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        沖擊接地電阻與工頻接地電阻換算系數(shù)計算方法研究

        2021-10-18 03:22:58吳華斌王光波
        氣象水文海洋儀器 2021年3期
        關(guān)鍵詞:參考點(diǎn)拐點(diǎn)夾角

        吳華斌,王光波

        (廣東省陽江市氣象局,陽江 529500)

        0 引言

        因城市化發(fā)展,目前中國的新型自動氣象站和新一代天氣雷達(dá)站大多數(shù)都遷建在地勢高的山地或山頂上。由于山地土壤電阻率(ρ)高、山頂易受雷擊[1]的特殊地理環(huán)境,給儀器設(shè)備的雷電防護(hù)工作帶來了新的課題。為了使儀器設(shè)備的接地電阻滿足有關(guān)規(guī)范的要求,在防雷工程設(shè)計和施工過程中,許多學(xué)者針對不同的儀器設(shè)備、土壤性質(zhì)、施工環(huán)境作了專門的防雷設(shè)計和研究[2-4],并取得了較好的防雷效果。由于GB 50057—2010《建筑物防雷設(shè)計規(guī)范》(以下簡稱《規(guī)范》)中規(guī)定的接地電阻是沖擊接地電阻(Ri),而防雷檢測時實(shí)際測量的是工頻接地電阻(R~),從而涉及到兩者之間的換算問題(換算方法見《規(guī)范》附錄C),其中R~=A×Ri,A為換算系數(shù)。但《規(guī)范》附錄C圖C.0.1給出的A值較少,只繪制了ρ≤100 Ωm、ρ=500 Ωm、ρ=1000 Ωm、ρ≥2000 Ωm 4條A值特征線,當(dāng)ρ出現(xiàn)在4條特征線以外時,并沒有給出詳細(xì)的內(nèi)插說明。如果換算系數(shù)計算不準(zhǔn)確,可能會涉及到防雷效果和工程造價問題[5-7]。雖然周敏芳[8]等提出了基于線性插值理論的換算系數(shù)計算方法,并取得了一定的研究成果,但由于其在內(nèi)插的過程中所選的內(nèi)插節(jié)點(diǎn)(參考點(diǎn))不同,勢必會造成內(nèi)插結(jié)果不一致的情況,因此文章主要分析和研究哪種方法更準(zhǔn)確,以探索一種既準(zhǔn)確又能程序化處理的計算方法,供同行在氣象探測設(shè)備的雷電防護(hù)設(shè)計和檢測工作中參考。

        1 計算方法與公式推導(dǎo)

        在《規(guī)范》附錄C圖C.0.1給出的4條已知特征線中,除了ρ≤100 Ωm特征線是直線(全程A=1.0)外,其他3條特征線(ρ=500 Ωm、ρ=1000 Ωm、ρ≥2000 Ωm)都是折線。為了便于推導(dǎo)A值的計算公式,以ρ=500 Ωm特征線(以下簡稱500 Ωm特征線)為例(圖1),其中x代表橫坐標(biāo)l/le;xρ代表某ρ特征線上某點(diǎn)對應(yīng)的橫坐標(biāo)值;Aρ代表某ρ特征線上某點(diǎn)對應(yīng)的縱坐標(biāo)值(或換算系數(shù)值)。

        在圖1中,已知500 Ωm特征線的拐點(diǎn)坐標(biāo)為C(0.3,1.5),對特征線上任意一點(diǎn)而言:

        圖1 500 Ωm特征線A值計算示意圖

        當(dāng)0.05≤xρ≤0.3時,Aρ=1.5;

        當(dāng)0.3

        推導(dǎo)后得出

        (1)

        如果用Cρ代表某ρ特征線上的拐點(diǎn)(如圖1中的點(diǎn)C,可記為C500,其他變量記法類同),xcρ代表拐點(diǎn)Cρ處的橫坐標(biāo)值,Acρ代表拐點(diǎn)Cρ處的縱坐標(biāo)值,則

