西安建筑科技大學(xué)華清學(xué)院 嚴(yán) 婷
推推式壓控振蕩器的分析與設(shè)計
西安建筑科技大學(xué)華清學(xué)院 嚴(yán) 婷
本文采用1μm砷化鎵異質(zhì)結(jié)雙極晶體管工藝,設(shè)計了一款推推式壓控振蕩器(VCO)。該壓控振蕩器以交叉耦合差分結(jié)構(gòu)為基礎(chǔ),將交叉耦合晶體管基極電容的連接點作為頻率輸出點,利用ADS和cadence完成了原理圖仿真、版圖設(shè)計及原理圖電磁場聯(lián)合仿真。聯(lián)合仿真結(jié)果表明:該結(jié)構(gòu)成功實現(xiàn)了推推功能,且相位噪聲性能良好。振蕩核心頻率為14.26GHz~14.89GHz,輸出頻率為28.52GHz~29.77GHz,中心頻率處相位噪聲為-112dBc/Hz@1MHz。版圖面積為0.7mm×0.7mm。
砷化鎵異質(zhì)結(jié)雙極晶體管;推推式VCO;交叉耦合;輸出頻率;相位噪聲
近年來,隨著現(xiàn)有頻段的用戶擁擠,整個無線通信領(lǐng)域的信號傳輸頻率都在往更高的頻段發(fā)展[1],然而隨著電路工作頻率的提高,電路的整體性能也會隨之下降,比如當(dāng)VCO工作在數(shù)十GHz以上的頻率時,就會給電路帶來一些不良影響[2]:(1)LC振蕩回路需要亞納亨級的電感,工藝上不易實現(xiàn);(2)振蕩回路Q值下降導(dǎo)致相位噪聲性能惡化。以上兩個問題皆由較高的工作頻率引起,解決問題的關(guān)鍵在于降低VCO核心的工作頻率,并另選功率較高的節(jié)點作為頻率輸出點。一種方案是在VCO之后連接倍頻器,得到一個帶有倍頻功能的VCO,這種方法直觀且有效,但缺點在于額外的電路系統(tǒng)會增加電路的整體功耗,并且導(dǎo)致芯片面積增大,同時相位噪聲性能也必然會惡化。因此,為了保證簡潔的電路結(jié)構(gòu)以及良好的電路性能,本文未采取此種方案。
另一種方案是利用推推原理設(shè)計一款推推結(jié)構(gòu)的壓控振蕩器,它能夠改善上述現(xiàn)象。推推式VCO的特點是能夠以較低的振蕩頻率得到較高的輸出頻率,因此對振蕩核心的設(shè)計要求降低,設(shè)計難度較小,且振蕩器的性能尤其是相位噪聲性能可以得到有效提高,這是因為較低的振蕩頻率意味著較高的回路品質(zhì)因數(shù),Q值越高,相位噪聲越小[3]。
推推式VCO由兩個完全相同的子振蕩器組合而成,如圖1所示。振蕩器的輸出信號中不僅包含基波分量,還包含各次諧波分量,每個子振蕩器的振蕩頻率和幅度都相等,將兩個振蕩信號分別用式(1)和(2)表示如下:
其中,n為諧波次數(shù),An是信號幅度,ω0為振蕩頻率,t為時間,t0表示S1與S2之間的相位差,若兩信號相位差為180o,則ω0t0=π。當(dāng)兩個信號相加時,基波和奇次諧波分量相互抵消,偶次諧波分量相加輸出。
由式(3)可知,推推式振蕩器的輸出頻率是其核心頻率的2倍。
圖1 推推式VCO原理圖
交叉耦合的差分負(fù)阻VCO因其固有的差分輸出信號成為實現(xiàn)推推式VCO的首選,此外,該結(jié)構(gòu)還具有功耗控制準(zhǔn)確、起振迅速、共模噪聲小等優(yōu)點。由于GaAs HBT器件的閃爍噪聲優(yōu)于CMOS和HEMT器件[4],且其具有閃爍噪聲低、驅(qū)動能力強、截止頻率高等優(yōu)點。因此本文采用WIN Semiconductors的1-μm GaAs HBT工藝,在交叉耦合結(jié)構(gòu)VCO的基礎(chǔ)上由HBT基極引出兩個電容,并將兩個電容的連接點作為二次諧波的輸出節(jié)點,設(shè)計了一款推推式壓控振蕩器。
圖2所示為本文設(shè)計的推推式VCO的電路結(jié)構(gòu)原理圖。其中Q3、Q4組成電流鏡結(jié)構(gòu),為VCO振蕩核心提供穩(wěn)定的電流源。右半部分為振蕩核心,Ctank、C1、C2以及Ltank構(gòu)成LC振蕩回路,確定了VCO振蕩核心的振蕩頻率和推推的輸出頻率,其中Ctank為可變電容,由工藝庫中電容系數(shù)比Cmax/Cmin最大的變?nèi)荻O管組成,以此來增大壓控振蕩器的調(diào)諧范圍,且振蕩回路中采用微帶線替代傳統(tǒng)的螺旋電感來提高相位噪聲性能。Q1、Q2組成的交叉耦合對能對振蕩回路的能量損失進行補償。Vbias為Q1、Q2提供基極偏置,V+和V-是基本交叉耦合VCO的一對差分信號,它們幅度相等相位相反,通過兩個基極電容C2將二者在節(jié)點CN處相加,基波和奇次諧波相互抵消,而二次諧波等偶次諧波相加輸出,即對基波而言節(jié)點CN為虛地點,且節(jié)點CN在抑制基波的同時,得到了2ω0的頻率。
