焦聽(tīng)雨 李 瑋 李曉博 肖凱歌 秦 茜 李世垚
(中國(guó)原子能科學(xué)研究院,計(jì)量與校準(zhǔn)技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,北京 102413)
在中子計(jì)量領(lǐng)域,注量不僅是表征中子數(shù)量多少的重要物理量,也是在某些測(cè)量方法中計(jì)算中子發(fā)射率、中子周圍劑量當(dāng)量和個(gè)人劑量當(dāng)量等量值的重要參數(shù)之一。由于絕大部分中子探測(cè)器的注量響應(yīng)會(huì)隨能量不斷變化,因此需要在單能中子參考輻射場(chǎng)下進(jìn)行響應(yīng)校準(zhǔn)[1-5]。
(1~100)keV能區(qū)是中子注量絕對(duì)測(cè)量的難點(diǎn)之一。其困難之處主要有3個(gè)方面:1)該區(qū)間內(nèi)很多反應(yīng)截面處于共振能區(qū),截面不確定度較大,難以用于絕對(duì)測(cè)量[1,5];2)該區(qū)間內(nèi)產(chǎn)生單能中子的反應(yīng)產(chǎn)額較低。當(dāng)探測(cè)器效率較低時(shí),可能造成統(tǒng)計(jì)不確定度和測(cè)量時(shí)間大大增加;3)中子能量范圍向下擴(kuò)展的過(guò)程中,中子信號(hào)越來(lái)越難以與γ本底和電子學(xué)噪聲進(jìn)行區(qū)分。如何提高信噪比和進(jìn)行n/γ甄別是擴(kuò)展能量下限的關(guān)鍵。
2010年,法國(guó)IRSNC.Golabek等人[6-8]將時(shí)間投影電離室引入中子注量測(cè)量領(lǐng)域。時(shí)間投影電離室[9-11]最初用于高能物理領(lǐng)域,其結(jié)構(gòu)的特殊之處在于將電離室和正比管結(jié)合在一起,兼具二者的優(yōu)點(diǎn):電離室靈敏體積相對(duì)較大,因此探測(cè)效率較高;而正比管由于信號(hào)放大,信噪比較好。另外,它能夠測(cè)量帶電粒子徑跡,根據(jù)運(yùn)動(dòng)學(xué)關(guān)系不通過(guò)解譜就能夠反推中子能譜。此外,通過(guò)粒子在單位路徑上的能量沉積來(lái)進(jìn)行粒子甄別,可以降低γ或其他粒子帶來(lái)的本底。
時(shí)間投影電離室工作原理如圖1所示。左側(cè)為陰極,右側(cè)為陽(yáng)極,中間為氣體倍增裝置,將探測(cè)器分成電離區(qū)、正比區(qū)和收集區(qū)三個(gè)區(qū)域。假設(shè)中子垂直從陰極入射,與工作氣體中的H原子發(fā)生彈性散射產(chǎn)生反沖質(zhì)子,反沖質(zhì)子在漂移的過(guò)程中不斷使氣體電離和激發(fā)產(chǎn)生次級(jí)電子。電子在電場(chǎng)的作用下向陽(yáng)極漂移,漂移經(jīng)過(guò)氣體倍增裝置——GEM,由于其內(nèi)部的強(qiáng)電場(chǎng),電子會(huì)發(fā)生倍增,最終信號(hào)被陽(yáng)極收集。陽(yáng)極平面為XY平面。將XY平面分隔成多個(gè)小電極,通過(guò)不同電極上的信號(hào)就能夠得到質(zhì)子在XY平面上的投影徑跡。Z方向?yàn)樘綔y(cè)器軸線方向。在Z方向上,假設(shè)電子在電離區(qū)中的漂移速度不變,不同位置產(chǎn)生的次級(jí)電子的漂移時(shí)間不同,通過(guò)測(cè)量?jī)蓚€(gè)電極信號(hào)之間的時(shí)間差,就能夠計(jì)算質(zhì)子的Z軸信息,進(jìn)而推算反沖角θ。通過(guò)一個(gè)固定的時(shí)間窗選出XY平面上單個(gè)質(zhì)子產(chǎn)生的信號(hào),不同電極在固定時(shí)間窗內(nèi)的電荷總和表征質(zhì)子能量。已知XYZ三軸信息和質(zhì)子能量信息,就能夠根據(jù)式(1)通過(guò)運(yùn)動(dòng)學(xué)關(guān)系反推中子能量為
圖1 時(shí)間投影電離室工作原理示意圖
En=Ep(1+tan2θ)
(1)
