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        基片偏壓對(duì)磁控濺射制備TiB2涂層結(jié)構(gòu)及性能的影響

        2014-11-18 05:15:28谷文翠李壽德王懷勇陳春立
        航空材料學(xué)報(bào) 2014年5期
        關(guān)鍵詞:基片磁控濺射磨損率

        谷文翠, 李壽德, 王懷勇, 陳春立, 李 朋, 黃 峰

        (1. 西安建筑科技大學(xué) 材料與礦資學(xué)院,西安710055;2. 中國(guó)科學(xué)院 寧波材料技術(shù)與工程研究所,浙江 寧波315200;3.西安墻體材料研究設(shè)計(jì)院,西安710000)

        TiB2為六方(AlB2型)結(jié)構(gòu),作為過(guò)渡金屬族硼化物,具有高硬度、高化學(xué)穩(wěn)定性、良好導(dǎo)電性、良好的抗氧化性和抗腐蝕性等特點(diǎn)[1,2]??蓱?yīng)用于切削刀具、模具、航空航天零部件的表面防護(hù)上。目前,制備TiB2涂層的方法有很多,如反應(yīng)濺射[3]、化學(xué)氣 相 沉 積(CVD)[4,5]、離 子 束 濺 射[6]、磁 控 濺射[2,7~9]等,其中磁控濺射方法應(yīng)用最廣泛。

        磁控濺射技術(shù)就是在磁場(chǎng)的控制下,沉積粒子(分子或原子)被高能離子從靶材表面轟擊出來(lái),在基片表面沉積的一個(gè)快速冷卻過(guò)程,由于沉積時(shí)間短,原子擴(kuò)散距離短,磁控濺射涂層為原位生長(zhǎng),因此磁控濺射制備的涂層通常會(huì)存在柱狀結(jié)構(gòu)。而柱狀結(jié)構(gòu)的存在會(huì)使涂層缺陷和裂紋增多,致密性下降,從而使涂層機(jī)械性能降低。提高涂層致密性的一般方法有:提高基片溫度、減小氣壓、加基片偏壓等。受設(shè)備條件的限制,溫度過(guò)高會(huì)使設(shè)備使用壽命降低或基片難以承受高溫;增大氣壓可使等離子體密度增加,但是磁控濺射氣壓通常在10-1帕到幾帕之間,而且對(duì)沉積速率影響較大。因此通過(guò)溫度和氣壓提高致密性的方法有限。目前通過(guò)在基片上施加適當(dāng)偏壓的方法提高涂層致密性的方法應(yīng)用最為廣泛[10]。

        本工作利用磁控濺射技術(shù),通過(guò)改變基片偏壓制備了不同偏壓的TiB2涂層,并利用XRD,SEM、納米壓痕儀,Vickers 壓痕和摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)對(duì)涂層的結(jié)構(gòu)及機(jī)械性能進(jìn)行了分析。研究了基片偏壓對(duì)涂層結(jié)構(gòu)和性能的影響。

        1 實(shí)驗(yàn)

        1.1 原料及制備

        利用MS450 型高真空(<5 ×10-5Pa)雙靶磁控濺射設(shè)備,通過(guò)改變基片偏壓,在康寧Eagle 玻璃和單晶Si(100)基底上沉積TiB2涂層。TiB2靶采用中頻電源(MF),400W,100kHz。在鍍膜之前,沉積室背底真空抽到5 ×10-5Pa 以下。鍍膜時(shí)在Ar 氣氛下,氣壓控制在0.7Pa?;诇囟葹?73K,偏壓分別為floating,-30V 和-90V。沉積時(shí)長(zhǎng)120min,涂層厚度1.3 ~1.5μm。

