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        低壓差線性穩(wěn)壓器在射頻中的應(yīng)用

        2023-05-05 03:39:46王燕
        電子技術(shù)與軟件工程 2023年2期

        王燕

        (西南電子設(shè)備研究所 四川省成都市 610036)

        電源管理是電子系統(tǒng)中的核心模塊,在目前電子系統(tǒng)低功耗、高集成度、智能化、可重構(gòu)的要求下,對電源管理提出了高效率、低噪聲、低紋波等要求。主流的電源管理有開關(guān)穩(wěn)壓器(DC-DC)、低壓差線性穩(wěn)壓器(LDO)。

        開關(guān)穩(wěn)壓器需要電感和電容等外部元件配合才能在很寬的電壓范圍內(nèi)工作,因此布局受限,瞬態(tài)響應(yīng)慢,存在潛在的噪聲干擾。LDO 具有外圍電路簡單、瞬態(tài)響應(yīng)快、不引入額外噪聲等優(yōu)點,廣泛應(yīng)用于各類電子設(shè)備中。得益于半導(dǎo)體技術(shù)進步,在LDO 的導(dǎo)通回路中采用低導(dǎo)通阻抗RDS(ON)的功率MOSFET 可以進一步提高LDO 的效率[1]。在電源噪聲方面,LDO 能夠衰減開關(guān)穩(wěn)壓器生成的電壓紋波。當(dāng)涉及給頻率合成器、調(diào)制器、高分辨率數(shù)模轉(zhuǎn)換器等對噪聲敏感的器件供電時,LDO 是首選。

        然而,某些應(yīng)用中電源紋波抑制已經(jīng)達到傳統(tǒng)低噪聲LDO 的極限。例如,在某些高端壓控振蕩器(VCO)的供電中,電源噪聲直接影響VCO 的輸出相位噪聲。此外,為滿足整體系統(tǒng)效率的要求,LDO 通常用于對噪聲相對較高的開關(guān)轉(zhuǎn)換器的輸出進行后級調(diào)節(jié)。因此合理的使用LDO 降低電源噪聲變得至關(guān)重要。

        1 LDO降低電源噪聲的方法

        1.1 選取合適的PSRR降低電源噪聲

        LDO 原理框圖如圖1所示。當(dāng)負載發(fā)生變化時會引起電壓波動,誤差放大器將采樣的電壓波動放大之后作用到調(diào)整管以保持負載電壓的恒定輸出。

        圖1:LDO 原理圖

        LDO 的優(yōu)勢之一是能夠衰減開關(guān)穩(wěn)壓器生成的電壓紋波進而降低電源噪聲。電源抑制比(PSRR)表示特定頻率的交流元件從 LDO 輸入衰減到輸出的程度,其表達式為式(1):

        LDO 的PSRR 與頻率并非線性關(guān)系,以常用高PSRR 的LDO 器件ADM7151[2]為例,圖2 為該器件PSRR 與頻率的關(guān)系。

        圖2:ADM7151 的PSRR 與頻率的關(guān)系

        由圖可得在1 kHz~100 kHz 頻段內(nèi)的PSRR 優(yōu)于90 dBc,而在其它頻段PSRR 惡化嚴重。因此,當(dāng)選用LDO 時,應(yīng)當(dāng)著重考慮噪聲所在頻段的PSRR。

        1.2 選取低噪聲LDO與使用降噪電容器降低電源噪聲

        要獲得干凈的直流電源,僅關(guān)注PSRR,而忽略LDO 輸出的噪聲是不可取的。LDO 作為電子器件,在抑制外部噪聲的同時內(nèi)部同樣會產(chǎn)生噪聲。選擇低噪聲LDO 并采取措施降低內(nèi)部噪聲是不可或缺的環(huán)節(jié)。LDO 自身噪聲來源:內(nèi)部的晶體管、電阻,外部的元器件等。LDO 自身的噪聲種類包括:熱噪聲、散粒噪聲和閃爍噪聲等。如圖3所示為LDO 自身噪聲在時域中的表現(xiàn),熱噪聲和散粒噪聲都是隨機的,不隨頻率而變化;而閃爍噪聲源自半導(dǎo)體的表面缺陷,跟頻率呈反比特性。

