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        S摻雜增強(qiáng)CdS/ɡ-C3N4異質(zhì)結(jié)光催化性能的第一性原理研究

        2022-12-06 05:58:54石競(jìng)琛劉霏凝王文杰齊詩(shī)慧
        關(guān)鍵詞:復(fù)合材料結(jié)構(gòu)

        石競(jìng)琛,劉霏凝,王文杰,趙 瑞,齊詩(shī)慧

        (1.吉林師范大學(xué) 計(jì)算機(jī)學(xué)院,吉林 四平 136000;2.吉林師范大學(xué) 物理學(xué)院,吉林 四平 136000)

        0 引言

        日益增長(zhǎng)的能源需求和環(huán)境問題正成為實(shí)現(xiàn)可持續(xù)發(fā)展的阻礙因素.可見光誘導(dǎo)半導(dǎo)體光催化劑作為一種安全、經(jīng)濟(jì)、可再生和清潔的技術(shù)得到廣泛應(yīng)用,如產(chǎn)生氫能、減少二氧化碳、去除有機(jī)/無(wú)機(jī)污染物等.但是,光催化劑較低的轉(zhuǎn)換效率制約了它在實(shí)際工作中的應(yīng)用.近些年,2D材料過(guò)渡金屬硫化物(TMDs)[1-3]和graphitic carbon nitrides(ɡ-C6N6[4]、ɡ-C2N[5]、ɡ-C3N4[6])因?yàn)槠鋼碛休^大的表面積,為光催化反應(yīng)提供了更多的活性位點(diǎn)而備受關(guān)注.

        ɡ-C3N4具有優(yōu)異的光學(xué)和電學(xué)性能[7],同時(shí)又作為一種具有合適帶隙的有機(jī)高分子半導(dǎo)體材料和一種優(yōu)良的光催化劑得到了廣泛的研究[8-10].ɡ-C3N4具有制備簡(jiǎn)單、成本低、穩(wěn)定性好及合適的帶隙等優(yōu)點(diǎn),這使其在光催化中發(fā)揮了作用,但由于其比表面積小、光吸收不足、晶界效應(yīng)和電子-空穴對(duì)的快速?gòu)?fù)合等原因,其應(yīng)用受到限制.因此,近年來(lái)為了提高ɡ-C3N4的光催化活性,人們采用了剝離[11]、缺陷工程[12]、金屬和非金屬摻雜[13]、異質(zhì)結(jié)構(gòu)[14]等多種修飾技術(shù).

        CdS作為重要的光催化劑之一,在能源和環(huán)境方面有著重要的應(yīng)用.Ahmed等[15]通過(guò)實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)CdS二維納米片比一維納米管和零維納米球的光催化活性更高.但是2D CdS納米片的帶隙為2.8 eV,寬帶隙限制了對(duì)可見光的吸收,可以通過(guò)摻雜原子來(lái)調(diào)控帶隙.已有研究表明金屬(Mn、Fe、Co、Ni)[16]、非金屬(P、Cl)[17]摻雜CdS會(huì)導(dǎo)致帶隙減小,吸收邊向可見光區(qū)移動(dòng).光生電子-空穴容易復(fù)合是另一個(gè)限制其應(yīng)用的難題.Zhong等[18]構(gòu)建的CdS-WS2復(fù)合結(jié)構(gòu)產(chǎn)氫效率是純CdS的56.2倍,同樣Bi2S3/CdS[19]、MoS2/CdS[20]、CdS/ZnS[21]相比純CdS都表現(xiàn)出優(yōu)異的光催化性能,主要是因?yàn)閺?fù)合結(jié)構(gòu)使得光生電子-空穴得到了有效的分離,延長(zhǎng)了光生載流子的壽命.Chaudhuri團(tuán)隊(duì)[22]成功制備出2D CdS/ɡ-C3N4異質(zhì)結(jié),結(jié)果表明可以有效抑制載流子復(fù)合,從而提高材料的光催化活性,這種異質(zhì)結(jié)催化劑最終可以去除97%的染料.

        本文利用第一性原理分別對(duì)單層的CdS,ɡ-C3N4、CdS/ɡ-C3N4異質(zhì)結(jié)和S摻雜的CdS/ɡ-C3N4異質(zhì)結(jié)(CdS/ɡ-C3N4:S)進(jìn)行電子結(jié)構(gòu)和帶邊位置研究,探究S摻雜對(duì)復(fù)合結(jié)構(gòu)光催化性能的影響.

