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        電子天平校準(zhǔn)和測(cè)量能力(CMC)中不確定度的評(píng)定與表示

        2022-04-18 05:39:22韓玉華
        關(guān)鍵詞:測(cè)量范圍電子天平砝碼

        陳 露,王 琦,韓玉華,王 昱

        (湖北省計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院,湖北 武漢 430071)

        0 引言

        2020年7月2日,國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布了JJF 1847-2020《電子天平校準(zhǔn)規(guī)范》[1],2021年1月7日起正式實(shí)施.電子天平校準(zhǔn)規(guī)范是以國(guó)際建議(R76:非自動(dòng)衡器)[2]和歐盟版電子天平校準(zhǔn)規(guī)范(I-C-G-018)[3]為基礎(chǔ)編寫的,該規(guī)范的發(fā)布和實(shí)施將顯著提高各校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室對(duì)電子天平校準(zhǔn)的服務(wù)質(zhì)量.

        目前,在生物制藥、環(huán)境監(jiān)測(cè)等有關(guān)行業(yè),日常大量使用高精度微量電子天平(萬分之一精度及以上),由于中國(guó)醫(yī)藥企業(yè)在面臨產(chǎn)品出口時(shí),要經(jīng)過美國(guó)藥典標(biāo)準(zhǔn)(FDA)或者歐洲藥典標(biāo)準(zhǔn)(EP)的嚴(yán)格審查,無論是FDA還是EP,都有對(duì)藥物用天平的稱量過程、稱量數(shù)據(jù)審查的具體要求,中國(guó)制藥企業(yè)為了滿足以上要求,大量需要電子天平的校準(zhǔn)數(shù)據(jù),在稱量過程中,更關(guān)注某些稱量點(diǎn)的校準(zhǔn)值及不確定度已經(jīng)成為一種常態(tài).

        然而,現(xiàn)有的計(jì)量監(jiān)督體系是以“檢定”為主,電子天平檢定規(guī)程主要評(píng)價(jià)不同稱量范圍的誤差是否超出最大允許誤差來進(jìn)行符合性判斷,即判定儀器是否“合格”.即便是進(jìn)行校準(zhǔn),各級(jí)校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室在做電子天平校準(zhǔn)時(shí)均參照J(rèn)JG1036-2008《電子天平檢定規(guī)程》[4]進(jìn)行.在執(zhí)行過程中,不同實(shí)驗(yàn)室都制定了各自的校準(zhǔn)方法,這難免造成方法標(biāo)準(zhǔn)不統(tǒng)一的情況,影響后續(xù)的評(píng)價(jià),因此不能精準(zhǔn)滿足客戶需求.

        為了加強(qiáng)國(guó)際互認(rèn),精準(zhǔn)服務(wù)企業(yè),全國(guó)質(zhì)量密度計(jì)量技術(shù)委員會(huì)結(jié)合實(shí)際需要,特別制定了電子天平校準(zhǔn)規(guī)范.由此,電子天平也成為經(jīng)國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局批準(zhǔn)試點(diǎn)的第一個(gè)規(guī)程和規(guī)范同步使用的計(jì)量器具,其中檢定規(guī)程主要面向法制計(jì)量,校準(zhǔn)規(guī)范以滿足客戶具體需求為主.

        電子天平校準(zhǔn)規(guī)范的出臺(tái),使得方法上得到統(tǒng)一,同時(shí)與歐盟校準(zhǔn)規(guī)范銜接,有利于國(guó)際互認(rèn),更有利于我國(guó)企業(yè)充分參與國(guó)際競(jìng)爭(zhēng).

        1 電子天平的CMC評(píng)定與表示

        針對(duì)電子天平最新校準(zhǔn)規(guī)范的出臺(tái),各校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室勢(shì)必要對(duì)電子天平的校準(zhǔn)和測(cè)量能力(CMC)進(jìn)行調(diào)整,如方法變更或重新進(jìn)行不確定度評(píng)定.CNAS中校準(zhǔn)和測(cè)量能力(CMC)是表征各實(shí)驗(yàn)室測(cè)量能力的指標(biāo),經(jīng)過多年的普及推廣,CMC已經(jīng)成為衡量各校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)活動(dòng)可信性、可比性和可接受性的重要參數(shù)[5].筆者在參與諸多的實(shí)驗(yàn)室CNAS評(píng)審過程中發(fā)現(xiàn),很多計(jì)量技術(shù)人員對(duì)不同設(shè)備CMC不確定度的表示方法各不相同.有的不能完全涵蓋其測(cè)量范圍,有的則最優(yōu)不確定度不能真實(shí)反映其校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室的測(cè)量能力,降低了校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室對(duì)外宣稱的CMC的真實(shí)性和可信度[6].

