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        MC/DC準(zhǔn)則基礎(chǔ)下的嵌入式軟件測(cè)試

        2020-11-16 02:11:06閆曉艷
        數(shù)碼世界 2020年10期
        關(guān)鍵詞:測(cè)試技術(shù)嵌入式軟件

        閆曉艷

        摘要:MC/DC準(zhǔn)則是現(xiàn)行軟件覆蓋率的驗(yàn)證準(zhǔn)則,具有高安全性、實(shí)用性及有效性強(qiáng)的特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于嵌入式軟件獨(dú)立測(cè)試當(dāng)中,應(yīng)用時(shí)可以結(jié)合該準(zhǔn)則及嵌入式軟件測(cè)試要求構(gòu)建測(cè)試技術(shù)方案,經(jīng)測(cè)試可知嵌入式軟件在MC/DC準(zhǔn)則中的覆蓋率,覆蓋率越高則代表軟件越優(yōu)秀,否則反之。本文將對(duì)嵌入式軟件測(cè)試要求與MC/DC準(zhǔn)則概念進(jìn)行論述,并提出一種以MC/DC準(zhǔn)則為基礎(chǔ)的嵌入式軟件測(cè)試技術(shù)方案,驗(yàn)證該方案的有效性。

        關(guān)鍵詞:MC/DC準(zhǔn)則;嵌入式軟件;測(cè)試技術(shù)

        引言

        嵌入式軟件與嵌入主體本質(zhì)上是兩個(gè)個(gè)體,嵌入式軟件與嵌入主體不匹配,可能造成巨大的負(fù)面影響,導(dǎo)致系統(tǒng)主體的穩(wěn)定性大幅下降,因嵌入式軟件問題,使得系統(tǒng)主體出現(xiàn)可靠性、安全性上的問題,在嵌入式軟件嵌入系統(tǒng)主體之前,必須對(duì)軟件進(jìn)行測(cè)試,確保軟件嵌入不會(huì)對(duì)系統(tǒng)造成負(fù)面影響。嵌入式軟件作為獨(dú)立開發(fā)軟件程序,其測(cè)試不能依照傳統(tǒng)方法來進(jìn)行,必須在專門的準(zhǔn)則及環(huán)境中開展,這時(shí)MC/DC準(zhǔn)則(Modified Condition/Decision Coverage,修訂的條件/判定覆蓋)就提供了一種可用于嵌入式軟件測(cè)試的環(huán)境,對(duì)此進(jìn)行研究可以利用該準(zhǔn)則對(duì)不同嵌入式軟件進(jìn)行測(cè)試,此舉具有一定現(xiàn)實(shí)意義。

        1 嵌入式軟件測(cè)試要求與MC/DC準(zhǔn)則概念

        1.1嵌入式軟件測(cè)試要求

        嵌入式軟件本身具有實(shí)時(shí)性、可移植性強(qiáng),軟硬件可靈活調(diào)整,硬件平臺(tái)及操作系統(tǒng)多樣,缺陷不易修復(fù),成本昂貴的特征,這些特征使得其在測(cè)試中對(duì)測(cè)試技術(shù)有較高的要求,一般不能采用單一技術(shù)進(jìn)行測(cè)試,需要將整個(gè)測(cè)試流程分為不同階段,再針對(duì)各個(gè)階段設(shè)定測(cè)試技術(shù),最終形成測(cè)試技術(shù)綜合方案來進(jìn)行測(cè)試。根據(jù)嵌入式軟件本身特征及測(cè)試技術(shù)要求,通??梢詫y(cè)試流程分為分析階段、設(shè)計(jì)階段、實(shí)現(xiàn)階段、驗(yàn)證階段四個(gè)部分,以IV&V(Independent Verification and Validation,獨(dú)立驗(yàn)證與確認(rèn))為測(cè)試導(dǎo)向,采用靜態(tài)代碼分析/動(dòng)態(tài)覆蓋測(cè)試技術(shù)方案,針對(duì)各階段采用相關(guān)方法進(jìn)行覆蓋測(cè)試,具體如下。表1為靜態(tài)代碼分析/動(dòng)態(tài)覆蓋測(cè)試技術(shù)方案概況。

