柴 斌，喻勁松，盧泓冶，崔春艷，任佳麗，郭文明

（1.南瑞集團(tuán)中電普瑞電力工程有限公司，北京 102200；2.南瑞集團(tuán)中電普瑞科技有限公司，北京 102200；3.云南電網(wǎng)有限責(zé)任公司建設(shè)分公司，昆明 650051）

0 引言

串補(bǔ)技術(shù)在國(guó)內(nèi)的工程應(yīng)用已經(jīng)將近30 年，這期間國(guó)內(nèi)檢修公司在不斷積累串補(bǔ)成套裝置檢修經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上，參照我國(guó)其他超高壓電力設(shè)備檢修規(guī)范，逐步形成了一套適用于中國(guó)電網(wǎng)的較為完整的串補(bǔ)成套裝置檢修規(guī)范。然而串補(bǔ)成套裝置設(shè)備組成較為復(fù)雜，尤其是一些串補(bǔ)特有的關(guān)鍵設(shè)備，如GAP（強(qiáng)制觸發(fā)型火花間隙）可參照的檢修規(guī)范基本沒(méi)有，只能借鑒GB/T 6115.2—2017《電力系統(tǒng)用串聯(lián)電容器 第2 部分：串聯(lián)電容器組用保護(hù)設(shè)備》中出廠試驗(yàn)和型式試驗(yàn)規(guī)定，并結(jié)合實(shí)際檢修工作進(jìn)行制訂和完善。迄今為止，相關(guān)工作已經(jīng)取得了一定的成果，例如相繼制定了DL/T 1220—2013《串聯(lián)電容器補(bǔ)償裝置 交接試驗(yàn)及驗(yàn)收規(guī)范》等一系列行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。但依然存在較大的提升空間，特別是GAP現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)這部分內(nèi)容始終不夠精準(zhǔn)明確，給檢修工作帶來(lái)一定程度的不便和一些潛在風(fēng)險(xiǎn)。這主要是由于不同串補(bǔ)現(xiàn)場(chǎng)設(shè)備狀況各異，檢修經(jīng)驗(yàn)的積累和總結(jié)需要時(shí)間。另外不同現(xiàn)場(chǎng)的試驗(yàn)條件很難達(dá)到制造商廠內(nèi)試驗(yàn)條件（出廠試驗(yàn)）或者專業(yè)試驗(yàn)驗(yàn)證機(jī)構(gòu)的試驗(yàn)室條件（型式試驗(yàn)），因此不太可能、也沒(méi)有必要照搬出廠試驗(yàn)和型式試驗(yàn)相關(guān)規(guī)定［1］。

多年的串補(bǔ)成套裝置檢修數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)表明：GAP 已成為串補(bǔ)成套裝置中故障率較高的一個(gè)薄弱環(huán)節(jié)，因此結(jié)合檢修現(xiàn)場(chǎng)的實(shí)際條件，研究并提出滿足檢修需要、精準(zhǔn)而明確的現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)方法，從而大幅提升檢修后設(shè)備性能的穩(wěn)定性和可靠性變得尤為重要。

1 GAP基本原理和檢修現(xiàn)狀

1.1 GAP基本結(jié)構(gòu)和工作機(jī)理

GAP 是串聯(lián)補(bǔ)償電容器組重要的過(guò)電壓保護(hù)設(shè)備，用于在規(guī)定時(shí)間內(nèi)承載被保護(hù)設(shè)備的電流，以防止串聯(lián)電容器組過(guò)電壓或MOV（金屬氧化物限壓器）過(guò)電流導(dǎo)致的設(shè)備損壞［2］。

國(guó)內(nèi)外串補(bǔ)裝置最常用的GAP拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，由自放電型主間隙和間隙觸發(fā)控制系統(tǒng)組成，如圖1所示。

圖1 GAP拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)

