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        新生兒低血糖腦損傷高危因素分析

        2021-04-20 03:00:34陽一平蔡嬌王榜珍陳曉霞趙珣陳茂瓊
        關(guān)鍵詞:足月兒血糖值腦損傷

        陽一平,蔡嬌,王榜珍,陳曉霞,趙珣,陳茂瓊

        新生兒低血糖腦病是新生兒常見的代謝性疾病,多無明顯臨床表現(xiàn),易發(fā)生持續(xù)低血糖,若不及時(shí)治療,可導(dǎo)致不可逆性腦損傷[1]。因此,臨床早期發(fā)現(xiàn)、及時(shí)干預(yù)至關(guān)重要。有Meta分析顯示,新生兒低血糖腦損傷同時(shí)受多種因素的影響,但結(jié)果尚存差異;而對低血糖腦損傷患兒出院后的隨訪缺乏臨床資料[2]。本研究旨在探討新生兒低血糖腦損傷發(fā)生的高危因素及預(yù)后,以期采取防治措施降低新生兒低血糖腦損傷的發(fā)生率,改善預(yù)后?,F(xiàn)將結(jié)果報(bào)道如下。

        1 對象與方法

        1.1 對象及分組

        回顧性分析2015年1月至2018年12月貴州醫(yī)科大學(xué)附屬醫(yī)院新生兒科收治的235例新生兒低血糖患兒的臨床資料。根據(jù)是否發(fā)生腦損傷分組:腦損傷組24例,無腦損傷組211例。納入標(biāo)準(zhǔn):不論日齡,全血血糖<2.2 mmol/L。排除標(biāo)準(zhǔn):剔除合并重度窒息、顱內(nèi)出血、顱內(nèi)感染、先天性腦發(fā)育不良、染色體疾病、遺傳代謝性疾病所致神經(jīng)損害及未參與隨訪的病例。

        1.2 方法

        1.2.1 資料收集

        性別、胎齡、出生時(shí)體重、分娩方式、首次喂養(yǎng)時(shí)間、低血糖發(fā)生日齡、最低血糖值、低血糖持續(xù)時(shí)間、低血糖癥狀、最高輸糖速度、母親妊娠合并癥(妊娠期高血壓、妊娠期糖尿病)、新生兒基礎(chǔ)疾病(高胰島素血癥、敗血癥、肺炎、早產(chǎn)兒、小于胎齡兒、新生兒呼吸窘迫綜合征、新生兒ABO 血型不合溶血病),新生兒頭顱MRI檢查結(jié)果,低血糖腦損傷患兒6、12、24月齡Gesell發(fā)育量表值。

        1.2.2 血糖監(jiān)測方法

        新生兒入院后即采用SureStep穩(wěn)步型血糖儀監(jiān)測血糖濃度,若血糖值≤2.6 mmol/L,則行股靜脈采血3~5 mL進(jìn)行全血糖濃度監(jiān)測,血糖值<2.2 mmol/L即診斷為低血糖。血糖不穩(wěn)定者每0.5~2 h監(jiān)測1次直到連續(xù)2次血糖正常,記錄血糖最低值、低血糖持續(xù)時(shí)間。

        1.2.3 低血糖腦損傷判定標(biāo)準(zhǔn)

        ①診斷低血糖;②低血糖時(shí)或低血糖糾正一段時(shí)間后出現(xiàn)神經(jīng)系統(tǒng)功能障礙;③頭顱影像學(xué)檢查提示有腦結(jié)構(gòu)改變;④除外缺氧缺血性腦病(hyoxie-ischemic encephalopathy,HIE)、顱內(nèi)感染、顱內(nèi)出血、腦發(fā)育異常、先天遺傳代謝性疾病等所致的腦損傷。

        1.2.4 預(yù)后評價(jià)方法

        低血糖腦損傷患兒出院后隨訪至2歲,于患兒6、12、24月齡時(shí)采用Gesell發(fā)育量表評價(jià)患兒智力、運(yùn)動和行為,其包括適應(yīng)性、大運(yùn)動、精細(xì)運(yùn)動、語言及社交五個(gè)輪區(qū)。各項(xiàng)發(fā)育商(DQ)=發(fā)育年齡/實(shí)際年齡×100;評判標(biāo)準(zhǔn):五個(gè)輪區(qū)DQ>85分為正常;85~75分為邊緣性;<75分有神經(jīng)系統(tǒng)異常。DQ>85分表示預(yù)后良好,DQ≤85分或死亡為預(yù)后不良。

