王荷蕾,高 原,張 濤,周素紅,王孝平
(1.國(guó)家納米科學(xué)中心,北京 100190;2.北京市理化分析測(cè)試中心,北京 100089)
納米檢測(cè)技術(shù)是一項(xiàng)新興的前沿技術(shù),包括粒度大小、材料的光學(xué)性能和電學(xué)性能等測(cè)量技術(shù)。作為衡量一種材料是否屬于納米材料的重要技術(shù)指標(biāo),納米粉末粒度測(cè)量技術(shù)的研究在納米測(cè)量方面有著重大意義。
動(dòng)態(tài)光散射法(DLS)是基于布朗運(yùn)動(dòng)的測(cè)量光強(qiáng)隨時(shí)間起伏變化規(guī)律的一種技術(shù)。其基本原理為:被測(cè)樣品顆粒以適當(dāng)?shù)臐舛确稚⒂谝后w介質(zhì)中,一單色激光光束照射到此分散體系,被顆粒散射的光在某一角度被連續(xù)測(cè)量。由于顆粒受到周圍液體中分子的撞擊作布朗運(yùn)動(dòng),檢測(cè)器探測(cè)到的散射光強(qiáng)度將不斷地隨時(shí)間變化,進(jìn)而反演出其粒徑大小及分布[1-3]。該方法具有測(cè)量粒度范圍廣、樣品用量少和測(cè)定結(jié)果具有統(tǒng)計(jì)意義等優(yōu)點(diǎn),因此在納米顆粒粒度測(cè)量領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。目前,在我國(guó)所使用的利用動(dòng)態(tài)光散射法測(cè)量納米粉末粒度的儀器種類較多,且已被廣泛應(yīng)用于電子、醫(yī)藥、食品、環(huán)境等行業(yè)中,并扮演著重要的角色[4-6]。其測(cè)量數(shù)據(jù)的可靠與否直接關(guān)系到科學(xué)研究的發(fā)展和產(chǎn)品質(zhì)量的評(píng)價(jià)。
為規(guī)范和提高我國(guó)納米粒徑檢測(cè)技術(shù)水平,中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家實(shí)驗(yàn)室委員會(huì)(CNAS)納米專業(yè)委員會(huì)、國(guó)家納米科學(xué)中心和北京市理化分析測(cè)試中心聯(lián)合開展了納米檢測(cè)技術(shù)實(shí)驗(yàn)室間的比對(duì)工作,并依據(jù)ISO/IEC導(dǎo)則43:1997[7]的要求開展比對(duì)。其中對(duì)納米粉末粒度的測(cè)量選擇了動(dòng)態(tài)光散射法(DLS)。國(guó)內(nèi)共有9家單位10臺(tái)不同型號(hào)的儀器參加此次比對(duì),因此其結(jié)果在一定程度上反映目前我國(guó)在納米顆粒粒度測(cè)量領(lǐng)域的檢測(cè)能力。
該文將對(duì)各實(shí)驗(yàn)室測(cè)試比對(duì)結(jié)果進(jìn)行總結(jié)和分析,對(duì)實(shí)驗(yàn)室測(cè)量能力及儀器的主要技術(shù)性能如準(zhǔn)確性、重復(fù)性進(jìn)行考察。如果實(shí)驗(yàn)室的比對(duì)結(jié)果不滿意,需注意采取相關(guān)改進(jìn)措施;對(duì)于出現(xiàn)可疑結(jié)果的實(shí)驗(yàn)室,建議其采取相應(yīng)的自查措施。通過(guò)這次實(shí)驗(yàn)室比對(duì)活動(dòng),使實(shí)驗(yàn)室了解其檢測(cè)納米材料粒度的水平,有利于實(shí)驗(yàn)室的自我評(píng)定與提高。
實(shí)驗(yàn)室間的比對(duì)一般是指使用相同或類似的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或方法并利用同一類檢測(cè)儀器對(duì)提供的同種樣品進(jìn)行檢測(cè)和比較。該次比對(duì)以ISO 22412:2008粒度分析-動(dòng)態(tài)光散射法[8]為依據(jù),選擇10臺(tái)不同廠家、不同型號(hào)的儀器參加此次比對(duì)實(shí)驗(yàn),如表1所示。
表1 參與比對(duì)實(shí)驗(yàn)各單位的儀器型號(hào)及相應(yīng)生產(chǎn)廠家列表
該次比對(duì)采用的粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)是光折射率為1.59的聚苯乙烯顆粒,分別為美國(guó)Duke公司研制的3150A(1#)、3080A(2#)、3100A(3#)和美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院(NIST)研制的 SRM 1964(4#)。4個(gè)樣品的粒徑參考值如表2所示。由于所選測(cè)試樣品均為國(guó)內(nèi)外有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),其均勻性和穩(wěn)定性均已經(jīng)過(guò)驗(yàn)證并符合要求,所以該次實(shí)驗(yàn)室比對(duì)中出現(xiàn)的離群值不是由樣品間差異所致。