        1.2 分析測(cè)試

        涂層的物相分析采用Bruker D8 型X 射線衍射儀(XRD),Cu Kα 射線,θ/θ 模式,步長(zhǎng)設(shè)定為0.01°,掃描范圍20 ~60°。利用Hitachi S4800 高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM)涂層的截面生長(zhǎng)結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征,加速電壓為4kV。涂層的硬度測(cè)量在MTS NANO G200 納米壓痕儀上進(jìn)行。其中硬度測(cè)試采用金剛石壓頭,為了消除基片效應(yīng),最大壓入深度設(shè)為100nm(膜厚的1/10)。Vickers 壓痕使用HV-1000 顯微硬度計(jì),使用0.5N 和1N 的載荷在Si基片上進(jìn)行加載。其中HV-1000 顯微硬度計(jì)使用金剛石壓頭。摩擦磨損試驗(yàn)在球盤式摩擦磨損實(shí)驗(yàn)機(jī)(JLTB-02 型)上進(jìn)行,對(duì)涂層的摩擦系數(shù)、磨損深度和磨損量進(jìn)行了分析。使用直徑為6mm 的Al2O3球作為摩擦副進(jìn)行干摩擦實(shí)驗(yàn),載荷為2N,磨損位移200m,轉(zhuǎn)速60mm/s,旋轉(zhuǎn)總次數(shù)為21218。并利用FEI QuantaTM 250 FEG 型熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM)對(duì)Vickers 壓痕形貌和磨痕形貌進(jìn)行了表征,電壓為5kV。

        表1 不同涂層的(0001)峰位值、半峰寬和晶粒尺寸比較Table 1 The comparison of (0001)peak,F(xiàn)WHM,and grain size of various coatings

        2 結(jié)果與討論

        2.1 物相和結(jié)構(gòu)分析

        圖1 為不同偏壓下涂層的XRD 圖譜,從圖中可以看出,所有涂層均表現(xiàn)為六方結(jié)構(gòu)TiB2的衍射峰。TiB2的(0001)衍射峰強(qiáng)度明顯高于其他衍射峰。從熱力學(xué)上分析[11],雖然薄膜的沉積發(fā)生在瞬間,通常是原位生長(zhǎng),不可能達(dá)到熱力學(xué)平衡狀態(tài),但可以用此原則預(yù)測(cè)薄膜的晶面取向。薄膜能量由表面能、彈性應(yīng)變能和界面能組成,在無(wú)應(yīng)力或者低應(yīng)力情況下,應(yīng)變能較小,表面能決定晶面的總能量,此時(shí)表面能較小的晶面擇優(yōu)生長(zhǎng)。而表面能最小的晶面通常是原子密排面,因此TiB2的(0001)晶面為擇優(yōu)晶面。結(jié)合表1 可以看出,隨偏壓的增大,(0001)衍射峰強(qiáng)度增強(qiáng),半高寬變窄。通過(guò)謝樂(lè)公式:

        其中,D 為晶粒尺寸,K 為常數(shù)(0.89),B 為半峰寬,λ 為波長(zhǎng),θ 為衍射角。計(jì)算可知,低的偏壓下(-30 V),晶粒尺寸變化不大;高的偏壓下(-90 V),促進(jìn)了晶粒的長(zhǎng)大,達(dá)到21nm。但是高的偏壓可能提高涂層的殘余應(yīng)力,-90 V 的偏壓下,涂層的壓應(yīng)力使(0001)峰位置向左偏移了0. 5°。Sanchez等[12]指出,適度壓應(yīng)力的存在會(huì)提高涂層的致密性,而無(wú)應(yīng)力或者張應(yīng)力的涂層通常較疏松。

        圖1 不同偏壓制備的TiB2 涂層的XRD 圖譜Fig.1 XRD patterns of TiB2 coatings with various bias voltage (a)floating;(b)-30 V;(c)-90 V

        為了表征涂層的生長(zhǎng)結(jié)構(gòu)和致密性,使用硅片上沉積的涂層,直接折斷樣品在SEM 下對(duì)其截面形貌進(jìn)行了觀察,如圖2 所示。Floating 狀態(tài)制備的涂層圖2a 截面為疏松多孔的柱狀結(jié)構(gòu),而且柱狀結(jié)構(gòu)間的縫隙較大,說(shuō)明缺陷和裂紋較多;低的偏壓下圖2b,涂層仍表現(xiàn)為柱狀結(jié)構(gòu),但是柱狀結(jié)構(gòu)之間的間隙減小,致密性增加;在高的偏壓下圖2c,柱狀結(jié)構(gòu)消失,致密性提高。這是因?yàn)樵诟叩幕珘合?,離子被加速而能量增大,對(duì)基片轟擊作用增強(qiáng),從而有利于沉積粒子在基片表面均勻擴(kuò)散,使涂層致密化。由于大的偏壓導(dǎo)致高能轟擊,會(huì)導(dǎo)致反濺射,即未完全凝結(jié)的沉積原子被離子轟擊脫落。這也就是圖2c 中涂層厚度相對(duì)于其他涂層小的原因。柱狀結(jié)構(gòu)的存在會(huì)使涂層存在大量的缺陷和裂紋,使其變得疏松,從而影響了使用性能。因此柱狀結(jié)構(gòu)的消除有助于涂層機(jī)械性能的提高。

