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        在界面處引入原子混合層結(jié)構(gòu)的熱導(dǎo)性能分析

        2021-05-26 07:16:02呂荒蕪
        關(guān)鍵詞:界面結(jié)構(gòu)系統(tǒng)

        呂荒蕪

        (華北電力大學(xué)(保定)能源動(dòng)力與機(jī)械工程學(xué)院,河北 保定 071003)

        0 引言

        自20世紀(jì)40年代第一代計(jì)算機(jī)問(wèn)世至今,大量電子元件的制造技術(shù)都達(dá)到了納米級(jí)別。納米材料被廣泛應(yīng)用于電子器件制造行業(yè),例如計(jì)算機(jī)的芯片CPU、量子級(jí)聯(lián)激光器和場(chǎng)效應(yīng)晶體管等。高精度帶來(lái)高運(yùn)行效率的同時(shí),也會(huì)導(dǎo)致更高的熱功率,設(shè)備運(yùn)行中產(chǎn)生的大量熱量不僅會(huì)影響工作效率,還會(huì)有降低使用壽命的風(fēng)險(xiǎn),因此熱管理問(wèn)題的研究刻不容緩。

        納米結(jié)構(gòu)的多樣化和易操作性為熱管理提供了廣闊的發(fā)展前景[1-2]。由于納米結(jié)構(gòu)部件和設(shè)備中存在較高的表面積體積比,材料界面處的熱傳遞通常主導(dǎo)著整體的熱行為,它們是熱載體的散射中心,可以通過(guò)調(diào)整它的物理特性來(lái)控制器載流子的分散強(qiáng)度。因此深入了解界面熱導(dǎo)的性能,對(duì)研究納米結(jié)構(gòu)材料的熱傳輸具有重要意義[3]。

        1 研究背景

        向結(jié)構(gòu)中引入多層復(fù)合原子混合層是1種能夠有效提高系統(tǒng)界面熱導(dǎo)的方法[4]。研究表明,界面的原子在某些特定的排布狀態(tài)下能夠促進(jìn)界面處的熱交換。Tian Zhiting等人將格林函數(shù)方法與Laudauer方程相結(jié)合,詳細(xì)闡述了原子混合引起的界面紊亂是如何增加界面處的聲子輸運(yùn)和界面熱導(dǎo)[5]。Carlos和Rouzbeh[6]利用格林函數(shù)法研究了不同固體材料界面上的一系列熱導(dǎo),他們的研究顯示,在平滑的界面中引入單層的原子混合層總是能夠增強(qiáng)界面的熱導(dǎo),但是根據(jù)原子晶體結(jié)構(gòu)的不同,熱導(dǎo)的增加也會(huì)有所不同,熱導(dǎo)增量的變化可以達(dá)到1個(gè)數(shù)量級(jí)。盡管學(xué)者們已經(jīng)在構(gòu)造使界面熱導(dǎo)最大化的原子混合層方面取得了許多進(jìn)展[7-8],然而目前對(duì)混合層的厚度以及溫度變化對(duì)界面熱導(dǎo)的影響的分析仍然缺乏統(tǒng)一和定量的構(gòu)建模式。

        受上述研究啟發(fā),該文在2種不同材料的界面處構(gòu)建原子混合層,采用分子動(dòng)力學(xué)方法對(duì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行模擬,討論了原子混合層的數(shù)量以及溫度對(duì)界面熱導(dǎo)的影響。此外,研究人員還詳細(xì)計(jì)算了2種結(jié)構(gòu)的聲子態(tài)密度和聲子參與率,分析了不同結(jié)構(gòu)下系統(tǒng)界面處聲子散射的機(jī)制。該研究的主要目的是找到合適的原子混合層構(gòu)建方式,從而改善聲子頻率失配界面處的熱輸運(yùn)。

        2 模型構(gòu)建

        如圖1所示,研究人員用Atomsk軟件構(gòu)建了理想的Si/Sn界面結(jié)構(gòu),考慮到計(jì)算的精度和系統(tǒng)的運(yùn)算能力,研究人員將結(jié)構(gòu)的總原子數(shù)設(shè)置為5120,Si/Sn理想界面處于整個(gè)納米結(jié)構(gòu)的中間位置,界面左側(cè)為Si原子,右側(cè)為Sn原子。研究表明,當(dāng)分子動(dòng)力學(xué)模擬采用周期性邊界條件對(duì)導(dǎo)熱系數(shù)進(jìn)行計(jì)算時(shí),在橫截面積為不小于3×3個(gè)原胞的情況下,橫截面積對(duì)導(dǎo)熱系數(shù)的影響可以忽略。因此,在該研究中,研究人員將橫截面面積設(shè)置為4 UC×4 UC,x、y、z3個(gè)方向上的原胞以4 UC×4 UC×40 UC(Unit Cell)的形式進(jìn)行排列。研究人員將以Si/Sn理想界面為基礎(chǔ),采用替換原子的方式在理想界面處引入原子混合層納米結(jié)構(gòu)。

