體內(nèi)容將由另外的論文介紹.

        3 實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目自動(dòng)生成系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

        3.1 系統(tǒng)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)流程

        智能系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)流程如圖3所示,智能系統(tǒng)的設(shè)計(jì)目的是自動(dòng)生成實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目,它是使用計(jì)算機(jī)技術(shù)通過算法生成項(xiàng)目的過程.基本思路是:在系統(tǒng)輸入界面選擇研究電源的指標(biāo),計(jì)算機(jī)基于表3中的皮爾遜系數(shù),依次查詢每項(xiàng)研究指標(biāo)與外部條件的關(guān)聯(lián)程度,輸出查詢結(jié)果.系統(tǒng)將系數(shù)表中的皮爾遜系數(shù)大于某個(gè)閾值時(shí)對應(yīng)的約束條件篩選出來,作為內(nèi)容生成新的個(gè)性化項(xiàng)目.

        3.2 系統(tǒng)功能實(shí)現(xiàn)結(jié)果

        智能系統(tǒng)在Eclipse開發(fā)環(huán)境中采用Java語言編寫實(shí)現(xiàn).其系統(tǒng)輸入界面如圖4所示.例如,教師只需在輸入界面選擇“效率”指標(biāo).系統(tǒng)基于皮爾遜相關(guān)性系數(shù)表查詢得出負(fù)載電流,輸出電容等效電阻,開關(guān)頻率這三個(gè)因素對效率的影響最大.此時(shí),系統(tǒng)中的隨機(jī)函數(shù)隨機(jī)選擇其中一個(gè)因素來生成個(gè)性化項(xiàng)目.項(xiàng)目生成情況如圖5所示.

        4 實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目可靠性分析

        4.1 電路設(shè)計(jì)

        為了驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)生成項(xiàng)目的正確性,文章以系統(tǒng)生成的項(xiàng)目“負(fù)載電流對效率的影響分析及優(yōu)化設(shè)計(jì)”為例,根據(jù)題目設(shè)計(jì)電路,通過對設(shè)計(jì)出的電路進(jìn)行仿真和實(shí)物測試來證明生成的項(xiàng)目有效可靠.以TPS54160為核心控制器,PCB實(shí)物制作和外圍電路原理圖設(shè)計(jì)如圖6和圖7所示.

        4.2 數(shù)據(jù)結(jié)果分析

        在設(shè)計(jì)出的PCB實(shí)物上進(jìn)行效率測試,通過理論計(jì)算,實(shí)驗(yàn)可以得到不同負(fù)載電流下對應(yīng)的效率,實(shí)際效率通過ηexp=Pout/Pin得到,其中Pout=IoutUout,Pin=IinUin.理論效率通過ηtheo=(Ptotal-Ploss)/Pin得到,Ptotal是總功率,Ploss是理論損耗功率,理論損耗功率計(jì)算公式如下:

        (1) 傳導(dǎo)損耗:

        (8)

        (9)

        D′=1-D.

        (10)

        (2) 開關(guān)損耗:

        PMOS,SW=VinIoutfstsw.

        (11)

        (3) 柵極驅(qū)動(dòng)損耗:

        PMOS,g=QgVdrfs.

        (12)

        (4) IC電流感應(yīng)損耗:

        (13)

        (5) 電感繞組損耗:

        (14)

        (6) 電感磁芯損耗:

        PL,C=K1fxs(K2Δipp)V.

        (15)

        (7) 輸入電容損耗:

        (16)

        (8) 輸出電容損耗:

        (17)

        (9) IC偏置:

        PIC=VinIμ.

        (18)

        定義:Ts為開關(guān)周期;tON為MOSFET導(dǎo)通時(shí)間;fs=1/Ts為開關(guān)頻率;D=MOSFET占空比:

        tON/Ts=Vout/Vin.

        (19)

        RS=MOSFET 為導(dǎo)通電阻;Qg=MOSFET 柵極電荷;Ts=MOSFET 開關(guān)時(shí)間;Vf=二極管正向壓降;L=電感值;ESRL=電感等效串聯(lián)電阻;ESRCin=輸入電容等效串聯(lián)電阻;ESRout=輸出電容等效串聯(lián)電阻;Iu=控制器靜態(tài)電流;Vdr= MOSFET 柵極驅(qū)動(dòng)器電壓.

        電感電流紋波:

        Δipp=VoutD′/(fs·L).

        (20)

        電感紋波系數(shù):

        αpp=1+(ΔiLpp/Iout)2/12.

        (21)

        通過理論計(jì)算,實(shí)驗(yàn)得到的效率的數(shù)據(jù)如表4所示.

        因上述損耗計(jì)算公式中的部分參數(shù)與元件的型號,工藝和廠家等因素有關(guān),所以在理論損耗計(jì)算過程中會存在誤差,但表4中的數(shù)據(jù)表明理論效率大于實(shí)際效率,已能夠說明問題.

        表4 理論和實(shí)驗(yàn)的效率數(shù)據(jù)

        從表中數(shù)據(jù)可看到實(shí)驗(yàn)效率要比理論效率低,因?yàn)閷?shí)際效率受PCB布線阻抗,環(huán)境溫度,以及測量儀器誤差等因素的影響.通過對表4的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,表明基于自動(dòng)生成的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目而設(shè)計(jì)出的電路是可用的,進(jìn)而說明實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目具有較高的正確性和可靠性.

        5 結(jié)論與展望

        本文從工程教育背景出發(fā),基于貝葉斯心理測量的方法診斷出學(xué)生對知識點(diǎn)的掌握情況,再開發(fā)出一套個(gè)性化項(xiàng)目自動(dòng)生成系統(tǒng),此系統(tǒng)可以幫助教育者結(jié)合學(xué)生實(shí)際情況,為其生成個(gè)性化的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目,針對學(xué)生的薄弱環(huán)節(jié)進(jìn)行加強(qiáng)訓(xùn)練及鞏固,此方法具有較高的研究意義.

        現(xiàn)階段的智能系統(tǒng),還有很大的提升空間,例如在生成項(xiàng)目的支持度方面需要更多的電源領(lǐng)域知識和約束關(guān)系,來構(gòu)建更大更全的皮爾遜系數(shù)表,這樣就可以生成更多更精確的題目.此方法還可擴(kuò)展到其他工程專業(yè)領(lǐng)域.

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