        圖3:LDO 自身噪聲在時域中的表現(xiàn)

        在時域中分析噪聲十分困難,通常情況可通過兩種主要方法來分析噪聲:頻域分析噪聲和以積分值形式分析噪聲。LDO 產(chǎn)品的數(shù)據(jù)資料中通常會提供積分噪聲值和噪聲功率譜密度,積分噪聲值通常為10 Hz~100 kHz范圍,以微伏均方根值(μVRMS)表示。噪聲功率譜密度通常提供曲線,通過對比積分噪聲值和噪聲功率譜密度曲線才能更加準(zhǔn)確地進行LDO 器材選型。

        當(dāng)選擇具有低噪聲特性的LDO 之后,使用降噪電容器能進一步降低電源噪聲。降噪電容器CNR處于圖4中的虛線處。

        圖4:具有降噪引腳NMOS 型LDO

        添加降噪電容器CNR將與內(nèi)部電阻形成RC 濾波器,降低由電壓基準(zhǔn)VREF生成的噪聲。圖5 顯示了不同容值降噪電容器CNR對輸出噪聲產(chǎn)生的影響。

        由圖5 可知采用降噪電容器可以顯著地降低電源噪聲。此外,降噪電容器還會在啟動期間引入 RC 延遲,導(dǎo)致輸出電壓以較慢的速率斜升。當(dāng)輸出端或負載上存在大容量電容,需要減小浪涌電流時,添加降噪電容器就能有效地提高輸出電壓轉(zhuǎn)化率,防止浪涌電流出現(xiàn)尖峰,進一步降低電源噪聲。

        圖5:不同CNR 噪聲頻譜密度與頻率的關(guān)系

        1.3 使用前置電容器(CFF)降低電源噪聲

        如圖6所示,前置電容器是與電阻分壓器的電阻R1 并聯(lián)放置的可選電容器CFF。

        圖6:使用前置電容器的NMOS 型LDO

        在穩(wěn)壓過程中,LDO 的誤差放大器驅(qū)動FET 的柵極?;鶞?zhǔn)電壓將按1+(R1/R2)的比例放大,同時基準(zhǔn)電壓的噪聲部分也會被放大。

        通過與頂部電阻R1 并聯(lián)放置電容器,將在特定頻率范圍引入降噪功能,即電阻R1被短路,該頻率范圍內(nèi)的噪聲部分保持在單位增益范圍內(nèi)。使用不同CFF值的噪聲曲線如圖7所示[3]。

        圖7:噪聲與頻率和CFF 值的關(guān)系

        使用前置電容器能夠改善穩(wěn)定性[4],添加CFF會在LDO 反饋回路中引入零點(ZFF)和極點(PFF),可分別通過公式(2)和公式(3)進行計算:

        將零點置于出現(xiàn)單位增益的頻率之前可以提高相位裕度,如圖8所示。

        圖8:使用前置電容補償?shù)牡湫蚅DO 增益/相位圖

        由圖8 可得,沒有ZFF時,單位增益將提前在200kHz 左右出現(xiàn),增加零點后,出現(xiàn)單位增益的頻率略微右移(約300kHz),相位裕度也有所提高。通過增加相位裕度,LDO 輸出將減少振鈴并更快穩(wěn)定。因此添加前置電容器CFF能夠提高電源穩(wěn)定性、改善噪聲性能。

        1.4 配置輸出電容器降低電源噪聲

        穩(wěn)壓電路包括LDO 及其外圍電路,其中輸出電容自身具有等效串聯(lián)電阻(ESR)特性。穩(wěn)壓電路中輸出電容表示為Cout及其等效串聯(lián)電阻ESR,等效電路如圖9所示。輸出電容會為整個穩(wěn)壓電路環(huán)路引入一個零點。

