摘要：地質(zhì)剖面圖是按一定比例尺，表示地質(zhì)剖面上的地質(zhì)現(xiàn)象及其相互關(guān)系的圖件。它是在勾繪出地形輪廓的剖面上進(jìn)一步反映出某一或某些地層的產(chǎn)狀、分層、巖性、化石產(chǎn)出部位、地層厚度以及接觸關(guān)系等地層的特征。地質(zhì)剖面圖與地質(zhì)圖相配合，可以獲得地質(zhì)構(gòu)造的立體概念。巖層產(chǎn)狀確定準(zhǔn)確，可以正確反映巖層之間的空間分布情況，對(duì)地質(zhì)圖的認(rèn)識(shí)大有裨益。

關(guān)鍵詞：巖層產(chǎn)狀 剖面圖 V字形法則

1 巖層產(chǎn)狀

巖層產(chǎn)狀，巖層面在產(chǎn)出地點(diǎn)的三維空間延伸方位和產(chǎn)出狀態(tài)，是以巖層面在三維空間的延伸方位及其傾斜程度來(lái)確定的，即采用巖層面的走向（MN）、傾向（OD）、傾角（DOD）三個(gè)要素的數(shù)值來(lái)表示（如圖1所示）。

圖1 巖層產(chǎn)狀示意圖

2 地質(zhì)剖面圖的繪制

2.1 選擇剖面位置，確定剖面方向，一般均要求與地層走向線垂直。

2.2 繪制地形剖面。

2.3 投地質(zhì)界線點(diǎn)，繪制地質(zhì)界面。繪制的巖層傾角為視傾角。

2.4 整飾圖件。

地質(zhì)剖面圖繪制的關(guān)鍵是繪制地質(zhì)界面，確定巖層的傾斜方向及傾角。（如圖2）

圖2 繪制地質(zhì)剖面示意圖

3 野外測(cè)量

測(cè)量，是目前巖層產(chǎn)狀確定的最基本、最直接的方法，測(cè)量工具為地質(zhì)羅盤(pán)儀和GPS，可以量測(cè)出巖層的走向、傾向和傾角。

但是，野外測(cè)量的關(guān)鍵是找到露頭，找到巖層的層面，現(xiàn)在野外巖石風(fēng)化，層面和劈理、線理面區(qū)分困難，影響測(cè)量的準(zhǔn)確性。有些地方，巖層埋藏較深，露頭不明顯，產(chǎn)狀無(wú)法測(cè)量。另外，在地質(zhì)剖面圖繪制中，關(guān)鍵是巖層之間的結(jié)合分布情況，野外測(cè)量的巖層產(chǎn)狀，在地質(zhì)圖繪制時(shí)，還得考慮巖層與剖面線之間的關(guān)系。

在圖2中，巖層產(chǎn)狀從左到右已經(jīng)表示，可以直接在繪圖中應(yīng)用。到右側(cè)P22 P21巖層時(shí)，巖層產(chǎn)狀沒(méi)有標(biāo)示，我們一般認(rèn)為巖層產(chǎn)狀變化不大，直接在前邊繪圖的基礎(chǔ)上延伸。

4 三點(diǎn)法確定巖層產(chǎn)狀

根據(jù)V字形法則相同——相反原則（巖層傾向與地面傾向相同時(shí)，且?guī)r層傾角大于地面坡度角時(shí)，巖層界限與地形等高線的彎曲方向相反，即V字形尖端指向相反，簡(jiǎn)稱相同——相反），可以反推出巖層傾斜方向?yàn)槟衔鞣较颍瑑A角大于14度。從左向右依次推斷。

優(yōu)缺點(diǎn)：在大、中比例尺地質(zhì)圖上，表現(xiàn)明顯，但在本圖中，關(guān)鍵是找到地形起伏與地質(zhì)構(gòu)造線之間的關(guān)系，否則意義不大。

總之，地質(zhì)剖面圖中巖層產(chǎn)狀確定準(zhǔn)確，地質(zhì)圖繪制清晰，能更好的反映地質(zhì)現(xiàn)象，更好的認(rèn)識(shí)地質(zhì)圖。各類(lèi)方法各有利弊，應(yīng)互相參照，互為補(bǔ)充。

參考文獻(xiàn)：

[1]徐開(kāi)禮，朱志澄.構(gòu)造地質(zhì)學(xué)[M].北京：地質(zhì)出版社.

