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        VSC-HVDC送端換流器IGBT開路故障診斷方法

        2021-03-31 04:00:02靖永志廖珍貞龔倩文錢程彭濤張晨昊
        關(guān)鍵詞:上橋橋臂換流器

        靖永志, 廖珍貞, 龔倩文, 錢程, 彭濤, 張晨昊

        (1.西南交通大學(xué) 磁浮技術(shù)與磁浮列車教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室, 成都 611756;2.西南交通大學(xué) 電氣工程學(xué)院,成都 611756)

        0 引 言

        基于電壓源型換流器的輸電(voltage source converter based high voltage direct current,VSC-HVDC)系統(tǒng)具有可實(shí)現(xiàn)有功無功獨(dú)立控制、可向無源網(wǎng)絡(luò)供電以及潮流反轉(zhuǎn)方便可靠等優(yōu)點(diǎn)[1-2],在可再生能源并網(wǎng)、孤島供電等領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景[3-4]。換流器作為VSC-HVDC系統(tǒng)的核心設(shè)備,承擔(dān)著交直流變換的重要功能,然而由于換流器長期工作在高功率和強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下,其核心組成元件IGBT開關(guān)管易發(fā)生開路故障。IGBT開路故障雖不會(huì)導(dǎo)致VSC-HVDC系統(tǒng)立即崩潰停運(yùn),但將引起系統(tǒng)的電壓或者電流失真,導(dǎo)致正常的IGBT開關(guān)管或者換流站內(nèi)其它設(shè)備過載,從而可能引發(fā)二次故障,嚴(yán)重時(shí)可能導(dǎo)致VSC-HVDC系統(tǒng)停運(yùn)[5]。因此,有必要研究VSC-HVDC換流器IGBT的開路故障診斷算法,以提高對(duì)VSC-HVDC系統(tǒng)的運(yùn)營維護(hù)效率,從而保障設(shè)備安全以及VSC-HVDC系統(tǒng)的可靠穩(wěn)定運(yùn)行。

        國內(nèi)外學(xué)者在IGBT開路故障診斷方面開展了大量的研究,文獻(xiàn)[6-8]分別采用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、支持向量機(jī)等人工智能算法對(duì)換流器IGBT的開路故障進(jìn)行了診斷。但該類診斷算法的準(zhǔn)確性依賴于大量的樣本數(shù)據(jù),而且計(jì)算復(fù)雜,計(jì)算成本較高,在線實(shí)現(xiàn)難度較大。為了克服人工智能算法在IGBT故障診斷方面的不足,文獻(xiàn)[9]建立了逆變器-電機(jī)的混雜系統(tǒng)模型,實(shí)現(xiàn)了對(duì)電力機(jī)車牽引逆變器IGBT的開路故障診斷;文獻(xiàn)[10]分析了IGBT開路故障的電流矢量的瞬時(shí)頻率和瞬時(shí)角度特征,并基于此設(shè)計(jì)了三相逆變器IGBT的開路故障診斷算法;文獻(xiàn)[11]與文獻(xiàn)[12]分別基于單相兩電平和單相三電平逆變器交流側(cè)電流在IGBT開路故障前后的變化特征,提出了基于電流殘差的單相逆變器IGBT開路故障診斷方法。以上方法基于對(duì)三相逆變器或者單相逆變器IGBT開路故障特征的分析,無需依賴于訓(xùn)練樣本,診斷算法較為簡單,為逆變器的故障診斷提供了良好的思路,但是上述診斷算法并不能直接應(yīng)用于整流器。隨著VSC-HVDC系統(tǒng)的發(fā)展,VSC型的三相整流器得到了較為廣泛的應(yīng)用,為了保障其運(yùn)行維護(hù)的可靠性與高效性,則需要對(duì)VSC-HVDC系統(tǒng)送端換流器(整流器)IGBT的開路故障進(jìn)行分析,進(jìn)而提出適用于VSC-HVDC系統(tǒng)送端換流器IGBT開路故障的在線診斷方法。

