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        混合模塊及其應(yīng)用

        2016-10-12 00:30:14馬小亮
        電氣傳動(dòng) 2016年4期
        關(guān)鍵詞:續(xù)流二極管器件

        馬小亮

        (天津電氣科學(xué)研究院有限公司,天津300180)(原名——天津電氣傳動(dòng)設(shè)計(jì)研究所)

        混合模塊及其應(yīng)用

        馬小亮

        (天津電氣科學(xué)研究院有限公司,天津300180)(原名——天津電氣傳動(dòng)設(shè)計(jì)研究所)

        SiC器件是下一代電力電子器件,目前價(jià)高難推廣應(yīng)用,在器件換代過(guò)渡期為增大功率及降低成本推出Si和SiC混合模塊是現(xiàn)實(shí)的解決方案。除價(jià)格因素外,SiC器件的高開關(guān)速度導(dǎo)致開關(guān)過(guò)程電壓和電流大幅振蕩,也為應(yīng)用帶來(lái)很大困難,混合模塊有助于克服這困難。介紹兩種Si和SiC混合模塊的應(yīng)用:硅IGBT和碳化硅BCD混合模塊及硅IGBT和碳化硅MOSFET混合模塊。另外,還介紹全硅IGBT和MOSFET混合模塊的應(yīng)用,它也能獲得Si-IGBT+SiC-MOSFET模塊的許多好處。

        Si和SiC混合模塊;硅IGBT和碳化硅BCD混合模塊;硅IGBT和碳化硅MOSFET混合模塊;全硅IGBT和MOSFET混合模塊

        變頻器的更新?lián)Q代取決于電力電子器件的換代;電力電子器件的換代取決于半導(dǎo)體材料的換代。20世紀(jì)60年代實(shí)現(xiàn)了從鍺材料到硅(Si)材料的換代,迎來(lái)半個(gè)世紀(jì)電力電子技術(shù)大發(fā)展?,F(xiàn)有各種器件都基于硅材料,其性能已接近材料極限,近20年來(lái)未能出現(xiàn)新的換代。

        下一代半導(dǎo)體材料是寬禁帶材料,有前途的兩種是碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)),都是化合物材料。SiC和GaN器件的特點(diǎn):高阻斷電壓,高開關(guān)速度(降低開關(guān)損耗及提高開關(guān)頻率),高結(jié)溫,可造出更高電壓、更大功率,更高效率及更小體積裝置。人們對(duì)SiC和GaN器件的期望很高,投入大量資金和人力,由于材料生產(chǎn)工藝不過(guò)關(guān),20多年來(lái)進(jìn)展不大,近期取得突破,大量樣機(jī)問(wèn)世,估計(jì)2020年后能占有較大市場(chǎng)份額。

        GaN器件適合用于低功率、低電壓(器件電壓≤600 V)、高頻率場(chǎng)合,它如果使用硅作為襯底,能獲得大直徑晶片,成本較低。SiC器件適合用于高功率、高電壓場(chǎng)合(器件電壓可達(dá)幾千V),本文只涉及它。

        SiC器件目前價(jià)高,很難快速推廣應(yīng)用,在器件換代過(guò)渡期,為增大器件功率及降低成本,推出Si和SiC混合模塊,可能是現(xiàn)實(shí)的解決方案。除價(jià)格因素外,SiC器件的高開關(guān)速度也為應(yīng)用帶來(lái)很大困難,高dv/dt和高di/dt導(dǎo)致開關(guān)過(guò)程電壓和電流大幅振蕩見圖1,嚴(yán)重時(shí)甚至損壞器件,要求回路寄生電感(電容、母線及模塊引線)盡可能小,混合模塊有助于克服該困難。從圖1可看見SiC-MOSFET的振蕩嚴(yán)重。

        圖1 1 200 V/100 A/2單元SiC-MOSFET 和Si-IGBT開關(guān)過(guò)程波形[1]Fig.1 Turn-on and turn-off waveforms of SiC-MOSFET and Si-IGBT(1 200 V/100 A/2U)

