平高集團有限公司 關 曉 聶海全
目前國內(nèi)GIS生產(chǎn)廠家及安裝現(xiàn)場常用的檢漏設備,大多是上海唐山儀表廠生產(chǎn)的LF-ID檢漏儀,見圖1。它的工作原理是探槍內(nèi)裝有高頻振蕩回路的電離腔,工作時電離腔內(nèi)接近真空狀態(tài)下產(chǎn)生高頻電離,具有負電性的SF6氣體進入電離腔,電離狀態(tài)會發(fā)生改變,高頻振蕩狀態(tài)也隨之改變,檢波高頻振蕩狀態(tài)就能判定SF6氣體濃度。該檢漏儀優(yōu)點為具有定量校準曲線,方便進行定量計算;靈敏度較高,10-8 SF6氣體濃度有反應。缺點為穩(wěn)定性較差,體積重量較大,適應于出廠試驗與現(xiàn)場檢漏試驗。
圖1 上海唐山儀表廠LF-ID檢漏儀工作原理示意圖
每一臺檢漏儀都有其唯一的校準曲線,見圖2。橫坐標代表檢漏儀探槍的讀數(shù),縱坐標代表SF6濃度。檢漏時,檢漏儀的讀數(shù)沒有單位,要換算成濃度值,就要查該檢漏儀的SF6氣體檢漏儀定量校準曲線,例如,檢漏儀的讀數(shù)為100,從曲線上對應縱坐標代表的濃度為9.5×10-6(V/V,體積比),即9.5ppm。
圖2 定量校準曲線
用檢漏儀對配制(常用方法是用1ml的針筒抽入純SF6氣體,稀釋到100ml的針筒內(nèi),該針筒內(nèi)氣體濃度就是10-2,以此類推)的每一濃度(10-8 10-7 10-6 10-5 10-4 10-3 10-2 )的標準SF6氣體進行測量,就有一個相應的讀數(shù),這些濃度和檢漏儀讀數(shù)在坐標紙上就構(gòu)成了相應的坐標點,把這些點用平滑的曲線連起來,就制成該臺檢漏儀的SF6氣體檢漏儀定量校準曲線,檢漏儀的基數(shù),即檢漏儀在沒有SF6氣體、空氣清新的地方,儀器所顯示的基礎數(shù)值,簡稱為基數(shù),如圖2,該臺檢漏儀基數(shù)為30。
我們在實際檢漏試驗時,會發(fā)現(xiàn)檢漏儀在工作一定時期之后,基數(shù)會發(fā)生變化。基數(shù)是儀器各個可調(diào)部位調(diào)整在一定情況下所固有的數(shù)值。定量校準曲線表是在此基數(shù)基礎上經(jīng)過校準得來的,曲線中的各項指標與檢漏儀的實際檢測性能相符。由于檢漏儀的實際工況及各部件的工作性能發(fā)生了變化,引起基數(shù)發(fā)生變化,這時原定量校準曲線表與檢漏儀的實際檢測性能已不再相符?;鶖?shù)變化越大,原校準曲線準確度越低。此時,需要對檢漏儀重新校準。
定性檢漏方法:試品充額定壓力SF6氣體后,且靜置時間不少于24h才可進行定性檢漏。檢漏儀工作正常,在無風吹拂的情況下,手拿探槍距試品5mm左右,對電氣設備的各個密封環(huán)節(jié)、焊縫、鑄件、接頭接合面、法蘭密封、轉(zhuǎn)動密封、滑動密封、表計接口等位置進行緩慢移動(盡量避免接觸試品,避免探槍靠試品太近易吸入灰塵及雜物、與產(chǎn)品易磕碰,會造成檢漏儀讀數(shù)的不穩(wěn)定),監(jiān)聽檢漏儀的報警聲音的變化,同時監(jiān)視檢漏儀的濃度讀數(shù)。
定性檢漏合格判斷:檢漏儀讀數(shù)不增加的為合格;
定性檢漏儀讀數(shù)增加較大(大于1×10-6)的,為不合格(要避免螺紋孔等處SF6氣體積蓄后,濃度較大,造成誤判);
定性如果讀數(shù)增加不大(不大于1×10-6),需采用定量法(包扎法)進一步確認是否合格。
引用相關標準二:DL/T618-2011《氣體絕緣金屬封閉開關設備現(xiàn)場交接試驗規(guī)程》第3頁9.3.1規(guī)定:
我們經(jīng)過多年實踐驗證:
用不低于1×10-6(體積比)的檢漏儀對各氣室密封部分、管道接頭等處進行檢測時,檢漏儀不報警的方法能夠保證年漏氣率不大于1%。
用不低于1×10-8(體積比)的檢漏儀對各氣室密封部分、管道接頭等處進行檢測時,檢漏儀不報警的方法能夠保證年漏氣率不大于0.1%。對于檢漏儀有反應,讀數(shù)濃度沒有超過1×10-6(體積比)的,要用包扎法進行確認(避免誤判)。
定量檢漏方法:試品充額定壓力SF6氣體后,且靜置時間不少于24h,用薄膜對試品進行包扎或扣罩,歷時5h或24h后,用檢漏儀測量罩內(nèi)SF6氣體增加量。
檢漏合格判斷:包扎5h后,單個包扎罩內(nèi)SF6濃度增加不大于15ppm為合格。
每個氣室,計算年漏氣率不應大于0.3%為合格。
單個密封面或單個零部件,計算漏氣率≤0.1Pa.cm3/s為合格。
引用相關標準一、GB50150-2006《電氣裝置安裝工程電氣設備交接試驗標準》第49頁14.0.4規(guī)定,必要是要采用局部包扎法進行氣體泄漏測量。以24h的漏氣量換算,每個氣室年漏氣率不應大于1%。