        圖9:LDO 穩(wěn)壓電路中輸出電容等效圖

        通過計算公式(4),可以求得輸出電容引入零點的位置,如圖10所示[4]。

        圖10:輸出電容為環(huán)路引入零點示意圖

        輸出電容為環(huán)路引入零點fZ(ESR)處于環(huán)路單位增益帶寬以內(nèi),就可以對環(huán)路形成補償作用。從而提高相位余度,使得環(huán)路保持穩(wěn)定,降低穩(wěn)壓電路噪聲。

        2 工程驗證

        2.1 鎖相環(huán)電路的電源管理設(shè)計

        鎖相環(huán)(PLL)電路對電源的噪聲和紋波比較敏感,其工作原理如圖11所示,基本元件為鑒相器、環(huán)路濾波器、VCO 和分頻器。

        圖11:鎖相環(huán)電路原理圖

        與壓控振蕩器噪聲類似, LDO 的相位噪聲貢獻可以看成加性成分φLDO[5]。在LDO 給壓控振蕩器提供直流電源時,也將自身的噪聲和紋波傳輸過去。LDO 的電源噪聲引起的VCO 相位噪聲貢獻的公式如式(5):

        式中LLDO是頻率偏移f時, LDO 對VCO 相位噪聲(以dBc/Hz 表示)的噪聲貢獻;Kpushing是VCO 推壓系數(shù),以Hz/V 表示;VLDO是給定頻率偏移f下的噪聲頻譜密度,以V/√Hz 表示。

        例如:推壓系數(shù)為10MHz/V,在100kHz 頻率偏移下測得相位噪聲為–116 dBc/Hz 的VCO,電源噪聲和VCO 噪聲作為均方根添加,因此電源噪聲應(yīng)比VCO噪聲至少低6dB(相當(dāng)于兩者有效值相差4 倍),以便將噪聲貢獻降至最低。所以LLDO應(yīng)小于–122 dBc/Hz。使用公式(5),求解在100 kHz 偏移下,VLDO=11.2 nV/√Hz。通??赏ㄟ^LDO 數(shù)據(jù)手冊的典型性能曲線對比,可選取100 kHz 偏移下,電源噪聲頻譜密度優(yōu)于11.2nV/√Hz 的型號。

        2.2 提高LDO環(huán)路穩(wěn)定性,降低噪聲

        某課題的射頻前端組件使用了一款國產(chǎn)LDO,對射頻放大器供電。使用信號源和頻譜儀對組件進行測試時,在常溫狀態(tài)下射頻主信號旁邊有多個雜散信號,如圖12所示,經(jīng)過分析,發(fā)現(xiàn)穩(wěn)壓電路不穩(wěn)定。

        該LDO 外圍電路特別是輸出電容決定整個穩(wěn)壓電路能否穩(wěn)定。在圖9 的基礎(chǔ)上,輸出電容Cout 處再串聯(lián)一個電阻R3(作用等效于增加輸出電容Cout 的ESR),更改后的外圍電路如圖13所示。當(dāng)設(shè)置R3 為0.3 歐姆時,射頻主信號旁邊的雜散消除,如圖14所示,電源噪聲大幅降低。

        圖14:串聯(lián)電阻R3 后的頻域測試圖

        3 結(jié)束語

        本文詳細介紹了如何選取合適的PSRR 降低外部電源噪聲,并通過使用降噪電容器(CNR)、前置電容器(CFF)、輸出電容器(Cout)進一步降低電源噪聲,當(dāng)涉及對噪聲敏感的模擬/射頻應(yīng)用,電路設(shè)計就需重點考慮上述問題。

        案例一介紹了用定量計算的方法來確定所選LDO引入的噪聲是否會惡化鎖相環(huán)VCO 輸出信號的相位噪聲;案例二介紹了增加串聯(lián)電阻R3 改進了某款國產(chǎn)低壓差線性穩(wěn)壓器不穩(wěn)定的情況,大幅降低了電源噪聲。通過兩個案例,驗證了上述幾種降低電源噪聲方法的有效性。

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