表2 樣品的粒度參考值
為了評(píng)定參加實(shí)驗(yàn)室的測(cè)量結(jié)果,比對(duì)采用如下3種評(píng)價(jià)指標(biāo)[9-11]:
準(zhǔn)確性代表了儀器性能,值越小表明實(shí)驗(yàn)室測(cè)量結(jié)果與比對(duì)樣品標(biāo)準(zhǔn)值越接近,反之,與比對(duì)樣品標(biāo)準(zhǔn)值差距越大。該次比對(duì)以每個(gè)實(shí)驗(yàn)室報(bào)告的測(cè)量結(jié)果為基礎(chǔ),利用式(1)計(jì)算得到每一測(cè)量點(diǎn)的相對(duì)誤差,作為該儀器在這一測(cè)量點(diǎn)的平均粒徑測(cè)量值的準(zhǔn)確度。
式中:A——相對(duì)誤差,%;
D——平均粒徑的測(cè)量值,nm;
Ds——平均粒徑的標(biāo)準(zhǔn)值,nm。
重復(fù)性代表了儀器測(cè)量準(zhǔn)確度的好壞,是儀器的一項(xiàng)重要技術(shù)指標(biāo),結(jié)果越小,表明儀器的測(cè)量重復(fù)性越好。該次比對(duì)依式(2)~式(4)計(jì)算儀器測(cè)量的重復(fù)性。
式中:Di——第i次測(cè)量值;
n——測(cè)量次數(shù);
s——單次測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)偏差;
sr——測(cè)量的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。
穩(wěn)健統(tǒng)計(jì)方法是當(dāng)前國(guó)際上實(shí)驗(yàn)室能力驗(yàn)證中最常使用的統(tǒng)計(jì)方法[9],它是一種不易受到異常值影響的統(tǒng)計(jì)方法,主要統(tǒng)計(jì)量包括結(jié)果數(shù)、中位值、標(biāo)準(zhǔn)四分位數(shù)間距、穩(wěn)健的變異系數(shù)(CV)、最小值、最大值和極差。用Z比分?jǐn)?shù)衡量一個(gè)實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)結(jié)果在一組結(jié)果中的相對(duì)偏離程度,若|Z|≤2,表明該檢測(cè)結(jié)果與其他實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)結(jié)果比較吻合;若2<|Z|<3,應(yīng)引起實(shí)驗(yàn)室的注意,并建議實(shí)驗(yàn)室對(duì)測(cè)試程序進(jìn)行復(fù)查;若|Z|≥3,表明該檢測(cè)結(jié)果離群,實(shí)驗(yàn)室必須調(diào)查原因并制定糾正措施。
標(biāo)準(zhǔn)化IQR是一個(gè)結(jié)果變異性的量度,它等于四分位間距(IQR)乘以因子0.7413。四分位間距是低四分位數(shù)值和高四分位數(shù)值的差值。低四分位數(shù)值(Q1)是低于結(jié)果1/4處的最近值,高四分位(Q3)是高于結(jié)果3/4處的最近值。在大多數(shù)情況下Q1和Q3通過(guò)數(shù)據(jù)值之間的內(nèi)插法獲得。IQR=Q3-Q1,標(biāo)準(zhǔn)化IQR=IQR×0.7413。
表3 各實(shí)驗(yàn)室測(cè)量結(jié)果及準(zhǔn)確度、重復(fù)性匯總表
簡(jiǎn)單的穩(wěn)健Z比分?jǐn)?shù)如式(5)所示:
式中:Z——Z比分?jǐn)?shù);
A——觀察值。
表3是該次粒度儀量值比對(duì)中各實(shí)驗(yàn)室的測(cè)量結(jié)果及準(zhǔn)確度和重復(fù)性的統(tǒng)計(jì)匯總。從中可以看出,各實(shí)驗(yàn)室測(cè)量結(jié)果平均值的相對(duì)偏差均不大,只有F實(shí)驗(yàn)室對(duì)2#、3#樣品的測(cè)量結(jié)果偏差達(dá)到9.7%和10%;重復(fù)性方面,相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差均比較小,說(shuō)明各實(shí)驗(yàn)室測(cè)量結(jié)果重復(fù)性較高。
各實(shí)驗(yàn)室對(duì)4個(gè)樣品測(cè)量平均值的Z比分?jǐn)?shù)匯總表如表4所示,其中,|Z|≥3的實(shí)驗(yàn)結(jié)果判定為離群。
