王 江，韓佂權(quán)

(貴州航天電器股份有限公司，貴州貴陽(yáng)，550009)

1 引言

某電子組件XXX堵頭作為某型號(hào)裝備點(diǎn)火通路控制單元，內(nèi)部有短路部分和短接限流電阻部分。短路部分由導(dǎo)線將連接器2點(diǎn)短路而成，短接限流電阻部分則是由火工品電阻跨接在連接器的2點(diǎn)之間組成。作為一種電氣控制組件，在航空、航天裝備系統(tǒng)中大量應(yīng)用，其試驗(yàn)環(huán)境中的導(dǎo)通電阻值和短接限流電阻值的精確測(cè)試是考核可靠性的關(guān)鍵。電子組件在不同環(huán)境中，其數(shù)據(jù)考核差異、其可靠性與否對(duì)裝備系統(tǒng)具有重要影響。

為了全面、有效的驗(yàn)證該電子組件在不同環(huán)境中的導(dǎo)通電阻和火工品電阻值是否滿足使用要求，結(jié)合該電子組件的試驗(yàn)項(xiàng)目，對(duì)電阻測(cè)試工裝進(jìn)行改進(jìn)研究。使其更能滿足試驗(yàn)、測(cè)試要求，為用戶提供更可靠地電子組件產(chǎn)品。

2 試驗(yàn)要求

產(chǎn)品文件要求的試驗(yàn)項(xiàng)目見(jiàn)表1所示，共用11項(xiàng)考核項(xiàng)目。其中，需要在試驗(yàn)箱中測(cè)試的項(xiàng)目有：高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度-高度試驗(yàn)等3項(xiàng)。

表1 B組檢驗(yàn)

該電子組件的技術(shù)文件要求：常溫常壓條件下，短接導(dǎo)線的接點(diǎn)之間的電阻值小于100mΩ；短接限流電阻(TRY-B-0.25W-3Ω±2%)的接點(diǎn)之間的電阻值在2.94Ω～3.10Ω范圍內(nèi)。

a)高溫、低溫、低氣壓條件下，短接導(dǎo)線的接點(diǎn)之間的電阻值小于150mΩ；短接限流電阻(TRY-B-0.25W-3Ω±2%)的接點(diǎn)之間的電阻值在2.75Ω～3.20Ω范圍內(nèi)。

b)在環(huán)境試驗(yàn)中，自主飛振動(dòng)試驗(yàn)后的檢測(cè)，短接導(dǎo)線的接點(diǎn)之間的電阻值小于100mΩ，短接限流電阻(TRY-B-0.25W-3Ω)的接點(diǎn)間的阻值在2.75Ω～3.20Ω的范圍內(nèi)。

3 試驗(yàn)方案

3.1 試驗(yàn)分析

高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度-高度試驗(yàn)等試驗(yàn)項(xiàng)目需要箱內(nèi)進(jìn)行，相關(guān)測(cè)試也需要在箱內(nèi)完成。本文以高溫試驗(yàn)項(xiàng)目為對(duì)象來(lái)分析在高溫試驗(yàn)箱中精確測(cè)試產(chǎn)品的電阻值。

由于產(chǎn)品是放在高溫試驗(yàn)箱內(nèi)，測(cè)試儀不能延伸到試驗(yàn)箱內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，只能通過(guò)轉(zhuǎn)接測(cè)試點(diǎn)的方法進(jìn)行箱外測(cè)試?，F(xiàn)在箱外測(cè)試有兩個(gè)方案：

方案一: 如圖1所示，電阻測(cè)試儀不能直接測(cè)試產(chǎn)品的導(dǎo)通電阻，通過(guò)采用適當(dāng)?shù)墓ぱb夾具將測(cè)試點(diǎn)轉(zhuǎn)接到箱外進(jìn)行測(cè)試。轉(zhuǎn)接所用工裝的線長(zhǎng)2米左右，利用伏安表在外面測(cè)試，測(cè)試值在390mΩ∽410mΩ， 超出文件要求的150mΩ的電阻值。由于轉(zhuǎn)接夾具的線長(zhǎng)短不一致，測(cè)試值有20 mΩ差異，測(cè)試偏差大于產(chǎn)品實(shí)際電阻值，測(cè)試誤差太大，不合適。