        表1 所示為針對(duì)電子天平的校準(zhǔn)和測(cè)量能力表示的2個(gè)實(shí)驗(yàn)室的2種表達(dá)方式.可以看出,2個(gè)實(shí)驗(yàn)室對(duì)電子天平CMC不確定度評(píng)定和表示方法有明顯的不同.兩個(gè)實(shí)驗(yàn)室都采用了范圍表示方法,但在測(cè)量范圍的具體表述上存在明顯的區(qū)別,方法2在測(cè)量范圍的基礎(chǔ)上還使用檢定分度值e進(jìn)行了限定,方法1的表示中測(cè)量范圍沒有進(jìn)行銜接,1 kg~2 kg之間出現(xiàn)了遺漏,這顯然不能體現(xiàn)該實(shí)驗(yàn)室的校準(zhǔn)能力.

        表1 電子天平CMC表達(dá)方法實(shí)例

        由于電子天平本身是具有不同精度、不同測(cè)量范圍的測(cè)量?jī)x器,因此對(duì)某單一稱量點(diǎn)進(jìn)行不確定度評(píng)定必須要考慮其實(shí)際分度值,否則不確定度評(píng)定結(jié)果必然千差萬別.以5 g這一稱量點(diǎn)來說,從千萬分之一精度(d=0.1 μg)電子天平到萬分之一精度(d=0.1 mg),再到最常見的十分位(d=0.1 g)電子天平均可以覆蓋該測(cè)量點(diǎn),不同精度電子天平在校準(zhǔn)過程中所使用的標(biāo)準(zhǔn)砝碼、測(cè)量環(huán)境、測(cè)量程序及人員均不相同,因此其不確定度相差很大.

        CNAS-CL01-G003《測(cè)量不確定度的要求》[7]中提到:“CMC是校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室在常規(guī)條件下能夠提供給客戶的校準(zhǔn)和測(cè)量的能力.其擴(kuò)展不確定度應(yīng)是在常規(guī)條件下的校準(zhǔn)中可獲得的最小的測(cè)量不確定度.”換句話說,CMC中的不確定度是實(shí)驗(yàn)室選擇的最優(yōu)校準(zhǔn)能力,不確定度更小.

        因此,評(píng)定實(shí)驗(yàn)室最優(yōu)不確定度必然要結(jié)合該測(cè)量?jī)x器所有精度的儀器來進(jìn)行考慮.CNAS-CL01-G003《測(cè)量不確定度的要求》中提到:“‘現(xiàn)有的最佳儀器’通常是相關(guān)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)在計(jì)量溯源鏈中可校準(zhǔn)的最高等級(jí)(或性能)的被校儀器,可能時(shí),選擇其中具有特殊的性能(比如穩(wěn)定性)或經(jīng)過長(zhǎng)期校準(zhǔn)的儀器,但不應(yīng)選擇性能等于或優(yōu)于所用測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的儀器作為“現(xiàn)有的最佳儀器”來評(píng)定CMC.”以電子天平為例,若某實(shí)驗(yàn)室在其計(jì)量溯源鏈中可校準(zhǔn)的最高等級(jí)電子天平為千萬分位電子天平,則針對(duì)某一特定測(cè)量范圍,選擇千萬分位及以下所有覆蓋該測(cè)量范圍的不同精度電子天平為“最佳儀器”,具體以電子天平稱量范圍為準(zhǔn),對(duì)于覆蓋了某一測(cè)量點(diǎn)的選擇精度最高的天平作為“最佳儀器”.那么,針對(duì)某一測(cè)量范圍,該測(cè)量范圍內(nèi)“最佳儀器”是必然選擇.

        基于此,本文結(jié)合最新發(fā)布的電子天平校準(zhǔn)規(guī)范,對(duì)某實(shí)驗(yàn)室的電子天平的CMC進(jìn)行評(píng)定,綜合考慮選擇穩(wěn)定性強(qiáng)、重復(fù)性好、分辨力高的電子天平作為被校儀器.

