王 群 李雄魁 路志峰 黎漢華 周江帆
(1.北京宇航系統(tǒng)工程研究所,北京 100076; 2.北京強度環(huán)境研究所,北京 100076)
殼段結(jié)構(gòu)是火箭系統(tǒng)中連接發(fā)動機、提供儀器安裝的重要組成部分,需要承受飛行過程中較大的載荷。新設計的火箭殼段結(jié)構(gòu)一般都要進行靜力試驗,以校核結(jié)構(gòu)的應力、應變、位移等狀態(tài)。目前殼段結(jié)構(gòu)的靜力試驗主要以電測法的形式獲取相關(guān)參數(shù)。電測法是借助電阻傳感器來獲得被測物體表面的應力或應變值,該方法是一種接觸式測量,被測量試件有一定的剛度要求,只能針對貼片位置進行點測量,在具體應用上存在較大的局限性,如測量范圍有限,復雜位置或因空間限制而無法測量,受環(huán)境溫度及應變片靈敏度影響需要考慮溫度補償,此外還存在導線多、工序復雜、效率低等一系列問題。尤其對于越來越精細化的殼段結(jié)構(gòu)設計,往往期望獲得覆蓋面較廣的測量數(shù)據(jù),減少測量誤差,而這種電阻應變測量的方法越來越無法滿足箭體結(jié)構(gòu)靜力試驗的使用要求,因此需要引入一種新型的殼段應力-應變測量方法,即基于數(shù)字散斑相關(guān)的光學測量方法,以滿足結(jié)構(gòu)精細化分析與設計要求。
數(shù)字散斑相關(guān)方法(Digital speckle correlation method,DSCM)是在 20 世紀 80 年代被提出的光力學測量技術(shù),通過對變形前后結(jié)構(gòu)表面的兩幅散斑圖進行相關(guān)處理來實現(xiàn)結(jié)構(gòu)變形場的測量[1],具有非接觸、全場測量、高測量靈敏度、物體表面局部精細化、高精度的特點,可以彌補傳統(tǒng)測量方法在結(jié)構(gòu)件變形較大、材質(zhì)較軟、間隙測量、結(jié)構(gòu)件尺寸小、應力集中等方面的不足[2,3]。
光學測量系統(tǒng)具備以下測量能力:
1)實現(xiàn)物體表面全場、非接觸、大變形測量;
2)實現(xiàn)物體表面局部精細化、高精度的測量;
3)實現(xiàn)大結(jié)構(gòu)件空間點三維坐標測量。
近年來,隨著 DSCM 理論體系的不斷發(fā)展,該方法以其良好的環(huán)境適應性,已經(jīng)成為現(xiàn)代光學非接觸測量的重要方法,在力學、材料性能領(lǐng)域的位移和應變測量已經(jīng)獲得了很大的成功,其應用領(lǐng)域仍在不斷地拓展。
數(shù)字散斑相關(guān)測量方法主要通過圖像采集(CCD攝像機)、圖像數(shù)字化,記錄物體在不同變形時刻或者不同變形狀態(tài)的兩幅散斑圖,通過模擬-數(shù)字的轉(zhuǎn)換得到數(shù)字灰度場,然后通過相關(guān)計算,得到相關(guān)系數(shù)極值點,即根據(jù)物體變形前后散斑場的互相關(guān)性來獲取物體的位移和變形的信息。
數(shù)字圖像相關(guān)方法是在變形前的散斑圖中,取以待求點(x,y)為中心的(2M+1)×(2M+1)的矩形圖像子區(qū),在變形后的目標散斑圖像中通過一定的搜索方法,并通過某一相關(guān)函數(shù)進行相關(guān)運算,尋找與變形前所取矩形子區(qū)相關(guān)系數(shù)為最大值的以點(x*,y*)為中心的(2M+1)×(2M+1)目標矩形區(qū)域,從而確定參考散斑圖像子區(qū)的整像素位移。
從數(shù)學上建立衡量圖像相似程度的標準,這個標準可選用樣本子區(qū)中與目標子區(qū)的互相關(guān)系數(shù),一般可定義互相關(guān)系數(shù)為[4]