式中:En——中子能量;Ep——質(zhì)子能量;θ——反沖角。
氣體倍增裝置GEM是時(shí)間投影室最關(guān)鍵的部件之一,其結(jié)構(gòu)為三明治結(jié)構(gòu),上下兩層銅膜,厚度約為5μm,中間為聚酰亞胺,厚度約為50μm。膜上均勻分布小孔,孔間距140μm,孔徑約70μm。由于GEM很薄,因此只要在銅膜上加幾百伏的電壓就能夠在膜孔中獲得比較強(qiáng)的電場(chǎng)。
時(shí)間投影電離室氣體設(shè)計(jì)過(guò)程中有幾個(gè)關(guān)鍵參數(shù):電子漂移速度、擴(kuò)散系數(shù)、湯生系數(shù)和復(fù)合系數(shù)等。使用Garfield++軟件對(duì)上述參數(shù)進(jìn)行模擬計(jì)算,確保時(shí)間投影電離室達(dá)到設(shè)計(jì)性能指標(biāo),后續(xù)還可以利用模擬結(jié)果進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。Garfield++是一款面向?qū)ο蟮哪M計(jì)算程序,由歐洲核子中心(CERN)編寫,主要用于模擬以混合氣體或半導(dǎo)體為介質(zhì)的粒子探測(cè)器。
電子漂移速度是指初級(jí)電子在電離區(qū)中沿外加電場(chǎng)做定向漂移時(shí)的運(yùn)動(dòng)速度,與氣體種類、組分、氣壓、溫度和電場(chǎng)強(qiáng)度等參數(shù)有關(guān),單位常使用cm/μs或cm/ns。當(dāng)初級(jí)電子剛產(chǎn)生時(shí),能量較低,因而其在工作氣體中漂移的過(guò)程中通常與氣體原子或分子發(fā)生彈性碰撞,損失能量較小。此時(shí),電子從外加電場(chǎng)中獲得的能量大于彈性碰撞損失的能量,電子在漂移過(guò)程中逐漸加速,獲得更高的能量。當(dāng)電子能量高于氣體原子或分子的激發(fā)能級(jí)后,可能與氣體原子或分子發(fā)生非彈性碰撞,此時(shí)能量損失逐漸增大。最終,電子從電場(chǎng)中獲得的能量與碰撞損失的能量平衡后,電子的漂移速度就不再增加。電子的平均能量可以由式(2)表示
(2)
式中:ue——電子雜亂運(yùn)動(dòng)速度;η——電子溫度;3/2kT——平衡熱運(yùn)動(dòng)能量;k——玻爾茲曼常數(shù);T——?dú)怏w絕對(duì)溫度。
電子會(huì)因空間密度不均而由密度大的空間向密度小的空間擴(kuò)散。擴(kuò)散與氣體的性質(zhì)、溫度和壓強(qiáng)有關(guān)。
Garfield++所計(jì)算的擴(kuò)散系數(shù)σ定義如式(3)
(3)
其中,擴(kuò)散距離單位為μm,漂移距離單位為cm,擴(kuò)散系數(shù)單位為cm1/2。由式(3)可知,當(dāng)擴(kuò)散系數(shù)和漂移距離已知時(shí),擴(kuò)散距離為擴(kuò)散系數(shù)與漂移距離的平方根之積。最長(zhǎng)漂移距離即為電離區(qū)長(zhǎng)度。
擴(kuò)散按方向分為縱向擴(kuò)散和橫向擴(kuò)散,縱向擴(kuò)散為沿電場(chǎng)方向的擴(kuò)散,橫向擴(kuò)散為垂直于電場(chǎng)方向平面上的擴(kuò)散。縱向擴(kuò)散影響電子到達(dá)陽(yáng)極的時(shí)間,進(jìn)而影響Z方向上的時(shí)間分辨率。橫向擴(kuò)散會(huì)影響XY平面的空間分辨率,進(jìn)而影響反沖質(zhì)子徑跡重建以及中子能量分辨率。
根據(jù)湯生氣體放電理論,氣體在強(qiáng)電場(chǎng)中產(chǎn)生電子倍增放大的增益可由式(4)計(jì)算
(4)
式中:M——倍增增益;x1,x2——電子發(fā)生倍增放大和陽(yáng)極平面的位置;α——湯生系數(shù)。
由式(4)可知,湯生系數(shù)越大,探測(cè)器增益越大。湯生系數(shù)可通過(guò)理論計(jì)算的方式得到,也可以通過(guò)模擬計(jì)算的方式得到。理論計(jì)算的近似公式如式(5)
α=pAe-Bp/E
(5)