Z比分?jǐn)?shù)序列直方圖(圖1)中按照大小順序顯示出每個(gè)實(shí)驗(yàn)室的Z比分?jǐn)?shù),并標(biāo)有實(shí)驗(yàn)室的編號(hào)??梢钥闯觯瑢?duì)于1#樣品,所有實(shí)驗(yàn)室均有|Z|<2,表明各實(shí)驗(yàn)室之間測(cè)量結(jié)果吻合較好;對(duì)于2#和4#樣品,只有F實(shí)驗(yàn)室的2<|Z|<3,表明F實(shí)驗(yàn)室與其他實(shí)驗(yàn)室的測(cè)量結(jié)果吻合不好,需引起注意并進(jìn)行復(fù)查。對(duì)于 3#樣品,有G、F兩家實(shí)驗(yàn)室的結(jié)果|Z|>3,表明這兩家實(shí)驗(yàn)室在試驗(yàn)中結(jié)果離群,應(yīng)查找原因并采取相應(yīng)改進(jìn)措施。
表5是該次實(shí)驗(yàn)室比對(duì)不滿意結(jié)果情況統(tǒng)計(jì)匯總,以實(shí)驗(yàn)室代碼表示??梢钥闯觯诒葘?duì)實(shí)驗(yàn)過(guò)程中,不滿意結(jié)果所占總體結(jié)果的比例較小,這表明我國(guó)各檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室對(duì)納米材料粒度的測(cè)定水平普遍較高。
圖1 各樣品Z比分?jǐn)?shù)圖
表4 Z比分?jǐn)?shù)的統(tǒng)計(jì)匯總
表5 不滿意結(jié)果匯總
該次實(shí)驗(yàn)室比對(duì)提供了可參考使用的檢測(cè)方法,但由于實(shí)驗(yàn)室反饋信息有限,對(duì)于離群結(jié)果僅能從總體上做有限的技術(shù)分析,可能的主要原因包括以下2個(gè)方面[12]:
2.2.1 儀器原因
盡管選用的儀器均采用動(dòng)態(tài)光散射法,但各儀器在設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)上還是存在一定差異,并且各儀器都有其合適的測(cè)量范圍。因此,超過(guò)此范圍或接近儀器測(cè)量極限的測(cè)量結(jié)果也許會(huì)與標(biāo)準(zhǔn)值相差很大。
2.2.2 人員操作的影響
粒度分析儀操作人員的技術(shù)經(jīng)驗(yàn)不同,導(dǎo)致操作水平上的差異,也可能對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生影響。
此外,前處理?xiàng)l件的不同,儀器校準(zhǔn)的差異均可能導(dǎo)致結(jié)果離群。總之,離群值產(chǎn)生的原因多種多樣,在此無(wú)法一一羅列,數(shù)據(jù)離群的實(shí)驗(yàn)室可以結(jié)合自查檢測(cè)過(guò)程,采取與其他實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行交流等方式查找出離群的原因。
對(duì)于參加該次比對(duì)數(shù)據(jù)離群和有問(wèn)題的實(shí)驗(yàn)室,建議從以下3方面改進(jìn),以提升實(shí)驗(yàn)室的檢測(cè)能力和水平:(1)提高技術(shù)人員的理論知識(shí)和操作水平;(2)嚴(yán)格儀器維護(hù)和校準(zhǔn)的步驟、標(biāo)準(zhǔn);(3)對(duì)于比對(duì)樣品,前處理程序要保證一致,并及時(shí)反饋詳細(xì)信息。
在該次比對(duì)實(shí)驗(yàn)過(guò)程中,除了少數(shù)實(shí)驗(yàn)室因本身的原因而不能獲得較理想的測(cè)量結(jié)果外,參加比對(duì)實(shí)驗(yàn)的大部分實(shí)驗(yàn)室對(duì)不同粒度納米材料的檢測(cè)結(jié)果是可靠和基本令人滿意的。同一實(shí)驗(yàn)室的平行實(shí)驗(yàn)和不同實(shí)驗(yàn)室之間的檢測(cè)結(jié)果表明:用動(dòng)態(tài)光散射法測(cè)定納米材料粒度的水平較高,相關(guān)實(shí)驗(yàn)室能夠?yàn)榭蒲袉挝缓蜕a(chǎn)廠家提供較準(zhǔn)確可靠的納米材料粒度檢測(cè)數(shù)據(jù)和良好的檢測(cè)服務(wù)。此外,此次實(shí)驗(yàn)室間的比對(duì)活動(dòng)也為參與實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可的相關(guān)單位進(jìn)一步完善實(shí)驗(yàn)室管理、改進(jìn)粒度的檢測(cè)水平和提高相應(yīng)的檢測(cè)能力提供了必要的指導(dǎo)。
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