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        Gamma過程退化失效可靠性分析

        2010-03-24 13:41:38孫中泉趙建印
        海軍航空大學(xué)學(xué)報 2010年5期
        關(guān)鍵詞:金屬化電容器可靠性

        孫中泉,趙建印

        (海軍航空工程學(xué)院 a.科研部;b.兵器科學(xué)與技術(shù)系,山東 煙臺 264001)

        0 引言

        可靠性是產(chǎn)品的一個重要的質(zhì)量特性,它在滿足用戶“需求”方面起著極為重要的作用。傳統(tǒng)的可靠性分析方法分析的對象為壽命數(shù)據(jù),即產(chǎn)品的失效時間,通過對壽命數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析確定產(chǎn)品的壽命分布,進(jìn)而確定產(chǎn)品的可靠性特征量。隨著科技的不斷進(jìn)步,設(shè)計、制造方法以及使用材料的不斷提高與改善,產(chǎn)品的可靠性越來越高,壽命越來越長,這使得產(chǎn)品在較短的時間內(nèi)很難失效,由于得不到足夠的失效數(shù)據(jù),使得基于壽命數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析的可靠性分析結(jié)果精度很差,理論與實際脫離,僅利用壽命數(shù)據(jù)評價產(chǎn)品可靠性變得非常困難。在某些情況下,如果產(chǎn)品的失效是由于其某些性能指標(biāo)隨時間不斷退化而引起的,那么可以使用性能退化分析代替?zhèn)鹘y(tǒng)的失效數(shù)據(jù)分析來進(jìn)行產(chǎn)品的可靠性評估。

        實際上,相對于失效數(shù)據(jù)來說,產(chǎn)品的退化數(shù)據(jù)包含更多的可靠性信息[1]。另外,通過產(chǎn)品的退化信息進(jìn)行可靠性分析更節(jié)省試驗時間和費(fèi)用。

        所謂退化失效是指產(chǎn)品在以往的存儲或工作過程中,產(chǎn)品的功能表征量隨時間的延長而逐漸緩慢地下降,直至達(dá)到無法正常工作的狀態(tài)(通常規(guī)定一個判定的臨界值,即退化失效標(biāo)準(zhǔn)),產(chǎn)品退化過程一般是一個單調(diào)的過程。已經(jīng)有一些學(xué)者對基于退化數(shù)據(jù)的可靠性分析方法進(jìn)行了研究,文獻(xiàn)[1]的工作對退化失效模型的一些問題做了討論,而且在相當(dāng)一般的條件下,提出了一些解決問題的方法;文獻(xiàn)[2]的工作更進(jìn)一步,采用多重多元回歸模型來描述產(chǎn)品的退化過程,該模型包含了文獻(xiàn)[1]所給出的模型;文獻(xiàn)[3]利用退化信息對 ILF(Integrated Logic Family,一種新一代海底電纜的組件)進(jìn)行了可靠性評估;文獻(xiàn)[4]對一些相關(guān)的研究做了較好的總結(jié)。以上文獻(xiàn)的研究主要利用隨機(jī)系數(shù)或混合系數(shù)的回歸模型來描述產(chǎn)品的退化量。但是,由于受到產(chǎn)品材料、應(yīng)力以及環(huán)境的隨機(jī)因素的影響,產(chǎn)品的退化過程一般可認(rèn)為是一個隨機(jī)過程,因此可以利用隨機(jī)過程對產(chǎn)品退化失效進(jìn)行建模。文獻(xiàn)[5-6]采用布朗運(yùn)動可用來描述產(chǎn)品退化量的增長,通過求解該過程首次達(dá)到失效閾值時間的分布來獲取產(chǎn)品的失效分布。根據(jù)該隨機(jī)過程,某一時間段內(nèi)的退化量服從正態(tài)分布,不能保證退化量的增長是單調(diào)遞增的。因此,對于描述單調(diào)變化的退化過程來說,該過程并不很合適。

        對于退化量的描繪,Gamma過程是更為合適的,它能保證退化量是單調(diào)遞增的。根據(jù)以上分析,為更好地描繪產(chǎn)品的退化失效,本文給出了一個基于隨機(jī)Gamma過程的退化失效模型。