        目前,在VSC-HVDC系統(tǒng)送端換流器IGBT故障分析與診斷方法的研究方面已有一定的文獻(xiàn)報(bào)道,文獻(xiàn)[13-14]基于仿真波形分析了VSC-HVDC系統(tǒng)送端換流器的短路和開路故障電氣特征,進(jìn)而利用小波變換和神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法設(shè)計(jì)了送端換流器的故障診斷方案,但其分析完全基于仿真波形,分析結(jié)果受模型參數(shù)和故障時(shí)刻的影響較大,即普適性較低,而且所提故障診斷方案亦需依賴于大量的樣本數(shù)據(jù),且無法實(shí)現(xiàn)雙橋臂IGBT開路故障的檢測。文獻(xiàn)[15]基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對(duì)VSC-HVDC系統(tǒng)的交流側(cè)短路、直流線路短路、IGBT短路以及IGBT開路4類故障進(jìn)行了診斷,但是該方法缺乏理論分析依據(jù),且無法定位到具體的開路故障橋臂。因此,亟需從理論分析層面深入研究VSC-HVDC送端換流器IGBT開路故障特征,進(jìn)而提出可檢測單橋臂和雙橋臂IGBT開路故障以及定位具體故障橋臂的送端換流器IGBT開路故障診斷算法。

        本文以VSC-HVDC系統(tǒng)送端換流器IGBT為研究對(duì)象,推導(dǎo)2類單橋臂IGBT開路和4類雙橋臂IGBT開路故障的電壓殘差表達(dá)式,分析IGBT開路故障的電壓殘差特征,進(jìn)而提出基于電壓殘差的送端換流器IGBT開路故障診斷方法,基于半實(shí)物實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)驗(yàn)證所提方法的有效性。

        1 VSC-HVDC系統(tǒng)送端換流器開關(guān)函數(shù)模型與殘差

        1.1 送端換流器結(jié)構(gòu)

        圖1為VSC-HVDC系統(tǒng)送端換流器示意圖。

        圖1 VSC-HVDC送端換流器拓?fù)鋱DFig.1 Topology of VSC-HVDC rectifier side

        圖中ia、ib與ic為換流器交流側(cè)三相電流;R和L分別為串聯(lián)電抗器等效電阻和電感;VTi(i=1~6)分別為換流器6個(gè)橋臂的IGBT開關(guān)管; VDi(i=1~6)分別為換流器6個(gè)橋臂的反并聯(lián)二極管;C1與C2為直流側(cè)支撐電容;Udc為直流側(cè)電壓。

        1.2 送端換流器開關(guān)函數(shù)模型

        令I(lǐng)GBT開關(guān)管VT1~VT6的狀態(tài)信號(hào)分別為S1~S6,Si=1和Si=0(i=1~6)分別表示VTi(i=1~6)狀態(tài)信號(hào)的有無;令δa、δb與δc分別表示換流器交流側(cè)A相、B相與C相電流ia、ib與ic的方向,當(dāng)ik(k為a,b或c)為正方向時(shí),δk=1,當(dāng)ik為負(fù)方向時(shí),δk=0;Sa、Sb與Sc分別為三相的開關(guān)函數(shù)值。以A相為例,考慮A相所連接的VT1與VT2所有可能的狀態(tài)信號(hào)和A相電流的方向,可得A相開關(guān)函數(shù)值和工作狀態(tài)的關(guān)系,見表1。

        表1 A相開關(guān)函數(shù)值和工作狀態(tài)的關(guān)系Table 1 Relationship between switching function value and working state of phase A

        B相、C相開關(guān)函數(shù)值和工作狀態(tài)的關(guān)系與A相類似,A相、B相和C相的開關(guān)函數(shù)表達(dá)式為:

        (1)

        當(dāng)Sa、Sb或Sc為1時(shí),uao、ubo或uco等于Udc;當(dāng)Sa、Sb或Sc為0時(shí),uao、ubo或uco等于0,即:

        (2)

        當(dāng)送端換流器正常工作時(shí),其交流側(cè)三相電壓uan、ubn與ucn可表示為:

        (3)

        1.3 基于開關(guān)函數(shù)的電壓殘差定義

        定義各相電壓的計(jì)算值與實(shí)測值之間的差值為電壓殘差,結(jié)合式(1)與式(3)得到三相的電壓殘差Δua、Δub與Δuc為:

        (4)

        2 IGBT開路故障特征分析

        2.1 單橋臂IGBT開路故障分析

        2.1.1 上橋臂IGBT開路故障

        (5)

        將式(5)代入式(4),可得三相電壓殘差為

        (6)