式中:p——工作氣體壓強(qiáng);E——電離區(qū)外加電場(chǎng)強(qiáng)度;A,B——常數(shù),與工作氣體性質(zhì)、壓強(qiáng)和電場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。
電子或負(fù)離子與正離子碰撞可能發(fā)生復(fù)合作用,形成中性原子或中性分子。電子與正離子的復(fù)合稱為電子復(fù)合,負(fù)離子與正離子的復(fù)合稱為離子復(fù)合。復(fù)合系數(shù)反映了電子在氣體中發(fā)生復(fù)合作用的概率,復(fù)合系數(shù)與氣體的性質(zhì)、溫度、壓強(qiáng)以及粒子運(yùn)動(dòng)速度有關(guān)。由于離子運(yùn)動(dòng)速度遠(yuǎn)小于電子運(yùn)動(dòng)速度,因此離子復(fù)合系數(shù)遠(yuǎn)大于電子復(fù)合系數(shù)。在漂移路徑上,由于發(fā)生復(fù)合作用而損失的電子占電離產(chǎn)生的電子的比例可用式(6)計(jì)算
P=1-e-ηL
(6)
式中:P——損失電子的比例;η——復(fù)合系數(shù),cm-1;L——漂移距離,cm。
電子與氣體分子發(fā)生碰撞時(shí),可能被俘獲而產(chǎn)生負(fù)離子,俘獲概率與氣體性質(zhì)有關(guān)。負(fù)電性氣體,諸如O2、水蒸氣和鹵素氣體等俘獲概率較大;惰性氣體以及N2,H2,CH4等氣體的俘獲概率較小。一旦產(chǎn)生了負(fù)離子,其漂移速度就會(huì)大大降低,從而增加復(fù)合損失。而電子從產(chǎn)生到在陽(yáng)極被收集的過(guò)程中會(huì)與氣體分子發(fā)生大量碰撞(當(dāng)電子運(yùn)動(dòng)速度約為107cm/s時(shí),碰撞次數(shù)約為105次/μs),即使工作氣體中只有少量負(fù)電性雜質(zhì),也會(huì)大大增加電子被俘獲的概率。因此在充工作氣體時(shí),應(yīng)盡量避免混入負(fù)電性氣體雜質(zhì)。
為比較不同氣體的性質(zhì),選擇適當(dāng)?shù)墓ぷ鳉怏w,計(jì)算了H2,He,CH4,CHF3,Ar,CF4,正丁烷(nC4H10)和異丁烷(iC4H10)的各項(xiàng)參數(shù)。在選擇工作氣體時(shí),應(yīng)綜合考慮各種因素,當(dāng)某些性質(zhì)無(wú)法兩全時(shí)做出進(jìn)行折中,選取最優(yōu)化的設(shè)計(jì)。下面詳細(xì)說(shuō)明計(jì)算結(jié)果。
不同單質(zhì)氣體漂移速度如圖2所示。圖2中,橫坐標(biāo)位為電場(chǎng)強(qiáng)度,電場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)算范圍為(50~1 000)V/cm,共計(jì)算10個(gè)場(chǎng)強(qiáng)點(diǎn)。從圖2中可以看出,H2,Ar和CHF3漂移速度較低,且在上述電場(chǎng)范圍內(nèi),漂移速度隨電場(chǎng)的增加幾乎呈線性增長(zhǎng),最高速度不超過(guò)5cm/μs。He的漂移速度初始較低,但是隨電場(chǎng)強(qiáng)度的增加增長(zhǎng)較快,最高可達(dá)10cm/μs。CH4初始漂移速度較高,超過(guò)9cm/μs,但是隨著電場(chǎng)強(qiáng)度的增加,漂移速度首先保持不變,當(dāng)電場(chǎng)強(qiáng)度達(dá)到200V/cm時(shí)突然下降,隨后趨于穩(wěn)定,約為5cm/μs。CF4漂移速度最高,隨著電場(chǎng)強(qiáng)度的增加,其漂移速度先增加,后減小,但始終保持在較高的水平,最低速度大于8cm/μs,最高可達(dá)14cm/μs。
圖2 不同單質(zhì)氣體漂移速度圖