        (2)

        所以,對于ρ>100 Ωm的其他特征線而言,只要知道其折線的拐點(diǎn)坐標(biāo)Cρ(xcρ,Acρ),就能通過公式(2)確定其任意一點(diǎn)xρ值對應(yīng)的換算系數(shù)值A(chǔ)ρ。假設(shè)繪圖時縱坐標(biāo)與橫坐標(biāo)單位刻度線的長度比值為b,可以導(dǎo)出該特征線與100 Ωm特征線在x=1.0處(點(diǎn)F)的夾角∠CFB(用βρ表示,單位:°),計算公式為:

        (3)

        式中,《規(guī)范》附錄C圖C.0.1的b=0.66,各特征線的拐點(diǎn)坐標(biāo)及其與100 Ωm特征線的夾角見表1,其中100 Ωm特征線拐點(diǎn)坐標(biāo)的xcρ=0.86為假設(shè)值。

        表1 各特征線的拐點(diǎn)坐標(biāo)及其與100 Ωm特征線的夾角

        對《規(guī)范》附錄C給定的4條已知特征線以外的其他ρ值,周敏芳等學(xué)者均提出了基于線性插值理論的計算方法來求其Aρ值。這些方法的共同點(diǎn)是:先確定ρ值所處的最近的區(qū)間(ρ1,ρ2],其中ρ1、ρ2是相鄰的已知特征線且ρ1<ρ≤ρ2,例如ρ=800 Ωm時,ρ值所處的最近的區(qū)間是(500,1000](ρ1=500 Ωm、ρ2=1000 Ωm),再根據(jù)表1中ρ1、ρ2的有關(guān)參數(shù)進(jìn)行內(nèi)插計算。但由于內(nèi)插過程中所選的線性參考點(diǎn)不同,其計算方法和計算過程有所不同。

        方法1:先運(yùn)用公式(2)分別求出xρ在ρ1、ρ2特征線上對應(yīng)的Aρ1、Aρ2值,再利用線性內(nèi)插公式計算Aρ值:

        (4)

        因內(nèi)插過程的參考點(diǎn)是A值,故稱之為A值內(nèi)插法,簡稱A值法。

        方法2:以ρ1、ρ2特征線的拐點(diǎn)坐標(biāo)Cρ1(xcρ1,Acρ1)和Cρ2(xcρ2,Acρ2)為參考點(diǎn),先利用線性內(nèi)插原理求出ρ值插值線的拐點(diǎn)坐標(biāo)Cρ(xcρ,Acρ),其中

        (5)

        再根據(jù)拐點(diǎn)坐標(biāo)Cρ(xcρ,Acρ)運(yùn)用公式(2)計算xρ在ρ值插值線上對應(yīng)的Aρ值。

        因該方法認(rèn)為已知特征線的拐點(diǎn)是線性變化的,并將其拐點(diǎn)坐標(biāo)作為線性內(nèi)插的參考點(diǎn),故稱之為拐點(diǎn)內(nèi)插法,簡稱拐點(diǎn)法。

        方法3:以ρ1、ρ2特征線與100 Ωm特征線的夾角βρ1、βρ2為參考點(diǎn),先利用線性原理內(nèi)插出ρ值插值線與100 Ωm特征線的夾角βρ,其內(nèi)插公式為:

        (6)

        再利用ρ1、ρ2特征線拐點(diǎn)坐標(biāo)Cρ1(xcρ1,Acρ1)、Cρ2(xcρ2,Acρ2)的Acρ1、Acρ2值,運(yùn)用公式(5)線性內(nèi)插出ρ值插值線拐點(diǎn)坐標(biāo)Cρ(xcρ,Acρ)的Acρ值。

        然后,利用ρ值插值線與100 Ωm特征線的夾角βρ和ρ值插值線拐點(diǎn)坐標(biāo)Cρ(xcρ,Acρ)的Acρ值,計算出ρ值插值線拐點(diǎn)坐標(biāo)Cρ(xcρ,Acρ)的xcρ值,其計算公式為:

