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        HY分子篩的SO2吸附性能研究

        2020-10-13 12:33:10武傳朋郭大為宋海濤毛安國(guó)達(dá)志堅(jiān)
        石油煉制與化工 2020年10期

        武傳朋,陳 妍,郭大為,宋海濤,毛安國(guó),達(dá)志堅(jiān)

        (中國(guó)石化石油化工科學(xué)研究院,北京 100083)

        SO2主要來(lái)自石油煉制、化學(xué)工業(yè)和煤炭燃燒等過(guò)程的煙氣排放[1],是大氣污染的主要源頭之一,易引發(fā)嚴(yán)重的環(huán)境問(wèn)題,并對(duì)人類(lèi)健康造成嚴(yán)重威脅[2],因此人們?cè)跓煔鈨艋矫孀隽舜罅康难芯?。與濕法脫硫工藝相比,吸附法脫硫無(wú)二次污染產(chǎn)生,工藝簡(jiǎn)單,操作性強(qiáng),對(duì)設(shè)備無(wú)腐蝕,具有較好的環(huán)境效益和經(jīng)濟(jì)效益,成為近年來(lái)的研究熱點(diǎn)。

        吸附材料的選擇是吸附系統(tǒng)設(shè)計(jì)的關(guān)鍵[1]。Y分子篩作為一種具有明確孔結(jié)構(gòu)和獨(dú)特表面性質(zhì)的結(jié)晶硅鋁酸鹽,具有良好的化學(xué)穩(wěn)定性、熱穩(wěn)定性、耐酸性,并可重復(fù)再生,因而近年來(lái)被廣泛應(yīng)用于煙氣中SO2等污染物的吸附脫除研究。

        盡管有關(guān)Y分子篩吸附SO2的研究較多,但關(guān)于硅鋁比對(duì)Y分子篩的SO2吸附性能影響的研究未見(jiàn)報(bào)道,Y分子篩硅鋁比對(duì)其SO2吸附性能的影響機(jī)制尚不明確。本課題選擇3種不同硅鋁比的HY分子篩作為吸附劑,考察其SO2吸附性能,分析探討分子篩表面物理化學(xué)性質(zhì)對(duì)其SO2吸附性能的影響規(guī)律,系統(tǒng)研究并解釋分子篩硅鋁比差異造成SO2吸附性能差異的原因,為Y分子篩應(yīng)用于吸附法脫除煙氣中SO2提供理論依據(jù)。

        1 實(shí) 驗(yàn)

        1.1 吸附劑與原料

        吸附劑為不同硅鋁比的HY分子篩HY-1,HY-2,HY-3,由石科院自制,其基本組成如表1所示。從表1可以看出:HY-1,HY-2,HY-3的硅鋁原子比n(Si)/n(Al)依次增大,另外HY-1,HY-2,HY-3分子篩中均含有極少量的Na2O。試驗(yàn)所用高純N2和壓縮空氣由北京環(huán)宇京輝京城氣體科技有限公司提供,SO2由北京氦普北分氣體工業(yè)有限公司提供。

        表1 HY分子篩的基本組成

        1.2 分子篩表征

        采用美國(guó)Micromeritics公司生產(chǎn)的ASAP 2420型自動(dòng)吸附儀進(jìn)行比表面積和孔體積測(cè)定,通過(guò)BET方法得到吸附材料的BET比表面積,通過(guò)t-plot方法得到材料的微孔比表面積和微孔體積,平均孔徑由總孔體積與BET比表面積計(jì)算得到,孔徑分布通過(guò)BJH法得到。采用荷蘭Panalytical公司生產(chǎn)的X’pert型X射線衍射(XRD)儀測(cè)定分子篩晶體結(jié)構(gòu),測(cè)定條件為:管電壓40 kV、輻射源CuKα(λ=0.154 nm)、掃描速率4(°)/min、掃描角度5°~40°。采用日本理學(xué)株式會(huì)社生產(chǎn)的ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜(XRF)儀測(cè)定分子篩元素組成,激發(fā)電壓為50 kV,激發(fā)電流為50 mA。采用美國(guó)BIO-RAD公司生產(chǎn)的FTS3000型傅里葉變換紅外光譜儀(FT-IR)進(jìn)行分子篩的吡啶-紅外光譜(IR)酸性測(cè)定。采用美國(guó)Micromeritics公司生產(chǎn)的AutochemⅡ2920型化學(xué)吸附儀進(jìn)行分子篩的CO2程序升溫脫附(CO2-TPD)、O2程序升溫脫附(O2-TPD)測(cè)定。采用德國(guó)NETZSCH公司生產(chǎn)的熱質(zhì)聯(lián)用系統(tǒng)QMS403/5 Skimmer進(jìn)行分子篩的熱重-質(zhì)譜(TG-MS)分析。

        1.3 吸附性能評(píng)價(jià)試驗(yàn)