由圖1 可見(jiàn)，2 個(gè)串聯(lián)的自放電型主間隙（G1和G2）安裝在間隙小室內(nèi)，各承擔(dān)串補(bǔ)電容器組額定電壓的1/2。間隙觸發(fā)控制系統(tǒng)則由間隙觸發(fā)主回路和GTCB（間隙觸發(fā)控制箱）兩部分組成。其中間隙觸發(fā)主回路包括觸發(fā)放電型密閉間隙（TRIG1、TRIG2）、限流電阻器（R1）、低壓脈沖變壓器（T1、T3）、高壓脈沖變壓器（T2、T4）、均壓電容器（C1、C2、C3、C4），它接收來(lái)自GTCB 的電觸發(fā)脈沖，并最終實(shí)現(xiàn)自放電型主間隙G1 和G2 的全部放電，使串聯(lián)電容器組經(jīng)阻尼裝置旁路。GTCB 是安裝于串補(bǔ)高壓絕緣平臺(tái)上的弱電設(shè)備，它用于接收串補(bǔ)保護(hù)裝置發(fā)出的間隙觸發(fā)光信號(hào)，并向間隙觸發(fā)主回路輸出電觸發(fā)脈沖，與其共同實(shí)現(xiàn)對(duì)主間隙的強(qiáng)制性觸發(fā)控制［2-3］。

1.2 GAP現(xiàn)行常規(guī)檢修項(xiàng)目

如前所述，參照出廠試驗(yàn)和型式試驗(yàn)的規(guī)定來(lái)制定GAP檢修方案顯然是不合適的，因此檢修公司通常會(huì)參照DL/T 1220—2013《串聯(lián)電容器補(bǔ)償裝置 交接試驗(yàn)及驗(yàn)收規(guī)范》或DL/T 366—2010《串聯(lián)電容器補(bǔ)償裝置一次設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程》中的相關(guān)規(guī)定。雖然現(xiàn)在預(yù)防性試驗(yàn)的概念已經(jīng)很少提及，但電力生產(chǎn)實(shí)踐證明，對(duì)電氣設(shè)備按規(guī)定開(kāi)展檢測(cè)試驗(yàn)工作，是防患于未然、保證電力系統(tǒng)安全經(jīng)濟(jì)運(yùn)行的重要措施之一，與檢修工作的內(nèi)容和目的更為契合，故檢修公司現(xiàn)行GAP檢修項(xiàng)目更多的是參考DL/T 366—2010制定，具體內(nèi)容如表1所示。

表1 GAP現(xiàn)行常規(guī)檢修項(xiàng)目

2 現(xiàn)行GAP現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)方法分析

2.1 密閉間隙自放電電壓測(cè)量

2.1.1 試驗(yàn)的必要性與合理性

密閉間隙是控制實(shí)現(xiàn)GAP主間隙強(qiáng)制性觸發(fā)導(dǎo)通的關(guān)鍵部件，其基本工作機(jī)理是通過(guò)有效的密封措施確保密閉間隙內(nèi)部空氣的相對(duì)密度始終保持在被密封時(shí)的水平，也就確保了其自放電電壓的穩(wěn)定性。由于密封間隙自放電電壓降低可能引起GAP 自放電電壓降低，導(dǎo)致GAP 自觸發(fā)，而且密封間隙自放電電壓的穩(wěn)定性將直接影響GAP 觸發(fā)控制的準(zhǔn)確性，故通過(guò)密閉間隙自放電電壓測(cè)量來(lái)驗(yàn)證密閉間隙的可靠性和穩(wěn)定性是非常有必要的［7-8］。

如上所述，密封正常的情況下，密閉間隙中電極間的距離決定其整體的自放電電壓水平，且其自放電電壓分散性小。至于其自放電電壓與距離的特性關(guān)系可通過(guò)測(cè)試并記錄不同間隙距離下自放電電壓峰值來(lái)擬合。為進(jìn)一步準(zhǔn)確考察自放電電壓的分散性，可在每一個(gè)間隙距離下進(jìn)行多次工頻電壓自放電試驗(yàn)，然后計(jì)算出每組數(shù)據(jù)的均值，并采用最小二乘法對(duì)均值點(diǎn)進(jìn)行擬合，擬合曲線如圖2所示。其公式為：

圖2 密閉間隙自放電標(biāo)定曲線

由圖2可知，自放電電壓的均值隨間隙距離的增大而線性增大，故可由貝塞爾公式計(jì)算得到均值數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差σ。

式中：n為特征值的個(gè)數(shù)；vi為殘差，即特征數(shù)據(jù)與均值之差；v為殘差的自由度，采用最小二乘法擬合曲線時(shí)，殘差的自由度為n-2。

對(duì)于某一給定的間隙距離，假定擬合直線上間隙距離所對(duì)應(yīng)的點(diǎn)為該距離的理論自放電電壓值，實(shí)測(cè)所得的自放電電壓值應(yīng)符合高斯分布，在距離理論自放電電壓值1.96 倍標(biāo)準(zhǔn)差（1.96σ）的位置之間包含概率為95%的自放電電壓測(cè)量值：