        1 計(jì)算方法

        本文中所有計(jì)算均使用維也納從頭計(jì)算模擬包(VASP)[23],離子和電子間的相互作用使用投影綴加波(PAW)方法[24].交換關(guān)聯(lián)函數(shù)使用廣義梯度近似(GGA)的Perdew-Burke-Ernzerhof(PBE)來(lái)描述[25].其截?cái)嗄茉O(shè)置為500 eV,單層ɡ-C3N4和CdS/ɡ-C3N4異質(zhì)結(jié)的幾何優(yōu)化和電子性質(zhì)計(jì)算中K點(diǎn)網(wǎng)格分別采用5×5×1和7×7×1.優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置能量和力的精度分別為10-5eV和0.01 eV/?,為了獲得更為準(zhǔn)確的優(yōu)化結(jié)果,采用DFT-D2方法對(duì)范德瓦耳斯(Van der Waals,VdW)相互作用進(jìn)行理論修正[26].本文中價(jià)電子采用C(2s22p2),N(2s22p3),S(3s23p4)和Cd(4d105s2),并用15?的真空層來(lái)避免相鄰層的相互作用.

        2 計(jì)算模型和幾何優(yōu)化

        在研究計(jì)算CdS/ɡ-C3N4異質(zhì)結(jié)和CdS/ɡ-C3N4:S異質(zhì)結(jié)之前,對(duì)單層CdS納米片和ɡ-C3N4納米片進(jìn)行結(jié)構(gòu)優(yōu)化,晶格結(jié)構(gòu)如圖1(a)和1(c)所示,優(yōu)化后單層的CdS和ɡ-C3N4的晶格參數(shù)分別為a=b=4.24?和a=b=7.15?.CdS/ɡ-C3N4異質(zhì)結(jié)的結(jié)構(gòu)如圖1(b)所示,為了減少晶格缺陷,形成穩(wěn)定的CdS/ɡ-C3N4異質(zhì)結(jié),采用3×3單層CdS納米片與1×1的ɡ-C3N4單層匹配,晶格失配率只有2.5%.為了進(jìn)一步分析CdS/ɡ-C3N4異質(zhì)結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性,采用式(1)計(jì)算形成能(Eb).

        圖1 優(yōu)化后的晶體結(jié)構(gòu)

        其中:ECdS/ɡ-C3N4、ECdS、Eɡ-C3N4分別代表CdS/ɡ-C3N4異質(zhì)結(jié)、單層CdS和ɡ-C3N4的總能.CdS/ɡ-C3N4復(fù)合結(jié)構(gòu)的界面形成能計(jì)算為-1.412 eV,較低的值意味著由單層的CdS和ɡ-C3N4形成的界面結(jié)構(gòu)是穩(wěn)定的.ɡ-C3N4和CdS單層之間的垂直距離為2.9?,是典型的VdW平衡空間,與其他ɡ-C3N4基半導(dǎo)體復(fù)合材料十分接近[27].

        S原子在ɡ-C3N4中替換N原子來(lái)實(shí)現(xiàn)摻雜,四個(gè)可能的替換位摻雜位置顯示在圖2中.按照熱力學(xué)穩(wěn)定原則,摻雜體系形成能越低在實(shí)驗(yàn)上越容易實(shí)現(xiàn),計(jì)算公式如下[28]:

        圖2 ɡ-C3N4中四個(gè)替換位摻雜的位置

        其中:Edoped和Epure分別代表ɡ-C3N4的摻雜體系和純樣的總能量;化學(xué)勢(shì)μN(yùn)從氣體自由分子N2基態(tài)能量中得出,化學(xué)勢(shì)μS從體材料基態(tài)能量得出.計(jì)算形成能的結(jié)果如表1所示,其中位置1的形成能最低,所以CdS/ɡ-C3N4:S異質(zhì)結(jié)的結(jié)構(gòu)中采用此位置進(jìn)行S的摻雜.

        表1 ɡ-C3N4不同摻雜構(gòu)型的形成能比較

        3 能帶結(jié)構(gòu)

        為了研究CdS/ɡ-C3N4:S異質(zhì)結(jié)所具有的光催化活性,分別計(jì)算了單層CdS、單層ɡ-C3N4、CdS/ɡ-C3N4和CdS/ɡ-C3N4:S異質(zhì)結(jié)的能帶結(jié)構(gòu).