        2 電子天平的測(cè)量不確定度評(píng)定

        2.1 電子天平不確定度評(píng)定方案

        1)測(cè)量依據(jù):JJF 1847-2020《電子天平校準(zhǔn)規(guī)范》

        2)測(cè)量環(huán)境條件:溫度(20±1)℃,濕度(40~70)%RH,溫度波動(dòng)≤0.5 ℃/h.

        3)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn):用于校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)砝碼為E1,E2,F(xiàn)1等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)砝碼,如表2 所示.

        表2 校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)砝碼

        4)測(cè)量方法:采用標(biāo)準(zhǔn)砝碼直接測(cè)量電子天平各技術(shù)參數(shù)(各載荷點(diǎn))的示值,可得電子天平示值與標(biāo)準(zhǔn)砝碼之差,即為電子天平的示值誤差.

        5)被測(cè)對(duì)象:被測(cè)對(duì)象為Ⅰ級(jí)及以下電子天平,如表3 所示.

        表3 被校電子天平的分類

        6)測(cè)量模型及不確定度來源分析[8]

        ① 測(cè)量模型

        電子天平的校準(zhǔn)模型為

        E=I-mref,

        (1)

        I=IL+δIL+δIrep+δIecc-δI0-I0,

        (2)

        式中:I為天平示值;mref為試驗(yàn)載荷的參考質(zhì)量;IL為加載砝碼的示值;I0為零點(diǎn)示值;δI0為空載示值的化整誤差;δIL為加載時(shí)的示值誤差;δIrep為天平的重復(fù)性誤差;δIecc為由于試驗(yàn)載荷重心的偏心位置引起的誤差.

        mref=mN+δmc+δmB+δmD[9],

        (3)

        式中:mN為砝碼的標(biāo)稱質(zhì)量;δmc為來自上一級(jí)標(biāo)稱砝碼的不確定度偏差;δmB為空氣浮力對(duì)砝碼的影響偏差;δmD為砝碼不穩(wěn)定性的影響偏差.

        根據(jù)測(cè)量模型,合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度的計(jì)算公式為

        (4)

        合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度為

        u2(E)=u2(I)+u2(mref).

        (5)

        ② 不確定度來源

        A.示值的不確定度

        a.空載示值的化整誤差引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(δI0).

        b.加載示值的化整誤差引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(δIL).

        c.重復(fù)性引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(δIrep).

        d.偏載引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(δIecc).

        B.參考砝碼的標(biāo)準(zhǔn)不確定度

        e.標(biāo)準(zhǔn)砝碼的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(δmc).

        f.空氣浮力引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(δmB).

        g.砝碼不穩(wěn)定性引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(δmD).

        C.電子天平不確定度評(píng)定影響因素分析

        示值誤差的合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(E)根據(jù)式(6)計(jì)算

        u2(E)=u2(δI0)+u2(δIL)+u2(δIrep)+

        u2(δIecc)+u2(δmc)+u2(δmB)+u2(δmD)=

        (6)

        在相同的實(shí)驗(yàn)環(huán)境下,控制各其它變量,均采用相同的測(cè)量方法,相同的測(cè)量模型,則根據(jù)式(6)可知,電子天平在相應(yīng)載荷點(diǎn)的擴(kuò)展不確定度主要與5個(gè)方面有關(guān),如表4 所示.

        表4 電子天平不確定度影響分類

        由表4 可知,想要獲取更優(yōu)的不確定度,要盡可能選擇與其相匹配的標(biāo)準(zhǔn)砝碼或更高等級(jí)砝碼.這樣,MPE和U取值更小.而更加穩(wěn)定的環(huán)境條件,熟練的操作人員則可以使重復(fù)性引起的標(biāo)準(zhǔn)偏差更小,電子天平本身的性能則直接影響了偏載引入的不確定度.

        基于此,為了獲得CMC最優(yōu)不確定度,結(jié)合前述不確定度影響因素的分析,嚴(yán)格控制環(huán)境條件,選擇熟練的技術(shù)人員,按照不同等級(jí)電子天平,結(jié)合其精度,選擇最適合的標(biāo)準(zhǔn)砝碼,進(jìn)行電子天平不確定度評(píng)定實(shí)驗(yàn),最終計(jì)算出的結(jié)果即為實(shí)驗(yàn)室最優(yōu)不確定度.

        2.2 標(biāo)準(zhǔn)不確定度評(píng)定實(shí)例[10]

        以METTLER TOLEDO生產(chǎn)的超微量天平為例,該天平型號(hào)XPR6U,準(zhǔn)確度等級(jí)為I級(jí),最大秤量6.1 g,分度值d=0.1 μg,所用標(biāo)準(zhǔn)砝碼為E1等級(jí)砝碼.

