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        理論模擬和實(shí)驗(yàn)對照研究幅值掃描ac對離子阱質(zhì)譜性能的影響

        2021-09-24 02:06:24王偉民靳留雨徐福興丁傳凡
        質(zhì)譜學(xué)報(bào) 2021年5期
        關(guān)鍵詞:質(zhì)量

        王偉民,靳留雨,徐福興,丁傳凡

        (寧波大學(xué),浙江省先進(jìn)質(zhì)譜技術(shù)與分子檢測重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,質(zhì)譜技術(shù)與應(yīng)用研究院,材料科學(xué)與化學(xué)工程學(xué)院,浙江 寧波 315211)

        離子阱質(zhì)譜因優(yōu)異的靈敏度,相對較高的操作氣壓,可以進(jìn)行時(shí)間上的串級質(zhì)譜分析,并且具有易于小型化等優(yōu)點(diǎn),成為質(zhì)譜大家族中極具特色的質(zhì)量分析器,廣泛應(yīng)用于科研、軍工、航天、生命科學(xué)等領(lǐng)域。離子阱質(zhì)譜的發(fā)展可以分為4個階段:第1階段為質(zhì)量選擇性檢測(mass-selective detection)。1953年,Paul和Dehmelt教授[1]首次提出利用三維雙曲面離子阱囚禁帶電粒子,并因此獲得了1989年的諾貝爾物理學(xué)獎。第2階段為質(zhì)量選擇存儲(mass-selective storage),Dawson和Whetten等[2]通過在阱的端蓋電壓上加載周期性的脈沖電壓實(shí)現(xiàn)離子的激發(fā)出阱,離子阱開始發(fā)展成為真正意義上的質(zhì)譜儀,但是該離子阱質(zhì)譜需要確保只有單個質(zhì)量離子進(jìn)入阱中分析。第3階段為質(zhì)量選擇激發(fā)(mass-selective ejection)。George Stafford,Kelly等[3-4]發(fā)展了質(zhì)量選擇不穩(wěn)定檢測模式,通過掃描射頻電壓,離子從阱中按照質(zhì)量順序從低到高激發(fā)出阱,質(zhì)量對離子信號強(qiáng)度形成了質(zhì)譜圖。第4階段為離子阱質(zhì)譜的小型化(miniaturization)。Cooks教授課題組[5]發(fā)展了圓柱離子阱、矩形離子阱質(zhì)量分析器等;Austin教授[6]發(fā)展了環(huán)形離子阱;Schwartz等[7]發(fā)展了雙曲面線性離子阱;Ding等[8-9]發(fā)展了PCB離子阱、三角離子阱等,這一系列性能優(yōu)異的小型化離子阱質(zhì)量分析器,不僅克服了傳統(tǒng)三維離子阱分析器難以加工的缺點(diǎn),而且進(jìn)一步降低了成本、簡化了操作,實(shí)現(xiàn)了小型化。

        通過在離子阱的徑向或軸向上加載偶極ac(alternating current)電壓,是實(shí)現(xiàn)離子阱質(zhì)量選擇不穩(wěn)定檢測模式的重要途徑。根據(jù)經(jīng)典的馬修方程,當(dāng)設(shè)定離子阱環(huán)電極上浮直流DC為0(U=au=0)時(shí),所有離子的馬修坐標(biāo)被固定在穩(wěn)定性圖的q軸上,接著,利用主射頻幅值或者頻率掃描來實(shí)現(xiàn)操縱離子的q值在橫軸上移動,并且當(dāng)q值達(dá)到激發(fā)點(diǎn)時(shí),如q=0.908(三維離子阱質(zhì)量分析器),阱中離子按照質(zhì)量從小到大的順序依次激發(fā)出阱。共振激發(fā)也具有類似的檢測模式,但其是通過外加微弱的偶極ac實(shí)現(xiàn)在穩(wěn)定性圖的橫軸上設(shè)定特殊的qeject,當(dāng)離子的q值接近qeject時(shí),相應(yīng)方向上離子的久期頻率ω與ac的共振頻率ωac發(fā)生諧振,同時(shí),離子的動能劇烈升高,從而共振激發(fā)彈出離子阱。研究表明,離子阱質(zhì)譜使用共振激發(fā)彈出有利于提高離子阱質(zhì)譜的質(zhì)量范圍和靈敏度,尤其可以提高離子阱質(zhì)譜的分辨率[10]。

