據(jù)歐盟2022 年1 月18 日消息，其歐洲創(chuàng)新與研究計量計劃（EMPIR）項目“納米級可追溯磁場測量”（Nano-scale traceable magnetic field，15SIB06，NanoMag）提高了歐洲的計量能力，對磁場的精確和可追溯測量擴展到微米和納米尺度。這為高分辨率磁場測量的國際協(xié)調(diào)做出了貢獻，并使得歐洲工業(yè)界能夠以前所未有的精度水平來測量和使用磁場，可供計算機、磁感應和生物醫(yī)學等領域的工業(yè)用戶在質(zhì)量控制和產(chǎn)品性能方面制定新的標準。

EMPIR 表示該項目的成果也促使《IEC TS 62607—9—1：納米制造-關(guān)鍵控制特性-第9—1 部分：可追溯的空間分辨納米級雜散磁場測量-磁力顯微鏡》（IEC TS 62607—9—1: Nanomanufacturing- Key control characteristics - Part 9—1:Traceable spatially resolved nano-scale stray magnetic field measurements - Magnetic force microscopy）國際標準的發(fā)布，這是首個納米級磁性測量領域的國際標準，將對活躍在磁成像領域以及納米磁性材料和設備研發(fā)領域的公司和研究中心提供幫助。

該標準的摘要說明如下：

IEC TS 62607—9—1:2021 確定了一種標準化方法來表現(xiàn)空間變化的磁場，通過磁力顯微鏡（MFM）對平面磁性樣品的空間分辨率低至10 nm。MFM 主要檢測垂直于樣品表面的雜散磁場分量。 該分辨率是通過使用磁性納米結(jié)構(gòu)的參考物質(zhì)對MFM 探針進行校準來實現(xiàn)的。

該IEC 技術(shù)規(guī)范的目的在于規(guī)定和描述以下方面的內(nèi)容：

1）用于可追溯的高分辨率雜散磁場測量的參考物質(zhì)；

2）用來確定儀器校準功能（ICF）的校準程序，如果需要，還要確定進入去卷積處理的MFM 關(guān)鍵參數(shù)：

3）去卷積處理，允許使用ICF 從被測量的MFM 數(shù)據(jù)中計算出定量的雜散磁場數(shù)據(jù)；

4）對測量不確定度的評估，包括防止可能在測量過程中出現(xiàn)的，會導致對結(jié)果錯誤解讀的潛在人工制品。

［信息來源］廣東省WTO/TBT 通報咨詢研究中心.納米級磁性測量領域首個國際標準發(fā)布[EB/OL]. (2022-2-21).http://www.tbt.org.cn/