(1)
式中:X——待求的12個自變量,自變量μ,ν是所選樣本子區(qū)中心點的位移,其余自變量為位移的一階和二階導數(shù);f(x,y)——樣本子區(qū)中某一點(x,y)的灰度;g(x*,y*)——目標子區(qū)與(x,y)對應的那一點(x*,y*)的灰度,樣本子區(qū)和目標子區(qū)中各點的聯(lián)系由下式表示
(2)
針對箭體殼段結(jié)構(gòu)的地面靜力試驗,引入數(shù)字散斑光學測量方法,對局部較復雜區(qū)域應變、位移等情況的監(jiān)測,以期解決因空間限制無法粘貼應變片,受環(huán)境溫度及應變片靈敏度影響測量結(jié)果,無法獲取全場應變等難題,試驗裝置示意圖如圖 1所示。
測量位置位于兩個艙段連接面。由于被測結(jié)構(gòu)區(qū)域為雙錐形曲面,坐標系選擇上殼段對接面中間點切面為XOY平面,X軸方向水平向右,Y軸方向豎直向上,Z軸由右手定則確定。整個測量歷程為零載荷到使用載荷過程。
使用載荷下Y向位移數(shù)據(jù)如圖 2所示,其中云圖區(qū)域為測量區(qū)域。
由圖2可知,殼段組合體被測兩個區(qū)域的Y向變形并不一致,體現(xiàn)為云圖出現(xiàn)色階跳躍現(xiàn)象,其所測最大位移量為9.63mm。分析對接面兩點的位移歷程曲線可得兩殼段對接面間隙增長情況,即兩點的位移差為9.45-3.8=5.65mm。
從圖 3來看,上殼體測試區(qū)變形較為均勻,且應變較小,均不超過1 000微應變。下殼體區(qū)域由于結(jié)構(gòu)為裝配體,應變分布較為復雜。其中Y向應變分布集中在測試區(qū)域下部,應變不超過1 800微應變,X向應變主要集中在誘餌艙上端框區(qū)域,最大應變不超過4900微應變。
從光學測量的位移和應變分析結(jié)果看,光測數(shù)據(jù)和常規(guī)靜力試驗應變片測量試驗數(shù)據(jù)一致性較好。
本文針對傳統(tǒng)的箭體殼段結(jié)構(gòu)靜力試驗數(shù)據(jù)測量方法,提出了基于數(shù)字散斑技術(shù)的光學測量方法,該方法與傳統(tǒng)測試方法相比具有明顯優(yōu)勢。
(1)光學測量方法實現(xiàn)了非接觸測量,不再局限于結(jié)構(gòu)形式和空間,能夠獲取復雜表面的全應變場數(shù)據(jù),并且簡化了傳統(tǒng)測量方法繁瑣的工序,縮短了測量時間,提高了試驗效率。
(2)傳統(tǒng)的電測法受設備限制最多能夠允許500個測量通道,對于大型復雜殼段結(jié)構(gòu),數(shù)據(jù)點的覆蓋性較差,而光學測量方法數(shù)據(jù)更加精細化和全面化,覆蓋了整個掃描到的面場,試驗數(shù)據(jù)和有限元計算結(jié)果能夠相互驗證,從而進一步修正有限元計算結(jié)果,為有限元計算提供數(shù)據(jù)庫儲備。
[1] 王懷文,亢一瀾,謝和平.數(shù)字散斑相關(guān)方法與應用研究進展[J].力學進展,2005,35(2):195~203.
[2] 李明,張玨,溫茂萍等.數(shù)字散斑相關(guān)技術(shù)及其應用[J].信息與電子工程,2005.3(1):36~39.
[3] 郭海鴻,李曉星.非接觸應變測量的數(shù)字散斑相關(guān)方法的研究[J].現(xiàn)代制造工程,2007, 11:96~98.
[4] Devore J L, Farnum N R.Applied Statistics for Engineers and Scientists. Pacific Grove, Calif.:Duxbury Press ,1999.