圖1 直接用電阻表在箱外測(cè)試

方案二：將四線制(伏安法)的四根線延伸到箱內(nèi)的產(chǎn)品引出端(連接器接點(diǎn))上進(jìn)行測(cè)試，如圖6所示。該方法不受導(dǎo)線長(zhǎng)短因素的影響，測(cè)試準(zhǔn)確。綜上分析，本文采用伏安法方案進(jìn)行分析測(cè)試。

3.2 試驗(yàn)方案

通過(guò)上述分析，采用伏安法將導(dǎo)線延伸到箱內(nèi)產(chǎn)品引出端，可測(cè)試產(chǎn)品導(dǎo)通電阻和短接限流電阻值。原理框圖如圖2所示。產(chǎn)品和四線制測(cè)試夾具對(duì)接，再接到通用測(cè)試板，電阻測(cè)試儀的探針，直接通過(guò)通用測(cè)試板的插孔測(cè)試。

圖2 測(cè)試原理框圖

圖3 改裝過(guò)的測(cè)試探頭

工裝夾具的解決：

1、四線制轉(zhuǎn)接夾具，如圖4所示。四線制轉(zhuǎn)接夾具的作用是將產(chǎn)品的每一個(gè)測(cè)試端口用四線轉(zhuǎn)接出來(lái)。選擇一個(gè)和產(chǎn)品對(duì)接端適配的連接器。將每一孔位尾端壓接2根長(zhǎng)度適合的導(dǎo)線，將每個(gè)測(cè)試點(diǎn)用2根導(dǎo)線引出，變1個(gè)點(diǎn)為2個(gè)點(diǎn)，變2線測(cè)為4線測(cè)試。

圖4 產(chǎn)品和測(cè)試夾具對(duì)接

2、測(cè)試板。如圖5所示。測(cè)試板的作用是將所有的測(cè)試點(diǎn)集中在一個(gè)通用測(cè)試板上方便測(cè)試。

圖5 測(cè)試版工裝

3、測(cè)試探頭，如圖3所示。將電阻測(cè)試儀探頭進(jìn)行簡(jiǎn)單改造。原裝的測(cè)試探頭是2個(gè)夾子，通常夾住被測(cè)試電阻的兩端，目前夾子無(wú)法伸進(jìn)試驗(yàn)箱中測(cè)試。需要將其改成能插接通用板的四根線，這樣就可以通過(guò)通用板的插孔，方便的進(jìn)行測(cè)試。

4、將產(chǎn)品放在試驗(yàn)箱中和四線制夾具對(duì)接后從試驗(yàn)箱的測(cè)試口穿出來(lái)，和通用測(cè)試板對(duì)接如圖6所示。通過(guò)轉(zhuǎn)接將產(chǎn)品所有的測(cè)試點(diǎn)引到通用測(cè)試板上。在測(cè)試板上對(duì)各點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。

圖6 在通用板上進(jìn)行4線測(cè)試

4 試驗(yàn)驗(yàn)證

設(shè)備改造完后，同一電阻采用2種測(cè)試方法測(cè)試進(jìn)行對(duì)比，測(cè)試結(jié)果無(wú)差異，所以該試驗(yàn)測(cè)試方法可以用于產(chǎn)品試驗(yàn)中。

XXX堵頭的導(dǎo)通電阻在高溫試驗(yàn)箱中，70℃下的測(cè)試結(jié)果如圖7所示。測(cè)試結(jié)果完全符合產(chǎn)品技術(shù)文件要求(小于150mΩ)，產(chǎn)品試驗(yàn)合格，產(chǎn)品順利交付用戶使用。

圖7 在70℃下的導(dǎo)通電阻測(cè)試記錄

5 結(jié)束語(yǔ)

綜上所述，武器系統(tǒng)在各種環(huán)境中使用，各種電子組件必須可靠保證系統(tǒng)運(yùn)用。本文為驗(yàn)證產(chǎn)品在不同環(huán)境中的使用性能，采用改進(jìn)試驗(yàn)裝置的方法，完成該電子組件的測(cè)試驗(yàn)證，提高了試驗(yàn)效率，保證了產(chǎn)品的可靠性，該經(jīng)驗(yàn)值得借鑒。