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        地質(zhì)剖面圖繪制中巖層產(chǎn)狀的確定方法及其優(yōu)缺點(diǎn)

        2014-05-10 07:14:27張小琴

        摘要:地質(zhì)剖面圖是按一定比例尺,表示地質(zhì)剖面上的地質(zhì)現(xiàn)象及其相互關(guān)系的圖件。它是在勾繪出地形輪廓的剖面上進(jìn)一步反映出某一或某些地層的產(chǎn)狀、分層、巖性、化石產(chǎn)出部位、地層厚度以及接觸關(guān)系等地層的特征。地質(zhì)剖面圖與地質(zhì)圖相配合,可以獲得地質(zhì)構(gòu)造的立體概念。巖層產(chǎn)狀確定準(zhǔn)確,可以正確反映巖層之間的空間分布情況,對(duì)地質(zhì)圖的認(rèn)識(shí)大有裨益。

        關(guān)鍵詞:巖層產(chǎn)狀 剖面圖 V字形法則

        1 巖層產(chǎn)狀

        巖層產(chǎn)狀,巖層面在產(chǎn)出地點(diǎn)的三維空間延伸方位和產(chǎn)出狀態(tài),是以巖層面在三維空間的延伸方位及其傾斜程度來(lái)確定的,即采用巖層面的走向(MN)、傾向(OD)、傾角(DOD)三個(gè)要素的數(shù)值來(lái)表示(如圖1所示)。

        圖1 巖層產(chǎn)狀示意圖

        2 地質(zhì)剖面圖的繪制

        2.1 選擇剖面位置,確定剖面方向,一般均要求與地層走向線垂直。

        2.2 繪制地形剖面。

        2.3 投地質(zhì)界線點(diǎn),繪制地質(zhì)界面。繪制的巖層傾角為視傾角。

        2.4 整飾圖件。

        地質(zhì)剖面圖繪制的關(guān)鍵是繪制地質(zhì)界面,確定巖層的傾斜方向及傾角。(如圖2)

        圖2 繪制地質(zhì)剖面示意圖

        3 野外測(cè)量

        測(cè)量,是目前巖層產(chǎn)狀確定的最基本、最直接的方法,測(cè)量工具為地質(zhì)羅盤(pán)儀和GPS,可以量測(cè)出巖層的走向、傾向和傾角。

        但是,野外測(cè)量的關(guān)鍵是找到露頭,找到巖層的層面,現(xiàn)在野外巖石風(fēng)化,層面和劈理、線理面區(qū)分困難,影響測(cè)量的準(zhǔn)確性。有些地方,巖層埋藏較深,露頭不明顯,產(chǎn)狀無(wú)法測(cè)量。另外,在地質(zhì)剖面圖繪制中,關(guān)鍵是巖層之間的結(jié)合分布情況,野外測(cè)量的巖層產(chǎn)狀,在地質(zhì)圖繪制時(shí),還得考慮巖層與剖面線之間的關(guān)系。

        在圖2中,巖層產(chǎn)狀從左到右已經(jīng)表示,可以直接在繪圖中應(yīng)用。到右側(cè)P22 P21巖層時(shí),巖層產(chǎn)狀沒(méi)有標(biāo)示,我們一般認(rèn)為巖層產(chǎn)狀變化不大,直接在前邊繪圖的基礎(chǔ)上延伸。

        4 三點(diǎn)法確定巖層產(chǎn)狀

        根據(jù)V字形法則相同——相反原則(巖層傾向與地面傾向相同時(shí),且?guī)r層傾角大于地面坡度角時(shí),巖層界限與地形等高線的彎曲方向相反,即V字形尖端指向相反,簡(jiǎn)稱相同——相反),可以反推出巖層傾斜方向?yàn)槟衔鞣较颍瑑A角大于14度。從左向右依次推斷。

        優(yōu)缺點(diǎn):在大、中比例尺地質(zhì)圖上,表現(xiàn)明顯,但在本圖中,關(guān)鍵是找到地形起伏與地質(zhì)構(gòu)造線之間的關(guān)系,否則意義不大。

        總之,地質(zhì)剖面圖中巖層產(chǎn)狀確定準(zhǔn)確,地質(zhì)圖繪制清晰,能更好的反映地質(zhì)現(xiàn)象,更好的認(rèn)識(shí)地質(zhì)圖。各類(lèi)方法各有利弊,應(yīng)互相參照,互為補(bǔ)充。

        參考文獻(xiàn):

        [1]徐開(kāi)禮,朱志澄.構(gòu)造地質(zhì)學(xué)[M].北京:地質(zhì)出版社.