        1.1.1靜態(tài)代碼分析

        靜態(tài)代碼分析是嵌入式軟件最基本的測(cè)試策略,主要目的是檢查嵌入式軟件源代碼是否正確、質(zhì)量如何,分析可以分為兩個(gè)步驟:①通過人工逐條觀察嵌入式軟件的源代碼,對(duì)照編碼規(guī)范進(jìn)行檢查,確認(rèn)源代碼中沒有錯(cuò)誤代碼(如果代碼編制存在語法等方法的基本錯(cuò)誤也需要指出);(2)在確認(rèn)源代碼正確的情況下,需要對(duì)代碼進(jìn)行語義、數(shù)據(jù)流進(jìn)行分析,若源代碼在這兩個(gè)層面存在誤差(如語義描述不準(zhǔn)確)則必須在需求、設(shè)計(jì)等階段盡快調(diào)整。

        1.1.2動(dòng)態(tài)覆蓋測(cè)試

        與靜態(tài)代碼分析不同,動(dòng)態(tài)覆蓋測(cè)試需要在嵌入式軟件運(yùn)行的狀態(tài)下進(jìn)行,主要涉及到兩種測(cè)試方法,分別為黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試。黑盒測(cè)試主要用于嵌入式軟件的功能測(cè)試中,可知軟件功能的覆蓋率,若測(cè)試結(jié)果顯示軟件功能覆蓋率未達(dá)到100%就必須進(jìn)行修補(bǔ),若軟件功能覆蓋率達(dá)到100%則進(jìn)行白盒測(cè)試。

        1.2 MC/DC準(zhǔn)則概念

        根據(jù)靜態(tài)代碼分析/動(dòng)態(tài)覆蓋測(cè)試技術(shù)方案可知,通過這種方案單獨(dú)對(duì)嵌入式軟件進(jìn)行測(cè)試,可知嵌入式軟件在IV&V中的需求覆蓋、結(jié)構(gòu)覆蓋表現(xiàn),前者代表軟件內(nèi)所有目標(biāo)函數(shù)是否被正確執(zhí)行,則代表軟件源代碼是否充分及可實(shí)現(xiàn)性如何,在測(cè)試當(dāng)中存在相輔相成關(guān)系,通過完整測(cè)試可判斷嵌入式軟件是否嚴(yán)格、是否完整??梢妰蓚€(gè)覆蓋測(cè)試步驟是分開的,說明靜態(tài)代碼分析/動(dòng)態(tài)覆蓋測(cè)試技術(shù)方案在單獨(dú)應(yīng)用中會(huì)忽略條件覆蓋與判定覆蓋相組合的情況,代表該測(cè)試方法有缺陷。這一條件下MC/DC準(zhǔn)則就對(duì)此進(jìn)行了優(yōu)化,即MC/DC準(zhǔn)則的核心在于條件/判定覆蓋,主要以條件覆蓋結(jié)果為基礎(chǔ),以優(yōu)化軟件結(jié)構(gòu)為目的提出結(jié)構(gòu)覆蓋準(zhǔn)則,受該準(zhǔn)則影響,測(cè)試中需要對(duì)嵌入式軟件代碼內(nèi)的所有可能都進(jìn)行至少一次的輸入/輸出取值,所有覆蓋條件都進(jìn)行輸出,輸出結(jié)果應(yīng)當(dāng)覆蓋所有可能,若輸出結(jié)果中沒有某個(gè)可能的結(jié)果,則說明軟件覆蓋率不足100%,存在缺陷。

        2 以MC/DC準(zhǔn)則為基礎(chǔ)的嵌入式軟件測(cè)試技術(shù)方案

        2.1基本原理

        關(guān)于MC/DC準(zhǔn)則原理,首先要設(shè)定條件判定語句,通常使用布爾操作符構(gòu)成布爾表達(dá)式,通過多個(gè)布爾表達(dá)式可構(gòu)成條件判定語句,隨之將每個(gè)判定中的條件均視為不同條件(即使是相同條件多次出現(xiàn)于相同判定中,所有條件也被視為不同條件),由此進(jìn)行判定。其次根據(jù)條件判定語句,對(duì)布爾表達(dá)式進(jìn)行調(diào)整,比較常見的A and B就是邏輯布爾表達(dá)式,其中A、B均為布爾變量,可取值為{0,1},整體可輸出結(jié)果C,結(jié)果C代表A and B的完備測(cè)試用例集。表2為MC/DC準(zhǔn)則條件判定語句A and B邏輯與測(cè)試集。