式中：UAC為交流自放電電壓測(cè)量值。

以圖2中試驗(yàn)數(shù)據(jù)為例，通過(guò)分別對(duì)7組間隙距離（16.8 mm、22.9 mm、29.0 mm、34.9 mm、36.3 mm、40.8 mm和44.8 mm）下實(shí)測(cè)自放電電壓數(shù)據(jù)求取標(biāo)準(zhǔn)差，可得到最大標(biāo)準(zhǔn)差。圖2中間隙距離范圍在16.8～44.8 mm，在置信度95%下，可計(jì)算出密閉間隙自放電電壓的置信區(qū)間小，密閉間隙自放電電壓分散性也小，因此通過(guò)測(cè)試該電壓并與出廠值比較可以有效檢驗(yàn)出密閉間隙的實(shí)際性能狀態(tài)［4-5］。

2.1.2 試驗(yàn)的難點(diǎn)和不足

密閉間隙自放電電壓測(cè)量試驗(yàn)回路如圖3 所示?？赏ㄟ^(guò)直流/交流發(fā)生器對(duì)密閉間隙兩端施加電壓，并記錄下密閉間隙自放電瞬間的電壓值，試驗(yàn)應(yīng)進(jìn)行1～2 次，對(duì)比放電電壓值和出廠值，應(yīng)符合制造廠要求。

圖3 密閉間隙自放電電壓測(cè)量接線示意圖

該試驗(yàn)的主要難點(diǎn)是密閉間隙自放電電壓比較高，以特高壓為例，其自放電電壓都在80 kV以上。試驗(yàn)時(shí)須將密閉間隙外部接線拆除，由于試驗(yàn)電壓較高，且密閉間隙安裝于串補(bǔ)平臺(tái)上，周圍設(shè)備較多，且設(shè)備間距離較近，故需對(duì)其周圍設(shè)備做好絕緣防護(hù)，甚至需要將其拆卸、吊離至串補(bǔ)平臺(tái)外進(jìn)行試驗(yàn)。另外自放電時(shí)對(duì)試驗(yàn)設(shè)備沖擊較大，需結(jié)合限流回路參數(shù)設(shè)置相應(yīng)的過(guò)電流保護(hù)。

該試驗(yàn)的主要不足在于雖然可以驗(yàn)證密閉間隙的穩(wěn)定性和可靠性，但并不能驗(yàn)證內(nèi)置于電極里的火花塞性能，即火花塞接受強(qiáng)制觸發(fā)的脈沖電壓后能否可靠放電點(diǎn)火，也不能驗(yàn)證即便火花塞點(diǎn)火成功后密閉間隙觸發(fā)放電的穩(wěn)定性，故并未充分驗(yàn)證密閉間隙觸發(fā)放電的可靠性［9-10］。

2.2 觸發(fā)功能試驗(yàn)

2.2.1 試驗(yàn)的必要性與合理性

觸發(fā)功能試驗(yàn)顧名思義就是檢測(cè)間隙觸發(fā)控制系統(tǒng)的觸發(fā)控制性能，這也是GAP最關(guān)鍵的特性和考核指標(biāo)。間隙觸發(fā)控制系統(tǒng)包括間隙觸發(fā)主回路和GTCB兩部分。

間隙觸發(fā)主回路如圖1所示，其中限流電阻器和均壓電容器可通過(guò)測(cè)量電阻值和電容值來(lái)判別其性能。根據(jù)檢修經(jīng)驗(yàn)，限流電阻異常導(dǎo)致GAP自觸發(fā)或拒觸發(fā)的概率較低，但均壓電容值發(fā)生變化，使GAP電壓分布不均勻確實(shí)可能導(dǎo)致火花間隙自放電電壓降低，引起GAP自觸發(fā)。低壓脈沖變壓器、高壓脈沖變壓器用于接收GTCB 發(fā)出的觸發(fā)控制脈沖，并給密閉間隙放電電極內(nèi)的火花塞提供點(diǎn)火脈沖電壓，雖然2個(gè)脈沖變異常的概率較低，但仍須通過(guò)觸發(fā)功能試驗(yàn)進(jìn)行驗(yàn)證。