        2.2 機(jī)械性能分析

        圖2 不同偏壓TiB2 涂層的截面SEM 圖(a)floating;(b)-30V;(c)-90VFig.2 Cross-section SEM morphology of TiB2 coatings with various bias voltage(a)floating;(b)-30 V;(c)-90 V

        采用MTS NANO G200 納米壓痕儀對(duì)不同偏壓制備涂層的硬度和彈性模量進(jìn)行了表征(表2)。Floating 狀態(tài)制備的涂層,由于結(jié)構(gòu)較疏松,致密性差,因此硬度最低。隨偏壓增大,硬度和彈性模量都提高?;珘簭模?0V 增加到-90V,涂層的硬度從35.5GPa 提高到61.9 GPa,實(shí)現(xiàn)了超硬,H/E從0.08 提高到0.12。由于偏壓的增大,涂層在生長(zhǎng)過(guò)程中的殘余壓應(yīng)力也會(huì)增大。研究表明,壓應(yīng)力的增大會(huì)使涂層的硬度提高[13,14]。同時(shí),涂層硬度的提高與其致密性的提高、柱狀晶的消除以及(0001)衍射峰的增強(qiáng)是分不開的。Holleck[1]在文中曾報(bào)道,(0001)衍射峰的增強(qiáng)有助于硬度的提高。

        表2 三種涂層的硬度、楊氏模量、H/E 和磨損率Table 2 The hardness,indentation modulus,H/E,and wear rate of three coatings

        圖3 不同偏壓TiB2 涂層的載荷位移曲線Fig.3 The load-displacement curve of TiB2 coatings with various bias voltage

        從圖3 不同偏壓涂層的載荷位移曲線中可以看出,隨著偏壓的增大,壓入相同深度需要的載荷增大。-90 V 偏壓制備的涂層,壓入相同的深度需要的載荷明顯高于-30 V 制備的涂層。而且彈性恢復(fù)We在60%以上,試驗(yàn)表明We>60%,H/E >0.1的涂層具有優(yōu)異的摩擦性能[15,16]。

        圖4 不同偏壓涂層在兩種載荷下的Vickers 壓痕形貌(a)-30V,載荷0.5N;(b)-90V,載荷0.5N;(c)-30V,載荷1N ;(d)-90V,載荷1NFig.4 Vickers indentations in different coatings and different loads (a)-30 V,load 0.5N;(b)-90 V,load 0.5N;(c)-30 V,load 1N;(d)-90 V,load 1N

        本工作使用了HV-1000 顯微硬度計(jì)對(duì)涂層表面進(jìn)行了加載。圖4 為SEM 觀察到的不同載荷(0.5N 和1N)下的低偏壓(- 30V)和高偏壓(-90V)兩種涂層的壓痕表面形貌。通過(guò)載荷為0.5N 的維氏壓痕形貌,可以計(jì)算出其在0.5N 下的維氏硬度。由計(jì)算公式:

        其中,F(xiàn) 為載荷,S 為維氏壓痕面積??梢杂?jì)算出-30V 偏壓與-90V 偏壓的涂層維氏硬度分別約為1146HV 和2103HV(可換算為約11GPa 和21GPa)。其硬度值與納米壓痕硬度相差較大,可能的原因是由于(1)兩者的載荷不同,納米壓痕硬度因?yàn)檩d荷太小會(huì)明顯偏大。(2)相比較納米壓痕,維氏壓痕使用的載荷要大得多,壓入深度約為壓痕直徑的1/7,壓痕接近穿透膜層,基底的硬度對(duì)測(cè)試結(jié)果有一定的影響[17]。(3)兩者計(jì)算硬度的方法也存在不同。由于硬度測(cè)量因?yàn)闇y(cè)試條件等原因可能存在諸多的誤差。但文中的三種涂層均在相同測(cè)試條件下進(jìn)行硬度測(cè)量,可看出隨著偏壓的增大,涂層的硬度有明顯增大的趨勢(shì)。本工作主要從表面形貌觀察涂層的變形行為,可以觀察到高偏壓的涂層Vickers 壓痕的壓入面積明顯小于低偏壓的涂層,說(shuō)明高偏壓涂層在加載時(shí)抵抗塑性變形的能力高于低偏壓的涂層。主要是由于高偏壓涂層結(jié)構(gòu)致密,使其抵抗塑性變形的能力較強(qiáng)。