        本文先介紹Si和SiC混合模塊(Si+SiC)的應(yīng)用:第1節(jié)介紹硅IGBT和碳化硅肖特基二極管混合模塊(Si-IGBT+SiC-SBD);第2節(jié)介紹硅IGBT和碳化硅MOSFET混合模塊(Si-IGBT+SiC-MOSFET)。把Si-IGBT+SiC-MOSFET混合模塊中的MOSFET換成廉價(jià)的傳統(tǒng)硅器件(Si-MOSFET),構(gòu)成全硅IGBT和MOSFET混合模塊(全硅IGBT+ MOSFET),也能獲得Si-IGBT+SiC-MOSFET模塊的許多好處,第3節(jié)介紹它的應(yīng)用。

        1 Si-IGBT+SiC-SBD混合模塊

        碳化硅肖特基二極管(SiC-SBD)是SiC器件中最成熟及價(jià)亷的器件,因此它是SiC器件中應(yīng)用最早和最多的器件。

        逆變器相支路(leg)有上下兩臂(arm),每臂由1個(gè)可控開關(guān)器件(例如IGBT)和1個(gè)反向續(xù)流二極管構(gòu)成見圖2。若支路輸出正向電流,上臂開通前下臂二極管續(xù)流,則在上臂開通時(shí)上器件的開通損耗及下器件的恢復(fù)損耗都取決于下臂二極管的反向恢復(fù)特性。與Si快恢復(fù)二極管相比,SiC-SBD反向恢復(fù)快,恢復(fù)電流非常?。◣缀鯖](méi)有),用它作常規(guī)Si-IGBT的反并聯(lián)續(xù)流二極管,可大幅降低器件的開通損耗和恢復(fù)損耗。SiC-SBD在國(guó)產(chǎn)光伏逆變器中已使用,效果好。盼將二者封裝在一起,提供混合模塊產(chǎn)品。

        圖2 1 600 V/400 A/2單元Si-IGBT+SiC-SBD混和模塊Fig.2 Si-IGBT+SiC-SBD hybrid module(1600 V/400 A/2U)

        日本富士公司推出1600 V/400 A/2單元Si-IGBT+SiC-SBD混和模塊,見圖2[2],用于690 V逆變器。與全Si模塊相比,Si-IGBT+SiC-SBD混后模塊降低恢復(fù)損耗83%,降低開通損耗38%,恢復(fù)和開通波形及損耗[2]見圖3。

        圖3 全Si模塊和混合模塊恢復(fù)和開通波形及損耗Fig.3 Recovery and turn-on waveforms and loss of all Si module and hybrid module

        日立公司推出3 300 V/1 200 A/1單元Si-IGBT+SiC-SBD混合模塊[3],用于4×150 kW牽引傳動(dòng)逆變器,直流母線電壓Vdc=1 500 V。與傳統(tǒng)全Si模塊相比,混合模塊損耗降低35%,模塊尺寸減小1/3,逆變器尺寸和重量減小40%。模塊損耗圖見圖4。模塊和裝置外形圖見圖5。

        圖4 模塊損耗Fig.4 Module loss

        圖5 模塊和裝置外形圖Fig.5 Outlines of module and device

        2 Si-IGBT+SiC-MOSFET混合模塊

        Si-IGBT和SiC-MOSFET并聯(lián)的混合模塊想法由美國(guó)提出[4],擬用于光伏和風(fēng)能發(fā)電逆變器,進(jìn)行了仿真研究。除增大器件功率及降低成本外,它還讓SiC-MOSFET先通后斷,使Si-IGBT零電壓通斷,減小開關(guān)損耗。400 A/1.2 kV(1× 100 A SiC-MOSFET與3×100 A Si-IGBT并聯(lián))之SiC-MOSFET+Si-IGBT混合模塊的電路及開關(guān)時(shí)序見圖6。

