張立然 李春雅 許文競 谷雙平
(浙江中控技術(shù)股份有限公司)
傳統(tǒng)的DCS 信號實(shí)時響應(yīng)測試方法是使用示波器余輝功能,單次測試一個通道。 如果要保證測試覆蓋率,遍歷工控系統(tǒng)的不同配置,則測試效率不高。 為此,提出一種基于NI-PXI 板卡和LabVIEW 的工控系統(tǒng)8 通道信號實(shí)時響應(yīng)自動測試方法,以實(shí)現(xiàn)同時進(jìn)行不同組態(tài)配置的多通道測試,節(jié)省測試時間,提高測試覆蓋率,并實(shí)現(xiàn)操作便利、直觀、自動生成測試報告的功能。
工控系統(tǒng)的實(shí)時響應(yīng)性能是整個系統(tǒng)性能的重要指標(biāo),直接影響系統(tǒng)的控制品質(zhì),因此研究和測試工控系統(tǒng)的實(shí)時響應(yīng)性能就顯得尤為重要。
測試量變化一個步進(jìn)值后,傳感器達(dá)到最終數(shù)值90%所需要的時間,通常采用響應(yīng)時間定量描述。
常規(guī)的實(shí)時響應(yīng)測試方法使用Fluke 作為信號源產(chǎn)生方波信號,接入AI 模塊通道,使用雙蹤示波器測量Fluke 輸入和AO 輸出。 方波信號在每次產(chǎn)生階躍時,F(xiàn)luke、AO 通道波形時間差即為響應(yīng)時間。 使用示波器的余輝功能即可找到測試時間內(nèi)相應(yīng)時間的最大值、最小值和平均值。 工控系統(tǒng)實(shí)時響應(yīng)常規(guī)測試方法如圖1 所示,即系統(tǒng)響應(yīng)時間為兩個測量值之差。
圖1 工控系統(tǒng)實(shí)時響應(yīng)常規(guī)測試方法
工控系統(tǒng)實(shí)時響應(yīng)常規(guī)測試平臺每次操作只能記錄一個通道、一組數(shù)據(jù),遍歷工控系統(tǒng)不同的時間配置耗時久,工作重復(fù)。 而且,在測試過程中,工控系統(tǒng)一般是按照用戶設(shè)定的控制周期運(yùn)行的,一個控制周期被分成不同的時間段執(zhí)行不同的任務(wù),在工控系統(tǒng)的不同時間段觸發(fā)實(shí)時響應(yīng)測試會導(dǎo)致不同的測試結(jié)果。 人工測試無法覆蓋到控制周期中任意時刻觸發(fā)實(shí)時響應(yīng)測試的情況,因此無法確保測試的覆蓋率。
實(shí)時響應(yīng)自動測試工具整體結(jié)構(gòu)如圖2 所示。 由LabVIEW 程序控制NI-PXI 板卡輸出生成方波,同時輸入到NI-PXI 板卡和工控系統(tǒng)AI 卡。工控系統(tǒng)端信號從AI 輸入, 經(jīng)過工控系統(tǒng)內(nèi)部運(yùn)算,從工控系統(tǒng)AO 卡輸出,再送至NI-PXI 板卡。程序控制NI-PXI 板卡對這兩路信號同時進(jìn)行采集,經(jīng)過對比和分析后,將結(jié)果顯示到程序界面,并自動生成測試報告。
圖2 實(shí)時響應(yīng)自動測試工具整體結(jié)構(gòu)示意圖
本測試方法用了兩塊NI-PXI 板卡, 分別為PXI-6733 和PXI-6251,PXI-6733 信號輸出卡作為被測工控系統(tǒng)的信號源提供8 通道信號;DCS 內(nèi)部將AI 通道采集值賦值給AO 通道;PXI-6251作為信號板卡,采集16 通道信號,包括8 通道原始信號(由PXI-6733 輸出)和8 通道DCS AO 輸出信號。 信號流向如圖3 所示。
圖3 信號流向示意圖
開關(guān)量信號DI 到DO 的實(shí)時響應(yīng)測試方法同理,此處不再贅述。
實(shí)時響應(yīng)自動測試界面如圖4 所示,界面配置較簡潔,可指定測試時間,實(shí)時查看最多8 個通道的測試進(jìn)度和測試結(jié)果。 當(dāng)設(shè)置的時間到時測試進(jìn)度條走滿, 程序自動生成測試報告。 圖4中階躍響應(yīng)時間1 為階躍響應(yīng)曲線與數(shù)據(jù)源在下降沿波形的時間差,階躍響應(yīng)時間2 為階躍響應(yīng)曲線與數(shù)據(jù)源在上升沿波形的時間差。
圖4 實(shí)時響應(yīng)自動測試界面
本方法的程序?qū)崿F(xiàn)有4 個重要部分:生成波形、 采集波形、 實(shí)時響應(yīng)計算和自動生成報告。
2.3.1 生成波形