        1 退化失效模型

        設(shè)產(chǎn)品的性能參數(shù)為y (t),它隨使用時間的增加逐漸單調(diào)下降,產(chǎn)品初始性能值記為y0,它是一個已知量。另記 w(t)=y (t)?y0,表示到t時刻產(chǎn)品累積退化量的大小。由于退化量單調(diào)上升,對于任意的ti、tj,如果 tj>ti,必有 w(tj)?w(ti)>0。

        Gamma分布為常用壽命分布之一,它具有形狀參數(shù)和尺度參數(shù)兩個參數(shù),其形狀參數(shù)取不同值時,Gamma分布形狀多樣,可表征多種數(shù)據(jù)變化特性。因此,這里我們利用Gamma分布來描述退化量的隨機(jī)性,利用隨機(jī)Gamma過程來描述退化量隨時間變化的情況。即假設(shè){w(t),t ≥ 0}為一個隨機(jī)Gamma過程,它具有如下特性:

        1)w(0)=0;

        2)對任意的τ>t,w(τ)?w(t)服從Gamma分布 Ga (α (τ)?α (t),λ(t));

        3)w(t)具有獨(dú)立增量,即任意對于 t1<t2<…tn(n>2),諸增量 w(t2)?w(t1),…,w(tn)?w(tn?1)相互獨(dú)立。

        根據(jù)以上分析,退化量 w(t)服從Gamma分布Ga (α (t),λ(t)),其密度函數(shù)為

        使用Gamma過程描述產(chǎn)品退化時,假設(shè)Gamma分布中的尺度參數(shù)λ (t)不隨時間變化,即λ(t)≡ λ,而形狀參數(shù)為時變參數(shù)。經(jīng)驗表明,一般情況下t時刻退化量的期望與時間的冪成正比,故設(shè)α (t)=ktb。因此,t時刻退化量 w(t)的分布密度為

        記產(chǎn)品的失效閾值為l,產(chǎn)品失效時間為T,根據(jù)退化失效的定義,則

        即失效時間為性能退化量首次達(dá)到失效閾值的時刻。也就是

        該Gamma過程首達(dá)時的分布即為產(chǎn)品的失效分布。一般情況下很難利用解析方法求得Gamma過程首達(dá)時分布,因而可考慮采用仿真的方法求解。這里我們利用Monte-Carlo仿真模擬退化量的增長過程來求產(chǎn)品的失效時間,由仿真產(chǎn)生的一組失效數(shù)據(jù)進(jìn)一步可求產(chǎn)品失效分布的經(jīng)驗函數(shù),并基于此進(jìn)行可靠性統(tǒng)計推斷??砂慈缦虏襟E仿真產(chǎn)生一個失效時間:

        1)積退化量w=0,t=0;

        2)產(chǎn)生服從Gamma分布函數(shù)Ga(α (t)?α (t?1),λ)的隨機(jī)數(shù)wt,該隨機(jī)數(shù)即為t時刻單位時間內(nèi)的產(chǎn)品退化量的大小,令 w=w+wt;

        3)累積退化量w與失效閾值l的大小,如果w ≥ l,則執(zhí)行4),否則返回2);

        4)T為品的失效時間。

        2 參數(shù)估計

        設(shè)有m個樣品做性能退化試驗,分別在t1<t2<…<tn時刻對樣品進(jìn)行測量并記錄其性能退化量的大小,通過退化試驗可得到數(shù)據(jù){wij;i=1,2,…,m,j=1,2,…,n},其中 wij表示第i個樣品的第j次測量時測得的累積退化量的值。模型(2)中未知參數(shù)為λ、k、b,下面我們利用試驗數(shù)據(jù)來估計它們。

        產(chǎn)品t時刻的退化量大小 w(t)服從Gamma分布,分布的尺度參數(shù)不隨時間變化,形狀參數(shù)是時變參數(shù),t時刻的退化量的均值和方差分別為