        由式(6)可知,當(dāng)VT1發(fā)生開路故障后,若此時(shí)在ia<0且S1=1區(qū)間內(nèi),即在δa=0且S1=1區(qū)間內(nèi),A相、B相和C相電壓均存在殘差,其中A相的電壓殘差為2/3Udc,B相與C相的電壓殘差均為-1/3Udc;在其它區(qū)間內(nèi)的三相電壓殘差均為0。

        2.1.2 下橋臂IGBT開路故障

        (7)

        則此時(shí)三相電壓殘差為

        (8)

        由式(8)可知,當(dāng)VT2發(fā)生開路故障后,若此時(shí)在ia>0且S2=1區(qū)間內(nèi),即在δa=1且S2=1區(qū)間內(nèi),A相電壓殘差為-2/3Udc,B相和C相的電壓殘差為1/3Udc。在其它區(qū)間內(nèi)的三相電壓殘差均為0。

        同理,B相和C相連接橋臂的IGBT開路故障的電壓殘差特征與A相類似。當(dāng)上橋臂IGBT發(fā)生開路故障,該橋臂所在相的電壓殘差存在為2/3Udc的情況,其余兩相電壓殘差存在為-1/3Udc的情況;當(dāng)下橋臂IGBT發(fā)生開路故障,該橋臂所在相的電壓殘差存在為-2/3Udc的情況,其余兩相的電壓殘差存在為1/3Udc的情況。在其它區(qū)間內(nèi)的三相電壓殘差均為0。

        2.2 雙橋臂IGBT開路故障分析

        2.2.1 同相上下橋臂IGBT開路故障

        (9)

        將式(9)代入式(4),得到三相電壓殘差為

        (10)

        由式(10)可知,當(dāng)VT1與VT2發(fā)生開路故障后,在ia<0且S1=1的區(qū)間內(nèi),A相電壓殘差為2/3Udc,而B相和C相的電壓殘差為-1/3Udc;在ia>0,S2=1區(qū)間內(nèi),三相電壓也存在殘差,其中A相電壓殘差為-2/3Udc,B相與C相的電壓殘差為1/3Udc。在其它區(qū)間內(nèi)的三相電壓殘差均為0。

        2.2.2 異相上下橋臂IGBT開路故障

        (11)

        將式(11)代入式(4),得到三相電壓殘差如下:

        (12)

        由式(12)可知,在VT1與VT4發(fā)生開路故障后,當(dāng)ia<0且S1=1時(shí),A相電壓殘差為2/3Udc,而B相和C相的電壓殘差均為-1/3Udc;當(dāng)ib>0且S4=1時(shí),B相電壓殘差為-2/3Udc,而A相與C相的電壓殘差均為1/3Udc。在故障疊加區(qū)間內(nèi),即當(dāng)ia<0,S1=1且ib>0,S4=1時(shí),A相電壓殘差為Udc,B相電壓殘差為-Udc,而C相電壓殘差為0。在其它區(qū)間內(nèi)的三相電壓殘差均為0。

        2.2.3 兩上橋臂IGBT開路故障

        (13)

        將式(13)代入式(4),得到三相電壓殘差為

        (14)

        由上式可知,在VT1和VT3發(fā)生開路故障后,當(dāng)ia<0且S1=1時(shí),A相電壓殘差為2/3Udc,B相和C相電壓殘差為-1/3Udc;當(dāng)ib<0且S3=1時(shí),B相電壓殘差為2/3Udc,而A相和C相的電壓殘差為-1/3Udc。在故障疊加區(qū)間內(nèi),即ia<0,S1=1且ib<0,S3=1時(shí),A相與B相的電壓殘差為1/3Udc,而C相電壓殘差為-2/3Udc。在其它區(qū)間內(nèi)的三相電壓殘差均為0。

        2.2.4 兩下橋臂IGBT開路故障

        (15)

        將式(15)代入式(4),得到三相電壓殘差為:

        (16)

        在VT2與VT4發(fā)生開路故障后,當(dāng)ia>0且S2=1時(shí),A相電壓殘差為-2/3Udc,B相與C相的電壓殘差為1/3Udc;當(dāng)ib>0且S4=1時(shí),B相電壓殘差為-2/3Udc,A相和C相的電壓殘差為1/3Udc。在故障疊加區(qū)間內(nèi),即ia>0,S2=1且ib>0,S4=1時(shí),A相與B相的電壓殘差為-1/3Udc,C相電壓殘差為2/3Udc。在其它區(qū)間內(nèi)的三相電壓殘差均為0。

        2.3 電壓殘差特征總結(jié)

