宋西俊

首發(fā)精神分裂癥患者不同誘發(fā)模式感覺門控P50的臨床研究

宋西俊

目的 研究分析首發(fā)精神分裂癥患者不同誘發(fā)模式感覺門控P50的異常特點(diǎn)。方法 選取首發(fā)精神分裂癥患者30例, 設(shè)置為觀察組, 選取患者一級健康家屬30名做為對照組, 另隨機(jī)抽取30名社會正常人員作為正常參照組。所有人員均進(jìn)行感覺門控P50進(jìn)行檢測, 并對比分析各組間差異。結(jié)果 觀察組與對照組P50波幅期均高于正常參照組, 差異有統(tǒng)計學(xué)意義(P＜0.05)。當(dāng)采用高頻刺激后各種P50波幅比較, 差異有統(tǒng)計學(xué)意義(P＜0.05)。結(jié)論 在P50檢測中患者與一級親屬均有一定程度的感覺門控異常, 表明P50可用作與精神分裂癥遺傳因素檢測指標(biāo)參考。

首發(fā)精神分裂癥；誘發(fā)電位；感覺門控P50；臨床研究

精神分裂癥屬于極為嚴(yán)重的精神疾病, 該病癥會導(dǎo)致患者社會認(rèn)知能力出現(xiàn)障礙。感覺門控則是大腦抑制能力的一種反應(yīng), 感覺門控P50則是利用相關(guān)感覺誘發(fā)電位檢測, 通過電生理學(xué)反應(yīng)腦抑制功能［1］。作者通過研究條件-測試刺激模式與刺激序列兩種檢測模式法一致性, 分析首發(fā)精神分裂癥患者不同誘發(fā)模式感覺門控P50的電生理指標(biāo)對于輔助診斷精神分裂癥的效果, 現(xiàn)報告如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料 選取本院2013年8月～2014年8月收治的首發(fā)精神分裂癥患者30例, 設(shè)置為觀察組, 年齡21～49歲,平均年齡(27.8±4.3)歲, 男17例, 女13例, 全部患者均符合中國精神障礙DSM-5評價標(biāo)準(zhǔn)并明確診斷, 病程1～18個月, 平均病程(7.6±2.5)個月, 均為首次發(fā)病, 以排除聽力功能障礙或神經(jīng)系統(tǒng)相關(guān)疾病者, 無藥物濫用史, 無嚴(yán)重性身體疾病。隨機(jī)選取30例患者一級健康家屬做為對照組, 另隨機(jī)抽取30例社會正常人員作為正常參照組。三組人員年齡、性別、文化程度等一般資料比較差異無統(tǒng)計學(xué)意義(P＞0.05),具有可比性。

1.2 方法 所有人員均進(jìn)行條件-測試刺激模式與刺激序列模式兩種檢測感覺門控P50進(jìn)行檢測。感覺門控檢測方法：利用16導(dǎo)聯(lián)全功能計算機(jī)數(shù)字化系統(tǒng)記錄, 應(yīng)用氯化銀盤狀電極(直徑8 mm)、Ag盤狀電極, 根據(jù)國際10/20系統(tǒng)記錄電極中央頂部Cz點(diǎn), 參考電極位于左或右側(cè)乳突(A1或A2點(diǎn)), 前額(Fpz點(diǎn))接地。①條件-測試刺激模式：由信號發(fā)生器產(chǎn)生成對clicks信號, 刺激聲聲強(qiáng)90分貝,持續(xù)0.1 ms, 刺激間隔500 ms, 每對刺激間隔10 s, 腦誘發(fā)電位儀靈敏度設(shè)為5 μV, 0.1～300 Hz, 被試者誘發(fā)電位疊加32次。分析窗口為刺激給出后100 ms內(nèi)的成分, P50波是刺激后40～80 ms時間窗口內(nèi)最大的正相波, 由條件刺激S1誘發(fā)出的P50波稱為條件刺激波, 由測試刺激S2誘發(fā)出的P50波稱為測試刺激波。波幅測量取P50波峰與其前一負(fù)向波谷的絕對值差, 潛伏期是從刺激開始到P50最大波幅的時間。單次測試值超過50 μV按照偽跡處理, 由腦誘發(fā)電位儀自動排除。②刺激序列模式：次模式的腦誘發(fā)電位的刺激頻率有0.9、5.1、9.9 Hz三種, 每種頻率由信號發(fā)生器產(chǎn)生click聲,不同頻率的發(fā)生以隨機(jī)化為原則, 刺激聲聲強(qiáng)90分貝, 持續(xù)0.1 ms, 每種頻率腦誘發(fā)電位疊加160次, 輪間休息2 min。分析窗口為刺激給出后100 ms內(nèi)的成分, P50波是刺激后40～80 ms時間窗口內(nèi)最大的正相波。波幅測量取P50波峰與其前一負(fù)向波谷的絕對值差, 潛伏期是從刺激開始到P50最大波幅的時間。單次測試值超過50 μV視為偽跡, 由腦誘發(fā)電位儀自動排除。對比分析各組間P50波幅與潛伏期差異。