        [2]成都地質(zhì)學(xué)院,武漢地質(zhì)學(xué)院.構(gòu)造地質(zhì)學(xué)(附本)[M].北京:地質(zhì)出版社.

        [3]昆明地質(zhì)學(xué)校,長(zhǎng)春地質(zhì)學(xué)校.構(gòu)造地質(zhì)及地質(zhì)力學(xué)實(shí)習(xí)實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)[M].北京:地質(zhì)出版社.

        作者簡(jiǎn)介:

        張小琴(1983-),女,河北保定人,現(xiàn)工作于遼寧地質(zhì)工程職業(yè)學(xué)院,地質(zhì)專業(yè)教師,講師,2010年10月至今就讀于中國(guó)地質(zhì)大學(xué),地球科學(xué)與資源學(xué)院地質(zhì)工程專業(yè)在職研究生,研究方向:工程地質(zhì)、水文地質(zhì)方向。endprint

        摘要:地質(zhì)剖面圖是按一定比例尺,表示地質(zhì)剖面上的地質(zhì)現(xiàn)象及其相互關(guān)系的圖件。它是在勾繪出地形輪廓的剖面上進(jìn)一步反映出某一或某些地層的產(chǎn)狀、分層、巖性、化石產(chǎn)出部位、地層厚度以及接觸關(guān)系等地層的特征。地質(zhì)剖面圖與地質(zhì)圖相配合,可以獲得地質(zhì)構(gòu)造的立體概念。巖層產(chǎn)狀確定準(zhǔn)確,可以正確反映巖層之間的空間分布情況,對(duì)地質(zhì)圖的認(rèn)識(shí)大有裨益。

        關(guān)鍵詞:巖層產(chǎn)狀 剖面圖 V字形法則

        1 巖層產(chǎn)狀

        巖層產(chǎn)狀,巖層面在產(chǎn)出地點(diǎn)的三維空間延伸方位和產(chǎn)出狀態(tài),是以巖層面在三維空間的延伸方位及其傾斜程度來(lái)確定的,即采用巖層面的走向(MN)、傾向(OD)、傾角(DOD)三個(gè)要素的數(shù)值來(lái)表示(如圖1所示)。

        圖1 巖層產(chǎn)狀示意圖

        2 地質(zhì)剖面圖的繪制

        2.1 選擇剖面位置,確定剖面方向,一般均要求與地層走向線垂直。

        2.2 繪制地形剖面。

        2.3 投地質(zhì)界線點(diǎn),繪制地質(zhì)界面。繪制的巖層傾角為視傾角。

        2.4 整飾圖件。

        地質(zhì)剖面圖繪制的關(guān)鍵是繪制地質(zhì)界面,確定巖層的傾斜方向及傾角。(如圖2)

        圖2 繪制地質(zhì)剖面示意圖

        3 野外測(cè)量

        測(cè)量,是目前巖層產(chǎn)狀確定的最基本、最直接的方法,測(cè)量工具為地質(zhì)羅盤(pán)儀和GPS,可以量測(cè)出巖層的走向、傾向和傾角。

        但是,野外測(cè)量的關(guān)鍵是找到露頭,找到巖層的層面,現(xiàn)在野外巖石風(fēng)化,層面和劈理、線理面區(qū)分困難,影響測(cè)量的準(zhǔn)確性。有些地方,巖層埋藏較深,露頭不明顯,產(chǎn)狀無(wú)法測(cè)量。另外,在地質(zhì)剖面圖繪制中,關(guān)鍵是巖層之間的結(jié)合分布情況,野外測(cè)量的巖層產(chǎn)狀,在地質(zhì)圖繪制時(shí),還得考慮巖層與剖面線之間的關(guān)系。