        目前,離子阱中的共振激發(fā)方法主要有兩種:一種是通過偶極激活的方法(dipolar resonance excitation),即在離子阱的1對電極上施加輔助的交變電壓;另一種是通過四極共振激發(fā)的方法(quadrupolar resonance excitation),即在離子阱的2對電極上施加反相的輔助交變電壓[11]。徐偉等[12]結(jié)合四極激發(fā)和偶極激發(fā),提高了小型化線性離子阱質(zhì)譜中的離子碎裂效率,質(zhì)量分辨率和靈敏度提高了2倍以上,并且解決了阱中心位置零電勢難以有效激活離子的問題。傳統(tǒng)的共振激活所用的交變電場都是固定頻率掃描,Synder等[13]發(fā)展了久期頻率掃描型激發(fā)方式,即通過使用ac頻率的掃描調(diào)整qeject值,從而代替?zhèn)鹘y(tǒng)的主射頻掃描,簡化了儀器的電源結(jié)構(gòu),拓寬了離子阱質(zhì)譜的質(zhì)量范圍。對于以上這兩種激發(fā)方式,ac幅值一般設(shè)定為1個很小的恒定值(1 V0-p),或者1個很小的掃描范圍。離子阱共振激發(fā)過程的理論模擬和實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證對深入研究提高離子阱質(zhì)譜性能具有重要的基石作用。然而,鮮有人對比研究過ac的幅值掃描設(shè)定對離子阱質(zhì)譜分辨率等相關(guān)性能的影響,也尚未有人將該實(shí)驗(yàn)結(jié)果用理論模擬的方式進(jìn)行研究。

        本工作擬基于自行搭建的小型連續(xù)進(jìn)樣接口離子阱質(zhì)譜平臺,利用納升電噴霧電離源,以利血平為研究對象,通過理論模擬和實(shí)驗(yàn)對照研究掃描共振激發(fā)對離子阱質(zhì)譜性能的影響。

        1 實(shí)驗(yàn)部分

        1.1 主要儀器與裝置

        實(shí)驗(yàn)室自行搭建的小型化連續(xù)進(jìn)樣離子阱質(zhì)譜儀的整體示意圖示于圖1a,主要包括納升電噴霧離子源(nano-ESI)、實(shí)驗(yàn)室自行設(shè)計(jì)的小型離子漏斗、線性離子阱質(zhì)量分析器、電子倍增器(Detector Technology, Inc., Palmer, MA,Model 397)和真空系統(tǒng);微量注射泵(Harvard HA 3000I,Harvard Apparatus公司)用于向電噴霧毛細(xì)管進(jìn)樣。線性離子阱質(zhì)量分析器(x0=5.0 mm,y0=4.0 mm,z0=50.2 mm)徑向橫截面的上下電極加載有線性掃描的主射頻電壓,頻率為1.1 MHz;左右電極上加載有反向的輔助共振ac電壓,頻率為346 kHz,示于圖1b;后端蓋電極上加載有恒定的正電壓;前端蓋電極上加載有脈沖的正電壓,用于離子的門控電壓,主射頻電壓的掃描速度約為50 V/ms。電子倍增器位于離子阱的徑向,加載有恒定的負(fù)高壓,約為-1 100 V,用于接收離子阱中按照質(zhì)量順序彈出的正離子。儀器的總電壓時(shí)序圖示于圖1c。質(zhì)譜的真空系統(tǒng)由4 L/s的單相異步電動機(jī)(VALUE)和80 L/s的分子泵(Pfeier Vacuum Inc., Nashua, NH, Pfeier HiPace 30)組成,將真空腔體抽至0.05 Pa。小型離子漏斗由30片電極板組成,每片電極厚度0.33 mm,離子阱漏斗電極的中心有隨軸向半徑遞減的圓孔,每片電極之間通過陶瓷電極片絕緣,厚度皆為1.0 mm,離子漏斗的總長度為35.0 mm。每片電極上串聯(lián)10 MΩ電阻,用于將直流電壓分壓,從而在漏斗的軸向上形成梯度電壓。將幅值相等相位相反的射頻電壓加載到相鄰的2片電極上,主要的儀器參數(shù)列于表1。

        表1 小型化連續(xù)進(jìn)樣離子阱質(zhì)譜儀的主要儀器參數(shù)Table 1 Main instrument parameters of miniaturized ion trap mass spectrometer with continuous atmospheric pressure interface