        根據(jù)以上分析,可總結(jié)2類單橋臂和4類雙橋臂IGBT開路故障在可檢測到殘差的故障檢測區(qū)間內(nèi)的電壓殘差特征,見表2。由表2可知:

        表2 IGBT開路故障的電壓殘差特征Table 2 Voltage residual characteristics of IGBT open-circuit faults

        1)2類單橋臂IGBT開路、同相上下橋臂IGBT開路與異相上下橋臂IGBT開路故障特征為:故障上橋臂所在相的電壓殘差存在為2/3Udc或Udc的情況,即存在大于1/3Udc的情況,其它相的電壓殘差存在為1/3Udc、-1/3Udc、-2/3Udc、-Udc或0的情況,不存在大于1/3Udc的情況;而且,僅有故障下橋臂所在相的電壓殘差存在為-2/3Udc或-Udc的情況,即存在小于-1/3Udc的情況,其它相的電壓殘差存在為-1/3Udc、1/3Udc、2/3Udc、Udc或0的情況,不存在小于-1/3Udc的情況;

        2)對(duì)于兩上橋臂或兩下橋臂IGBT開路故障,在非故障疊加區(qū)域,電壓殘差仍滿足以上情況,在故障疊加區(qū)域,非故障橋臂所在相的電壓殘差存在小于-1/3Udc或者大于1/3Udc的情況。

        3 基于電壓殘差的故障診斷方法

        3.1 故障診斷流程設(shè)計(jì)

        基于電壓殘差特征,設(shè)計(jì)IGBT開路故障診斷的判據(jù)分別為:

        Δum>krel×1/3Udc。

        (17)

        Δum

        (18)

        式中m為故障橋臂所在相。本文根據(jù)2.3節(jié)總結(jié)的電壓殘差特征,分別以1/3Udc和-1/3Udc為基準(zhǔn)設(shè)計(jì)與m相連接的上橋臂IGBT開路和下橋臂IGBT開路故障的判斷閾值,且為了給故障診斷留有一定的判斷裕量,取可靠系數(shù)krel=1.5。

        若式(17)成立,即Δum> 0.5Udc時(shí),則判定與m相連接的上橋臂IGBT發(fā)生故障,設(shè)置該橋臂IGBT故障標(biāo)志位由0跳變?yōu)?;若式(18)成立,即Δum< -0.5Udc時(shí),則判定m相連接的下橋臂IGBT發(fā)生開路故障,設(shè)置該下橋臂IGBT故障標(biāo)志位跳變?yōu)?。

        對(duì)于兩上橋臂或兩下橋臂IGBT開路故障,如當(dāng)VT1與VT3開路時(shí),在非故障疊加區(qū)域,A相和B相電壓殘差為2/3Udc,大于0.5Udc;在故障疊加區(qū)域,C相電壓殘差為-2/3Udc,小于-0.5Udc。故VT1、VT3與VT6對(duì)應(yīng)的三個(gè)故障標(biāo)志均會(huì)跳變。為解決這一問題,在故障診斷流程中,計(jì)算故障標(biāo)志跳變?yōu)?的個(gè)數(shù)N。若N<3,則將跳變?yōu)?的故障標(biāo)志全部輸出,即判斷故障標(biāo)志跳變?yōu)?的橋臂IGBT發(fā)生開路故障;否則僅輸出同為上橋臂或同為下橋臂的IGBT故障標(biāo)志,即判斷同為上橋臂或同為下橋臂且故障標(biāo)志跳變?yōu)?的兩橋臂IGBT發(fā)生開路故障。

        基于以上思路,設(shè)計(jì)的基于電壓殘差的IGBT開路故障診斷流程如圖2所示。其中Δuk為k相電壓殘差,k為a,b或c。

        圖2 IGBT開路故障診斷流程圖Fig.2 Diagram for IGBT open-circuit fault diagnosis

        現(xiàn)有在電力系統(tǒng)故障檢測、診斷等方面的研究,為提高故障識(shí)別或者診斷的可靠性,一般取一定長度的時(shí)間窗進(jìn)行故障檢測或者診斷[16],因此在本文所提方法的診斷流程中,取2 ms的數(shù)據(jù)窗進(jìn)行判斷,若在2 ms時(shí)間窗內(nèi)有5個(gè)采樣點(diǎn)的電壓殘差大于0.5Udc或者小于-0.5Udc才允許相應(yīng)的故障標(biāo)志跳變。