方波信號生成程序如圖5 所示,左側(cè)配置NI PXI-6733 板卡中生成該波形的8 通道、采樣方式和采樣頻率;右側(cè)程序?yàn)檠h(huán),使得程序在測試完成前持續(xù)輸出波形。 方波周期5 s,每執(zhí)行一次循環(huán)改變一次方波相位,時間相差10 ms,目的是使產(chǎn)生階躍的時刻能覆蓋AI 采樣、 控制器處理和AO 輸出的時間, 使測試結(jié)果符合系統(tǒng)真實(shí)運(yùn)行情況,圖6 為階躍信號覆蓋控制器周期每一個時刻的示意圖。
圖5 方波信號生成程序
圖6 階躍信號覆蓋控制周期各時刻
2.3.2 采集波形
信號采集程序如圖7 所示,圖形化編程控制NI PXI-6251 板卡以200 Hz 頻率的連續(xù)采樣方式每5 s 記錄一次過去5 s 的波形。
圖7 信號采集程序
2.3.3 實(shí)時響應(yīng)計算
如2.1 節(jié)所述,使用PXI-6251 板卡采集的16通道數(shù)據(jù),0~7 通道為直接采集的PXI-6733 數(shù)據(jù)源,8~15 通道為經(jīng)工控系統(tǒng)AI、AO 卡件的響應(yīng)波形(下稱測試波形),且第i 個信號和第i+8 個信號一一對應(yīng), 因此第i 個信號與第i+8 個信號的波形時間差即為信號實(shí)時響應(yīng)時間。
圖8 為按照響應(yīng)時間的定義繪制的響應(yīng)時間計算方式示意圖,其中H 為產(chǎn)生階躍時信號的變化量。
圖8 響應(yīng)時間計算方式
圖9 為階躍判斷程序。 圖10 為信號實(shí)時響應(yīng)時間的計算程序。
圖9 階躍判斷程序
2.3.4 自動生成報告
程序(圖11)記錄了每次階躍時的響應(yīng)時間,存入數(shù)組并計算最值和平均值,并對所有的響應(yīng)時間進(jìn)行統(tǒng)計,顯示在測試報告中。
圖11 自動生成報告程序
本測試方法遍歷ECS-700 的配置,測試結(jié)果和常規(guī)測試方法一致。 本測試方法在ECS-700、ECS-700SE、TCS-900 系統(tǒng)測試的實(shí)際使用中,測試人員只需要做以下簡便操作:
a. 在DCS 中配置好不同的時間參數(shù), 如AI采樣周期、控制器周期、位號處理周期及程序周期等。
b. 進(jìn)行硬件接線,連接NI 模塊和DCS。
c. 打開本工具, 設(shè)置物理通道和測試時間,點(diǎn)擊“開始測試”。
d. 設(shè)定的測試時間到,測試結(jié)束,自動生成測試報告,報告中有測試時間和階躍次數(shù)的記錄,還有各通道實(shí)時響應(yīng)時間最值和平均值表格,另外還有8 個通道實(shí)時響應(yīng)時間統(tǒng)計圖(圖12)。
圖12 自動生成的8 通道信號實(shí)時響應(yīng)測試報告
誤差主要來自于NI-PXI 板卡的采集時間,而采集時間目前實(shí)際應(yīng)用推薦的最小值遠(yuǎn)小于被測對象的采集卡采集時間、 控制周期和AO 卡輸出刷新時間, 并且NI-PXI 板卡同時去采集NIPXI 輸出卡和AO 的輸出,抵消了NI-PXI 板卡的采集時間,完全滿足測試要求。
NI-PXI 作為模塊化硬件,有著多通道、高采樣率和高精度的特點(diǎn),其不同板卡可以作為信號發(fā)生器或采集儀器使用。 NI-LabVIEW 作為虛擬儀器,相比于示波器、Fluke 等真實(shí)儀器,有著靈活、可編程和多通道的特點(diǎn),能自動且大批量地進(jìn)行測試任務(wù);其高精度的特點(diǎn)也可以使觸發(fā)實(shí)時響應(yīng)測試的時間達(dá)到毫秒級精度。 另外,LabVIEW 可以憑借其界面編程特點(diǎn),同時完成自動化程序界面,提高效率的同時增加測試工具的易用性[1]。
該方法實(shí)現(xiàn)了多通道并行實(shí)時響應(yīng)測試的完全自動化, 相比于常規(guī)使用示波器的方法,有如下優(yōu)點(diǎn):
a. 操作簡單且易用性強(qiáng), 只需設(shè)置時間,點(diǎn)擊“開始測試”則程序運(yùn)行并自動生成報告;
b. 8 通道并行測試,不同配置的通道可同時測試,測試效率可提升至少8 倍;
c. 產(chǎn)生階躍的時刻能覆蓋AI 與AO 上送周期和控制器控制周期中的不同時刻,明顯提高了測試覆蓋率;
d. 可長期測試,獲得更多數(shù)據(jù),可作為評價工控系統(tǒng)長期穩(wěn)定性的一項測試指標(biāo)。
實(shí)時響應(yīng)自動測試工具解決了常規(guī)的DCS信號實(shí)時響應(yīng)測試不能保證測試覆蓋率且測試效率低的問題,能夠并行進(jìn)行多通道實(shí)時響應(yīng)測試,并自動生成測試報告,在DCS、SIS、GCS 系統(tǒng)測試中的應(yīng)用,有效提升了信號實(shí)時響應(yīng)的測試效率和測試覆蓋率,降低了測試難度,解放了測試人力。