        如圖3(a)所示,單層CdS納米片的導(dǎo)帶底(CBM)和價(jià)帶頂(VBM)都在G點(diǎn),是直接帶隙半導(dǎo)體,帶隙為1.67 eV,與實(shí)驗(yàn)值單層CdS 2.4 eV相比略低[29],主要是由于密度泛函理論計(jì)算帶隙時(shí)普遍存在誤差,但不影響結(jié)構(gòu)的規(guī)律性分析.圖3(b)中ɡ-C3N4的CBM和VBM分別在K和G點(diǎn),是間接帶隙半導(dǎo)體,帶隙為1.4 eV.圖3(c)中CdS/ɡ-C3N4異質(zhì)結(jié)價(jià)帶頂和導(dǎo)帶底分別位于G和M點(diǎn),是間接帶隙半導(dǎo)體,帶隙為1.00 eV,由于ɡ-C3N4和CdS在價(jià)帶部分的軌道雜化作用,形成錯(cuò)位的能帶位置,CdS/ɡ-C3N4納米復(fù)合材料的帶隙比單純的ɡ-C3N4和CdS單層的帶隙更小,這表明CdS/ɡ-C3N4納米復(fù)合材料中電子更容易從價(jià)帶向?qū)мD(zhuǎn)移.圖3(d)中CdS/ɡ-C3N4:S由于S原子的摻雜為體系帶來(lái)雜質(zhì)能級(jí),使得禁帶寬度減小,光吸收譜發(fā)生紅移從而更好地利用可見光.

        圖3 PBE計(jì)算的能帶結(jié)構(gòu)

        4 態(tài)密度

        本研究進(jìn)一步計(jì)算了幾種結(jié)構(gòu)的態(tài)密度和分波態(tài)密度,如圖4所示,圖中豎直虛線表示費(fèi)米能級(jí),費(fèi)米能級(jí)被設(shè)置為零.圖4(a)單層CdS中價(jià)帶頂(VBM)主要由S 3p和Cd 4d軌道占據(jù),然而導(dǎo)帶底(CBM)主要由Cd 5s軌道構(gòu)成,與Luo等[30]理論計(jì)算結(jié)果一致.圖4(b)單層ɡ-C3N4中價(jià)帶頂主要由N 2p軌道和少量的N 2s軌道組成,導(dǎo)帶底由C 2p和N 2p組成,與Li等[31]計(jì)算結(jié)果一致.圖4(c)中CdS/ɡ-C3N4異質(zhì)結(jié)的CBM由ɡ-C3N4占據(jù),而VBM則由CdS占據(jù).ɡ-C3N4的CBM主要由C 2p和N 2p軌道貢獻(xiàn),而CdS的VBM主要由S 3p和Cd 4d軌道貢獻(xiàn).很明顯,CBM和VBM定位在不同的單層上,這意味著最低能量電子-空穴對(duì)的空間分布不同,因此,CdS/ɡ-C3N4納米復(fù)合材料中自由電子和空穴能夠有效分離,有助于抑制電子-空穴復(fù)合.更重要的是CdS/ɡ-C3N4異質(zhì)結(jié)是交錯(cuò)能帶排列(II型)結(jié)構(gòu),其中導(dǎo)帶偏移量(CBO)為0.45 eV,價(jià)帶偏移量(VBO)為0.40 eV.在ɡ-ZnO/BP[32]、ɡ-C3N4/ɡ-C6N6和ɡ-C3N4/MoS2[33]等其他納米復(fù)合材料中也發(fā)現(xiàn)了類似的能帶排列結(jié)構(gòu).這表明,通過(guò)ɡ-C3N4和CdS單層之間的化學(xué)電位差可以很好地分離光生電子-空穴對(duì).圖4(d)中CdS/ɡ-C3N4:S的CBM和VBM的軌道占據(jù)和CdS/ɡ-C3N4相比并沒有變,CdS/ɡ-C3N4:S異質(zhì)結(jié)價(jià)帶頂由CdS組成,而導(dǎo)帶底由ɡ-C3N4:S組成.但是由于摻雜原子S的3p軌道與N 2p、C 2p軌道發(fā)生雜化作用,在導(dǎo)帶底出現(xiàn)雜質(zhì)能級(jí),使得整體的VBM和CBM均向低能級(jí)移動(dòng).

        圖4 四個(gè)模型的總態(tài)密度和分波態(tài)密度

        5 帶邊位置

        圖5顯示了ɡ-C3N4、CdS、CdS/ɡ-C3N4和CdS/ɡ-C3N4:S的帶邊電位與標(biāo)準(zhǔn)氫電極電位的關(guān)系.半導(dǎo)體的氧化還原能力由價(jià)帶頂和導(dǎo)帶底的帶邊電位決定,一般采用下面公式來(lái)計(jì)算半導(dǎo)體的帶邊位置[34].