        3.2 故障診斷方案的可行性

        以上方案中,取krel=1.5即取判斷閾值為0.5Udc和-0.5Udc可保證對(duì)故障判斷留有一定的判斷裕量,如當(dāng)VT1與VT2發(fā)生開路故障后,由表2可知,A相電壓殘差存在為2/3Udc的情況,較判斷閾值0.5Udc大1/6Udc,則可判斷出VT1發(fā)生開路故障,其它相的電壓殘差最大的情況為1/3Udc,較0.5Udc小1/6Udc,故不會(huì)出現(xiàn)對(duì)其它上橋臂IGBT的故障誤判;且A相的電壓殘差存在為-2/3Udc,較判斷閾值-0.5Udc小1/6Udc,則可判斷出VT2發(fā)生開路故障,其它相的電壓殘差最小的情況為-1/3Udc,較-0.5Udc大1/6Udc,故不會(huì)出現(xiàn)對(duì)其它下橋臂IGBT的故障誤判。對(duì)其它類型的故障診斷也與之類似,判斷裕量至少為1/6Udc,本文不再贅訴。因此可知,當(dāng)可靠系數(shù)krel取為1.5時(shí),可為故障診斷留有1/6Udc的判斷裕量,即所提診斷方法具備一定的抗干擾能力。

        此外,故障判斷閾值0.5Udc與-0.5Udc中的“Udc”為直流側(cè)電壓的實(shí)測值,即故障判斷閾值會(huì)隨“Udc”的變化而線性變化,而根據(jù)第2節(jié)的分析可知,在確定的開路故障條件下,電壓殘差與Udc之間的關(guān)系是確定的,故即使直流側(cè)電壓Udc受系統(tǒng)參數(shù)變化而變化,所提故障診斷方法仍能夠準(zhǔn)確識(shí)別故障。

        4 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證

        為驗(yàn)證所提診斷方法的可行性,基于TMS320F6748+FPGA+RTLAB半實(shí)物實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)搭建了VSC-HVDC系統(tǒng)。圖3為半實(shí)物實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)實(shí)物圖,包括DSP+FPGA控制器以及半實(shí)物實(shí)驗(yàn)平臺(tái)(RT-LAB)。其中VSC-HVDC系統(tǒng)的送端(整流側(cè))采用定有功功率和無功功率控制式;受端(逆變側(cè))采用定無功功率和定直流電壓控制方式。系統(tǒng)的直流電壓等級(jí)為60 kV,采樣頻率為20 kHz。

        圖3 半實(shí)物實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)Fig.3 Hardware-in-the-loop experiment system

        4.1 故障診斷方法在無干擾下的驗(yàn)證

        4.1.1 單橋臂IGBT開路故障

        1)上橋臂IGBT開路故障。

        以VT1開路為例驗(yàn)證診斷方法在上橋臂IGBT開路故障下的可行性,故障時(shí)刻為4 s,實(shí)驗(yàn)結(jié)果如圖4示。VT1發(fā)生開路故障后,電壓計(jì)算值與實(shí)測值出現(xiàn)差異,A相電壓殘差存在大于閾值0.5Udc的情況,當(dāng)在2 ms數(shù)據(jù)窗內(nèi)A相電壓殘差有5個(gè)采樣點(diǎn)數(shù)值超過0.5Udc,VT1的故障標(biāo)志F1跳變?yōu)?。

        圖4 VT1開路故障診斷結(jié)果Fig.4 Diagnosis result of VT1 open-circuit fault

        2)下橋臂IGBT開路故障。

        以VT2開路為例驗(yàn)證診斷方法在下橋臂IGBT開路故障下的可行性,故障時(shí)刻設(shè)為4 s,實(shí)驗(yàn)結(jié)果如圖5示。當(dāng)VT2發(fā)生開路故障后,A相電壓殘差存在小于閾值-0.5Udc的情況,VT2的故障標(biāo)志F2跳變?yōu)?。