        根據(jù)表2,組別1-2測(cè)試中可取條件A的所有取值,要求所有取值均出現(xiàn)一次,在條件B不變的情況下,條件A要具備獨(dú)立影響對(duì)應(yīng)判定結(jié)果的能力;組別1-3測(cè)試中可取條件B的所有取值,要求所有取值均出現(xiàn)一次,且在條件A不變的情況下,條件B要具備獨(dú)立影響對(duì)應(yīng)判定結(jié)果的能力,由此取得組別1-2-3交集生成邏輯、最小測(cè)試用例集。組別7-8測(cè)試中可取條件A的所有取值,要求所有取值均出現(xiàn)一次,在條件B不變的情況下,條件A要具備獨(dú)立影響對(duì)應(yīng)判定結(jié)果的能力;組別6-8測(cè)試中可取條件B的所有取值,要求所有取值均出現(xiàn)一次,在條件A不變的情況下,條件B要具備獨(dú)立影響對(duì)應(yīng)判定結(jié)果的能力,由此取得組別6-7-8交集生成邏輯、最小測(cè)試用例集。

        2.2測(cè)試技術(shù)方案

        根據(jù)MC/DC準(zhǔn)則的基本原理,下文將提出MC/DC準(zhǔn)則嵌入式軟件測(cè)試方案,并接受方案測(cè)試流程。

        2.2.1 MC/DC準(zhǔn)則嵌入式軟件測(cè)試方案

        因?yàn)镸C/DC準(zhǔn)則的泛用性較強(qiáng),且測(cè)試性能優(yōu)異,所以經(jīng)過長(zhǎng)期研究出現(xiàn)了很多支持MC/DC準(zhǔn)則測(cè)試的自動(dòng)化測(cè)試工具,例如Cantata++、VectorCAST,兩者均可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化MC/DC準(zhǔn)則度量。這一條件下,本文出于便捷性考慮選擇了VectorCAST(因VectorCAST可應(yīng)用于比較常見的Windows、Linux開發(fā)平臺(tái),所以適用性更好,應(yīng)用更加便捷),使用該工具即可進(jìn)行嵌入式軟件MC/DC準(zhǔn)則測(cè)試。

        2.2.2 MC/DC準(zhǔn)則嵌入式軟件方案測(cè)試流程

        雖然利用VectorCAST即可進(jìn)行測(cè)試,但測(cè)試之前必須做好流程規(guī)劃工作,對(duì)此在本文測(cè)試方案中測(cè)試流程可以分為四個(gè)步驟:①在VectorCAST基礎(chǔ)上創(chuàng)立工作環(huán)境,將待測(cè)試嵌入式軟件源代碼導(dǎo)入,實(shí)現(xiàn)條件判定語句及MC/DC插樁,并分離出具有獨(dú)立影響能力的布爾表達(dá)式;②確認(rèn)每個(gè)獨(dú)立影響布爾表達(dá)式的真值,可得每個(gè)表達(dá)式的最小測(cè)試集,根據(jù)測(cè)試需求將所有最小測(cè)試集集成,可得最小測(cè)試用例集;③腳本編寫后執(zhí)行最小測(cè)試用例集,對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析,可知軟件是否存在缺陷。