        圖5 帶邊電位與標(biāo)準(zhǔn)氫電極電位的關(guān)系

        其中:ECB表示導(dǎo)帶邊的還原電勢(shì);EVB表示價(jià)帶邊的還原電勢(shì);Eɡ表示半導(dǎo)體帶隙;X是組成半導(dǎo)體體系各原子的電負(fù)性的幾何平均值;自由電子的電勢(shì)值Ee以標(biāo)準(zhǔn)氫電極(normal hydrogen electrode,NHE)為參照(~4.5 eV).

        由圖5(a)可以看出,ɡ-C3N4的價(jià)帶位置和導(dǎo)帶位置分別為1.61 eV和-1.15 eV,CdS的價(jià)帶位置和導(dǎo)帶位置分別為2.00 eV和-0.67 eV.當(dāng)單層ɡ-C3N4和CdS形成異質(zhì)結(jié)后,帶邊位置發(fā)生了偏移,CdS/ɡ-C3N4納米復(fù)合材料表現(xiàn)出II型異質(zhì)結(jié)行為.當(dāng)太陽(yáng)光照射納米復(fù)合材料時(shí),CdS單層導(dǎo)帶中的光生電子由于導(dǎo)帶偏移量(CBO)的存在很容易移動(dòng)到ɡ-C3N4片的導(dǎo)帶,同時(shí),由于價(jià)帶偏移量(VBO)的存在,CdS單層的價(jià)帶中有效地收集了光生空穴.因此,ɡ-C3N4片積累了負(fù)電荷,CdS單層積累了正電荷,從而阻礙了電子-空穴對(duì)的復(fù)合.光催化氧化還原過(guò)程的一個(gè)基本要求是還原勢(shì)和氧化勢(shì)的能級(jí)都應(yīng)位于光催化劑的帶隙內(nèi),ɡ-C3N4、CdS和CdS/ɡ-C3N4的導(dǎo)帶底均高于水還原電位,價(jià)帶頂位置低于水氧化電位,顯然滿足光催化水分解制氫的基本標(biāo)準(zhǔn).復(fù)合后CdS/ɡ-C3N4異質(zhì)結(jié)將吸收可見光范圍內(nèi)的光子,電子從ɡ-C3N4轉(zhuǎn)移到CdS上,然后產(chǎn)生內(nèi)建電場(chǎng),有利于光生電子-空穴對(duì)的分離,抑制了光生載流子復(fù)合,提高了光催化活性.

        CdS/ɡ-C3N4:S與CdS/ɡ-C3N4納米復(fù)合材料一樣,如圖5(b)所示,CdS/ɡ-C3N4:S納米復(fù)合材料仍然表現(xiàn)出II型異質(zhì)結(jié)結(jié)構(gòu).與此同時(shí)內(nèi)置電場(chǎng)方向沒有發(fā)生變化,也從ɡ-C3N4:S轉(zhuǎn)向到CdS.這表明CdS/ɡ-C3N4:S納米復(fù)合材料能有效分離光生電子-空穴對(duì).此外,還可以看到CdS/ɡ-C3N4:S納米復(fù)合材料的還原勢(shì)和氧化勢(shì)的能級(jí)都位于能帶隙內(nèi),由于摻雜S元素使得異質(zhì)結(jié)的價(jià)帶和導(dǎo)帶發(fā)生了偏移,價(jià)帶電位為2.13 eV,比水氧化電位更高,導(dǎo)帶電位為-1.30 eV,比氫還原電位更低,表現(xiàn)出更優(yōu)異的氧化還原能力.

        6 結(jié)論

        綜上所述,本文通過(guò)材料界面和摻雜的共同效應(yīng),提出了一種提高ɡ-C3N4光催化效率的新方法,并探討了此結(jié)構(gòu)的光催化活性.結(jié)果表明:S原子摻雜使CdS/ɡ-C3N4納米復(fù)合材料的禁帶寬度減小,光學(xué)吸收范圍從紫外紅移到可見光區(qū),CdS/ɡ-C3N4:S異質(zhì)結(jié)是交錯(cuò)能帶排列(II型)結(jié)構(gòu),電子由ɡ-C3N4流向CdS的內(nèi)建電場(chǎng),對(duì)光生電子-空穴對(duì)產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)力,促進(jìn)了電子-空穴對(duì)的分離,從而增強(qiáng)了材料的光催化活性.本文為理解CdS/ɡ-C3N4:S納米復(fù)合材料的光催化機(jī)理和相關(guān)實(shí)驗(yàn)研究提供了理論基礎(chǔ).

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