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        硅通孔用光刻膠霧化噴涂技術

        2012-09-19 01:30:38汪明波王紹勇
        電子與封裝 2012年2期
        關鍵詞:深孔晶圓光刻膠

        汪明波,王紹勇

        (沈陽芯源微電子設備有限公司,遼寧 沈陽 110168)

        1 引言

        硅通孔互連技術作為新一代封裝技術,是通過在芯片和芯片之間、晶圓和晶圓之間制造垂直導通,實現(xiàn)芯片之間的互連,這一技術能夠在三維方向使得堆疊密度最大而外形尺寸最小,大大改善芯片速度和低功耗性能[1]。

        為實現(xiàn)硅通孔互連,需要進行一系列的工藝步驟,例如刻蝕形成通孔、鈍化通孔、金屬化通孔。一些工藝應用需要在通孔內(nèi)部或不平坦晶圓表面均勻涂布光刻膠,傳統(tǒng)的旋轉涂膠方法因為離心力很難滿足三維微結構的要求,噴霧式涂膠是攻克這些挑戰(zhàn)的一種有效方法。與電鍍光刻膠不同,噴霧式涂膠技術不受待噴涂基底材料影響,既適用于導電基底也適用于絕緣基底。圖1是硅通孔制作工藝流程圖。

        圖1 通孔制作工藝流程

        2 光刻膠霧化噴涂

        2.1 準備晶圓

        為實現(xiàn)硅通孔互聯(lián),需要先在200mm硅晶圓上制作高深寬比通孔。首先,經(jīng)由前道工藝在硅晶圓正面制作微芯片,然后進入后道將硅晶圓鍵合在玻璃晶圓載體上,并對硅晶圓背面減薄至100μm,在減薄的硅晶圓背面進行通孔刻蝕,此試驗制作的深孔是70°~80°的斜面孔。需要說明的是,因為深孔側壁是有一定角度的斜面,深孔在硅晶圓正面(即深孔底部)的尺寸即為掩膜版的特征尺寸,深孔在硅晶圓背面(即深孔頂部)的尺寸比底部尺寸大。

        接下來,在深孔內(nèi)部淀積介電層,并在介電層上實現(xiàn)光刻膠刻印圖形。根據(jù)刻印圖形在深孔底部刻蝕接觸孔,目的是通過后續(xù)的金屬電鍍實現(xiàn)硅晶圓正反面的金屬互連。在深孔底部制作光刻膠刻印圖形,需要在深孔內(nèi)部均勻涂布光刻膠,這就要應用到光刻膠霧化噴涂工藝。

        2.2 霧化噴涂系統(tǒng)

        試驗采用AZ4620光刻膠與PGMEA的稀釋液。AZ4620光刻膠粘度為440CP[2],霧化噴涂系統(tǒng)要求處理化學液粘度小于30CP,另外,低粘度光刻膠也是獲得均勻霧化顆粒和良好顆粒分布的必要條件。試驗采用了AZ4620與PGMEA體積比為1:10的稀釋液,粘度為25CP。試驗在沈陽芯源微電子設備有限公司KS-M200-1SP噴霧式涂膠機上進行(如圖2)。

        圖2 KS-M200-1SP噴霧式涂膠機

        噴霧式涂膠機采用超聲低壓噴霧噴嘴,噴嘴通過震蕩方式產(chǎn)生微小的光刻膠液滴,光刻膠液滴經(jīng)由壓縮空氣或者氮氣氣流,加速噴向晶圓表面。圖3是噴霧式涂膠原理圖,如圖所示,噴嘴固定在X-Y雙向運動臂上,按照設定的速度和步距(pitch)可掃描整個晶圓表面。

        3 試驗

        3.1 裸片

        首先,在裸片上進行噴霧式涂膠試驗,目的是測試涂膠各工藝參數(shù),如噴嘴流量、掃描速度、噴嘴和晶圓之間的距離等等。綜合調(diào)節(jié)各個參數(shù),以獲得均勻的不同厚度的光刻膠圖層,例如,改變噴嘴流量可以顯著改變厚度,調(diào)節(jié)氮氣壓力可以改變均勻性。噴嘴流量與光刻膠厚度和均勻性的關系見圖4。多次噴涂也可增加光刻膠圖層厚度。

        圖3 霧化噴涂原理圖

        圖4 流量與膜厚、均勻性的關系

        3.2 加熱吸盤

        通過裸片試驗確定優(yōu)化的工藝配方后,利用此配方在準備好的帶孔晶圓上霧化噴涂光刻膠。由于光刻膠的流動性、深孔引起的晶圓表面的高低起伏、表面張力等因素,深孔上角不能被光刻膠覆蓋,會在整個涂層產(chǎn)生缺口(如圖5)。光刻膠涂層作為后續(xù)介電層刻蝕的保護層,上角的覆蓋率非常重要,缺口會導致上角處的介電層被刻蝕,引起短路。

        為了避免上角缺口,KS-M200-1SP噴霧式涂膠機采用了加熱吸盤,晶圓處于加熱狀態(tài),使微小光刻膠液滴迅速固化,幾乎沒有時間因重力、表面張力等流變因素發(fā)生流動或堆積。熱盤利用內(nèi)部電阻絲加熱,溫度可在23℃~90℃內(nèi)調(diào)節(jié)。

        圖5是在不同溫度下噴涂通孔截面圖。在25℃室溫下,上角有部分沒有覆蓋,如圖5(a);在65℃下,上角完全被覆蓋,如圖5(b);在85℃下,上角也可以完全覆蓋,如圖5(c)。然而,80℃會導致光刻膠表面粗糙并產(chǎn)生針孔,如圖6、圖7。

        圖5 不同溫度下噴涂通孔截面圖

        圖6 不同溫度下的表面粗糙情況

        4 結論

        與傳統(tǒng)的旋轉涂膠相比,光刻膠霧化噴涂可在起伏不平的晶圓表面均勻涂布光刻膠,這使得霧化噴涂技術在很多領域得到了重要應用。本文對噴霧式涂膠各工藝參數(shù)進行了優(yōu)化組合,提出了利用加熱吸盤獲得良好上角覆蓋率的有效方法,并在50℃~65℃內(nèi)獲得最佳表面粗糙度。霧化噴涂技術為實現(xiàn)3D硅通孔互連提供了保障。

        圖7 80℃下針孔圖片

        目前,光刻膠霧化噴涂的典型應用是RFMEMS、CMOS Image Sensor的制造,同時,霧化噴涂技術也可應用于其他3D互連和MEMS。

        [1]童志義.3D IC集成與硅通孔(TSV)互連[J].電子工業(yè)專用設備,2009,170:27-34.

        [2]AZ4500 Series Photoresist[P].Technical information,Clariant Co.

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