        在圖2中,巖層產(chǎn)狀從左到右已經(jīng)表示,可以直接在繪圖中應(yīng)用。到右側(cè)P22 P21巖層時(shí),巖層產(chǎn)狀沒(méi)有標(biāo)示,我們一般認(rèn)為巖層產(chǎn)狀變化不大,直接在前邊繪圖的基礎(chǔ)上延伸。

        4 三點(diǎn)法確定巖層產(chǎn)狀

        根據(jù)V字形法則相同——相反原則(巖層傾向與地面傾向相同時(shí),且?guī)r層傾角大于地面坡度角時(shí),巖層界限與地形等高線的彎曲方向相反,即V字形尖端指向相反,簡(jiǎn)稱相同——相反),可以反推出巖層傾斜方向?yàn)槟衔鞣较颍瑑A角大于14度。從左向右依次推斷。

        優(yōu)缺點(diǎn):在大、中比例尺地質(zhì)圖上,表現(xiàn)明顯,但在本圖中,關(guān)鍵是找到地形起伏與地質(zhì)構(gòu)造線之間的關(guān)系,否則意義不大。

        總之,地質(zhì)剖面圖中巖層產(chǎn)狀確定準(zhǔn)確,地質(zhì)圖繪制清晰,能更好的反映地質(zhì)現(xiàn)象,更好的認(rèn)識(shí)地質(zhì)圖。各類(lèi)方法各有利弊,應(yīng)互相參照,互為補(bǔ)充。

        參考文獻(xiàn):

        [1]徐開(kāi)禮,朱志澄.構(gòu)造地質(zhì)學(xué)[M].北京:地質(zhì)出版社.

        [2]成都地質(zhì)學(xué)院,武漢地質(zhì)學(xué)院.構(gòu)造地質(zhì)學(xué)(附本)[M].北京:地質(zhì)出版社.

        [3]昆明地質(zhì)學(xué)校,長(zhǎng)春地質(zhì)學(xué)校.構(gòu)造地質(zhì)及地質(zhì)力學(xué)實(shí)習(xí)實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)[M].北京:地質(zhì)出版社.

        作者簡(jiǎn)介:

        張小琴(1983-),女,河北保定人,現(xiàn)工作于遼寧地質(zhì)工程職業(yè)學(xué)院,地質(zhì)專業(yè)教師,講師,2010年10月至今就讀于中國(guó)地質(zhì)大學(xué),地球科學(xué)與資源學(xué)院地質(zhì)工程專業(yè)在職研究生,研究方向:工程地質(zhì)、水文地質(zhì)方向。endprint

        摘要:地質(zhì)剖面圖是按一定比例尺,表示地質(zhì)剖面上的地質(zhì)現(xiàn)象及其相互關(guān)系的圖件。它是在勾繪出地形輪廓的剖面上進(jìn)一步反映出某一或某些地層的產(chǎn)狀、分層、巖性、化石產(chǎn)出部位、地層厚度以及接觸關(guān)系等地層的特征。地質(zhì)剖面圖與地質(zhì)圖相配合,可以獲得地質(zhì)構(gòu)造的立體概念。巖層產(chǎn)狀確定準(zhǔn)確,可以正確反映巖層之間的空間分布情況,對(duì)地質(zhì)圖的認(rèn)識(shí)大有裨益。

        關(guān)鍵詞:巖層產(chǎn)狀 剖面圖 V字形法則

        1 巖層產(chǎn)狀

        巖層產(chǎn)狀,巖層面在產(chǎn)出地點(diǎn)的三維空間延伸方位和產(chǎn)出狀態(tài),是以巖層面在三維空間的延伸方位及其傾斜程度來(lái)確定的,即采用巖層面的走向(MN)、傾向(OD)、傾角(DOD)三個(gè)要素的數(shù)值來(lái)表示(如圖1所示)。

