馬彥恒　韓九強(qiáng)　李　剛

摘要：分析了現(xiàn)有故障檢測(cè)率R_FD和故障隔離率R_F1驗(yàn)證方法存在的問題，改用故障檢測(cè)覆蓋率R_FDC和故障隔離覆蓋率R_FIC作為測(cè)試性指標(biāo)參數(shù)，提出了測(cè)試性評(píng)估與驗(yàn)證的超幾何分布法，基于故障檢測(cè)(隔離)成功數(shù)的超幾何分布，利用極大似然法思想研究了R_FDC(R_FIC)指標(biāo)的點(diǎn)估計(jì)方法，利用貝葉斯公式研究了區(qū)間估計(jì)方法，并給出了測(cè)試性驗(yàn)證規(guī)則，仿真結(jié)果表明，與傳統(tǒng)的二項(xiàng)分布法相比，對(duì)于樣本總體確定情況下的測(cè)試性驗(yàn)證，超幾何分布法的評(píng)估和驗(yàn)證結(jié)果更加準(zhǔn)確，更加適應(yīng)當(dāng)前電子裝備檢測(cè)設(shè)備的特點(diǎn)，適用于測(cè)試性指標(biāo)R_FDC和R_FIC的評(píng)估和驗(yàn)證。