        1.2 主要材料與試劑

        利血平:上海源葉生物科技有限公司產(chǎn)品;精氨酸:上海阿拉丁生化科技股份有限公司產(chǎn)品;芬太尼、那可汀、可卡因標(biāo)準(zhǔn)溶液(1 g/L):北京芬格爾安有限公司產(chǎn)品;甲醇、甲酸:美國Sigma-Aldrich公司產(chǎn)品;超純水:使用Milli-Q凈水系統(tǒng)制備,美國Millipore公司產(chǎn)品。

        用甲醇溶解利血平、精氨酸和芬太尼固體,配制成1 000 mg/L的母液,存儲;然后通過體積比稀釋至所需濃度,制成工作溶液。

        1.3 實(shí)驗(yàn)過程

        樣品的整個檢測過程是:首先將待測樣品通過移液槍注入電噴霧石英毛細(xì)管,然后將安裝好的納升電噴霧電離源的針尖以30°朝向連續(xù)進(jìn)樣離子阱質(zhì)譜的進(jìn)樣口,接著在離子源上加載高壓(3 000 V),使待測物在離子源尖端產(chǎn)生噴霧,形成帶電粒子,由于離子源和質(zhì)譜儀的金屬毛細(xì)管形成電勢差,使得帶正電的粒子進(jìn)入質(zhì)譜金屬毛細(xì)管,經(jīng)由離子漏斗傳輸至離子阱質(zhì)量分析器。儀器的整個時(shí)序示于圖1c。離子漏斗傳輸?shù)碾x子在離子阱的前端蓋電壓脈沖下降的一段時(shí)間(Ⅰ)內(nèi)進(jìn)入阱中,并在射頻電壓的作用下存儲一段時(shí)間,其后電子倍增器在時(shí)序(Ⅱ)中提前開啟,離子阱上的射頻電壓和輔助共振電壓將在時(shí)序(Ⅲ)內(nèi)激發(fā)彈出阱內(nèi)的離子,帶電粒子進(jìn)入電子倍增器中進(jìn)行檢測,并由計(jì)算機(jī)經(jīng)過傅里葉變換將時(shí)域信號轉(zhuǎn)換為頻域信號,形成檢測物的質(zhì)譜圖,最后清空阱內(nèi)的離子(Ⅳ)。需要注意的是,對于固定頻率共振ac電壓的設(shè)定通常有掃描幅值型ac和恒定幅值型ac兩種,雖然它們都可以將離子阱中的離子通過共振激發(fā)彈出,但是對于質(zhì)譜分辨率等性能的影響,尚未用實(shí)驗(yàn)或者理論模擬的方法進(jìn)行對比研究。

        注:在時(shí)序Ⅲ中,虛線表示掃描幅值型ac的電壓變化,實(shí)線表示恒定幅值型ac的電壓變化圖1 小型化連續(xù)進(jìn)樣離子阱質(zhì)譜儀的整體示意圖(a);離子阱質(zhì)量分析器上的電壓加載示意圖(b);離子阱質(zhì)譜儀的工作時(shí)序圖(c)Fig.1 Schematic of miniaturized ion trap mass spectrometry with continuous atmospheric pressure interface (a); schematic diagram of voltage loading on ion trap mass analyzer (b); timing sequence of ion trap mass spectrometry (c)

        1.4 建立理論模擬方法

        為了研究離子阱內(nèi)離子的運(yùn)動軌跡和共振激發(fā)變化,并產(chǎn)生相應(yīng)的質(zhì)譜圖,選擇Simion軟件計(jì)算離子的運(yùn)動時(shí)間和位置,總體的方法流程示于圖2a。簡單介紹如下:1) 啟動Simion 8.1軟件;2) 建立離子阱三維模型;3) 利用Simion軟件計(jì)算出離子阱電場中每一點(diǎn)的電勢;4) 設(shè)定離子初始狀態(tài);5) 編寫Lua文件控制離子阱電極上電壓變化和數(shù)據(jù)采集、處理等內(nèi)容;6) 模擬飛行離子,分析模擬結(jié)果。本研究中,離子阱的工作模式為射頻幅值掃描型離子阱,射頻的頻率設(shè)定為0.936 MHz,幅值掃描范圍為300~1 000 V0-p,所加的ac頻率為335 kHz,約為主射頻的1/3。當(dāng)離子的運(yùn)動頻率與共振激發(fā)ac頻率接近時(shí)發(fā)生共振運(yùn)動,離子阱內(nèi)離子的振幅增大,以致被逐出離子阱并被安置在離子阱外的靶板捕捉和記錄,形成質(zhì)譜信號。模擬過程中,通過線性增加RF幅值實(shí)現(xiàn)質(zhì)量從小到大依次共振。