[2]成都地質(zhì)學(xué)院，武漢地質(zhì)學(xué)院.構(gòu)造地質(zhì)學(xué)（附本）[M].北京：地質(zhì)出版社.

[3]昆明地質(zhì)學(xué)校，長(zhǎng)春地質(zhì)學(xué)校.構(gòu)造地質(zhì)及地質(zhì)力學(xué)實(shí)習(xí)實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)[M].北京：地質(zhì)出版社.

作者簡(jiǎn)介：

張小琴（1983-），女，河北保定人，現(xiàn)工作于遼寧地質(zhì)工程職業(yè)學(xué)院，地質(zhì)專業(yè)教師，講師，2010年10月至今就讀于中國(guó)地質(zhì)大學(xué)，地球科學(xué)與資源學(xué)院地質(zhì)工程專業(yè)在職研究生，研究方向：工程地質(zhì)、水文地質(zhì)方向。endprint

摘要：地質(zhì)剖面圖是按一定比例尺，表示地質(zhì)剖面上的地質(zhì)現(xiàn)象及其相互關(guān)系的圖件。它是在勾繪出地形輪廓的剖面上進(jìn)一步反映出某一或某些地層的產(chǎn)狀、分層、巖性、化石產(chǎn)出部位、地層厚度以及接觸關(guān)系等地層的特征。地質(zhì)剖面圖與地質(zhì)圖相配合，可以獲得地質(zhì)構(gòu)造的立體概念。巖層產(chǎn)狀確定準(zhǔn)確，可以正確反映巖層之間的空間分布情況，對(duì)地質(zhì)圖的認(rèn)識(shí)大有裨益。

關(guān)鍵詞：巖層產(chǎn)狀 剖面圖 V字形法則

1 巖層產(chǎn)狀

巖層產(chǎn)狀，巖層面在產(chǎn)出地點(diǎn)的三維空間延伸方位和產(chǎn)出狀態(tài)，是以巖層面在三維空間的延伸方位及其傾斜程度來(lái)確定的，即采用巖層面的走向（MN）、傾向（OD）、傾角（DOD）三個(gè)要素的數(shù)值來(lái)表示（如圖1所示）。

圖1 巖層產(chǎn)狀示意圖

2 地質(zhì)剖面圖的繪制

2.1 選擇剖面位置，確定剖面方向，一般均要求與地層走向線垂直。

2.2 繪制地形剖面。

2.3 投地質(zhì)界線點(diǎn)，繪制地質(zhì)界面。繪制的巖層傾角為視傾角。

2.4 整飾圖件。

地質(zhì)剖面圖繪制的關(guān)鍵是繪制地質(zhì)界面，確定巖層的傾斜方向及傾角。（如圖2）

圖2 繪制地質(zhì)剖面示意圖

3 野外測(cè)量

測(cè)量，是目前巖層產(chǎn)狀確定的最基本、最直接的方法，測(cè)量工具為地質(zhì)羅盤(pán)儀和GPS，可以量測(cè)出巖層的走向、傾向和傾角。

但是，野外測(cè)量的關(guān)鍵是找到露頭，找到巖層的層面，現(xiàn)在野外巖石風(fēng)化，層面和劈理、線理面區(qū)分困難，影響測(cè)量的準(zhǔn)確性。有些地方，巖層埋藏較深，露頭不明顯，產(chǎn)狀無(wú)法測(cè)量。另外，在地質(zhì)剖面圖繪制中，關(guān)鍵是巖層之間的結(jié)合分布情況，野外測(cè)量的巖層產(chǎn)狀，在地質(zhì)圖繪制時(shí)，還得考慮巖層與剖面線之間的關(guān)系。