GTCB 用于接收串補(bǔ)保護(hù)裝置通過(guò)光纖發(fā)來(lái)的GAP 觸發(fā)命令，并將其轉(zhuǎn)化為電脈沖發(fā)送給2個(gè)脈沖變，同時(shí)也實(shí)現(xiàn)對(duì)間隙觸發(fā)控制系統(tǒng)的狀態(tài)檢測(cè)并上報(bào)串補(bǔ)監(jiān)控系統(tǒng)。

當(dāng)前的觸發(fā)功能試驗(yàn)主要分兩步，一是采用專用的GAP 觸發(fā)測(cè)試儀并將2 個(gè)脈沖變與密閉間隙間的接線解開(kāi)，外接測(cè)試用火花塞，觀察火花塞點(diǎn)火情況；二是通過(guò)與串補(bǔ)控制保護(hù)系統(tǒng)聯(lián)調(diào)，觀察火花塞點(diǎn)火情況和間隙觸發(fā)控制系統(tǒng)報(bào)警信息上送。這項(xiàng)試驗(yàn)?zāi)艹浞謾z測(cè)出GTCB 內(nèi)各部件以及2個(gè)脈沖變的狀態(tài)。

2.2.2 試驗(yàn)的難點(diǎn)和不足

觸發(fā)功能試驗(yàn)回路如圖4所示。觸發(fā)系統(tǒng)調(diào)試箱的主要作用是提供GTCB 所需的工作電源和符合規(guī)約的測(cè)試信號(hào)，對(duì)GTCB 內(nèi)各功能組件和2個(gè)脈沖變進(jìn)行通電檢測(cè)。隔離變1 用于為GTCB內(nèi)的觸發(fā)電源模塊和觸發(fā)控制模塊提供輸入電源，隔離變2用于為儲(chǔ)能電容器提供充電電源。分壓電容器用于采集判別GAP兩端電壓是否達(dá)到觸發(fā)門(mén)檻電壓值。當(dāng)需要與串補(bǔ)控制保護(hù)系統(tǒng)聯(lián)調(diào)時(shí)，直接將GTCB 觸發(fā)模塊OPin（光入信號(hào)接口）和OPout（光出接口）恢復(fù)接成工程用實(shí)際觸發(fā)光纖和回檢光纖，然后通過(guò)在保護(hù)裝置上模擬會(huì)發(fā)出GAP 觸發(fā)命令的保護(hù)動(dòng)作即可。試驗(yàn)結(jié)果要求當(dāng)施加電壓低于觸發(fā)門(mén)檻電壓值時(shí)連續(xù)觸發(fā)5次，火花塞應(yīng)可靠不點(diǎn)火，反之火花塞應(yīng)連續(xù)可靠點(diǎn)火5次。

圖4 觸發(fā)功能試驗(yàn)接線示意圖

該試驗(yàn)的主要難點(diǎn)是試驗(yàn)接線和試驗(yàn)步驟較為復(fù)雜，需要特別注意試驗(yàn)接線的恢復(fù)，以及插拔光纖時(shí)保持光頭的潔凈，否則會(huì)直接影響觸發(fā)信號(hào)的有效性。

該試驗(yàn)的主要不足在于雖然可以驗(yàn)證GTCB和2個(gè)脈沖變的穩(wěn)定性和可靠性，但由于密閉間隙電極里的火花塞內(nèi)置于密閉間隙內(nèi)，無(wú)法觀測(cè)其點(diǎn)火情況，故不能驗(yàn)證其性能，也就未充分驗(yàn)證GAP觸發(fā)控制的可靠性［11］。

3 GAP觸發(fā)放電聯(lián)調(diào)試驗(yàn)

3.1 試驗(yàn)方法及其優(yōu)越性

前文分析總結(jié)了當(dāng)前串補(bǔ)檢修工作中GAP現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)的一些難點(diǎn)和不足，其中最關(guān)鍵的問(wèn)題是對(duì)GAP 觸發(fā)放電電壓的穩(wěn)定性和GAP 觸發(fā)控制的可靠性的檢驗(yàn)不夠充分，故在觸發(fā)功能試驗(yàn)的基礎(chǔ)上，提出GAP觸發(fā)放電聯(lián)調(diào)試驗(yàn)，以期通過(guò)該試驗(yàn)徹底解決上述問(wèn)題。