        1.3 統(tǒng)計(jì)學(xué)方法

        2 結(jié)果

        2.1 低血糖患兒的基本情況比較

        235例低血糖患兒中,男性比例為55.7%。低體重兒比例為64.3%,早產(chǎn)兒占65.1%。結(jié)果詳見表1。

        表1 235例患兒的基本情況比較

        2.2 低血糖腦損傷組與無腦損傷組基本情況比較

        235例低血糖患兒中24例發(fā)生腦損傷,發(fā)生率為10.2%(24/235),腦損傷組男性比例、足月兒比例、正常出生體重兒比例較無腦損傷組高,差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05),兩組SGA比例、分娩方式比較差異無統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P>0.05)。結(jié)果詳見表2。24例低血糖腦損傷患兒基礎(chǔ)疾病依次為高胰島素血癥9例(先天性高胰島素血癥7例,糖尿病母親嬰兒2例),感染8例(敗血癥4例,肺炎4例),早產(chǎn)兒3例,小于胎齡兒2例,新生兒呼吸窘迫綜合征1例,新生兒ABO 血型不合溶血病1例。

        表2 腦損傷組和無腦損傷組患兒基本情況比較[例(%)]

        2.3 腦損傷組與無腦損傷組患兒母孕期及新生兒期疾病情況比較

        腦損傷組與無腦損傷組患兒母親妊娠期高血壓(HDCP)、妊娠期糖尿病(GDM)比例及新生兒合并感染比例比較,差異無統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P>0.05);腦損傷組患兒先天性高胰島素血癥(CHI)比例高于無腦損傷組,差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)。結(jié)果詳見表3。

        表3 腦損傷組與無腦損傷組患兒母孕期及新生兒期疾病情況比較[例(%)]

        2.4 腦損傷組與無腦損傷組患兒血糖資料比較

        腦損傷組首次喂養(yǎng)時(shí)間較無腦損傷組延遲,低血糖出現(xiàn)日齡晚于無腦損傷組,最低血糖值較無腦損傷組低,最高輸糖速度較無腦損傷組高,低血糖持續(xù)時(shí)間較無腦損傷組長,差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)。結(jié)果詳見表4。

        表4 腦損傷組與無腦損傷組患兒血糖資料的比較

        2.5 低血糖腦損傷的多因素Logistic分析

        將有無腦損傷作為因變量,選取首次喂養(yǎng)時(shí)間>24 h、最低血糖值<1.5 mmol/L、低血糖持續(xù)時(shí)間>72 h作為自變量進(jìn)行回歸分析,結(jié)果:首次喂養(yǎng)時(shí)間、最低血糖值、低血糖持續(xù)時(shí)間是低血糖腦病發(fā)生的危險(xiǎn)因素(P<0.05)。結(jié)果詳見表5。

        表5 低血糖腦損傷發(fā)生的Logistic回歸分析

        2.6 24例低血糖腦損傷患兒的神經(jīng)系統(tǒng)隨訪情況比較

        出院后隨訪至2歲,24例低血糖腦損傷患兒中有4例于3月齡時(shí)因先天性高胰島素血癥治療無效死亡。6月齡時(shí)行Gesell發(fā)育量表檢查20例,隨訪率為83.3%,五個(gè)輪區(qū)DQ>85分5例(5/20,25.0%);12月齡時(shí)行Gesell發(fā)育量表檢查18例,2例失訪,隨訪率為75.0%,五個(gè)輪區(qū)DQ>85分8例(8/18,44.4%);24月齡時(shí)行Gesell發(fā)育量表檢查18例,隨訪率為75.0%,五個(gè)輪區(qū)DQ>85分8例(8/18,44.4%)。

        2.7 影響低血糖腦損傷預(yù)后的因素分析

        24例低血糖腦損傷患兒中,2例6月齡后失訪無法明確預(yù)后。隨訪至2歲,根據(jù)Gesell發(fā)育量表,8例預(yù)后良好,14例預(yù)后不良(4例死亡,10例遺留神經(jīng)系統(tǒng)后遺癥)。比較兩組影響預(yù)后的因素:兩組首次喂養(yǎng)時(shí)間、低血糖值、合并高胰島素血癥比例比較差異無統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P>0.05);低血糖持續(xù)時(shí)間≥72 h在預(yù)后不良組比例高于預(yù)后良好組,差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)。結(jié)果詳見表6。

