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        波長色散X射線熒光光譜法測試釔穩(wěn)定二氧化鋯*

        2011-09-28 01:03:32吳清良王云英梁以流
        陶瓷 2011年4期
        關(guān)鍵詞:測量

        吳清良 王云英 梁以流

        (國家陶瓷及水暖衛(wèi)浴產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心 廣東 佛山 528225)

        波長色散X射線熒光光譜法測試釔穩(wěn)定二氧化鋯*

        吳清良 王云英 梁以流

        (國家陶瓷及水暖衛(wèi)浴產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心 廣東 佛山 528225)

        介紹了波長色散X射線熒光光譜法測試釔穩(wěn)定二氧化鋯的工作曲線繪制以及測試過程,測試結(jié)果與傳統(tǒng)化學(xué)分析方法非常吻合,有效地解決了傳統(tǒng)化學(xué)分析方法測試釔穩(wěn)定二氧化鋯過程繁雜的問題。

        波長色散X射線熒光光譜法 釔穩(wěn)定二氧化鋯 X射線

        Abstract:In this paper,curving plotting and test procedure of wavelength dispersive X-ray fluorescence(WD-XRF)analysis for yttria-stabilized zirconia dioxide were introduced.The test results by WD-XRF were similar with the result tested by traditional chemical analysis.The traditional chemical analysis of yttria-stabilized zirconia dioxide was too complicated,and WD-XRF could make it easer.

        Key words:WD-XRF analysis;Yttria-stabilized zirconia dioxide;X-ray

        釔穩(wěn)定二氧化鋯作為一種重要的氧化物陶瓷材料,在國內(nèi)外受到高度重視。隨著耐火材料及陶瓷行業(yè)的發(fā)展,作為冶金用耐火材料和高端陶瓷的主要原料,釔穩(wěn)定二氧化鋯愈來愈引起人們的關(guān)注,現(xiàn)已成為冶金、熱工、特種陶瓷及其高溫技術(shù)領(lǐng)域中極具發(fā)展前途的重要材料,其用量逐年增加。

        目前業(yè)內(nèi)通常采用苦杏仁酸重量法或EDTA絡(luò)合滴定法測量鋯鉿合量(以ZrO2計(jì)),EDTA絡(luò)合滴定法測量釔含量,用分光光度法測量鐵、硅、鈦、鋁等含量,用火焰光度法或原子吸收分光光度法測量鈉含量,釔穩(wěn)定二氧化鋯的整個分析過程非常漫長、繁雜,效率較低。為解決這一問題,我們采用波長色散X射線熒光光譜法(WD-XRF法)分析釔穩(wěn)定二氧化鋯,該方法的特點(diǎn)是只要標(biāo)準(zhǔn)曲線建立完畢,就能夠在幾分鐘內(nèi)分析出樣品各元素的含量,效率較高,測試過程簡單。

        1 試劑與儀器

        1.1 試劑

        1)熔劑:四硼酸鋰和偏硼酸鋰混合熔劑[Li2B4O7(12)+LiBO2(22)],優(yōu)級純。使用前,在700℃下灼燒10h以上,然后貯存在干燥器中。

        2)脫模劑:溴化鋰(LiBr)。

        3)監(jiān)控標(biāo)準(zhǔn)樣品:監(jiān)控樣品應(yīng)是穩(wěn)定的玻璃片,含有所有校準(zhǔn)元素,其濃度應(yīng)使其計(jì)數(shù)率的統(tǒng)計(jì)誤差小于或等于校準(zhǔn)元素的技術(shù)統(tǒng)計(jì)誤差。用于監(jiān)測光譜儀的漂移校正。

        1.2 儀器

        1)融樣皿:非浸潤的鉑-金合金(95%Pt+5%Au)制成。

        2)鑄型模:非浸潤的鉑-金合金(95%Pt+5%Au)制成,鑄模材料底厚度約1mm,其不易變形。

        3)天平:可精確稱至±0.1mg。

        4)熔樣爐:能加熱到1 050~1 250℃,可以控溫的電阻爐。

        5)波長色散X射線熒光光譜儀,端窗銠靶X射線管,荷蘭帕納克生產(chǎn)。

        1.3 標(biāo)準(zhǔn)樣品(見表1)

        表1 建標(biāo)采用的標(biāo)準(zhǔn)樣品

        使用前,鋯、鉿、釔標(biāo)準(zhǔn)樣品在(1 000±25)℃下灼燒至少30min,在干燥器中冷卻至室溫,再稱重測定燒失量。按測定結(jié)果計(jì)算未燒物質(zhì)的稱樣量制備玻璃片。其余標(biāo)樣在(1 025±25)℃下灼燒至少30min,其余同上。

        2 試驗(yàn)過程

        2.1 待測樣品

        4個待測樣品分別標(biāo)識為:Y1,Y2,Y3,Y4。待測樣品在(110±10)℃干燥箱中烘干2h以上,貯存在干燥器中待用。稱量干燥過的樣品1g,在(1 025±25)℃下灼燒至少30min,在干燥器中冷卻至室溫,再稱重測定燒失量。

        2.2 測量方法的建立

        2.2.1 標(biāo)樣濃度

        表2 選?。ɑ蚺渲茫┲谱鳂?biāo)準(zhǔn)曲線的標(biāo)樣濃度(%)