試驗(yàn)電壓要求越高，所需交流電壓發(fā)生器的體積就越大，重量越重，不便于現(xiàn)場(chǎng)使用，相應(yīng)地對(duì)其電源容量的要求也就較高。故本試驗(yàn)將觸發(fā)放電對(duì)象設(shè)定為密閉間隙，這樣試驗(yàn)電壓僅為GAP 觸發(fā)放電電壓的1/4，對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求較低。

具體試驗(yàn)方法如下：先拆除密閉間隙與觸發(fā)主回路之間的接線，可將圖1 中放電電阻R1 完全拆除，以確保被試品和周邊其他設(shè)備的絕緣距離。依據(jù)圖4將觸發(fā)系統(tǒng)調(diào)試箱接入GTCB，觸發(fā)命令光信號(hào)和回檢信息光信號(hào)仍使用來(lái)自串補(bǔ)控保系統(tǒng)的工程用光纖。利用交流電壓發(fā)生器直接在密閉間隙兩端施加試驗(yàn)電壓，注意做好試驗(yàn)導(dǎo)線與串補(bǔ)平臺(tái)上其他設(shè)備間的絕緣防護(hù)，逐步將電壓升至過(guò)壓保護(hù)水平，通常為2.3倍串聯(lián)電容器組額定電壓的1/4，持續(xù)1 min，密閉間隙無(wú)自放電。逐步降低電壓至1.7倍串聯(lián)電容器組額定電壓的1/4，在串補(bǔ)控制保護(hù)系統(tǒng)模擬MOV 過(guò)電流保護(hù)動(dòng)作，發(fā)出GAP觸發(fā)命令，觀察密閉間隙放電情況。逐步上升電壓至1.9倍串聯(lián)電容器組額定電壓的1/4，在串補(bǔ)控制保護(hù)系統(tǒng)模擬MOV 過(guò)電流保護(hù)動(dòng)作，發(fā)出GAP觸發(fā)命令，觀察密閉間隙放電情況。試驗(yàn)結(jié)果要求當(dāng)密閉間隙兩端施加電壓低于觸發(fā)門(mén)檻電壓值（1.8 倍串聯(lián)電容器組額定電壓的1/4）時(shí)連續(xù)觸發(fā)3次，密閉間隙應(yīng)可靠不放電，反之密閉間隙應(yīng)連續(xù)可靠放電3次。

3.2 試驗(yàn)回路設(shè)計(jì)

GAP 觸發(fā)放電聯(lián)調(diào)試驗(yàn)接線如圖5 所示?，F(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)應(yīng)把R1拆掉，交流電壓發(fā)生器輸出電壓一端直接加在密閉間隙TG1 高壓端，另外一端接TG1低壓端再直接和低壓母線，即串補(bǔ)平臺(tái)短接，串補(bǔ)平臺(tái)再和大地短接。圖5中的示波器用于判斷密閉間隙觸發(fā)放電是否成功，其判別標(biāo)準(zhǔn)為：通過(guò)高壓探頭和示波器采集密閉間隙兩端正弦波電壓的波形，當(dāng)通過(guò)串補(bǔ)控制保護(hù)系統(tǒng)發(fā)出GAP觸發(fā)命令后，密閉間隙兩端電壓有明顯跌落，即可判斷為本次觸發(fā)放電聯(lián)調(diào)試驗(yàn)成功。

圖5 GAP觸發(fā)放電聯(lián)調(diào)試驗(yàn)接線示意圖

針對(duì)不同的工程和不同的試驗(yàn)設(shè)備條件可以適當(dāng)調(diào)整試驗(yàn)接線，例如當(dāng)串聯(lián)電容器組額定電壓較低、試驗(yàn)電源容量較大且交流電壓發(fā)生器輸出電壓較高時(shí)，可考慮直接在高壓母線和低壓母線之間施加試驗(yàn)電壓，試驗(yàn)電壓為串聯(lián)電容器組額定電壓的1.9～2.3 倍，這樣可將GAP 觸發(fā)放電聯(lián)調(diào)試驗(yàn)的檢驗(yàn)范圍從密比間隙的觸發(fā)放電穩(wěn)定性擴(kuò)大為主間隙的觸發(fā)放電穩(wěn)定性［12］。

4 GAP觸發(fā)放電聯(lián)調(diào)試驗(yàn)的工程應(yīng)用

研究確定了GAP觸發(fā)放電聯(lián)調(diào)試驗(yàn)的基本方法后，即在我國(guó)西南某500 kV 串補(bǔ)工程現(xiàn)場(chǎng)的秋檢工作中進(jìn)行實(shí)施。