        圖5 VT2開路故障診斷結(jié)果Fig.5 Diagnosis result of VT2 open-circuit fault

        4.1.2 雙橋臂IGBT開路故障

        1)同相上下橋臂IGBT開路故障。

        以VT1與VT2開路為例驗(yàn)證診斷方法在同相上下橋臂IGBT開路故障下的有效性,故障時(shí)刻為4 s,實(shí)驗(yàn)結(jié)果如圖6示。VT1與VT2發(fā)生開路故障后,先出現(xiàn)A相電壓殘差小于-0.5Udc的情況,當(dāng)在2 ms內(nèi)A相電壓殘差有5個(gè)采樣點(diǎn)數(shù)值小于-0.5Udc后,VT2故障標(biāo)志跳變?yōu)?。在半個(gè)周期之后出現(xiàn)A相電壓殘差大于0.5Udc的情況,則VT1故障標(biāo)志跳變?yōu)?。診斷算法準(zhǔn)確判定VT1與VT2發(fā)生故障。

        圖6 VT1與VT2開路故障診斷結(jié)果Fig.6 Diagnosis result of VT1 and VT2 open-circuit fault

        2)異相上下橋臂IGBT開路故障。

        以VT1與VT4開路為例驗(yàn)證診斷方法在異相上下橋臂IGBT開路故障下的可行性,故障時(shí)刻設(shè)為4 s,實(shí)驗(yàn)結(jié)果如圖7示。由圖中結(jié)果可知,診斷算法能夠準(zhǔn)確識(shí)別出VT1與VT4開路故障。

        圖7 VT1與VT4開路故障診斷結(jié)果Fig.7 Diagnosis result of VT1 and VT4 open-circuit fault

        3)兩上橋臂IGBT開路故障。

        以VT1與VT3開路為例驗(yàn)證診斷方法在兩上橋臂IGBT開路故障下的有效性,故障時(shí)刻設(shè)為4 s,實(shí)驗(yàn)結(jié)果如圖8示。由圖中結(jié)果可知,VT1、VT3與VT6的故障標(biāo)志發(fā)生跳變,此情況下,由于故障標(biāo)志跳變?yōu)?的個(gè)數(shù)等于3,則根據(jù)圖2的診斷流程,僅輸出兩上橋臂VT1與VT3的故障標(biāo)志。因而在兩上橋臂IGBT開路故障下,所提診斷算法仍能適用。

        圖8 VT1與VT3開路故障診斷結(jié)果Fig.8 Diagnosis result of VT1 and VT3 open-circuit fault

        4)兩下橋臂IGBT開路故障。

        以VT1與VT4開路為例驗(yàn)證診斷方法在兩下橋臂IGBT開路故障下的有效性,故障時(shí)刻設(shè)為4 s,實(shí)驗(yàn)結(jié)果如圖9示。由圖可知,VT2、VT4與VT5的故障標(biāo)志均跳變?yōu)?,根據(jù)診斷流程,此情況下,僅輸出兩下橋臂VT2與VT4的故障標(biāo)志,即診斷方法準(zhǔn)確判斷出VT2與VT4發(fā)生開路故障。

        圖9 VT2與VT4開路故障診斷結(jié)果Fig.9 Diagnosis result of VT2 and VT4 open-circuit fault

        4.2 故障診斷方法在有干擾下的適應(yīng)性驗(yàn)證

        4.2.1 故障診斷方法在換流器直流側(cè)電壓變化時(shí)的適應(yīng)性驗(yàn)證

        在VSC-HVDC系統(tǒng)中,其系統(tǒng)參數(shù)一般在確定后即不允許有較大改變。因此,現(xiàn)有文獻(xiàn)在研究VSC-HVDC系統(tǒng)動(dòng)態(tài)變化對(duì)保護(hù)或者故障分析的研究時(shí),一般考慮換流器直流側(cè)電壓波動(dòng)不超過10%[5,17]。為此,本文以同相上下橋臂IGBT開路故障為例,對(duì)診斷方法在系統(tǒng)參數(shù)變化引起直流側(cè)電壓變化到90%和110%情況下的適應(yīng)性進(jìn)行了驗(yàn)證,驗(yàn)證結(jié)果如圖10與圖11所示。

        圖10為在3.95 s時(shí)直流側(cè)電壓Udc由60 kV降至54 kV,在4 s時(shí)VT1與VT2發(fā)生開路故障的三相電壓殘差與判斷閾值情況。

        圖10 Udc=54 kV,VT1與VT2開路故障時(shí)三相電壓殘差與判斷閾值情況Fig.10 Voltage residual and threshold of VT1 and VT2 open-circuit fault when Udc =54 kV