在圖2中，巖層產(chǎn)狀從左到右已經(jīng)表示，可以直接在繪圖中應(yīng)用。到右側(cè)P22 P21巖層時(shí)，巖層產(chǎn)狀沒(méi)有標(biāo)示，我們一般認(rèn)為巖層產(chǎn)狀變化不大，直接在前邊繪圖的基礎(chǔ)上延伸。

4 三點(diǎn)法確定巖層產(chǎn)狀

根據(jù)V字形法則相同——相反原則（巖層傾向與地面傾向相同時(shí)，且?guī)r層傾角大于地面坡度角時(shí)，巖層界限與地形等高線的彎曲方向相反，即V字形尖端指向相反，簡(jiǎn)稱相同——相反），可以反推出巖層傾斜方向?yàn)槟衔鞣较颍瑑A角大于14度。從左向右依次推斷。

優(yōu)缺點(diǎn)：在大、中比例尺地質(zhì)圖上，表現(xiàn)明顯，但在本圖中，關(guān)鍵是找到地形起伏與地質(zhì)構(gòu)造線之間的關(guān)系，否則意義不大。

總之，地質(zhì)剖面圖中巖層產(chǎn)狀確定準(zhǔn)確，地質(zhì)圖繪制清晰，能更好的反映地質(zhì)現(xiàn)象，更好的認(rèn)識(shí)地質(zhì)圖。各類(lèi)方法各有利弊，應(yīng)互相參照，互為補(bǔ)充。

參考文獻(xiàn)：

[1]徐開(kāi)禮，朱志澄.構(gòu)造地質(zhì)學(xué)[M].北京：地質(zhì)出版社.

[2]成都地質(zhì)學(xué)院，武漢地質(zhì)學(xué)院.構(gòu)造地質(zhì)學(xué)（附本）[M].北京：地質(zhì)出版社.

[3]昆明地質(zhì)學(xué)校，長(zhǎng)春地質(zhì)學(xué)校.構(gòu)造地質(zhì)及地質(zhì)力學(xué)實(shí)習(xí)實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)[M].北京：地質(zhì)出版社.

作者簡(jiǎn)介：

張小琴（1983-），女，河北保定人，現(xiàn)工作于遼寧地質(zhì)工程職業(yè)學(xué)院，地質(zhì)專業(yè)教師，講師，2010年10月至今就讀于中國(guó)地質(zhì)大學(xué)，地球科學(xué)與資源學(xué)院地質(zhì)工程專業(yè)在職研究生，研究方向：工程地質(zhì)、水文地質(zhì)方向。endprint

摘要：地質(zhì)剖面圖是按一定比例尺，表示地質(zhì)剖面上的地質(zhì)現(xiàn)象及其相互關(guān)系的圖件。它是在勾繪出地形輪廓的剖面上進(jìn)一步反映出某一或某些地層的產(chǎn)狀、分層、巖性、化石產(chǎn)出部位、地層厚度以及接觸關(guān)系等地層的特征。地質(zhì)剖面圖與地質(zhì)圖相配合，可以獲得地質(zhì)構(gòu)造的立體概念。巖層產(chǎn)狀確定準(zhǔn)確，可以正確反映巖層之間的空間分布情況，對(duì)地質(zhì)圖的認(rèn)識(shí)大有裨益。

關(guān)鍵詞：巖層產(chǎn)狀 剖面圖 V字形法則

1 巖層產(chǎn)狀

巖層產(chǎn)狀，巖層面在產(chǎn)出地點(diǎn)的三維空間延伸方位和產(chǎn)出狀態(tài)，是以巖層面在三維空間的延伸方位及其傾斜程度來(lái)確定的，即采用巖層面的走向（MN）、傾向（OD）、傾角（DOD）三個(gè)要素的數(shù)值來(lái)表示（如圖1所示）。