現(xiàn)場(chǎng)實(shí)施過(guò)程中根據(jù)檢修公司要求，未采用觸發(fā)系統(tǒng)調(diào)試箱為GTCB 提供工作電源，而是現(xiàn)場(chǎng)通過(guò)手動(dòng)調(diào)節(jié)單相交流調(diào)壓器電壓來(lái)控制流過(guò)多匝升流線餅的電流，實(shí)現(xiàn)為串補(bǔ)平臺(tái)低壓母線上取能CT（電流互感器）和充電CT 供電，然后通過(guò)控制電源取能CT和充電電源取能CT為GTCB供電，如圖6所示。這樣接線將檢測(cè)范圍進(jìn)一步擴(kuò)大到2個(gè)取能CT及其二次回路。

圖6 取能CT與GTCB接線示意圖

現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)典型波形如圖7、圖8 所示。圖7 所示為交流電壓發(fā)生器輸出端（B 通道）與量測(cè)輸出端（D 通道）的波形，發(fā)生器輸出電壓有效值為38 kV，直接加在密閉間隙兩端，量測(cè)輸出端與輸出高壓比例關(guān)系為1∶10 000。由波形可以看出，二者基本重疊，說(shuō)明量測(cè)輸出端與交流電壓發(fā)生器輸出端波形一致，試驗(yàn)測(cè)試數(shù)據(jù)真實(shí)可信。

圖7 交流電壓發(fā)生器輸出波形與測(cè)量端子波形

圖8 成功觸發(fā)波形（電壓跌落且能恢復(fù)一定幅值）

圖8中，A通道表示觸發(fā)箱內(nèi)高壓脈沖變?cè)呺妷翰ㄐ?，B通道表示高壓脈沖變副邊波形，D通道表示外接交流電壓發(fā)生器輸出檢測(cè)端子波形。發(fā)生觸發(fā)時(shí)，電壓正處于高位，密閉間隙完全打開(kāi)，造成交流電壓發(fā)生器高壓側(cè)電壓突降，試驗(yàn)回路的雜散電容和電感瞬間形成一個(gè)高頻充放電過(guò)程，此過(guò)程維持了5 ms 以上。此后交流電壓發(fā)生器輸出電壓逐步恢復(fù)，但電壓幅值有明顯的跌落，這主要是由于密閉間隙有一定幅值的電流流過(guò)，呈現(xiàn)一定的阻抗特性，消納電感儲(chǔ)存的能量，直到電流降到一定值后，交流電壓發(fā)生器開(kāi)始慢慢恢復(fù)，此時(shí)容量為10 kVA交流電壓發(fā)生器再以最大電流的形式向密閉間隙提供一定幅值的導(dǎo)通電流。因此容量有限的交流電壓發(fā)生器在以最大電流的形式輸出時(shí)，電壓幅值被限制到一定幅值，也即無(wú)法恢復(fù)到正常設(shè)定值38 kV，跌落深度接近60%。這期間由于觸發(fā)脈沖群持續(xù)有效，會(huì)導(dǎo)致密閉間隙在其端電壓達(dá)到擊穿條件（峰值附近）時(shí)再次出現(xiàn)短暫的擊穿放電現(xiàn)象。

5 結(jié)語(yǔ)

本研究客觀分析了GAP傳統(tǒng)檢修項(xiàng)目中的密閉間隙自放電電壓測(cè)量和觸發(fā)功能試驗(yàn)的優(yōu)缺點(diǎn)。在此基礎(chǔ)上提出將二者合并，進(jìn)一步優(yōu)化成GAP觸發(fā)放電聯(lián)調(diào)試驗(yàn)的新思路，并提出了具體的試驗(yàn)方法和試驗(yàn)回路設(shè)計(jì)。新提出的GAP觸發(fā)放電聯(lián)調(diào)試驗(yàn)在確?，F(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)可操作性的前提下，擴(kuò)大了試驗(yàn)的檢測(cè)范圍，同時(shí)縮小了對(duì)串補(bǔ)原有設(shè)備和接線的影響范圍，全面提高了GAP檢修工作的精準(zhǔn)度和效率。最終通過(guò)實(shí)際工程應(yīng)用驗(yàn)證了在串補(bǔ)檢修工作中采用GAP觸發(fā)放電聯(lián)調(diào)試驗(yàn)的合理性和有效性。