施江煥 馮 舒
歐盟頒布的《關(guān)于在電子電器設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》(RoHS)中規(guī)定了家電、IT、通信設(shè)備等消費產(chǎn)品中鉛、汞、鎘、鉻、溴5種元素的最低使用量。與發(fā)射光譜、吸收光譜、色譜-質(zhì)譜聯(lián)用等RoHS含量的分析方法相比,RoHS檢測用能量色散型X熒光光譜儀(XRF)作為一種快速分析儀器,為我國的各相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)、檢測機構(gòu)提供了一種無損、可行、低成本且及時檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。RoHS檢測用XRF的性能對出口產(chǎn)品質(zhì)量檢測具有重要影響,但是至今還沒有針對該類儀器的校準規(guī)范,筆者根據(jù)儀器的基本性能,參考相關(guān)規(guī)程,提出了該類儀器的校準方法,并利用相應(yīng)的國家標物進行了驗證,為今后規(guī)程的制定提供了參考。
原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷,同時發(fā)射出具有特定波長的X射線。根據(jù)量子理論,X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流,每個光子具有的能量為:
E=hν=hc/λ
式中:E——X射線的光子能量;
h——普朗克常數(shù);
ν——光波的頻率;
c——光速;
λ——X射線的波長。
此外,根據(jù)莫斯萊定律[1],X射線的波長λ與原子序數(shù)Z有關(guān),其數(shù)學(xué)關(guān)系為:λ=K(Z-s)2,式中K和s是常數(shù)。
故根據(jù)原子受激發(fā)輻射出的特定X射線以及能量強度與其含量的關(guān)系,奠定了RoHS檢測用XRF的定性及定量分析的基礎(chǔ)。
RoHS檢測用XRF主要由X射線管、樣品室、檢測器、放大器、多道脈沖分析器、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等組成,其結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示。
圖1 RoHS檢測用XRF的結(jié)構(gòu)示意圖
2.1 校準環(huán)境
環(huán)境溫度:15~30℃;環(huán)境相對濕度:不大于70%;工作電壓:AC(220±22)V。
2.2 校準設(shè)備
RoHS檢測X熒光分析用ABS中鉛、汞、鎘、鉻、溴成分分析標準物質(zhì)一套[ABS-B-034及GBW(E)081634~081637],標準值見表1。
表1 ABS標準物質(zhì)中各元素含量 mg/kg
3.1 檢出限校準
在RoHS檢測用XRF工作狀態(tài)良好的情況下,利用表1中一套ABS國家標準物質(zhì)對被檢儀器進行標定,以確定各元素?zé)晒鈴姸扰c含量的對應(yīng)關(guān)系,計算各元素的線性相關(guān)系數(shù)r及靈敏度b。然后用ABS-B-034對儀器進行11次空白測量,計算各元素的實驗偏差s,按式(1)求得檢出限:
(1)
3.2 示值誤差及重復(fù)性校準
(2)
(3)
式中:Δx——示值誤差,%;
xs——元素的標準值,mg/kg;
RSD——重復(fù)性,%;
sx——標準偏差,mg/kg。
3.3 穩(wěn)定性校準
在被檢儀器良好工作情況下,在5 h內(nèi),每隔20 min以編號為GBW(E)081636的 ABS國家標準物質(zhì)對儀器進行10次測量,由工作曲線求得各元素測量結(jié)果的極大值、極小值及平均值,穩(wěn)定性按式(4)計算:
(4)
式中:ΔR——穩(wěn)定性,%;
R1——10次測量的極大值,mg/kg;
R2——10次測量的極小值,mg/kg。
3.4 性能要求
查閱相關(guān)資料[2,3],根據(jù)儀器的性能及以往測試經(jīng)驗,確定被檢儀器的參數(shù)與性能要求,見表2。
表2 被檢儀器的參數(shù)與性能要求
為了驗證該校準方法的可行性,結(jié)合表1的ABS系列國家標物GBW(E)081634~081637中各元素標準值,采用斯派克公司的Xepos型RoHS檢測用XRF測定ABS系列國家標物的熒光強度,根據(jù)公式(1)~(4)計算儀器的各項計量性能,結(jié)果見表3、表4。由表3、表4可知,該儀器的各項指標均符合表2要求。
表3 檢出限測量數(shù)據(jù)
注:x、y分別代表被測元素的含量、熒光強度。
表4 示值誤差、重復(fù)性、穩(wěn)定性測量數(shù)據(jù)
對RoHS檢測用X熒光光譜儀提出了各項計量性能,并對校準方法進行了探討、驗證,為今后規(guī)程的制定提供了參考。筆者建議RoHS用XRF在首次使用前和修理后都要進行計量性能測試,以確保我國出口產(chǎn)品RoHS檢測數(shù)據(jù)的準確、一致,避免因計量設(shè)備性能指標不統(tǒng)一帶來的不必要經(jīng)濟糾紛。
[1] JJG 810-1993 波長色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程[S].
[2] 劉春,符斌. X射線熒光光譜儀在RoHS分析上的應(yīng)用[J].有色金屬, 2008, 60(4): 174-179.
[3] 范曾亮. 電子電器產(chǎn)品中六類有害物質(zhì)含量的檢測方法[J].環(huán)境技術(shù), 2006(3): 48-50.