        1)空載示值的化整誤差引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(δI0),δI0表示空載示值的化整誤差.其區(qū)間半寬度為±d0/2;服從矩形分布

        0.000 029 mg.

        (7)

        2)示值的化整誤差引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(δIL),δIL表示加載時(shí)的示值誤差.其區(qū)間半寬度為±dL/2,服從矩形分布.因此

        0.000 029 mg.

        (8)

        3)重復(fù)性引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(δIrep),δIrep表示天平的重復(fù)性誤差,服從正態(tài)分布,估計(jì)為

        u(δIrep)=s(Ij).

        (9)

        重復(fù)性采用5 g的測(cè)量點(diǎn),進(jìn)行10次連續(xù)測(cè)量,如表5 所示.

        表5 重復(fù)性測(cè)量數(shù)據(jù)

        u(δIrep)=s(Ij)=0.000 61 mg.

        (10)

        4)偏載引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(δIecc),δIecc表示由于試驗(yàn)載荷重心的偏心位置引起的誤差.偏載測(cè)量數(shù)據(jù)如表6 所示.

        表6 偏載測(cè)量數(shù)據(jù)

        4 999.991 7 mg×0.002 3 mg/(2×2 000 mg×

        (11)

        示值的標(biāo)準(zhǔn)不確定度通過下式獲得

        u2(I)=u2(δI0)+u2(δIL)+u2(δIrep)+

        u2(δIecc)=0.000 0292+0.000 0292+

        0.000 612+0.001 662=0.001 772,

        (12)

        u(I)=0.001 77 mg.

        (13)

        5)標(biāo)準(zhǔn)砝碼的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(δmc), 如果標(biāo)準(zhǔn)砝碼校準(zhǔn)證書中給出了砝碼的約定質(zhì)量以及校準(zhǔn)不確定度U和覆蓋因子k,其標(biāo)準(zhǔn)不確定度

        u(δmc)=U/k.

        (14)

        標(biāo)準(zhǔn)砝碼選擇E1等級(jí),U=0.005 mg,則

        u(δmc)=U/k=0.005 mg/2=0.002 5 mg.

        6)空氣浮力引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(δmB).

        因在校準(zhǔn)之前已對(duì)天平進(jìn)行調(diào)整,因此

        0.002 3 mg.

        (15)

        7)砝碼不穩(wěn)定性引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(δmD).

        D的值將根據(jù)JJG 99選擇最大允許誤差的1/3,在±D范圍內(nèi)服從正態(tài)分布.因此

        0.000 96 mg.

        (16)

        參考質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)不確定度通過下式獲得

        u2(mref)=u2(δmc)+u2(δmB)+

        u2(δmD)=0.002 52+0.002 32+

        0.000 962=0.003 52,

        (17)

        u(mref)=0.003 5 mg.

        (18)

        示值誤差的合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(E)根據(jù)下式計(jì)算

        u2(E)=u2(δI0)+u2(δIL)+u2(δIrep)+

        u2(δIecc)+u2(δmc)+u2(δmB)+u2(δmD)=

        0.001 772+0.003 52,

        (19)

        u(E)=0.003 9 mg.

        (20)

        因重復(fù)性次數(shù)為10次,

        (21)

        根據(jù)向下舍入原則,選擇有效自由度為50,查表得覆蓋因子k=2.05,為保證后續(xù)擴(kuò)展不確定度的表示統(tǒng)一,按95%的置信區(qū)間,統(tǒng)一取k=2,則示值誤差的擴(kuò)展不確定度U=2u(E)=0.007 8 mg.

        根據(jù)上述的方法,對(duì)校準(zhǔn)范圍內(nèi)的其它3個(gè)代表性載荷點(diǎn)的不確定度進(jìn)行評(píng)定, 如表7 所示.

        表7 不確定度的計(jì)算匯總表

        2.3 不同精度電子天平不確定度評(píng)定結(jié)果

        采用與前述相同的方法對(duì)其它精度電子天平進(jìn)行校準(zhǔn),則各精度電子天平的擴(kuò)展不確定度如表8 所示.

