劉旭+應(yīng)學(xué)謙
摘 要:闡述高密度電法勘探的基本原理。目前高密度電法主要用于淺表找水、巖溶勘察、公路鐵路勘察。本文通過一應(yīng)用實(shí)例來說明高密度電法在巖溶勘察中的應(yīng)用效果。
關(guān)鍵詞:高密度電法;巖溶勘察;應(yīng)用
DOI:10.16640/j.cnki.37-1222/t.2017.08.222
1 高密度電法工作原理
通過地表往地下通入電流,建立起人工電場,通過測量電場在地表的分布狀態(tài),多參數(shù)測量計(jì)算出巖層的電阻率,所測數(shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī)經(jīng)專業(yè)軟件處理,反演出視電阻率剖面圖,根據(jù)反演剖面圖確定地下地質(zhì)情況。分析這些巖層電阻率的變化,間接了解地層巖性及地質(zhì)構(gòu)造。本次高密度電法工作選擇溫納裝置,跑極方式采用每次單根電纜移動(dòng)的滾動(dòng)方式。在水平方向采用小極距進(jìn)行數(shù)據(jù)采集外,同時(shí)采用不同的隔離系數(shù)以研究地質(zhì)體垂向電性變化,兼?zhèn)潆娖拭娣半姕y深法。
2 高密度電法工作應(yīng)用實(shí)例
(1)地質(zhì)概況。測區(qū)出露地層巖性主要為:石炭系中統(tǒng)黃龍組白云質(zhì)灰?guī)r、白云巖,分布于測區(qū)西北部;石炭系上統(tǒng)船山組石灰?guī)r,主要分布于測區(qū)中部呈北東向展布;第三系紅砂巖,分布于測區(qū)東南部,與石炭系上統(tǒng)船山組呈斷層接觸關(guān)系,第四系殘、坡積物沿溝谷低洼處分布。測區(qū)內(nèi)發(fā)育一北東向斷裂構(gòu)造(F3),該斷裂控制東南部第三系斷陷盆地的北部邊界。
(2)地球物理特征。高密度電法的有效性取決于地下介質(zhì)的電性差異。第四系松散覆蓋層的電阻率一般較低,由于所處環(huán)境不一樣,電阻率相差較大,一般在幾十至200Ω·M,個(gè)別上千Ω·M;未風(fēng)化完整或較完整灰?guī)r巖層的電阻率相對更穩(wěn)定,一般電阻率較高(上千Ω·M);半風(fēng)化灰?guī)r溶蝕發(fā)育時(shí),溶蝕空洞區(qū)往往為泥質(zhì)或水充填,這些充填介質(zhì)均具低阻特征(電阻率為幾百Ω·M);但風(fēng)化而又松散的地層和第三系的泥質(zhì)粉砂巖電阻率很小,一般為幾十至一百多Ω·M。斷裂和巖溶在形成的過程中,隨地質(zhì)特征的改變,導(dǎo)致斷裂和溶洞與圍巖產(chǎn)生一定的電性差異,異常大小決定于斷裂的空間大小及填充物的物理性質(zhì);含水的斷層與發(fā)育的裂隙呈現(xiàn)低阻異常,不含水的則呈現(xiàn)高阻異常。它們都與灰?guī)r有明顯的電性差異[1]。
(3)成果資料解釋。
1)斷面1解釋。測線1000-1320樁號(hào)段,整體呈相對高阻特征,與灌漿處理地層相對應(yīng);測線1320-1590樁號(hào)段,整體呈低阻特征,近地表與中上部呈低阻特征,下部呈相對高阻特征,淺部為第四系,下部為基巖。依據(jù)電阻率變化規(guī)律,結(jié)合地質(zhì)資料推斷:測線1310-1330樁號(hào)段存在斷層,斷層傾向西北,傾角約25度;測線1200-1260樁號(hào)段存在溶洞,溶洞埋深約為40米;測線1340-1400樁號(hào)段呈低阻特征,該段受斷層影響,且存在多個(gè)塌陷區(qū),推斷此段為巖溶溶蝕帶,溶蝕發(fā)育深度自地表至15米。與鉆孔資料基本一致。
2)斷面2解釋。測線1000-1590樁號(hào)段,近地表與中深部呈低阻特征,下部呈相對高阻特征,淺部為第四系,下部為基巖。依據(jù)電阻率變化規(guī)律,結(jié)合地質(zhì)資料推斷:測線1040-1280樁號(hào)段存多個(gè)低阻特征體,且地表存在多個(gè)塌陷,推斷此段為巖溶發(fā)育區(qū),溶洞基本相互連通,溶洞發(fā)育深度由地表至地下約30米。測線1410-1440樁號(hào)段存在低阻異常,且地表存在塌陷,推斷此段巖溶發(fā)育,存在溶洞,溶洞中心埋深為6米[2]。推斷巖溶位置與后期塌陷位置基本一致,如下圖2。
3 結(jié)論
通過本次工作,基本查明了測線控制區(qū)內(nèi)基巖面埋深、巖溶賦存狀態(tài)及空間形態(tài)特征。推斷巖溶與鉆孔驗(yàn)證及塌陷位置基本一致,表明高密度電法勘探在巖溶勘察中的應(yīng)用效果良好。
參考文獻(xiàn):
[1]朱清耀.福建工程學(xué)院學(xué)報(bào)[J].2005.
[2]江玉樂,張楠,周清強(qiáng),張朝霞.物探化探計(jì)算技術(shù)[J].2007.