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        NH4F/H2SO4電解液中TiO2納米管的制備及形成機(jī)理

        2014-11-25 09:21:32劉博龐海麗鞠鶴高磊鐘金娣張小華陳金華
        電鍍與涂飾 2014年23期
        關(guān)鍵詞:阻擋層規(guī)整納米管

        劉博 *,龐海麗,鞠鶴,高磊,鐘金娣,張小華,陳金華

        (1.西北有色金屬研究院,陜西 西安 710016;2.西安泰金工業(yè)電化學(xué)技術(shù)有限公司,陜西 西安 710016;3.湖南大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院,湖南 長(zhǎng)沙 410082)

        鈦和鈦合金具有優(yōu)異的力學(xué)性能、良好的耐腐蝕性及生物相容性,被廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域[1-4]。二氧化鈦也因具有一些功能特性,在氣體傳感[5-6]、自潔凈[7]、太陽(yáng)能轉(zhuǎn)換[8]、光催化[9]等方面受到廣泛關(guān)注。

        二氧化鈦納米管以其高比表面和獨(dú)特的性能而備受關(guān)注。目前制備二氧化鈦納米管的方法有模板法[10-11]、表面活性劑法[12-13]、水熱法[14]、陽(yáng)極氧化法[15-16]等,其中陽(yáng)極氧化法制備工藝簡(jiǎn)單,產(chǎn)物形貌規(guī)整。據(jù)文獻(xiàn)報(bào)道,水性體系中鈦的陽(yáng)極氧化多采用NaF、KF等,如Jan M.Macak等[17]采用Na2SO4/NaF 電解液,20 V下氧化2 h 制備出二氧化鈦納米管;而有機(jī)體系中主要用NH4F[17]。本文采用成本較低的NH4F/H2SO4電解液體系進(jìn)行鈦陽(yáng)極氧化,制備出了形貌規(guī)整、分布均勻的二氧化鈦納米管,并對(duì)其形成機(jī)理進(jìn)行了探討。

        1 實(shí)驗(yàn)

        1.1 二氧化鈦納米管的制備

        用去離子水超聲清洗純鈦片,在80°C 下干燥。室溫下,用石墨做陰極,電極間距設(shè)置為2 cm,分別在1.0 mol/L Na2SO4+0.5%(質(zhì)量分?jǐn)?shù))NaF和0.1 mol/L NH4F+1.0 mol/L H2SO4溶液中進(jìn)行陽(yáng)極氧化,然后用去離子水超聲清洗鈦片,干燥。

        1.2 二氧化鈦納米管的表征

        采用日本JEOL 公司的JSM-6700F 型掃描電子顯微鏡(SEM)表征樣品的微觀形貌;采用日本Rigaku 公司的D/MAX-RA 型X 射線衍射儀(XRD)表征樣品的相結(jié)構(gòu);采用上海第二電表廠C31-A 型直流電流表記錄陽(yáng)極氧化過(guò)程中電流隨時(shí)間的變化。

        2 結(jié)果與討論

        2.1 微觀形貌表征

        圖1為鈦片在不同條件下氧化1 h 形成的TiO2納米管的SEM 照片,其中圖1j為Na2SO4/NaF 電解液中制備的樣品,其余均為NH4F/H2SO4電解液中制備的樣品。從圖1 可見,在NH4F/H2SO4電解液中,5 V 電壓下(圖1a),樣品表面呈現(xiàn)片狀凸起。電壓升高到15 V時(shí)(圖1b、1c),表面凸起消失,出現(xiàn)管狀形貌,但不規(guī)整,分布不均勻,平均管徑為70 nm,平均壁厚13 nm。當(dāng)電壓達(dá)到20 V時(shí)(圖1d、1e),樣品表面形成了結(jié)構(gòu)規(guī)整、均勻有序的二氧化鈦納米管陣列,平均管徑100 nm,平均壁厚13 nm;而在Na2SO4/NaF 電解液中(圖1j),同樣的氧化時(shí)間及電壓下,制備的樣品形貌不規(guī)整,分布不均勻。當(dāng)電壓繼續(xù)增加到25 V (圖1f、1g)時(shí),納米管出現(xiàn)了較大程度的塌陷,部分區(qū)域管狀結(jié)構(gòu)消失。當(dāng)電壓達(dá)到30 V(圖1h、1i)時(shí),納米管受到了很大程度的破壞,塌陷且管狀結(jié)構(gòu)消失。

        圖1 鈦片在不同電壓和電解質(zhì)下氧化后的SEM 照片F(xiàn)igure 1 SEM images of titanium plates after anodizing at different voltages and with various electrolytes

        圖2 鈦片在不同電壓下氧化后側(cè)面的SEM 照片(NH4F/H2SO4,1 h)Figure 2 SEM images of cross-sectional view of titanium plates after anodizing at different voltages (in NH4F/H2SO4,for 1 h)

        圖2為樣品側(cè)面的SEM 照片。由圖2 可見,15~30 V下所制備的樣品,納米管長(zhǎng)度基本相同,約342 nm;但不同電壓下,二氧化鈦納米管膜層底部的阻擋層厚度不一樣。15~20 V時(shí),納米管膜層和阻擋層更為規(guī)整,在阻擋層上部形成了均勻分布、垂直于基體的有序二氧化鈦納米管陣列。