        表8 不同精度電子天平的擴(kuò)展不確定度匯總

        3 電子天平校準(zhǔn)和測(cè)量能力表示

        表8 中歸納了該實(shí)驗(yàn)室不同精度電子天平的不同測(cè)量范圍的擴(kuò)展不確定度.前述提到,對(duì)某實(shí)驗(yàn)室的電子天平的CMC進(jìn)行評(píng)定,綜合考慮選擇穩(wěn)定性強(qiáng)、重復(fù)性好、分辨力高的電子天平作為被校儀器.那么,對(duì)某一特定測(cè)量范圍,應(yīng)選擇該測(cè)量范圍不確定度更小的值作為該實(shí)驗(yàn)室電子天平的CMC.

        舉例來說,對(duì)于測(cè)量范圍1 mg~500 mg,由于所有精度電子天平均可覆蓋,那么在選擇最優(yōu)校準(zhǔn)能力時(shí),取其所對(duì)應(yīng)測(cè)量點(diǎn)(端點(diǎn))不確定度更小的即可.1 mg對(duì)應(yīng)不確定度最小的值為 0.001 2 mg(千萬分位電子天平,精度:d=0.1 μg).同理,500 mg測(cè)量點(diǎn)不確定度U=0.004 8 mg.由此可知,測(cè)量范圍1 mg~500 mg,其最優(yōu)校準(zhǔn)能力為U=0.001 2 mg~0.004 8 mg.同理,根據(jù)表8 中不同精度電子天平的擴(kuò)展不確定度,對(duì)不同測(cè)量范圍,選擇其測(cè)量范圍兩端載荷點(diǎn)的最優(yōu)不確定度作為CMC中擴(kuò)展不確定度的極值(加粗部分為極值點(diǎn)),則該實(shí)驗(yàn)室申請(qǐng)認(rèn)可的能力范圍如表9 所示.

        表9 電子天平CMC表示

        可以看出,該實(shí)驗(yàn)室電子天平的校準(zhǔn)和測(cè)量能力(CMC)既涵蓋了其所能覆蓋的測(cè)量范圍,又真實(shí)反映了其校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室的最佳測(cè)量能力,概括精煉,完全符合CNAS-CL01-G003《測(cè)量不確定度的要求》.當(dāng)然,為了日常使用方便,某些實(shí)驗(yàn)室以電子天平精度進(jìn)行劃分,在測(cè)量范圍的基礎(chǔ)上還使用檢定分度值e進(jìn)行了限定,這種CMC表示方式也是可取的,只不過操作起來更加復(fù)雜.

        4 結(jié)束語(yǔ)

        本文結(jié)合電子天平校準(zhǔn)規(guī)范的出臺(tái),對(duì)某實(shí)驗(yàn)室的電子天平校準(zhǔn)和測(cè)量能力進(jìn)行了重新評(píng)定,有效提高了相關(guān)人員的能力.為確保評(píng)估的CMC反映真實(shí)的校準(zhǔn)水平,實(shí)驗(yàn)室應(yīng)充分考慮對(duì)校準(zhǔn)結(jié)果不確定度的影響因素.針對(duì)電子天平而言,保持穩(wěn)定的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境、選擇有經(jīng)驗(yàn)的操作人員、使用更高等級(jí)的測(cè)量設(shè)備、關(guān)注測(cè)量設(shè)備的溯源性等,是保證實(shí)驗(yàn)室更優(yōu)校準(zhǔn)能力的前提.

        需要指出的是,截至2020年11月,我國(guó)累計(jì)認(rèn)可的各類合格評(píng)定機(jī)構(gòu)有12 192家,認(rèn)可現(xiàn)行有效認(rèn)證證書140多萬張[11].在生物安全、醫(yī)學(xué)檢疫、醫(yī)藥衛(wèi)生、國(guó)防等諸多領(lǐng)域?qū)Ω黝悓?shí)驗(yàn)室進(jìn)行了評(píng)審認(rèn)證.筆者結(jié)合日常在監(jiān)督評(píng)審過程中發(fā)現(xiàn)的一些關(guān)于“測(cè)量設(shè)備校準(zhǔn)和測(cè)量能力評(píng)定與表示”的常見性問題,以電子天平這一代表性測(cè)量設(shè)備為例,對(duì)電子天平校準(zhǔn)和測(cè)量能力(CMC)中不確定度的評(píng)定與表示進(jìn)行研究,希望給相關(guān)實(shí)驗(yàn)室技術(shù)人員一個(gè)指引,規(guī)范評(píng)定工作,提升各實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)能力的公信力.

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