        圖6 混和模塊的電路及開關(guān)時(shí)序Fig.6 Circuit and switching sequence of hybrid module

        采用這種模塊的250 kW中點(diǎn)鉗位三電平光伏逆變器效率>97%,比全用Si-IGBT模塊提高1.2%~2%[4],見圖7。

        圖7 250 kW光伏逆變器效率Fig.7 Efficiency of 250 kW PV inverter

        筆者認(rèn)為,圖6中的Si-IGBT開通滯后無(wú)必要,因?yàn)镾iC-MOSFET的開通比它快得多,無(wú)此滯后Si-IGBT同樣近似零電壓開通,在其它文獻(xiàn)中多無(wú)此滯后。

        ABB公司制出Si-IGBT(1 200 V/25 A)+SiCMOSFET(1 200 V/30 A)混合模塊(50 A)樣品,并完成測(cè)試[5]。ABB混合模塊中的IGBT和MOSFET門極用同一個(gè)信號(hào)驅(qū)動(dòng),無(wú)圖6中之開通和關(guān)斷滯后環(huán)節(jié)。該混合模塊除了增大器件功率及降低成本外,它還有下述特點(diǎn)。

        1)降低通態(tài)壓降和通態(tài)損耗。IGBT是雙極器件,它的通態(tài)特性與二極管類似,用門檻電壓+小動(dòng)態(tài)電阻表征,MOSFET是單極器件,它的通態(tài)特性用電阻表征,電流小時(shí)MOSFET比IGBT通態(tài)壓降小,電流大時(shí)IGBT比MOSFET通態(tài)壓降小,二者并聯(lián)的混合開關(guān)在小電流時(shí)電流主要流過(guò)MOSFET、大電流主要流過(guò)IGBT,從而降低導(dǎo)通壓降和通態(tài)損耗,見圖8a。與2個(gè)并聯(lián)的Si-IGBT和SiC-MOSFET相比,混和模塊壓降介于二者之間,見圖8b。逆變器電流是正弦電流,時(shí)小時(shí)大,效果明顯。

        圖8 IGBT,MOSFET和混合模塊導(dǎo)通壓降Fig.8 Forward-conduction voltage drop characteristic of IGBT,MOSFET and hybrid module

        2)關(guān)斷過(guò)程。IGBT的關(guān)斷損耗由其拖尾電流產(chǎn)生,占總開關(guān)損耗中大部分。MOSFET無(wú)拖尾電流,關(guān)斷快且損耗小,但高dv/dt和高di/dt導(dǎo)致電壓、電流大幅振蕩?;旌夏K利用MOSFET快速關(guān)斷能力減小IGBT拖尾電流產(chǎn)生的損耗,又利用拖尾電流抑制MOSFET快速關(guān)斷導(dǎo)致的電壓、電流振蕩和過(guò)壓幅值,見圖9a。混合模塊的關(guān)斷時(shí)間和損耗介于2個(gè)并聯(lián)的Si-IGBT和SiC-MOSFET之間,見圖9b。

        圖9 IGBT,MOSFET和混合模塊關(guān)斷波形及損耗Fig.9 Turn-off waveforms and loss of IGBT,MOSFET and hybrid module

        3)開通過(guò)程。由于SiC-MOSFET比Si-IGBT開通快及兩器件門極用同一個(gè)信號(hào)驅(qū)動(dòng),開通之初電流主要流過(guò)MOSFET,IGBT在較小電流及較低電壓下開通?;旌夏K的開通損耗主要取決于相支路另一臂反向續(xù)流二極管的恢復(fù)特性,采用SiC-BCD時(shí)該開通損耗很小,開通波形見圖10。

        圖10 混合模塊開通波形Fig.10 Turn-on waveforms

        4)改善短路保護(hù)性能。單極器件MOSFFET的短路電流承受能力不如雙極器件IGBT,混合模塊借助雙極器件改善了短路保護(hù)性能,短路保護(hù)波形見圖11。測(cè)試時(shí)混合模塊重復(fù)短路試驗(yàn)通過(guò)。

        圖11 IGBT,MOSFET和混合模塊短路保護(hù)波形Fig.11 Short-circuit protection characteristic of IGBT,MOSFET and hybrid modul