        采用1.2所述的儀器,對要分析的一系列樣品進(jìn)行定性掃描(IQ+),得知2.1待測樣品中氧化鋯含量大于80%,氧化鉿含量為1%~5%,氧化釔含量為5%~15%,其余各元素含量均在0.1%以下。依據(jù)待測樣品中各元素的含量,采用1.3所述標(biāo)樣,選取或配置各個元素不同濃度含量的標(biāo)樣,如表2所示。

        每個元素都有一個具有足夠的含量范圍又有一定梯度的標(biāo)準(zhǔn)系列,如1.3所述標(biāo)樣不能完全滿足時,加配適當(dāng)人工混合標(biāo)準(zhǔn)補(bǔ)充。

        2.2.2 熔融澆鑄

        根據(jù)釔穩(wěn)定二氧化鋯的特性,本實(shí)驗(yàn)采取稀釋比(熔劑∶標(biāo)樣)20∶1,即稱量0.3g待測樣品或標(biāo)準(zhǔn)樣品和6 g熔劑,并加入0.05g脫模劑混合均勻,移入鉑-金合金坩堝中。將坩堝置于熔樣爐中,在1 200℃下熔融15 min,熔融過程要轉(zhuǎn)動坩堝,使粘在坩堝壁上的小熔珠和樣品進(jìn)入熔融體中。每隔一段時間,熔樣爐自動搖動坩堝,將氣泡排盡,并使熔融物混勻。然后將坩堝內(nèi)熔融物傾入已加熱至800℃以上的鑄模中。將鑄模移離爐子,冷卻,已成形的玻璃圓片與鑄模剝離。熔融好的樣片應(yīng)該不結(jié)晶,不裂化,沒有氣泡。取出樣片在非測量面貼上標(biāo)簽,放入干燥器內(nèi)保存,防止吸潮和污染。測量時,只能拿樣片的邊緣,避免X射線測量面的沾污。

        2.2.3 波長色散X射線熒光光譜分析

        1)測量條件在X射線管電壓為60kV,電流為50 mA,粗狹縫,視野光欄直徑為30mm條件下,各分析元素的測量條件見表3。

        表3 分析元素的測量條件

        2)背景校正。采用一點(diǎn)法扣背景。計(jì)算公式為:

        式中:IN——扣除背景的分析線強(qiáng)度;

        IP——峰值強(qiáng)度;

        IB——背景強(qiáng)度。

        3)工作曲線的繪制

        用2.2.1選取的各種元素的標(biāo)樣熔融澆鑄成相應(yīng)的玻璃片,經(jīng)X射線熒光光譜儀測試各元素分析線強(qiáng)度后,并經(jīng)理論α系數(shù)校正基體效應(yīng),得出元素計(jì)數(shù)率與其相應(yīng)濃度的線性關(guān)系,繪制出各元素的工作曲線。由于Zr對Y Lα,NaKα譜線有重疊干擾效應(yīng),故在繪制工作曲線時還必須進(jìn)行譜線重疊干擾校正。

        2.3 待測樣品的測量

        利用已建立的測量方法,測量待測樣品的元素分析線強(qiáng)度,系統(tǒng)將自動算出元素含量,測試過程非常簡單。待測樣品的測量結(jié)果如表4。

        表4 XRF法測量樣品的結(jié)果

        為了驗(yàn)證WD-XRF法測試結(jié)果的準(zhǔn)確性,我們又采用傳統(tǒng)化學(xué)分析方法測量待測樣品的各元素含量,分析結(jié)果如表5所示。

        表5 化學(xué)分析法測量樣品的結(jié)果

        從表4和表5可以看出,兩個方法測試的結(jié)果非常接近,都在誤差范圍之內(nèi)。采用傳統(tǒng)化學(xué)分析方法測得的鋯鉿合量是以氧化鋯計(jì),而采用WD-XRF法則可以分別測出氧化鋯和氧化鉿的含量,更能真實(shí)地體現(xiàn)樣品中鋯和鉿的含量,如將這個結(jié)果轉(zhuǎn)化為鋯鉿合量(以氧化鋯計(jì))分別為:93.71%、90.09%、84.64%及93.28%,與傳統(tǒng)化學(xué)分析方法測得的鋯鉿合量結(jié)果吻合。

        3 結(jié)論

        采用波長色散X熒光光譜法測量釔穩(wěn)定二氧化鋯,只要工作曲線繪制完成,就可以高效快速地分析樣品中各元素的含量,與傳統(tǒng)化學(xué)分析方法相比,實(shí)驗(yàn)過程簡單,時效性高。WD-XRF法的測試結(jié)果與傳統(tǒng)化學(xué)分析方法測試結(jié)果吻合,結(jié)果準(zhǔn)確性有保證。WD-XRF法能夠分別分析出鋯含量和鉿含量,比傳統(tǒng)化學(xué)分析方法只能測出鋯鉿合量更能體現(xiàn)樣品中鋯和鉿的真實(shí)含量。

        Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Analysis of Yttria-stabilized Zirconia Dioxide

        Wu Qingliang,Wang Yunying,Liang Yiliu(National Center of Supervision and Inspection for Ceramic,Sanitary and Plumbing Fixture,Guangdong,F(xiàn)oshan,528225)

        TQ174.1+2

        A

        1002-2872(2011)04-0045-03

        吳清良(1979-)碩士研究生;研究方向?yàn)樘沾梢约霸牧戏矫鏅z測。E-mail:cityhunter207@163.com

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