引用相關標準二、DL/T596-1996 《電力設備預防性試驗規(guī)程》第567頁規(guī)定,對電壓等級較高的斷路器以及 GIS 。因體積大可采用局部包扎法檢漏,每個密封面位包扎后歷時5h,測得的SF6氣體含量(體積比)不大于30×10-6。
引用相關標準三:DL/T618-2011《氣體絕緣金屬封閉開關設備現(xiàn)場交接試驗規(guī)程》第3頁9.3.2規(guī)定:
引用相關標準四:GIS生產(chǎn)廠家技術標準:單個密封面或單個零部件要求,漏氣率 ≤0.1Pa.cm3/s
我們經(jīng)過多年實踐驗證:包扎后歷時5h,測得的SF6氣體含量(體積比)不大于15×10-6 方法能夠保證年漏氣率不大于0.1%。
單個密封面或單個零部件,計算漏氣率≤0.1Pa.cm3/s的,也能夠保證年漏氣率不大于0.1%。
當氣密性試驗,漏氣量大小有爭議時,應以包扎檢漏為準,只要滿足包扎后時間5h,罩內(nèi)增加的SF6氣體含量(體積比)不大于15×10-6,就能夠保證年漏氣率不大于0.1%。
圖3為某耐壓工裝(內(nèi)充0.5MPa SF6)包扎檢漏情況
圖3 耐壓工裝包扎檢漏
P(大氣壓強)——105Pa V(檢漏罩減去試品的容積)—cm3K(檢漏罩內(nèi)SF6氣體的濃度增加值即K2-K1)—體積比值t(扣罩收集SF6氣體含量的時間)。
年漏氣量:
r=SF6氣體密度 6.15kg/m3(latm 20℃)
T=1年的小時數(shù) 365日×24h =8760h
V=檢漏罩減去試品的容積 m3
K=SF6氣體濃度變化 V/V
t=扣罩或包扎時間 t (h)
G=年漏氣重量 kg
M=該氣室充入SF6氣體重量 kg
規(guī)范有效的GIS氣密試驗,一方面檢漏設備要完好、滿足要求,充SF6氣體時間要足夠長,不低于24h,檢漏方法(定性、包扎)要得當,計算方法要正確,使用標準要準確。
附有關SF6氣體的相關特性
1)SF6氣體和空氣的對比度:
SF6氣體約是空氣重量的5倍〔分子量SF6氣體146.06(g/mol)空氣為28.966(g/mol)〕、SF6氣體構(gòu)造是以S原子為中心周圍有6個F原子的頂點相結(jié)合的正八面體,S原子和F原子的間隔是1.58A、由于SF6氣體是無色、無味、無害的氣體、重量又是空氣的5倍,所以在檢漏罩中操作時要充分注意不要造成缺氧。
2)壓力單位
我們通常所見所說的壓力表上的壓力比如『0.4MPa』指的是表壓。表壓再加上大氣壓就是絕對壓力。平時,單說壓力是多少MPa時,在科學關系中多指絕對壓力,在機器關系中多指儀表壓力。1個大氣壓是指空氣層對地上的物體的通常壓力,用latm,760 mmHg,1013 hPa等來表示。另外,用來表示真空度的單位的Pa則是133Pa=1Torr =1 mmHg。
3)波耳—查理定律
一般溫度保持一定的話氣體的體積與壓力成反比。這在波耳—查理定律中以氣體的壓力為P、體積為V,表示出來的話即是PV=常量。另外,就氣體的膨脹率來說,幾乎所有的氣體都是一定的,大約是1/273,如α=1/273時,則α=(V-V0)/(V0 t)即V=V0(1+t/273)即一定質(zhì)量的氣體的體積,如壓力一定的話,溫度每上升1℃,將增加0℃的體積的1/273。這就是波耳—查理定律。
波耳—查理定律中氣體的體積與絕對溫度成正比、與壓力成反比。現(xiàn)在,以絕對溫度為T0,此時的壓力為P0,體積為V0時,其絕對溫度T時的壓力P、體積V則為P·V/T=P0·V0/T0=常量。
如:V=一定的話,則P/P0=T/T0 ∴ P0(1+t/273),即一定體積的氣體壓力,溫度每上升1℃,則增加0℃時的壓力的1/273。
習題1 一壓力容器中置入0.5 MPa(20℃)的空氣,當空氣溫度降至5℃時,壓力是多少?
SF6氣體和空氣的對比度表
各種絕對壓力換算表
4)求得SF6氣體重量的方法
欲求封入某容器中的SF6氣體的重量。因壓力1atm 20℃時的密度為6.15kg/m3,假設1m3的容器中封入0.3MPa(表壓)SF6氣體的話,其重量則是:密度25.28 kg/m3 ×1m3=25.28 kg,通過壓力—密度曲線可以簡單看出。記牢SF6氣體的密度6.15 kg/m3(20℃)的話,會在計算中帶來很多方便。
習題2 在溫度5℃時在750l的容器中封入0.5 MPa(表壓)的SF6氣體,其重量是多少?
溫度5℃時0.5MPa的SF6氣體,根據(jù)波耳—查理定律20℃的壓力為0.53MPa。
查表求得此時的密度是41.77 kg/m3(20℃)。
內(nèi)容積是750l,即0.75m3 SF6氣體的重量是41.77×0.75=31.3 kg。計算時應注意的是單位必須統(tǒng)一。
Kgf/cm與MPa(表壓)的密度參考值(20C。)