        表6 影響低血糖腦損傷的預(yù)后因素比較[例(%)]

        3 討論

        新生兒糖原儲備少,出生后24~48 h內(nèi),從宮內(nèi)到宮外環(huán)境變化,約為母體血糖值的70%~80 %,新生兒期血糖調(diào)節(jié)功能較差,容易發(fā)生低血糖[3-4]。早產(chǎn)兒、LBWI其糖原儲備不足,因自身原因喂養(yǎng)延遲,易發(fā)生低血糖。這些嬰兒多患病率高,如感染、早產(chǎn)等,開奶時(shí)間延遲,喂養(yǎng)不耐受,耗糖過多,導(dǎo)致低血糖癥發(fā)生率增高。本研究中,新生兒低血糖發(fā)生率男嬰略高于女嬰(1.26∶1),多為早產(chǎn)兒、低出生體重兒及剖宮產(chǎn)患兒居多,與金葉在新生兒低血糖的臨床特點(diǎn)及危險(xiǎn)因素分析的研究中的結(jié)論相符[5]。剖宮產(chǎn)孕婦術(shù)前需長時(shí)間禁食,使胎兒幾乎無法從母體獲取葡萄糖,因此,剖宮產(chǎn)患兒更容易發(fā)生低血糖[6-7]。

        新生兒低血糖腦損傷通常由多種危險(xiǎn)因素所致,常見的危險(xiǎn)因素有早產(chǎn)兒、SGA、開奶時(shí)間延遲、剖宮產(chǎn)、糖尿病及妊高癥母親嬰兒,另外缺氧、感染、病理性黃疸、高胰島素血癥等可加劇低血糖腦損傷。與足月兒相比,早產(chǎn)兒腦發(fā)育尚不成熟,其糖原儲存少但對糖需求量大,更易出現(xiàn)低血糖腦損傷,而出生體重低可進(jìn)一步加重低血糖,從而引起腦損傷[8-9]。但有研究報(bào)道低血糖性腦損傷更易罹患于足月兒[10]。本研究中腦損傷患兒多為足月、NBWI,其原因可能是:①早產(chǎn)兒腦細(xì)胞發(fā)育不成熟,對能量需求相對足月兒低,且利用率高,故比足月兒更耐受低血糖[11];②對于無高危因素的足月兒,而其血糖監(jiān)測往往晚于早產(chǎn)兒,血糖監(jiān)測時(shí)間點(diǎn)亦不規(guī)則,容易被忽視,易出現(xiàn)血糖持續(xù)性減低及嚴(yán)重低血糖;這與朱付麗等[12]的研究結(jié)論一致。故常規(guī)對新生兒進(jìn)行血糖監(jiān)測,及時(shí)發(fā)現(xiàn)并糾正低血糖,對降低腦損傷的發(fā)生具有重要意義。目前無相關(guān)文獻(xiàn)報(bào)道低血糖腦損傷的發(fā)生與性別有相關(guān)性,但本研究腦損傷患兒中男嬰比例明顯高于女嬰(3.8∶1),可能與Y染色體較X染色體脆弱有關(guān)。