        離子在離子阱中的初始狀態(tài)為:離子與氣體的碰撞過程采用簡化的硬球碰撞模型,碰撞氣為氦氣,氣壓0.798 MPa,氣體溫度300 K。選擇m/z609離子作為檢測物,離子碰撞截面為2.8 nm2。在模擬質(zhì)譜分析過程中,每種離子取200個用于離子冷卻和質(zhì)量分析過程的模擬計(jì)算,不考慮空間電荷效應(yīng)的影響,離子的初始位置為高斯分布,以離子阱x=0,y=z=0為中心,x、y、z方向分布半徑均為0.1 mm。根據(jù)圖1c中離子阱質(zhì)譜的整個運(yùn)動時(shí)序,可以編寫相應(yīng)的Lua控制文件,在冷卻時(shí)間內(nèi),離子的運(yùn)動軌跡示于圖2b,而在離子共振激發(fā)彈出阱時(shí)的軌跡示于圖2c。最后,通過統(tǒng)計(jì)分析靶板上所有離子的激發(fā)時(shí)間和數(shù)量可以得到相應(yīng)的質(zhì)譜圖。

        圖2 Simion理論模擬研究離子阱內(nèi)離子運(yùn)動的方法流程圖(a);離子在阱中穩(wěn)定存儲時(shí)的運(yùn)動軌跡圖(b);離子在共振激發(fā)時(shí)的運(yùn)動軌跡圖(c)Fig.2 Flow chart of Simion simulation method for ion movement in ion trap (a); trajectories of ions stored in a trap (b); trajectories of ions excited by resonance (c)

        2 結(jié)果與討論

        2.1 ac幅值掃描方式對離子阱質(zhì)譜性能的影響

        為了研究ac掃描方式對離子阱質(zhì)譜性能的影響,需要固定相關(guān)參數(shù),包括主射頻電源的掃描幅值范圍、主射頻的頻率、共振ac的頻率、各個時(shí)序的工作時(shí)間,列于表1。使用穩(wěn)定的納升電噴霧作為電離源,并以分子質(zhì)量和靈敏度適中的100 mg/L利血平為研究對象,使用利血平分子離子峰m/z609[M+H]+的半高峰寬(FHMW)和峰強(qiáng)度計(jì)算分辨率和信號強(qiáng)度。值得一提的是,使用(m/FHMW)計(jì)算分辨率[14]。

        本實(shí)驗(yàn)優(yōu)化了ac的起始電壓值,即在不同的恒定共振ac電壓值時(shí),離子阱質(zhì)譜分辨率和靈敏度的變化示于圖3a??梢杂^察到,ac的設(shè)定值對離子阱質(zhì)譜的分辨率和信號強(qiáng)度均有影響。當(dāng)ac電壓的設(shè)定值小于0.6 V時(shí),質(zhì)譜的分辨率只能達(dá)到100左右,信號強(qiáng)度也只能達(dá)到50以下,這可能是離子從低真空離子阱中彈出需要越過離子阱的勢阱深度,過低的ac共振電壓無法提供足夠的動能使離子掙脫勢阱而從阱中彈出[15];當(dāng)ac電壓高于0.6 V,隨著ac幅值的增大,質(zhì)譜的分辨率呈先升高后降低的趨勢,并且在ac=1.2 V附近出現(xiàn)最大值,約為350,然而對樣品信號強(qiáng)度的后續(xù)影響并不十分明顯,可能是當(dāng)ac幅值過大時(shí),導(dǎo)致離子共振激發(fā)時(shí)間提前,偏離了真正的共振激發(fā)點(diǎn)[16],對阱中離子的彈出效率并沒有影響。