        圖2是理想Si/Sn界面處引入Si/Sn原子混合層的納米結(jié)構(gòu),研究人員在圖1的基礎(chǔ)上,以界面為中線,在保證模型總長(zhǎng)度不變的情況下向界面處引入1~10層的原子混合層,混合層中的Si、Sn原子數(shù)目各占50%,并且隨機(jī)排布。

        3 計(jì)算方法

        所有的非平衡分子動(dòng)力學(xué)模擬都是在LAMMPS軟件環(huán)境下運(yùn)作的,由于Stillinger-Weber(SW)勢(shì)函數(shù)已經(jīng)被證實(shí)能夠較為精確地解釋硅基納米結(jié)構(gòu)的熱力學(xué)特性和界面熱導(dǎo),因此該模擬選取了SW勢(shì)函數(shù)描述Si-Si、Ge-Ge、Sn-Sn、Si-Ge、Sn-Ge以及Si-Sn之間的力關(guān)系。模擬計(jì)算熱性質(zhì)示意圖如圖3所示,為了防止與外界產(chǎn)生熱量交換,研究人員固定了2個(gè)外壁,并將該區(qū)域內(nèi)粒子的速度設(shè)置為0,然后分別將緊鄰邊界區(qū)域設(shè)置為熱源和熱匯,從而建立溫度梯度。為了節(jié)約計(jì)算資源,研究人員將模擬的時(shí)間步長(zhǎng)設(shè)為0.001 ps。在非平衡分子動(dòng)力學(xué)模擬的第一階段,使系統(tǒng)處于壓力為0、溫度為300 K的環(huán)境下,采用等溫等壓系綜(NPT)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行弛豫。在系統(tǒng)模型達(dá)到完全弛豫后,在X和Y方向上施加了周期性邊界條件,并在Z方向上采用了固定邊界條件。為了使系統(tǒng)的能量分布處于均勻的狀態(tài),研究人員讓系統(tǒng)繼續(xù)在正則系綜(NVT)下弛豫2 ns,系統(tǒng)再次達(dá)到平衡后,模擬將在微正則系綜(NVE)下繼續(xù)運(yùn)行10 ns,與此同時(shí),每隔1000個(gè)時(shí)間步長(zhǎng)記錄1次原子信息。

        圖1 理想Si / Sn界面結(jié)構(gòu)

        圖2 理想Si/Sn界面引入原子混合層結(jié)構(gòu)

        圖3 NEMD 模擬計(jì)算熱性質(zhì)示意圖

        界面熱阻R可以表述為溫度梯度ΔT與熱通量Jz的比,如公式(1)所示。

        溫度梯度ΔT是通過(guò)對(duì)于溫度曲線進(jìn)行線性擬合獲得的,熱通量Jz如公式(2)所示[9]。

        式中:E為能量;t為模擬時(shí)間;A為橫截面積;hot bath為熱源。

        根據(jù)傅里葉導(dǎo)熱定律,熱導(dǎo)率k如公式(3)所示。

        考慮橫截面積為A、長(zhǎng)度為d的1個(gè)長(zhǎng)方體材料,其熱導(dǎo)K與熱導(dǎo)率k的關(guān)系如公式(4)所示。

        實(shí)際分析中更常用的是單位面積的熱導(dǎo),通常用符號(hào)G表示。求解該長(zhǎng)方體材料單位面積的熱導(dǎo)如公式(5)所示。

        聲子態(tài)密度(PDOS)是表征系統(tǒng)中聲子活動(dòng)的強(qiáng)大工具。它是根據(jù)所有原子的速度自相關(guān)函數(shù)(VACF)的傅立葉變換計(jì)算得出,如公式(6)所示。

        式中:PDOS(ω)為振動(dòng)頻率為ω時(shí)的總聲子態(tài)密度。

        VACF(t)可以表示為如公式(7)所示。

        式中:vi(t)為粒子i在時(shí)間t下的速度矢量;N為系統(tǒng)中的原子數(shù); 為系綜平均。

        聲子參與率(PPR)是了解聲子輸運(yùn)的另一種有效方法,它可以用來(lái)定量描述聲子局域化效應(yīng)。PPR如公式(8)所示。

        式中:N為系統(tǒng)中總原子數(shù);為頻率為的第i個(gè)原子的聲子態(tài)密度。

        4 結(jié)果與討論

        為了研究薄膜厚度對(duì)跨界面熱傳輸?shù)挠绊?,研究人員讓原子混合中間層的厚度在0個(gè)、2個(gè)、4個(gè)、6個(gè)、8個(gè)和10個(gè)原子層之間變化。圖4為不同原子混合層厚度下系統(tǒng)的界面溫度分布圖。從圖4中可以觀測(cè)到Si/Sn界面處的溫度出現(xiàn)了急劇下降的情況,該情況可以直接歸因于界面熱阻的影響。值得注意的是,不同厚度的原子混合中間層,其界面處處的溫度分布具有不同的形狀。隨著中間層厚度的增加,界面處溫度降的變化趨勢(shì)較為一致。