1.3 統(tǒng)計學(xué)方法 采用SPSS19.0統(tǒng)計學(xué)軟件進(jìn)行統(tǒng)計分析。計量資料以均數(shù)± 標(biāo)準(zhǔn)差表示, 采用t檢驗；計數(shù)資料以率(%)表示, 采用χ2檢驗。P＜0.05表示差異具有統(tǒng)計學(xué)意義。

2 結(jié)果

2.1 三組人員在條件-測試刺激模式中P50指標(biāo)對比結(jié)果三組間P50潛伏期進(jìn)行比較, 結(jié)果表明各組差異無統(tǒng)計學(xué)意義(P＞0.05), 但是三組間P50波幅期進(jìn)行比較發(fā)現(xiàn), 觀察組與對照組P50波幅均高于正常參照組, 差異有統(tǒng)計學(xué)意義(P＜0.05)。見表1。

2.2 三組人員在刺激序列模式中P50指標(biāo)對比結(jié)果 在低頻刺激中三組P50潛伏期比較, 差異無統(tǒng)計學(xué)意義(P＞0.05)；當(dāng)采用高頻刺激后各組P50波幅比較, 差異有統(tǒng)計學(xué)意義(P＜0.05)。見表2。

表1 三組人員在條件-測試刺激模式中P50指標(biāo)對比

表1 三組人員在條件-測試刺激模式中P50指標(biāo)對比

注：三組潛伏期比較, P＞0.05；波幅期比較, P＜0.05

1.78±0.87 1.57±0.58 0.81±0.34 19.39 0.0000組別例數(shù)潛伏期(ms)波幅期(μ V) C-P50T-P50 C-P50T-P50觀察組對照組正常參照組30 30 30 tP 58.21±11.27 54.15±12.81 56.38±10.98 0.90 0.4088 57.68±10.87 53.15±11.46 55.46±10.71 1.27 0.2866 1.89±0.78 2.13±0.97 2.21±1.13 0.88 0.4171

表2 三組人員在刺激序列模式中P50指標(biāo)對比

表2 三組人員在刺激序列模式中P50指標(biāo)對比

注：三組潛伏期比較, P＞0.05；波幅期比較, P＜0.05

1.48±0.58 1.13±0.51 0.72±0.43 16.67 0.0000組別例數(shù)潛伏期(ms)波幅期(μV)低頻刺激高頻刺激低頻刺激高頻刺激觀察組對照組正常參照組30 30 30 tP 55.12±11.45 54.89±10.87 57.51±10.43 0.53 0.5910 56.84±6.24 56.12±6.78 57.23±6.55 0.22 0.8003 1.79±0.73 1.81±0.84 1.84±1.13 0.02 0.9776

3 小結(jié)

當(dāng)前感覺門控P50檢測方式作為大腦感覺控制的常用操作手段, 在給予適當(dāng)?shù)拇碳? 可通過P50的波幅指標(biāo)反映大腦去除無關(guān)刺激的一種自動的注意力驅(qū)抑制作用［2］。本組研究中采用刺激序列與條件測試刺激兩種模式同時給予感覺門控P50檢測患者腦部誘發(fā)電位, 結(jié)果表明精神分裂癥患者與正常健康人相比較, 兩種誘發(fā)電位檢測模式均存在程度不一的感覺門控異常。本研究結(jié)果表明感覺門控P50檢測中出現(xiàn)部分缺損時可作為精神分裂癥患者中穩(wěn)定遺傳性質(zhì)的生物學(xué)標(biāo)注, 但是具體反映病情的進(jìn)展或詳細(xì)的感覺缺損程度尚需進(jìn)一步研究。

［1］ 萬曉娜, 蔣廷云, 江麗云, 等.首發(fā)精神分裂癥患者及其一級親屬感覺門控P50研究.中國神經(jīng)精神疾病雜志, 2007, 33(9): 544-547.

［2］ 王紅星, 張明島, 陳興時, 等.精神分裂癥首次發(fā)病患者和健康成年人聽覺感覺門控電位P50的研究.中華精神科雜志, 2006, 39(2):65-68.

10.14163/j.cnki.11-5547/r.2015.24.204

2015-03-11］

529000 廣東省江門市第三人民醫(yī)院司法鑒定科