        圖5 不同偏壓TiB2 涂層的摩擦系數(shù)(a)和摩擦深度(b)Fig.5 Friction coefficient (a)and wear depth (b)of TiB2 coatings with various bias voltage

        同時(shí)還利用球盤式摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),對(duì)三種不同偏壓涂層的耐磨損性能進(jìn)行了表征,實(shí)驗(yàn)在溫度20 ℃,濕度50%的大氣環(huán)境中進(jìn)行,并對(duì)涂層的摩擦系數(shù)、磨損深度、磨損率和磨損形貌進(jìn)行了分析。偏壓為floating 的樣品在摩擦實(shí)驗(yàn)早期因剝落而失效,無(wú)法準(zhǔn)確得出其摩擦系數(shù)。可能是由于該涂層生長(zhǎng)結(jié)構(gòu)較為疏松,因而承受載荷的能力較弱,容易發(fā)生斷裂,故而在摩擦早期便發(fā)生失效[18]。圖5 為低偏壓(-30V)和高偏壓(-90V)涂層的摩擦系數(shù)和磨損深度。從5a 圖中可已看出兩涂層的摩擦系數(shù)大體相近,都在0.6 ~0.7 之間。但是從磨損深度圖5b 中可以看出,磨損位移200m 時(shí),低偏壓涂層的磨損深度達(dá)到1.5μm,而膜層厚度為1.3μm 左右,因此磨穿基底。但是-90V 偏壓涂層的磨損深度只有0.7μm 左右。兩涂層磨損深度的不同導(dǎo)致磨損率的明顯差別(表2 所示),低偏壓涂層的磨損率為8.1 ×10-15m3/Nm,高偏壓涂層的磨損率為5.6 ×10-16m3/Nm,相對(duì)于低偏壓磨損速率降低了一個(gè)數(shù)量級(jí)。因此從兩圖中可以看出摩擦系數(shù)對(duì)涂層的磨損率影響不大,磨損率的主要區(qū)別可能是由于涂層的致密性和硬度的差別引起的。

        從磨損形貌圖6a 中可以看出,偏壓為floating的涂層磨痕中央已經(jīng)剝落暴露基底。另外圖5a -30V 偏壓涂層的磨痕與圖5b -90V 偏壓涂層相比,圖6b 磨痕寬度大,而且碎屑多,在磨損過(guò)程中,碎屑會(huì)給涂層帶來(lái)磨粒磨損,而磨粒磨損會(huì)加重涂層的失效,因此容易使涂層劃穿基底甚至脫落。圖6c 磨痕較窄,而且未出現(xiàn)明顯的碎屑,磨痕較光滑。因此表現(xiàn)出良好的耐磨損性能。

        綜上性能可以得出,適當(dāng)?shù)脑龃笃珘河兄谄溆捕取⒛湍p等機(jī)械性能的提高。其提高的原因可能是由于偏壓增大,使涂層致密性增加,導(dǎo)致涂層本身的缺陷和裂紋減少。從而使涂層在外力作用下阻礙裂紋產(chǎn)生和擴(kuò)展的能力增強(qiáng)。

        3 結(jié)論

        (1)采用磁控濺射技術(shù),通過(guò)改變偏壓制備出了TiB2涂層。

        (2)結(jié)構(gòu)方面:所有涂層均只存在六方結(jié)構(gòu)TiB2一相,偏壓增大,促進(jìn)了晶粒的生長(zhǎng),而且是涂層致密性增加。當(dāng)偏壓達(dá)到-90 V 時(shí),晶粒尺寸達(dá)21nm,柱狀結(jié)構(gòu)消失。

        (3)機(jī)械性能方面:隨偏壓的增大,涂層硬度和壓入模量都增大,- 90V 偏壓下,涂層硬度達(dá)到61.9GPa,H/E >0.1,摩擦學(xué)性能提高,相對(duì)于-30V偏壓涂層,在摩擦系數(shù)相近的情況下,磨損深度降低,磨損率下降了一個(gè)數(shù)量級(jí)。

        圖6 不同偏壓TiB2 涂層的磨痕形貌圖(a)floating;(b)-30 V;(c)-90 VFig.6 SEM micrographs of wear track for TiB2 coatings with various bias voltage (a)floating;(b)-30 V;(c)-90 V

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