        本研究中新生兒低血糖腦損傷病因以高胰島素血癥多見,腦損傷患兒中近50%為先天性高胰島素血癥,其次為感染;合并高胰島素血癥是低血糖腦損傷發(fā)生的高危因素。既往研究顯示,母親患有妊娠期糖尿病的患兒,易發(fā)生高胰島素血癥,新生兒出生后胰島素高水平狀態(tài)持續(xù)存在,胰高血糖素分泌減少,肝糖原分解作用較低,糖異生功能不完善,引起低血糖發(fā)生率增高,導(dǎo)致腦損傷[6,13-14]。且高胰島素血癥不僅引起低血糖,還可抑制體內(nèi)酮體的產(chǎn)生,使得腦組織也得不到酮體等非葡萄糖供能物質(zhì)的代償,故高胰島素血癥易導(dǎo)致持續(xù)性低血糖,引起腦損傷。另外,先天性高胰島素血癥多為足月兒、巨大兒,故胎齡和出生體重偏大,在臨床上遇見足月兒、巨大兒反復(fù)持續(xù)性低血糖,需考慮低血糖腦損傷,積極針對性地采取防止措施,減少低血糖持續(xù)時(shí)間,降低腦損傷發(fā)生率。持續(xù)或嚴(yán)重低血糖可引起腦損傷,血糖值及低血糖持續(xù)時(shí)間與腦損傷發(fā)生率呈負(fù)相關(guān),血糖值越低、低血糖持續(xù)時(shí)間越長,腦損傷發(fā)生率越高[15-17]。本研究中低血糖腦損傷Logistic分析顯示:首次喂養(yǎng)時(shí)間晚、血糖水平低、持續(xù)時(shí)間長是低血糖腦損傷的高危因素。因此早期監(jiān)測血糖、及時(shí)處理低血糖、早期喂養(yǎng)對預(yù)防低血糖腦損傷有重要作用。本研究結(jié)果未發(fā)現(xiàn)SGA、剖宮產(chǎn)會加重低血糖腦損傷,考慮可能原因與SGA及剖宮產(chǎn)娩出患兒多為高危新生兒,臨床醫(yī)生對血糖密切監(jiān)測、及時(shí)處理有關(guān)。

        國外研究文獻(xiàn)顯示,新生兒低血糖導(dǎo)致的急慢性神經(jīng)系統(tǒng)功能障礙通常不表現(xiàn)為嚴(yán)重的腦性癱瘓,而是以運(yùn)動發(fā)育異常、視覺損害、學(xué)習(xí)和行為困難、小頭畸形及遠(yuǎn)期癲癇發(fā)作等為主[18]。Per等[19]對有新生兒低血糖病史的60例患者進(jìn)行磁共振成像平掃和臨床資料回顧性分析,發(fā)現(xiàn)血糖<2.2 mmol/L時(shí)神經(jīng)系統(tǒng)后遺癥更為嚴(yán)重,頭顱磁共振成像評估中也觀察到相同結(jié)果。臨床上以血糖低于2.6 mmol/L作為臨床干預(yù)的臨界值。目前認(rèn)為,單純的一過性新生兒低血糖一般不會引起嚴(yán)重腦損傷,而持續(xù)或反復(fù)低血糖會造成嚴(yán)重后果。Alkalay等[20]統(tǒng)計(jì)發(fā)現(xiàn)一過性低血糖引起的腦損傷患兒早期影像學(xué)上表現(xiàn)為腦水腫,后期隨訪無神經(jīng)系統(tǒng)功能障礙;而低血糖持續(xù)時(shí)間較長的患兒影像學(xué)顯示腦損傷嚴(yán)重,后期遺留有神經(jīng)系統(tǒng)后遺癥。本研究通過Gesell發(fā)育量表評價(jià)低血糖腦損傷患兒預(yù)后,發(fā)現(xiàn)低血糖時(shí)間超過72 h的腦損傷患兒預(yù)后情況更差,顯示低血糖持續(xù)時(shí)間是影響低血糖腦損傷預(yù)后的主要因素。

        綜上所述,低血糖腦損傷預(yù)后欠佳,影響低血糖腦損傷發(fā)生及預(yù)后的因素復(fù)雜,故預(yù)防低血糖是根本。低血糖的發(fā)生需于產(chǎn)前、產(chǎn)程中、分娩時(shí)和新生兒早期四個(gè)階段預(yù)防。產(chǎn)前,控制孕婦血糖水平,防止感染及早產(chǎn),因此,正規(guī)的產(chǎn)前檢查可以實(shí)現(xiàn)產(chǎn)前低血糖的預(yù)防;圍產(chǎn)期缺氧可影響血糖代謝,產(chǎn)程中主要預(yù)防缺氧發(fā)生;出生后預(yù)防尤其重要,所有新生兒出生后48 h內(nèi)須密切監(jiān)測血糖,出生后注意維持體溫、盡早開奶,出生后半小時(shí)內(nèi)開奶,當(dāng)血糖水平在2.6 mmol/L或以下時(shí)立即處理,同時(shí)查明低血糖原因,對因治療;對發(fā)生低血糖腦損傷患兒,需規(guī)律隨訪,發(fā)現(xiàn)異常時(shí)盡早康復(fù)治療。

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