        圖1 巖層產(chǎn)狀示意圖

        2 地質(zhì)剖面圖的繪制

        2.1 選擇剖面位置,確定剖面方向,一般均要求與地層走向線垂直。

        2.2 繪制地形剖面。

        2.3 投地質(zhì)界線點(diǎn),繪制地質(zhì)界面。繪制的巖層傾角為視傾角。

        2.4 整飾圖件。

        地質(zhì)剖面圖繪制的關(guān)鍵是繪制地質(zhì)界面,確定巖層的傾斜方向及傾角。(如圖2)

        圖2 繪制地質(zhì)剖面示意圖

        3 野外測(cè)量

        測(cè)量,是目前巖層產(chǎn)狀確定的最基本、最直接的方法,測(cè)量工具為地質(zhì)羅盤(pán)儀和GPS,可以量測(cè)出巖層的走向、傾向和傾角。

        但是,野外測(cè)量的關(guān)鍵是找到露頭,找到巖層的層面,現(xiàn)在野外巖石風(fēng)化,層面和劈理、線理面區(qū)分困難,影響測(cè)量的準(zhǔn)確性。有些地方,巖層埋藏較深,露頭不明顯,產(chǎn)狀無(wú)法測(cè)量。另外,在地質(zhì)剖面圖繪制中,關(guān)鍵是巖層之間的結(jié)合分布情況,野外測(cè)量的巖層產(chǎn)狀,在地質(zhì)圖繪制時(shí),還得考慮巖層與剖面線之間的關(guān)系。

        在圖2中,巖層產(chǎn)狀從左到右已經(jīng)表示,可以直接在繪圖中應(yīng)用。到右側(cè)P22 P21巖層時(shí),巖層產(chǎn)狀沒(méi)有標(biāo)示,我們一般認(rèn)為巖層產(chǎn)狀變化不大,直接在前邊繪圖的基礎(chǔ)上延伸。

        4 三點(diǎn)法確定巖層產(chǎn)狀

        根據(jù)V字形法則相同——相反原則(巖層傾向與地面傾向相同時(shí),且?guī)r層傾角大于地面坡度角時(shí),巖層界限與地形等高線的彎曲方向相反,即V字形尖端指向相反,簡(jiǎn)稱相同——相反),可以反推出巖層傾斜方向?yàn)槟衔鞣较颍瑑A角大于14度。從左向右依次推斷。

        優(yōu)缺點(diǎn):在大、中比例尺地質(zhì)圖上,表現(xiàn)明顯,但在本圖中,關(guān)鍵是找到地形起伏與地質(zhì)構(gòu)造線之間的關(guān)系,否則意義不大。

        總之,地質(zhì)剖面圖中巖層產(chǎn)狀確定準(zhǔn)確,地質(zhì)圖繪制清晰,能更好的反映地質(zhì)現(xiàn)象,更好的認(rèn)識(shí)地質(zhì)圖。各類(lèi)方法各有利弊,應(yīng)互相參照,互為補(bǔ)充。

        參考文獻(xiàn):

        [1]徐開(kāi)禮,朱志澄.構(gòu)造地質(zhì)學(xué)[M].北京:地質(zhì)出版社.

        [2]成都地質(zhì)學(xué)院,武漢地質(zhì)學(xué)院.構(gòu)造地質(zhì)學(xué)(附本)[M].北京:地質(zhì)出版社.

        [3]昆明地質(zhì)學(xué)校,長(zhǎng)春地質(zhì)學(xué)校.構(gòu)造地質(zhì)及地質(zhì)力學(xué)實(shí)習(xí)實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)[M].北京:地質(zhì)出版社.

        作者簡(jiǎn)介:

        張小琴(1983-),女,河北保定人,現(xiàn)工作于遼寧地質(zhì)工程職業(yè)學(xué)院,地質(zhì)專業(yè)教師,講師,2010年10月至今就讀于中國(guó)地質(zhì)大學(xué),地球科學(xué)與資源學(xué)院地質(zhì)工程專業(yè)在職研究生,研究方向:工程地質(zhì)、水文地質(zhì)方向。endprint

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