        圖4 引入原子混合層系統(tǒng)的界面溫度分布

        為了分析原子混合中間層的厚度對(duì)熱導(dǎo)率的影響,研究人員計(jì)算了不同混合層數(shù)下系統(tǒng)的熱導(dǎo)。在分子動(dòng)力學(xué)模擬過(guò)程中,將溫度設(shè)置為300 K,樣本長(zhǎng)度設(shè)為23.844 nm(238.44 A°)。模擬結(jié)果如圖5所示,從圖5可以看出,在中間層原子層數(shù)從0層變化到2層的過(guò)程中,系統(tǒng)的界面熱導(dǎo)大約提升了31.6%。而隨著原子層數(shù)從2層變化到10層,熱導(dǎo)就逐漸下降。原子層數(shù)達(dá)到10層后,引入中間層的系統(tǒng)的界面熱導(dǎo)比平滑界面的熱導(dǎo)降低了29%。原子混合層為2層時(shí),系統(tǒng)的熱導(dǎo)達(dá)到最大值。模擬結(jié)果表明,在2種高度不匹配的材料之間插入原子混合層,可以顯著改善跨Si/Sn界面的熱傳輸。

        圖5 界面熱導(dǎo)隨混合層厚度變化圖

        研究人員計(jì)算了系統(tǒng)中界面熱導(dǎo)與溫度之間的關(guān)系,計(jì)算結(jié)果如圖6所示。結(jié)果表明,隨著溫度的升高,所有參與模擬的系統(tǒng)的界面熱導(dǎo)都先呈上升的趨勢(shì),然后呈下降的趨勢(shì)。當(dāng)溫度升至300 K時(shí),引入2個(gè)原子層的原子混合層的系統(tǒng)的熱導(dǎo)達(dá)到最大值。隨著溫度的升高,原子的振動(dòng)能量會(huì)增加,由于在聲子散射Umklapp的過(guò)程中,聲子散射會(huì)增強(qiáng);因此,隨著溫度繼續(xù)升高,系統(tǒng)的界面熱導(dǎo)會(huì)進(jìn)一步降低。

        圖6 不同混合層數(shù)界面熱導(dǎo)隨溫度變化圖

        針對(duì)引入了2層原子混合層的系統(tǒng),分別選取界面以及兩側(cè)的Si、Sn原子部分進(jìn)行聲子態(tài)密度計(jì)算(PDOS)。由于研究人員發(fā)現(xiàn)界面兩側(cè)固體表面和中間層中的原子主要以低于20 THz的頻率振動(dòng),因此只取了頻率小于20 THz的態(tài)密度。繪制出的PDOS如圖7所示。此外,研究人員還繪制了不同混合層的系統(tǒng)態(tài)密度圖(如圖8所示)。

        從圖8中可以看出,內(nèi)部的聲子態(tài)密度(PDOS)受厚度變化的影響較小。隨著系統(tǒng)內(nèi)混合層厚度的增加,混合層PDOS中的聲子模式會(huì)略微向低頻方向遷移,并且PDOS曲線的頻寬會(huì)呈現(xiàn)出增大的趨勢(shì)。圖6中,原子混合層的PDOS與Sn結(jié)構(gòu)PDOS的重疊面積大于Si結(jié)構(gòu)和Sn結(jié)構(gòu)PDOS的重疊面積。較大的PDOS重疊面積表示非彈性聲子散射會(huì)增加界面處的熱傳輸[10]。