不同單質(zhì)氣體的縱向和橫向擴(kuò)散系數(shù)如圖3和圖4所示。從圖3中可以看出,單原子分子氣體擴(kuò)散系數(shù)明顯高于雙原子或多原子分子氣體。單原子分子氣體縱向擴(kuò)散系數(shù)隨電場(chǎng)強(qiáng)度的增加而先增大后減小,低電場(chǎng)強(qiáng)度下Ar擴(kuò)散系數(shù)大于He,高電場(chǎng)強(qiáng)度下Ar擴(kuò)散系數(shù)小于He。多原子分子氣體的擴(kuò)散系數(shù)在不同場(chǎng)強(qiáng)下保持穩(wěn)定。其中H2有一點(diǎn)的計(jì)算值反常偏低,可能是由于統(tǒng)計(jì)不夠造成的。分析多原子氣體分子的擴(kuò)散系數(shù)可知,分子量越大,擴(kuò)散系數(shù)越小。在單原子分子氣體中加入多原子分子氣體可降低其擴(kuò)散系數(shù)。
圖3 不同單質(zhì)氣體縱向擴(kuò)散系數(shù)圖
圖4 不同單質(zhì)氣體橫向擴(kuò)散系數(shù)圖
不同單質(zhì)氣體湯生系數(shù)如圖5所示。在計(jì)算的8種氣體中,只有H2,He和Ar三種氣體的湯生系數(shù)不為0,且H2的湯生系數(shù)幾乎為0,可以忽略不計(jì)。湯生系數(shù)反映了電子倍增的能力,因此,當(dāng)氣體湯生系數(shù)較大時(shí),可以提高探測(cè)器信號(hào)幅度。從圖5中可知,氣體湯生系數(shù)隨電場(chǎng)強(qiáng)度的增加而增加,He的湯生系數(shù)在電場(chǎng)強(qiáng)度大于300V/cm時(shí)開(kāi)始明顯增大;Ar的湯生系數(shù)在電場(chǎng)強(qiáng)度大于600V/cm時(shí)開(kāi)始明顯增大。He的湯生系數(shù)大于Ar。
圖5 不同單質(zhì)氣體湯生系數(shù)圖
不同單質(zhì)氣體復(fù)合系數(shù)如圖6所示。在計(jì)算的8種氣體中,除圖例中顯示的3中氣體外,其余氣體復(fù)合系數(shù)均為0。圖6中只有CF4由明顯的復(fù)合系數(shù),其余2種復(fù)合系數(shù)接近0。而CF4的復(fù)合系數(shù)只有在電場(chǎng)強(qiáng)度大于600V/cm時(shí)才有較明顯的增大。
圖6 不同單質(zhì)氣體復(fù)合系數(shù)圖
氣壓是探測(cè)器充氣的關(guān)鍵參數(shù)之一,以丁烷為例,對(duì)不同氣壓下異丁烷各參數(shù)性能進(jìn)行了計(jì)算和分析。不同氣壓下異丁烷漂移速度比較如圖7所示,圖中所示氣壓?jiǎn)挝粸閗Pa。從圖中可以看出,氣壓越低,初始漂移速度越高。隨著電場(chǎng)強(qiáng)度的增加,漂移速度先迅速增加,后趨于平緩,且氣壓越低漂移速度越早達(dá)到平緩的拐點(diǎn)。在漂移速度緩慢增長(zhǎng)段,不同氣壓之間差異較小。
圖7 不同氣壓異丁烷漂移速度圖
不同氣壓異丁烷縱向和橫向擴(kuò)散系數(shù)如圖8和9所示。不同氣壓異丁烷縱向擴(kuò)散系數(shù)先隨電場(chǎng)強(qiáng)度的增加而下降,后趨于平穩(wěn)。氣壓越大,平穩(wěn)后的縱向擴(kuò)散系數(shù)越小。縱向擴(kuò)散系數(shù)隨電場(chǎng)強(qiáng)度的增加總體變化不大。氣壓越大,橫向擴(kuò)散系數(shù)越小。
圖8 不同氣壓異丁烷縱向擴(kuò)散系數(shù)圖
圖9 不同氣壓異丁烷橫向擴(kuò)散系數(shù)圖
時(shí)間投影電離室工作氣體的選擇是影響其能量測(cè)量范圍、能量分辨率和注量響應(yīng)的關(guān)鍵之一。不同的氣體種類、組分和氣壓影響電子漂移速度、擴(kuò)散系數(shù)、湯生系數(shù)和復(fù)合系數(shù)。使用Garfield++軟件計(jì)算了多種不同單質(zhì)和混合氣體的各項(xiàng)參數(shù)。計(jì)算結(jié)果表明,對(duì)于單質(zhì)氣體來(lái)說(shuō),含氫氣體中CH4具有較高的漂移速度,He和Ar等單原子分子氣體具有較高的湯生系數(shù)和擴(kuò)散系數(shù),CF4符合系數(shù)較大。而混合氣體的各項(xiàng)性質(zhì)介于所混合的單質(zhì)氣體的性質(zhì)之間。綜合比較各氣體性質(zhì),可選用一種稀有氣體(He、Ar等)和一種含氫氣體(H2、CH4等)的混合物作為中子注量測(cè)量的工作氣體,含氫氣體的比例和氣壓可根據(jù)中子能量的改變而改變。