        對固定j,j=1,2,…,n,由數(shù)據(jù){wij;i=1,2,…,m}可求得第j次測量時刻產(chǎn)品退化量均值和方差的估計值由于則利用可求得λ的估計值

        對上式兩邊取對數(shù),有

        基于模型通過Monte-Carlo仿真即可獲得產(chǎn)品的失效分布。

        3 實例分析

        金屬化膜脈沖電容器是一種高可靠性器件,許多的激光慣性約束核聚變(ICF)試驗裝置,例如國外的NIF、OMEGA 或國內(nèi)的神光III 等強(qiáng)激光裝置[7-8],均采用是該種電容器來提供泵浦能量。該型電容器元件是由兩張單面蒸涂厚約20~100 nm的薄金屬(鋁或鋁合金)的有機(jī)膜繞卷而成的,電流的引出是由元件兩端面噴以金屬層來實現(xiàn)的,由于膜在生產(chǎn)過程中不可避免地存在帶有雜質(zhì)或缺陷的區(qū)域,從而使得這些區(qū)域的耐電強(qiáng)度較低,形成“電弱點”。在外施電壓不斷作用下,電弱點處薄膜會首先被擊穿而形成放電通道,當(dāng)薄膜被擊穿的同時,電荷通過擊穿點形成大電流,引起局部高溫,擊穿點處的薄金屬層會迅速蒸發(fā)并向外擴(kuò)散使絕緣恢復(fù),這樣,局部擊穿不會影響到整個電容器,電容器仍然可以使用,這一過程稱為“自愈”[9],單次自愈過程所造成的僅是電容量極微小的損失。在使用過程中電容器不斷發(fā)生自愈,電容不斷降低,當(dāng)電容下降量超過預(yù)定閾值時電容器將發(fā)生退化型失效。對于工作在高場強(qiáng)下的金屬化膜電容器來說,一般退化型失效模式的失效閾值取為5%[10]。

        利用以上模型,我們下面對強(qiáng)激光裝置所用的某型金屬化膜脈沖電容器進(jìn)行可靠性分析。共有8臺電容器進(jìn)行性能退化試驗,電容器每充放電1 000次做一次測量,共運(yùn)行了10 000次。

        圖1給出了電容器的容值退化量隨時間的變化情況,圖中橫坐標(biāo)為充放電次數(shù),縱坐標(biāo)為電容器容值。

        圖1 電容器容值退化情況

        將以上各估計值帶入到式(2)即可獲得退化量的分布密度函數(shù),基于該函數(shù),利用仿真方法獲取退化量到失效閾值的一組首達(dá)時,即失效時間,利用這一組失效時間可進(jìn)一步求得電容器失效分布的經(jīng)驗函數(shù)。

        另外,由于經(jīng)驗函數(shù)在工程上不好應(yīng)用,而雙參數(shù)的Weibull分布可以表示故障率遞增、遞減或恒定的故障類型,具有很好的靈活性,因而可以用雙參數(shù)的Weibull分布擬合該經(jīng)驗函數(shù),雙參數(shù)的Weibull分布函數(shù)及其密度函數(shù)為

        圖2 電容器失效概率曲線

        圖3 Weibull 失效分布概率密度曲線

        4 小結(jié)

        由于受到其內(nèi)部結(jié)構(gòu)、材料特性、應(yīng)力以及工作環(huán)境等因素的隨機(jī)影響,產(chǎn)品的退化一般可認(rèn)為是一個隨機(jī)過程,并且該退化過程一般是單調(diào)變化的,當(dāng)退化量首次達(dá)到其失效閾值時產(chǎn)品便會發(fā)生退化失效。根據(jù)退化過程的特點,本文給出了一個基于隨機(jī)Gamma過程的退化失效模型,以及模型參數(shù)的估計方法,由于采用解析方法求解退化量首達(dá)時的分布存在一定難度,因而本文給出了一個基于仿真的求解方法。文章最后利用所得模型對強(qiáng)激光裝置所用某型金屬化膜脈沖電容器進(jìn)行了可靠性分析并給出了可靠性評估結(jié)果,該結(jié)果表明所給模型在工程中是適用的。

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