統(tǒng)計學(xué)處理應(yīng)寫明所用的統(tǒng)計學(xué)軟件及版本，對文中數(shù)據(jù)資料采取的數(shù)據(jù)表達(dá)形式，如正態(tài)分布且方差齊的計量資料采用±s表示，非正態(tài)或方差不齊時采用M（P25，P75）表示；不可采用±s、±s、Mean±SD等表示。計數(shù)資料可以采用例（%）形式表示。

如文中采用了統(tǒng)計學(xué)檢驗時，應(yīng)交代文中相應(yīng)內(nèi)容所采用的統(tǒng)計檢驗方法的具體名稱。在使用時，應(yīng)根據(jù)研究的設(shè)計類型、資料性質(zhì)及作者的分析目的選擇恰當(dāng)?shù)姆椒ǎ缗鋵Y料的t檢驗、兩獨(dú)立樣本資料的t檢驗、單因素方差分析（包括進(jìn)一步采用的兩兩比較的方法，如LSD-t法、SNK-q法、Bonferroni法及Dunnett-t法等）、重復(fù)測量資料的方差分析、卡方檢驗、秩和檢驗、Ridit分析、Pearson相關(guān)、Spearman相關(guān)、多重線性回歸、Logistic回歸、Cox回歸等。統(tǒng)計量t為英文小寫，F(xiàn)檢驗為英文大寫，卡方為希文小寫χ2，積差相關(guān)系數(shù)為英文小寫r，等級相關(guān)系數(shù)為英文小寫rs，樣本例數(shù)用英文小寫n，概率用英文大寫P。以上統(tǒng)計量均使用斜體表示。統(tǒng)計量（t值、F值、χ2等）和P值一般保留3位小數(shù)。若P值很小時，一般不寫P=0.000，而應(yīng)為P＜0.001。