        (7)

        最后根據(jù)拐點(diǎn)坐標(biāo)Cρ(xcρ,Acρ)運(yùn)用公式(2)計算xρ在ρ值插值線上對應(yīng)的Aρ值。

        因該方法認(rèn)為已知特征線與100 Ωm特征線的夾角是線性變化的,已知特征線拐點(diǎn)的縱坐標(biāo)也是線性變化的,并將其作為線性內(nèi)插的參考點(diǎn),為區(qū)別于拐點(diǎn)內(nèi)插法,故稱之為夾角內(nèi)插法,簡稱夾角法。

        夾角法與拐點(diǎn)法的共同點(diǎn)是通過確定ρ值插值線拐點(diǎn)坐標(biāo)Cρ(xcρ,Acρ)間接計算Aρ值,區(qū)別在于兩者計算拐點(diǎn)坐標(biāo)Cρ(xcρ,Acρ)的xcρ值時所用的方法不同,線性內(nèi)插參考點(diǎn)不同。

        2 數(shù)據(jù)與分析

        圖2 各方法的δA在不同ρ值區(qū)間出現(xiàn)的頻數(shù)累積

        從圖2可以看出,當(dāng)ρ∈(100,500]時,|δA|≤1%的頻數(shù)以拐點(diǎn)法最多(245次)、A值法次之(215次),但|δA|≤4%的頻數(shù)以A值法最多(378次)、夾角法次之(365次),3種內(nèi)插方法在該區(qū)間的插值效果不相上下。當(dāng)ρ∈(500,1000]和(1000,2000]時,拐點(diǎn)法的插值效果最好(區(qū)間內(nèi)|δA|≤1%的頻率達(dá)100%)、A值法次之。而夾角法,在所有ρ值區(qū)間的|δA|均不穩(wěn)定,插值效果在3種方法中最差;從其自身角度講,在(500,1000]時插值效果最好,在(100,500]時插值效果最差。

        為了進(jìn)一步檢驗(yàn)3種方法在不同ρ值區(qū)間的插值效果,借助EXCEL軟件(2010版)對A計算值和A查表值進(jìn)行單因素方差分析,假設(shè)H0:A計算值與A查表值無顯著差異,可以用A計算值代替A查表值進(jìn)行業(yè)務(wù)使用;反之則說明兩者之間存在顯著差異(顯著性水平α=0.05),分析結(jié)果見表2。

        表2 A計算值和A查表值單因素方差分析結(jié)果

        從表2可見,3種內(nèi)插方法在各ρ值區(qū)間的P-value均大于0.05且F均小于Fcrit,說明A計算值與A查表值無顯著差異,其中插值效果最好的是拐點(diǎn)法,A值法次之、夾角法最差。但3種內(nèi)插方法在(100,500]區(qū)間的插值效果均不理想,效果最好的拐點(diǎn)法P-value也僅有0.215,說明各種參考點(diǎn)在該區(qū)間的變化線性較差。而拐點(diǎn)法在(500,1000]和(1000,2000]區(qū)間的插值效果非常好(P-value均在0.98以上),說明其A計算值在該區(qū)間非常接近A查表值,進(jìn)行業(yè)務(wù)使用準(zhǔn)確性好,同時說明相鄰特征線的拐點(diǎn)在這兩個區(qū)間的變化是趨于線性的,比其他參考點(diǎn)的線性要好。

        3 拐點(diǎn)法的改進(jìn)