        3 MC/DC準(zhǔn)則嵌入式軟件測(cè)試技術(shù)方案驗(yàn)證

        3.1測(cè)試案例

        選擇某塑料光譜分選打包控制系統(tǒng)作為測(cè)試案例(該系統(tǒng)為嵌入式軟件),使用MC/DC準(zhǔn)則嵌入式軟件測(cè)試技術(shù)方案進(jìn)行測(cè)試。該系統(tǒng)主控(包括光譜儲(chǔ)料倉(cāng)A閥門、光譜儲(chǔ)料倉(cāng)B閥門)及打包(大件打包C閥門、小件打包D閥門)系統(tǒng)控制配有狀態(tài)指示燈,根據(jù)指示燈顏色不同代表不同含義,藍(lán)色燈為閥門閉合狀態(tài)、綠色燈為閥門正常開啟狀態(tài)、紅色燈為物料阻塞狀態(tài)),系統(tǒng)需要根據(jù)閥門電路狀態(tài)對(duì)指示燈進(jìn)行控制。依照系統(tǒng)設(shè)計(jì),本文對(duì)其進(jìn)行了剖析,獲取了電路狀態(tài)表達(dá)式,具體如下:

        if(ValveA->SelectedⅡValveB->Selected)&&(ValveC->SelectedⅡValveD->Selected)then ValveSetStatus(Open);else;ValveSetStatus(Close)

        3.2測(cè)試驗(yàn)證

        該系統(tǒng)表達(dá)式本質(zhì)上不屬于布爾表達(dá)式,因此無法直接應(yīng)用于MC/DC準(zhǔn)則檢測(cè)當(dāng)中,必須先進(jìn)行簡(jiǎn)化,對(duì)此依照準(zhǔn)則原理本文將其簡(jiǎn)化為相關(guān)布爾表達(dá)式,即if(A or B)and(C or D)then Statement1;else;Statement2,式中A、B、C、D分別代表了一種電路狀態(tài),與相關(guān)提示等顏色對(duì)應(yīng),隨后考慮到測(cè)試驗(yàn)證的便捷性,需要對(duì)該表達(dá)式進(jìn)行進(jìn)一步簡(jiǎn)化,再針對(duì)布爾表達(dá)式進(jìn)一步簡(jiǎn)化,可得Z=X and Y,式中X代表A or B、Y代表C or D。其次依照簡(jiǎn)化后得布爾表達(dá)式,獲取系統(tǒng)中獨(dú)立影響結(jié)果的最小測(cè)試集(見表3)進(jìn)行測(cè)試。

        依照表3進(jìn)行方案設(shè)置(詳見2.2測(cè)試技術(shù)方案-MC/DC準(zhǔn)則嵌入式軟件測(cè)試方案),完成后進(jìn)行1-5、1-3、2-4、2-3四個(gè)組別的測(cè)試,要求1-5組別中條件A具有獨(dú)立影響判定結(jié)果的能力;1-3組別中條件B具有獨(dú)立影響判定結(jié)果的能力;2-4組別中條件C具有獨(dú)立影響判定結(jié)果的能力;2-3組別中條件D具有獨(dú)立影響判定結(jié)果的能力,這一基礎(chǔ)上可得組別1-2-3-4-5測(cè)試用例。結(jié)果顯示四組測(cè)試均可生成最小測(cè)試集,代表該系統(tǒng)MC/DC準(zhǔn)則下的覆蓋率達(dá)到100%,系統(tǒng)可靠性、穩(wěn)定性良好。

        4 結(jié)語

        本文對(duì)基于MC/DC準(zhǔn)則的嵌入式軟件測(cè)試技術(shù)進(jìn)行了研究,闡述了嵌入式軟件測(cè)試要求與MC/DC準(zhǔn)則概念,并以MC/DC準(zhǔn)則設(shè)計(jì)了測(cè)試技術(shù)方案,同時(shí)對(duì)方案進(jìn)行了驗(yàn)證。通過文中設(shè)計(jì)方式可得MC/DC準(zhǔn)則嵌入式軟件測(cè)試技術(shù)方案,該方案在驗(yàn)證中具有完整性強(qiáng)、測(cè)試準(zhǔn)確率高的特點(diǎn),可起到對(duì)嵌入式軟件進(jìn)行全面測(cè)試,獲取其覆蓋率的作用。

        參考文獻(xiàn)

        [1]葛德明.實(shí)時(shí)嵌入式軟件的測(cè)試技術(shù)[J].電子測(cè)試,2018,000(010):88-89.

        [2]謝祥南,魏延棟.耦合條件的MC/DC測(cè)試用例集生成算法[J].計(jì)算機(jī)系統(tǒng)應(yīng)用,2017(06):166-171.

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