        3 全硅IGBT+MOSFET混合模塊的應(yīng)用

        把Si-IGBT+SiC-MOSFET混合模塊中的MOSFET換成廉價(jià)的傳統(tǒng)硅器件(Si-MOSFET),構(gòu)成全硅IGBT和MOSFET混合模塊(全硅IGBT+MOSFET),也能獲得通態(tài)壓降小及開關(guān)損耗小的好處。

        與Si-IGBT+SiC-MOSFET混合模塊不同,但由于硅MOSFET器件內(nèi)存在1個(gè)慢速反向體二極管,不能直接把該全硅混合模塊用于逆變器相支路。以圖2所示相支路為例,若原狀態(tài)為下臂開關(guān)導(dǎo)通及負(fù)載電流為正,電流經(jīng)下臂續(xù)流二極管和MOSFET反向體二極管流過(guò),在轉(zhuǎn)換為下臂關(guān)斷及上臂導(dǎo)通時(shí),由于體二極管恢復(fù)慢,導(dǎo)致上臂開關(guān)器件過(guò)流。有2個(gè)解決辦法[6]。

        1)硬開關(guān)模式——加裝1個(gè)與MOSFET串聯(lián)的低壓肖特基二極管,阻止反向電流流過(guò),見圖12。它的不足是增加通態(tài)壓降。

        圖12 硬開關(guān)相支路Fig.12 Hard-switching phase leg

        2)零電壓軟開關(guān)(ZVS)模式——相支路不增加器件,甚至在MOSFET體二極管夠大時(shí)取消IGBT的反并聯(lián)續(xù)流二極管,因?yàn)樵谏媳坶_關(guān)S1導(dǎo)通前,已經(jīng)通過(guò)諧振電路把原流過(guò)下臂二極管的電流轉(zhuǎn)移到上臂二極管,見圖13(其中iRES是諧振電流,CS是諧振電容)。它的不足是軟開關(guān)需增加諧振電路及其損耗。

        圖13 軟開關(guān)相支路Fig.13 Soft-switching phase leg

        美國(guó)弗吉尼亞理工學(xué)院把全硅IGBT+MOSFET混合開關(guān)和ZVS技術(shù)用于55 kW牽引驅(qū)動(dòng)[7-8],逆變器主電路見圖14。圖14中,混合模塊里的續(xù)流二極管是MOSFET的體二極管,無(wú)需外加;ZVS的諧振電路由輔助開關(guān)Sx1~6、耦合電抗器Lr1~6及電容C1~6構(gòu)成。

        圖14 逆變器主電路Fig.14 Inverter main circuit

        該裝置經(jīng)美國(guó)著名的橡樹嶺國(guó)家實(shí)驗(yàn)室檢驗(yàn),用卡路里檢測(cè)裝置測(cè)總損耗,逆變器效率非常高,達(dá)99%,見圖15,結(jié)果可信。在總損耗中,磁性元件損耗占11%,輔助電源(門極驅(qū)動(dòng)、控制及冷卻等)損耗占7%。

        圖15 3種直流母線電壓的逆變效率Fig.15 Inverter efficiency for 3 DC-bus-voltage

        兩室卡路里檢測(cè)裝置見圖16[8],它有2個(gè)隔熱室——主室和參照室,主室中放被測(cè)逆變器,參照室放裝有電加熱器的保溫箱,冷卻介質(zhì)流過(guò)逆變器和保溫箱,溫度穩(wěn)定后根據(jù)兩室溫升和加熱器功率Pheate算出逆變器損耗Ploss:用此裝置測(cè)出的損耗是總損耗,除主電路損耗外,還有輔助電路、冷卻及諧波等損耗。

        圖16 兩室卡路里檢測(cè)裝置Fig.16 Two-chamber calorimeter setup

        4 結(jié)論

        SiC器件是下一代電力電子器件,目前價(jià)高難推廣應(yīng)用,在器件換代過(guò)渡期為增大功率及降低成本推出Si和SiC混合模塊是現(xiàn)實(shí)的解決方案。除價(jià)格因素外,SiC器件的高開關(guān)速度導(dǎo)致開關(guān)過(guò)程電壓和電流大幅振蕩,也為應(yīng)用帶來(lái)很大困難,混合模塊有助于克服這困難。