        圖5中,引入雙層原子混合層結(jié)構(gòu)的熱導(dǎo)明顯高于單層原子混合層結(jié)構(gòu)的熱導(dǎo)。研究人員猜測(cè)熱導(dǎo)的提高是因?yàn)橹虚g層與Sn結(jié)構(gòu)DOS的重疊面積有所提高。對(duì)單原子層或兩原子層的中間層來(lái)說(shuō),兩側(cè)的原子結(jié)構(gòu)和中間層相互作用主導(dǎo)著層中原子的運(yùn)動(dòng)。隨著中間層厚度的增加,層與層之間的相互作用變得越來(lái)越重要。因此,雙層原子混合層的DOS頻寬變得稍微寬一些(如圖9所示)。單層原子混合層的DOS相對(duì)雙層來(lái)說(shuō)更銳利和狹窄,這應(yīng)該歸因于其強(qiáng)大的約束效應(yīng)。較寬的DOS增大了中間層DOS與兩側(cè)原子結(jié)構(gòu)DOS的重疊面積,增強(qiáng)了原子混合層與Si原子結(jié)構(gòu)和Sn原子結(jié)構(gòu)之間的非彈性聲子散射,從而略微提高了界面處的聲子熱輸運(yùn)[10]。然而,同時(shí)彈性界面散射可能會(huì)隨之減少。因此,熱導(dǎo)在2原子層的厚度處達(dá)到最大值,然后熱導(dǎo)隨厚度增加而減?。ㄈ鐖D5所示)。

        圖7 2層混合層系統(tǒng)態(tài)密度圖

        圖8 不同混合層系統(tǒng)態(tài)密度圖

        圖9 雙層以及單層混合層態(tài)密度圖

        綜上所述,可以得出結(jié)論,隨著原子混合層厚度的增加,系統(tǒng)的DOS不會(huì)改變太多。中間層的DOS分布與Sn結(jié)構(gòu)DOS之間的重疊面積會(huì)出現(xiàn)略微增加的情況。研究人員認(rèn)為彈性界面散射不可能是引起2層和單層中間層之間的熱導(dǎo)增加的原因。因此,將界面熱導(dǎo)的增加歸因于非彈性聲子界面散射的微弱增加。隨著引入界面的原子混合層層數(shù)增大,熱導(dǎo)在層數(shù)高于2之后逐漸降低。研究人員認(rèn)為該現(xiàn)象可以歸因于界面處的彈性散射與非彈性散射之間的競(jìng)爭(zhēng)。盡管根據(jù)圖6和圖8已經(jīng)可以證明,引入雙層原子混合層能夠增加非彈性界面散射,從而增加熱傳導(dǎo);但是隨著中間層厚度的增加,界面處的彈性散射逐漸減小。非彈性散射的增加已經(jīng)不再能與彈性散射的減小相抗衡,從而出現(xiàn)了熱導(dǎo)在中間層厚度超過(guò)2層之后減小的現(xiàn)象。

        為了探究聲子活動(dòng)(尤其是聲子的局域化程度)以及聲子對(duì)不同系統(tǒng)熱導(dǎo)的影響,研究人員使用公式(8)計(jì)算了聲子的參與率。聲子參與率可以測(cè)量給定模式下的原子比率,并可以用O (1/N)和O (1)分別表示局域化和非局域化下的聲子模式。聲子參與率可以詳細(xì)地展示每種聲子模式的局域化信息。圖10分別展示了當(dāng)系統(tǒng)界面處原子混合層數(shù)為2、6和10時(shí)的聲子參與率,參與模擬的樣本長(zhǎng)度為23.844 nm,溫度設(shè)置為300 K。研究人員認(rèn)為PPR<0.4時(shí),證明聲子發(fā)生了局域化現(xiàn)象。結(jié)果表明,無(wú)論考慮低頻聲子還是高頻聲子,隨著原子混合層厚度的增加,系統(tǒng)的PPR逐漸降低。隨著混合層厚度的增加,越來(lái)越多的聲子顯示出聲子局域化的特征。而聲子對(duì)熱傳輸?shù)呢暙I(xiàn)主要來(lái)自非局域化聲子,而不是局域化的聲子[11]。與預(yù)期結(jié)果相同,由于存在聲子局域化的現(xiàn)象,因此包括10個(gè)原子混合層的系統(tǒng)的界面熱導(dǎo)通常比其他2個(gè)系統(tǒng)都要小。

        圖10 混合層聲子參與率

        5 結(jié)語(yǔ)

        該文在納米結(jié)構(gòu)的界面處構(gòu)建了1種能夠有效提高界面熱導(dǎo)的原子混合層結(jié)構(gòu),與光滑界面相比,該界面的熱導(dǎo)提高了31.6%。采用非平衡分子動(dòng)力學(xué)方法,分別模擬不同尺寸和不同溫度下該結(jié)構(gòu)的熱導(dǎo)的變化,并利用聲子態(tài)密度以及聲子參與率對(duì)該結(jié)構(gòu)能夠大幅度提高熱導(dǎo)的原因進(jìn)行分析。為高散熱硅基納米材料的開發(fā)研究提供了一定的指導(dǎo),對(duì)高散熱半導(dǎo)體材料的制備和發(fā)展有重要意義。

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