圖1 巖層產(chǎn)狀示意圖

2 地質(zhì)剖面圖的繪制

2.1 選擇剖面位置，確定剖面方向，一般均要求與地層走向線垂直。

2.2 繪制地形剖面。

2.3 投地質(zhì)界線點(diǎn)，繪制地質(zhì)界面。繪制的巖層傾角為視傾角。

2.4 整飾圖件。

地質(zhì)剖面圖繪制的關(guān)鍵是繪制地質(zhì)界面，確定巖層的傾斜方向及傾角。（如圖2）

圖2 繪制地質(zhì)剖面示意圖

3 野外測(cè)量

測(cè)量，是目前巖層產(chǎn)狀確定的最基本、最直接的方法，測(cè)量工具為地質(zhì)羅盤(pán)儀和GPS，可以量測(cè)出巖層的走向、傾向和傾角。

但是，野外測(cè)量的關(guān)鍵是找到露頭，找到巖層的層面，現(xiàn)在野外巖石風(fēng)化，層面和劈理、線理面區(qū)分困難，影響測(cè)量的準(zhǔn)確性。有些地方，巖層埋藏較深，露頭不明顯，產(chǎn)狀無(wú)法測(cè)量。另外，在地質(zhì)剖面圖繪制中，關(guān)鍵是巖層之間的結(jié)合分布情況，野外測(cè)量的巖層產(chǎn)狀，在地質(zhì)圖繪制時(shí)，還得考慮巖層與剖面線之間的關(guān)系。

在圖2中，巖層產(chǎn)狀從左到右已經(jīng)表示，可以直接在繪圖中應(yīng)用。到右側(cè)P22 P21巖層時(shí)，巖層產(chǎn)狀沒(méi)有標(biāo)示，我們一般認(rèn)為巖層產(chǎn)狀變化不大，直接在前邊繪圖的基礎(chǔ)上延伸。

4 三點(diǎn)法確定巖層產(chǎn)狀

根據(jù)V字形法則相同——相反原則（巖層傾向與地面傾向相同時(shí)，且?guī)r層傾角大于地面坡度角時(shí)，巖層界限與地形等高線的彎曲方向相反，即V字形尖端指向相反，簡(jiǎn)稱相同——相反），可以反推出巖層傾斜方向?yàn)槟衔鞣较颍瑑A角大于14度。從左向右依次推斷。

優(yōu)缺點(diǎn)：在大、中比例尺地質(zhì)圖上，表現(xiàn)明顯，但在本圖中，關(guān)鍵是找到地形起伏與地質(zhì)構(gòu)造線之間的關(guān)系，否則意義不大。

總之，地質(zhì)剖面圖中巖層產(chǎn)狀確定準(zhǔn)確，地質(zhì)圖繪制清晰，能更好的反映地質(zhì)現(xiàn)象，更好的認(rèn)識(shí)地質(zhì)圖。各類(lèi)方法各有利弊，應(yīng)互相參照，互為補(bǔ)充。

參考文獻(xiàn)：

[1]徐開(kāi)禮，朱志澄.構(gòu)造地質(zhì)學(xué)[M].北京：地質(zhì)出版社.

[2]成都地質(zhì)學(xué)院，武漢地質(zhì)學(xué)院.構(gòu)造地質(zhì)學(xué)（附本）[M].北京：地質(zhì)出版社.

[3]昆明地質(zhì)學(xué)校，長(zhǎng)春地質(zhì)學(xué)校.構(gòu)造地質(zhì)及地質(zhì)力學(xué)實(shí)習(xí)實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)[M].北京：地質(zhì)出版社.

作者簡(jiǎn)介：

張小琴（1983-），女，河北保定人，現(xiàn)工作于遼寧地質(zhì)工程職業(yè)學(xué)院，地質(zhì)專業(yè)教師，講師，2010年10月至今就讀于中國(guó)地質(zhì)大學(xué)，地球科學(xué)與資源學(xué)院地質(zhì)工程專業(yè)在職研究生，研究方向：工程地質(zhì)、水文地質(zhì)方向。endprint