        由上述分析可知,拐點(diǎn)法在3種內(nèi)插方法中的插值效果最好,但在(100,500]區(qū)間的效果仍然不是很理想。為了探其原因,嘗試將100 Ωm特征線拐點(diǎn)C100(xc100,1.0)的橫坐標(biāo)xc100依次設(shè)為0.40、0.41、…、0.85、0.86(間隔值0.01),并與500 Ωm特征線拐點(diǎn)C500(0.3,1.5)作拐點(diǎn)內(nèi)插處理后發(fā)現(xiàn),當(dāng)xc100=0.55時,拐點(diǎn)內(nèi)插法在(280,500]區(qū)間的插值效果非常好(區(qū)間內(nèi)|δA|≤1%的頻率達(dá)100%),在(100,280]區(qū)間的插值效果也有所改善,說明假設(shè)xc100=0.86不太合理或(100,500]區(qū)間內(nèi)拐點(diǎn)的變化是非線性的??紤]增設(shè)1條280 Ωm特征線或插值節(jié)點(diǎn)線比較合理,其拐點(diǎn)坐標(biāo)C280(xc280,Ac280)經(jīng)內(nèi)插后為C280(0.44,1.225)。

        為了進(jìn)一步提高(100,280]區(qū)間的插值效果,將100 Ωm特征線拐點(diǎn)C100(xc100,1.0)的xc100依次設(shè)為0.56、0.57、…、0.85、0.86,并與新增的280 Ωm特征線拐點(diǎn)C280(0.44,1.225)作拐點(diǎn)內(nèi)插處理后發(fā)現(xiàn),當(dāng)xc100=0.75時,拐點(diǎn)內(nèi)插法在(100,280]區(qū)間的插值效果也非常好(區(qū)間內(nèi)|δA|≤1%的頻率達(dá)100%)。說明新增的280 Ωm特征線及其拐點(diǎn)C280(0.44,1.225)和重新設(shè)置后的100 Ωm特征線拐點(diǎn)C100(0.75,1.0)比較合理,對拐點(diǎn)法起到很好的改進(jìn)作用,提高了(100,500]區(qū)間的插值效果。對該區(qū)間的A計算值和A查表值進(jìn)行單因素方差分析后(α=0.05)的P-value=0.9765,說明改進(jìn)后的拐點(diǎn)法準(zhǔn)確性整體更好。

        將拐點(diǎn)法進(jìn)行程序化處理,編寫成計算機(jī)軟件或手機(jī)APP后,對實(shí)際工作更有幫助而且更加方便使用。其中基于安卓手機(jī)(Honor 6X)的應(yīng)用效果見圖3所示。

        圖3 拐點(diǎn)法基于安卓手機(jī)的應(yīng)用效果

        4 結(jié)束語

        1)文章根據(jù)已知特征線的拐點(diǎn)坐標(biāo),利用相似三角形原理,導(dǎo)出了沖擊接地電阻與工頻接地電阻換算系數(shù)的計算公式,其結(jié)果準(zhǔn)確可靠、誤差小。并以此為基礎(chǔ),利用線性插值理論,探討和分析了以相鄰已知特征線的A值、拐點(diǎn)和夾角為參考點(diǎn)的內(nèi)插方法,結(jié)果表明:3種內(nèi)插方法的插值效果以拐點(diǎn)法最好,A值法次之、夾角法最差;A計算值與A查表值在各ρ值區(qū)間均無顯著差異,但3種內(nèi)插方法在(100,500]區(qū)間的插值效果均不理想;而拐點(diǎn)法在(500,1000]和(1000,2000]區(qū)間的插值效果非常好,說明其A計算值在該區(qū)間非常接近A查表值,進(jìn)行業(yè)務(wù)使用時準(zhǔn)確性好。

        2)通過增設(shè)280 Ωm特征線及其拐點(diǎn)坐標(biāo)C280(0.44,1.225)和重新設(shè)置100 Ωm特征線的拐點(diǎn)坐標(biāo)C100(0.75,1.0)后,對拐點(diǎn)法在(100,500]區(qū)間的插值效果起到很好的改善作用(P-value=0.9765),說明改進(jìn)后的拐點(diǎn)法準(zhǔn)確性整體更好,完全滿足業(yè)務(wù)使用的要求。將其程序化處理,編寫成計算機(jī)軟件或手機(jī)APP后,對實(shí)際工作起到了更好的幫助作用。

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