        由圖10結(jié)果可知,在3.95 s直流側(cè)電壓降為90%時(shí),判斷閾值0.5Udc和-0.5Udc也隨之變化,而且A相電壓殘差仍存在大于0.5Udc且小于-0.5Udc的情況,B相和C相電壓殘差均不滿足式(17)與式(18)所示的故障診斷判據(jù),因此診斷方法能夠可靠診斷出發(fā)生的故障為VT1和VT2開路故障。

        圖11為在3.95 s時(shí)直流側(cè)電壓Udc由60 kV上升至66 kV,在4 s時(shí)VT1與VT2發(fā)生開路故障的三相電壓殘差與判斷閾值情況。

        圖11 Udc=66 kV,VT1與VT2開路故障時(shí)三相電壓殘差與判斷閾值情況Fig.11 Voltage residual and threshold of VT1 and VT2 open-circuit fault when Udc =66 kV

        由圖11結(jié)果可知,在3.95 s直流側(cè)電壓上升至110%時(shí),判斷閾值0.5Udc和-0.5Udc也隨之變化,而且A相電壓殘差存在大于0.5Udc且小于-0.5Udc的情況,B相和C相電壓殘差亦不滿足故障診斷判據(jù),故診斷方法在此情況下,仍能夠準(zhǔn)確診斷出發(fā)生的故障為VT1和VT2開路故障。

        4.2.2 故障診斷方法在噪聲干擾下的驗(yàn)證

        本文以A相上下橋臂IGBT開路故障為例,在故障的測量信號(hào)中添加信噪比(SNR)為30 dB和20 dB噪聲,對(duì)所提方法進(jìn)行了驗(yàn)證,驗(yàn)證結(jié)果分別如圖12與圖13所示。

        圖12 SNR=30 dB,VT1與VT2開路故障時(shí)三相電壓殘差與判斷閾值情況Fig.12 Voltage residual and threshold of VT1 and VT2 open-circuit fault when SNR=30 dB

        圖13 SNR=20 dB,VT1與VT2開路故障三相電壓殘差與判斷閾值情況Fig.13 Voltage residual and threshold of VT1 and VT2 open-circuit fault when SNR=20 dB

        仿真結(jié)果表明,在加入噪聲后,三相電壓殘差和故障判斷閾值雖然會(huì)有所波動(dòng),但是即使在信噪比20 dB的噪聲干擾下,當(dāng)VT1與VT2發(fā)生開路故障時(shí),A相電壓殘差仍存在大于0.5Udc且存在小于-0.5Udc的情況,且其它相電壓殘差不滿足故障診斷判據(jù),即所提故障診斷方法能夠可靠診斷出發(fā)生的故障為VT1與VT2開路故障。因此可知,所提診斷方法具有較高的抗噪聲干擾性能。

        5 結(jié) 論

        1)分析了單橋臂與雙橋臂IGBT開路故障的電壓殘差特征:當(dāng)某相上橋臂IGBT發(fā)生開路故障時(shí),其對(duì)應(yīng)相的電壓殘差將存在大于1/3Udc的情況;當(dāng)某相下橋臂IGBT發(fā)生開路故障時(shí),其對(duì)應(yīng)相的電壓殘差將存在小于-1/3Udc的情況。對(duì)于兩上橋臂或兩下橋臂IGBT開路,在非故障疊加區(qū)域,可等效2個(gè)IGBT分別發(fā)生開路故障,在故障疊加區(qū)域,未發(fā)生故障相的電壓存在小于-1/3Udc或者存在大于1/3Udc的情況。

        2)設(shè)計(jì)了基于電壓殘差的IGBT開路故障診斷算法,當(dāng)某相電壓殘差大于0.5Udc,該相上橋臂IGBT的故障標(biāo)志由0跳變?yōu)?;當(dāng)某相電壓殘差小于-0.5Udc,該相下橋臂IGBT的故障標(biāo)志由0跳變?yōu)?。當(dāng)故障標(biāo)志跳變?yōu)?的個(gè)數(shù)小于3,則判斷故障標(biāo)志跳變?yōu)?的橋臂IGBT發(fā)生開路故障,否則判斷同為上橋臂或同為下橋臂且故障標(biāo)志跳變?yōu)?的橋臂IGBT發(fā)生開路故障。

        3)對(duì)所提故障診斷方法進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,所提方法能夠準(zhǔn)確診斷出2類單橋臂和4類雙橋臂IGBT開路故障,且具有一定的抗直流側(cè)電壓變化與噪聲干擾的性能,具有一定的工程應(yīng)用前景。

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