        碳化硅肖特基二極管(SiC-SBD)是SiC器件中最成熟、價(jià)亷及應(yīng)用最早和最多的器件。它反向恢復(fù)快,恢復(fù)電流非常小,用它作常規(guī)Si-IGBT的續(xù)流二極管,可降低器件損耗及裝置體積和重量1/3左右,已有將二者封裝在一起的混合模塊產(chǎn)品。

        Si-IGBT和SiC-MOSFET并聯(lián)的混合模塊(Si-IGBT+SiC-MOSFET)除降低成本外,還具有通態(tài)壓降及開關(guān)損耗小的好處,并能借助IGBT拖尾電流抑制振蕩。ABB公司已制出1200V/50 A樣品。

        把Si-IGBT+SiC-MOSFET混合模塊中的MOSFET換成傳統(tǒng)硅器件,構(gòu)成全硅IGBT和MOSFET混合模塊(全硅IGBT+MOSFET),也能獲得通態(tài)壓降及開關(guān)損耗小的好處。但因硅MOSFET內(nèi)存在1個(gè)慢速反向體二極管,不能直接將它用于逆變器相支路,采取補(bǔ)救措施。弗吉尼亞理工學(xué)院把該混合開關(guān)和ZVS技術(shù)用于55 kW牽引驅(qū)動(dòng),逆變器效率>99%。

        [1] Fabre J,Characterization and Implementation of Dual-SiC MOSFET Modules for Future Use in Traction Converters[J]. IEEE Trans.on Power Electron.,2015,30(8):4097-4090.

        [2] Takaku T.Development of 1 700 V Hybrid Module with Si-IGBT and Sic-SBD for High Efficiency[C]//9thInternational Conference on Power Electronics,Asia,Seoul,Korea,June 2015.

        [3]Ishikawa K.Traction Inverter that Applies Compact 3.3 kV/ 1 200 A Sic Hybrid Module[C]//The 2014 International Power Electronics Conference,2014:2140-2144.

        [4] He J.Application of Wide Bandgap Devices in Renewable Energy System-benefits and Challenges[C]//3rdInternational Conference on Renewable Energy Research and Applications,Milwakuee,2014:749-754.

        [5] Rahimo M.Characterization of a Silicon IGBT and Silicon Carbide MOSFET Cross-switch Hybrid[J].IEEE Trans.on Power Electron.2015(9):4638-4642.

        [6] Hoffmann K F.High Frequency Power Switch-improved Performance by MOSFET and IGBT Connection in Parallel[C]//in Proc.EPE 2005,Dresden,Germany,2005.

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        Hybrid Modules and Their Applications

        MA Xiaoliang
        (Tianjin Research Institute of Electric Science Co.,Ltd.,Tianjin 300180,China)
        (Former Name—Tianjin Design&Research Institute of Electrical Drive)

        SiC devices are the next generation power electronic devices,but they are difficult to be employed in applications owing to high cost.Developing Si+SiC hybrid modules is a reasonable solution for reducing cost and increasing power rating of the devices in the period of changing device generation.Besides cost,high turn-on and turn-off speed,which cause serious voltage and current oscillation,bring difficulty to applications as well.The hybrid modules may help one to solve the difficulty.There were two kinds of Si+SiC hybrid modules,Si-IGBT+SiC-BCD hybridmoduleandSi-IGBT+SiC-MOSFEThybridmodule,andtheirapplicationswereintroduced.Additionallyall-Silicon IGBT+MOSFET hybrid module was introduced also,it may have many benefits of Si-IGBT+SiC-MOSFET module.

        Si+SiC hybrid module;Si-IGBT+SiC-BCD hybrid module;Si-IGBT+SiC-MOSFET hybrid module;All-Silicon IGBT+MOSFET hybrid module

        TM23

        A

        2015-09-29

        馬小亮(1939-),男,教授級(jí)高工,博士生導(dǎo)師,Email:xlm_td@sina.com

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