圖2 推推電路原理圖
在ADS中對電路進行了調(diào)試和原理圖仿真,但射頻電路的工作頻率一般較高,它受寄生參數(shù)的影響很大,而原理圖仿真時并未添加各種寄生參數(shù),因此不能很好地預(yù)估芯片的實際性能,故需要進行包含寄生效應(yīng)的原理圖電磁場聯(lián)合仿真[5]。
利用Cadence版圖設(shè)計軟件對該振蕩器進行了版圖設(shè)計,如圖3所示,芯片面積為0.7mm×0.7mm。圖4是推推式VCO的原理圖電磁場聯(lián)合仿真圖。
圖3 推推版圖
圖4 推推原理圖與電磁場聯(lián)合仿真圖
控制電壓為0V時的時域波形如圖5所示,起振很快,僅需2ns,這得益于采用的交叉耦合結(jié)構(gòu),穩(wěn)定振蕩幅度為1.4V左右。圖6和圖7分別為控制電壓為0V和5V時的瞬態(tài)仿真結(jié)果。控制電壓為0V時,振蕩頻率和輸出頻率分別為14.89GHz和29.77GHz,基波功率和輸出功率分別為7.213dBm和-11.218dBm;控制電壓為5V時,振蕩頻率和輸出頻率分別為14.26GHz和28.52GHz,基波功率和輸出功率分別為6.714dBm和-13.927dBm。由此得出調(diào)諧范圍為28.52GHz~29.77GHz。將圖(b)與圖(a)進行對比可知,無論Vtune=0V或Vtune=5V,在功率合成點CN處,基波功率均大幅降低,這是由于在CN處基波反相相加,幾乎被抵消掉,而二次諧波同相相加輸出,因此輸出功率明顯高于基波功率,證明抑制基波能力良好,輸出信號頻譜純度較高。
圖5 Vtune=0V輸出波形
圖6 Vtune=0V
圖7 Vtune=5V
圖8所示是Vtune=0V時,中心頻率處的相位噪聲特性曲線。相位噪聲為-112dBc/Hz@1MHz。
圖8 Vtune=0V時推推后仿相位噪聲特性曲線
原理圖與電磁場聯(lián)合仿真結(jié)果表明本文設(shè)計的推推式VCO不僅能夠成功實現(xiàn)推推功能,還具有以下優(yōu)點:
(1)電路結(jié)構(gòu)簡單:不需要在傳統(tǒng)VCO結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上增加額外的倍頻器電路,減小了芯片面積。
(2)相位噪聲低:VCO振蕩核心工作頻率較低,振蕩回路Q值較高,有利于降低電路的相位噪聲;
(3)產(chǎn)品集成度高:推推式VCO同時實現(xiàn)了振蕩、倍頻和基波抑制三大功能。
本文基于WIN公司1-μm砷化鎵HBT工藝設(shè)計了一款推推式壓控振蕩器。該壓控振蕩器結(jié)構(gòu)簡單,不僅成功實現(xiàn)了推推功能,且相位噪聲性能良好。振蕩核心頻率為14.26GHz~14.89GHz,輸出頻率為28.52GHz~29.77GHz,中心頻率處相位噪聲為-112dBc/Hz@1MHz。
[1]武岳.應(yīng)用于鎖相環(huán)中的壓控振蕩器的設(shè)計與研究[D].西安:西安電子科技大學(xué),2014.
[2]汪江濤.Ku波段低相噪推-推式VCO單片集成電路[M].2012.
[3]何博軒.基于基片集成波導(dǎo)機構(gòu)X波段振蕩器研究[D].成都:電子科技大學(xué),2008.
[4]Yuan Peng,Hong-Liang Lu,Yu-Ming Zhang and Yi-Men Zhang,A K-band Low Phase Noise GaAs HBT VCO[C].IEEE.Solid State and Integrated Circuit Technology(ICSICT),2012.
[5]師政.高性能動態(tài)分頻器的研究與設(shè)計[D].西安:西安電子科技大學(xué),2014.