        以上結(jié)果表明:電解液組成和氧化電壓是影響二氧化鈦納米管有序形成的重要因素。在 0.1 mol/L NH4F+1.0 mol/L H2SO4的電解液中氧化1 h的條件下,15~20 V 內(nèi)可制備出形貌規(guī)整、均勻有序的二氧化鈦納米管,管徑隨電壓增加而增大;而在Na2SO4/NaF 體系中,相同條件下卻不能得到形貌規(guī)整的二氧化鈦納米管。

        2.2 X 射線衍射分析

        圖3 是鈦片在0.1 mol/L NH4F+1.0 mol/L H2SO4的電解液中陽(yáng)極氧化1 h(氧化電壓20 V)所得樣品的XRD 譜圖。與標(biāo)準(zhǔn)譜圖比對(duì)發(fā)現(xiàn),該譜圖與JCPDS(No.47-3362)標(biāo)準(zhǔn)卡片相符,主要表現(xiàn)為鈦的特征衍射峰,未出現(xiàn)銳鈦礦和金紅石2種晶型對(duì)應(yīng)的衍射峰,說(shuō)明樣品為無(wú)定型的TiO2。

        圖3 鈦片在20 V 下氧化1 h 后的XRD 譜圖Figure 3 XRD patterns of titanium plates after anodizing at 20 V for 1 h

        2.3 陽(yáng)極氧化機(jī)理分析

        圖4是陽(yáng)極氧化過(guò)程的電流?時(shí)間曲線。根據(jù)該圖,氧化電壓在15~30 V時(shí),陽(yáng)極氧化過(guò)程可分為3 個(gè)階段。TiO2納米管形成過(guò)程參見圖5。

        圖4 在不同電壓下的電流–時(shí)間曲線Figure 4 Current vs.time curves at different voltages

        (1)阻擋層形成:初始時(shí)刻,鈦快速溶解,陽(yáng)極電流很大,生成大量的Ti4+[反應(yīng)式(1)];同時(shí)水電離產(chǎn)生O2?[反應(yīng)式(2)],并在陽(yáng)極表面富集;Ti4+與O2?迅速反應(yīng),在鈦表面形成一層致密的阻擋層(圖5a),導(dǎo)致電流急劇降低。主要反應(yīng)如下[18]:

        (2)多孔層形成:由于氧化膜成分、應(yīng)力等的不均勻性影響,膜表面能量分布不均,引起F?在高能部位匯聚并強(qiáng)烈溶解該處氧化物,氧化膜逐漸變得凹凸不平。凹處氧化膜薄,電場(chǎng)強(qiáng)度大,溶解快[19-20],逐漸形成孔核(圖5b),隨后孔核因溶解而加深,形成小孔(圖5c)。主要反應(yīng)如下:

        (3)多孔層生長(zhǎng):微孔底部氧化層比孔間氧化層薄(圖5c),電場(chǎng)強(qiáng)度大,強(qiáng)電場(chǎng)使O2?快速移向基體,加速基體氧化反應(yīng),同時(shí)加速了氧化膜的溶解,底部氧化層和孔間氧化層同時(shí)向基體生長(zhǎng);隨著孔的生長(zhǎng),未被氧化區(qū)域凸起,電力線集中,電場(chǎng)強(qiáng)度增大,使表面氧化膜溶解加速,形成空腔(圖5d);空腔逐漸加深,將小孔分離,形成均勻有序的納米管陣列(圖5e、5f)[21]。

        圖5 TiO2納米管形成機(jī)理示意圖Figure 5 Scheme of formation mechanism for TiO2nanotube

        當(dāng)陽(yáng)極氧化電壓為5 V時(shí)(圖1a),由于電壓較低,電場(chǎng)強(qiáng)度較小,電解液中的F?定向撞擊鈦表面作用力小,不能形成較大的腐蝕坑,氧化停留在第一階段,樣品表面呈現(xiàn)片狀凸起;當(dāng)電壓增大到20 V(圖1d、5e)時(shí),電場(chǎng)強(qiáng)度增大,在電場(chǎng)力作用下,F(xiàn)?對(duì)鈦表面的沖擊力足以使凹坑轉(zhuǎn)化為較大的孔,因而進(jìn)入第二階段,孔逐漸加深,形成獨(dú)立有序的納米管;隨后,納米管逐漸生長(zhǎng),進(jìn)入第三階段;當(dāng)電壓過(guò)高(圖1f、1g、1h、1i)時(shí),電場(chǎng)強(qiáng)度過(guò)大,導(dǎo)致F?對(duì)鈦片沖擊力較大,局部腐蝕嚴(yán)重,鈦片表面形成的凹坑連為一體,部分納米管塌陷[22]。

        3 結(jié)論

        (1)在NH4F/H2SO4電解液體系中制備了形貌規(guī)整有序的二氧化鈦納米管陣列,氧化電壓為15~20 V,時(shí)間為1 h。

        (2)一定范圍內(nèi),增大電壓有助于二氧化鈦納米管的形成,管徑隨電壓的增加而增大;超過(guò)25 V,二氧化鈦納米管發(fā)生塌陷。

        (3)陽(yáng)極氧化制備二氧化鈦納米管的過(guò)程可分為阻擋層形成、多孔層形成及多孔層生長(zhǎng)3 個(gè)階段。

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