        為了去除ac初始電壓這一變量,設(shè)定ac起始電壓為0.6 V。在固定ac起始電壓時(shí),不同掃描速率離子阱質(zhì)譜的分辨率和靈敏度變化示于圖3b。可以發(fā)現(xiàn),當(dāng)掃描速率為0,即ac電壓保持0.6 V不變時(shí),質(zhì)譜的分辨率較差;當(dāng)掃描速率不斷升高,分辨率和靈敏度存在最佳值,此時(shí)的掃描速率約為0.003 mV/ms。這一現(xiàn)象與不同恒定共振ac電壓時(shí)共振激發(fā)離子分辨率和靈敏度變化的原因類似??偟膩碚f,當(dāng)離子阱的共振ac頻率設(shè)定后,離子的共振激發(fā)點(diǎn)qeject也隨之確定[17]。為了更有效地將離子從阱中共振彈出,一方面要克服阱中心的贗勢,另一方面要減小在共振激發(fā)前ac對離子阱中四極場的干擾,避免影響離子的運(yùn)動軌跡。下面將通過理論模擬實(shí)驗(yàn)對照方式證明以上的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。

        圖3 不同的恒定起始共振ac電壓值時(shí),離子阱質(zhì)譜分辨率和靈敏度的變化(a);固定ac電壓起始掃描點(diǎn),不同掃描速率時(shí)離子阱質(zhì)譜分辨率和靈敏度的變化(b)Fig.3 Variation of resolution and sensitivity of ion trap mass spectrometry with different constant initial resonant ac voltages (a); variation of resolution and sensitivity of ion trap mass spectrometry with different scanning rates at fixed initial point of ac resonant voltage (b)

        2.2 理論模擬研究ac幅值掃描方式對離子阱質(zhì)譜性能的影響

        利用經(jīng)典的離子光學(xué)模擬軟件Simion對離子阱中離子的運(yùn)動軌跡進(jìn)行模擬,相關(guān)的理論模擬方法和流程示于圖2,仍然以利血平母離子m/z609為研究對象。利用Lua語言在Simion中進(jìn)行電壓施加,值得一提的是,對于線性離子阱徑向上下2個電極通過程序代碼“floatDC +Urf*sin(theta+ion_time_of_flight*omegarf)”加載,左右2片電極則分別為“floatDC+Uac*sin(theta+ion_time_of_flight*omegaac)-Urf*sin(theta+ion_time_of_flight*omegarf)”和“floatDC-Uac*sin(theta+ion_time_of_flight*omegaac)-Urf * sin(theta+ion_time_of_flight*omegarf)”,從而實(shí)現(xiàn)在離子阱穩(wěn)定性圖上設(shè)定特殊的共振qeject,以達(dá)到將阱中離子共振激發(fā)彈出的目的。

        Simion固定ac電壓起始掃描點(diǎn),不同掃描速率時(shí),離子阱質(zhì)譜分辨率和統(tǒng)計(jì)離子個數(shù)的變化示于圖4。圖中橫軸是掃描速度的變化,已知主射頻的掃描速度可以線性轉(zhuǎn)換為離子的質(zhì)量,縱軸是在設(shè)定的采集速度下Simion統(tǒng)計(jì)的檢測器上離子個數(shù)。通過對每個采集點(diǎn)得到的質(zhì)譜圖進(jìn)行擬合計(jì)算,可以求得峰高和半峰寬,進(jìn)而求得所需的分辨率數(shù)值??梢园l(fā)現(xiàn),該譜圖中掃描速度的設(shè)定同樣存在最佳值,與圖3的實(shí)驗(yàn)結(jié)果相似,但其所需的掃描速度更大,約為0.02 mV/ms,可能是Simion對于低真空下的運(yùn)動狀態(tài)存在仿真誤差。在圖4a中選取3個掃描速度下的離子運(yùn)動軌跡進(jìn)行對比,它們具有不同的質(zhì)譜分辨率,即掃描速率為0 mV/ms,質(zhì)量分辨率<100(i);掃描速率為0.02 mV/ms,質(zhì)量分辨率>500(ii);掃描速率為0.045 mV/ms,質(zhì)量分辨率<100(iii)的離子運(yùn)動軌跡,示于圖4b??梢园l(fā)現(xiàn),使用不同的掃描速率時(shí),離子從阱中共振激發(fā)的時(shí)間點(diǎn)是不同的,對于iii,離子可以提前激發(fā),而對于i,由于共振ac的掃描速率過低,導(dǎo)致離子延遲激發(fā),離子會在阱中心弛豫一段時(shí)間,進(jìn)而降低離子阱質(zhì)譜的分辨率[18]。綜合以上實(shí)驗(yàn)和理論模擬對照,使用掃描ac共振激發(fā)有利于提高離子阱質(zhì)譜的分辨率,然而,具體提高的程度需要結(jié)合多個樣品的檢測結(jié)果進(jìn)行量化。理論模擬還發(fā)現(xiàn),達(dá)到最佳a(bǔ)c共振激發(fā)條件后,繼續(xù)增大ac的掃描速度對離子阱質(zhì)譜的信號靈敏度沒有顯著影響。

        圖4 Simion固定ac電壓起始掃描點(diǎn),不同掃描速率時(shí)離子阱質(zhì)譜分辨率和離子個數(shù)的變化(a);Simion模擬的不同掃描ac共振電壓時(shí)離子的運(yùn)動軌跡(b)Fig.4 Simion simulated the variation of resolution and sensitivity of ion trap mass spectrometry with different scanning rates at fixed initial point of ac resonant voltage (a); Simion simulated the ion trajectories of voltage-scanning ac (b)

        2.3 進(jìn)一步實(shí)驗(yàn)測試應(yīng)用

        為了進(jìn)一步證明以上實(shí)驗(yàn)和理論模擬的研究成果,選擇了更多的研究對象進(jìn)行測試,從而盡量覆蓋離子阱質(zhì)譜的質(zhì)量范圍。選擇芬太尼(m/z336.37)和那可汀(m/z413.42)為研究對象,用甲醇-水溶液(1∶1,V/V)配制100 mg/L的工作溶液,使用0.6~1.2 V掃描共振ac激發(fā)電壓,示于圖5a、5b,使用恒定的1.2 V共振ac激發(fā)電壓,示于圖5c、5d。圖中m/z337是芬太尼結(jié)合1個質(zhì)子的分子離子峰[M+H]+,m/z359是結(jié)合1個Na+的質(zhì)譜峰,m/z414是那可汀的分子離子峰[M+H]+,m/z437是結(jié)合1個Na+的質(zhì)譜峰。圖5a~5d中分別內(nèi)嵌了分子離子峰的放大圖,并標(biāo)記出對應(yīng)的半峰寬,可以觀察到使用掃描共振ac激發(fā)電壓時(shí),芬太尼和那可汀的分子離子峰的半峰寬分別為1.05和1.14;而使用恒定的共振ac激發(fā)電壓時(shí),分子離子峰的半峰寬分別為1.57和1.33。通過以上對比可以證明,使用掃描ac共振激發(fā)有利于提高離子阱質(zhì)譜的分辨率,相比于恒定掃描ac共振激發(fā)可以減小半峰寬約30%左右,然而對靈敏度的變化幾乎沒有太大影響。

        注:a.掃描共振ac激發(fā)得到的芬太尼質(zhì)譜圖;b.掃描共振ac激發(fā)得到的那可汀質(zhì)譜圖;c.恒定共振ac激發(fā)得到的芬太尼質(zhì)譜圖;d.恒定共振ac激發(fā)得到的那可汀質(zhì)譜圖圖5 不同共振ac激發(fā)方式下,兩種不同目標(biāo)物的離子阱質(zhì)譜圖Fig.5 Ion trap mass spectra of two different targets under different resonant ac ejection modes

        3 結(jié)論

        本研究基于自行搭建的小型連續(xù)進(jìn)樣接口離子阱質(zhì)譜平臺,利用納升電噴霧電離源,以利血平為研究對象,首先研究了恒定ac共振激發(fā)和掃描ac共振激發(fā)對離子阱質(zhì)譜分辨率和靈敏度的影響。結(jié)果表明,使用掃描共振ac激發(fā)有利于提高離子阱質(zhì)譜的分辨率和靈敏度,隨后,通過利用Simion離子光學(xué)證明了掃描共振激發(fā)ac相比于恒定共振激發(fā)ac可以防止離子過于提前激發(fā),并且減小對阱中四極場的干擾。進(jìn)一步的應(yīng)用實(shí)驗(yàn)表明,利用掃描ac共振激發(fā)相比于恒定ac共振激發(fā)可將分辨率提高2倍以上,靈敏度的影響則沒有顯著改善。然而,實(shí)驗(yàn)中所使用的線性離子阱分辨率還不夠高,未來將使用實(shí)驗(yàn)室自行設(shè)計(jì)的高分辨三角離子阱進(jìn)行測試。同時(shí),將研究掃描共振ac相比于恒定共振ac時(shí),離子阱中時(shí)間串聯(lián)時(shí),碰撞誘導(dǎo)解離效率的變化。

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