        SO2動(dòng)態(tài)吸附試驗(yàn)在小型固定床評(píng)價(jià)裝置上進(jìn)行,試驗(yàn)裝置由配氣系統(tǒng)、反應(yīng)系統(tǒng)和分析系統(tǒng)3部分組成,其流程示意如圖1所示。由配氣系統(tǒng)配制模擬煙氣,其中SO2,O2,N2的體積分?jǐn)?shù)分別為0.10%,6.00%,93.90%。石英反應(yīng)器內(nèi)徑為16 mm,裝入4 g 100~150目的吸附劑,床層高度約為30 mm。分析系統(tǒng)為北京杰席特科技有限公司生產(chǎn)的MGS300多組分連續(xù)氣體測(cè)量分析系統(tǒng),該系統(tǒng)包含了預(yù)處理單元、美國(guó)萬(wàn)機(jī)儀器有限公司生產(chǎn)的Multigas2030傅里葉變換紅外光譜(FT-IR)準(zhǔn)原位氣體分析儀、澳大利亞NOVATECH公司生產(chǎn)的ZrO-1632/1231氧分析儀和后處理單元。

        圖1 SO2吸附評(píng)價(jià)裝置

        吸附試驗(yàn)條件為:吸附劑床層溫度50 ℃,模擬煙氣流量0.5 L/min,吸附壓力0.005 MPa。煙氣入口SO2濃度和出口SO2濃度分別標(biāo)記為Cin、Cout。當(dāng)Cout/Cin≥0.1時(shí),認(rèn)為SO2已穿透吸附劑床層;當(dāng)Cout/Cin≥0.9時(shí),認(rèn)為SO2已吸附飽和,停止試驗(yàn)。吸附試驗(yàn)結(jié)束后,采用高純N2吹掃,流量為0.5 L/min,直至SO2紅外光譜測(cè)量值為0。以吸附時(shí)間t為橫坐標(biāo)、Cout/Cin為縱坐標(biāo)繪制SO2吸附穿透曲線,并按式(1)計(jì)算吸附劑的SO2飽和吸附容量。

        (1)

        式中:Qsat為SO2飽和吸附容量,mg/g;F為模擬煙氣流量,L/min;m為吸附劑質(zhì)量,g;tsat為吸附飽和時(shí)間,即Cout/Cin=0.9時(shí)的吸附時(shí)間,min。

        2 結(jié)果與討論

        2.1 SO2動(dòng)態(tài)吸附試驗(yàn)

        不同硅鋁比HY分子篩的SO2吸附穿透試驗(yàn)結(jié)果如圖2所示。從圖2可以看出,隨著硅鋁比增大,HY-1,HY-2,HY-3吸附SO2的穿透時(shí)間依次減短,飽和吸附容量依次減小,說(shuō)明HY分子篩對(duì)SO2的吸附性能隨硅鋁比的增大而下降,低硅鋁比的HY分子篩更適用于吸附SO2。

        圖2 HY分子篩的SO2吸附穿透曲線及飽和吸附容量—HY-1; —HY-2; —HY-3

        2.2 孔結(jié)構(gòu)分析

        不同硅鋁比HY分子篩的孔結(jié)構(gòu)分析結(jié)果如表2所示。從表2可以看出,隨著分子篩硅鋁比增大,HY-1,HY-2,HY-3的總比表面積、微孔比表面積、微孔體積依次減小,總孔體積、介孔體積、平均孔徑則依次增大。

        表2 HY分子篩的BET分析結(jié)果

        因HY分子篩微孔孔徑的類(lèi)型及大小較為公知,本課題不再進(jìn)行考察,而僅通過(guò)BJH法得到不同硅鋁比HY分子篩的介孔孔徑分布,如圖3所示。從圖3可以看出,HY-1,HY-2,HY-3的孔徑分布在3.3~4.2 nm左右出現(xiàn)峰值,且隨分子篩硅鋁比增大,峰值高度逐漸增加,說(shuō)明HY分子篩在制備過(guò)程中形成了二次孔結(jié)構(gòu),并隨分子篩硅鋁比增大,二次孔結(jié)構(gòu)體積增加。Y分子篩的十二元環(huán)孔道直徑約為0.74 nm,超籠空腔內(nèi)徑約為1.3 nm。由HY-1,HY-2,HY-3孔徑分布在3.3~4.2 nm左右出現(xiàn)峰值可以推測(cè)其二次孔結(jié)構(gòu)大致相當(dāng)于由2~4個(gè)超籠結(jié)構(gòu)相連形成。

        圖3 HY分子篩的介孔孔徑分布●—HY-1;▲—HY-2; ◆—HY-3

        不同硅鋁比HY分子篩的N2吸附-脫附等溫線如圖4所示。從圖4可以看出:HY-1,HY-2,HY-3的吸附-脫附等溫線中均有回滯環(huán)出現(xiàn),說(shuō)明它們均含有介孔結(jié)構(gòu);隨著分子篩硅鋁比增大,回滯環(huán)寬度增大,說(shuō)明HY分子篩的介孔體積隨硅鋁比的增大而增大。由分子篩介孔體積與總孔體積之比計(jì)算得到HY-1,HY-2,HY-3的介孔占比分別為17.11%,19.34%,39.45%,可見(jiàn)隨著分子篩硅鋁比增大,其介孔占比也增大。

        圖4 HY分子篩的N2吸附-脫附等溫線●—HY-1; ▲—HY-2; ◆—HY-3

        結(jié)合2.1節(jié)結(jié)果可知,HY分子篩的比表面積與其SO2飽和吸附容量有較好的對(duì)應(yīng)關(guān)系,隨著比表面積、微孔體積增大,其SO2飽和吸附容量也增大。HY-1,HY-2,HY-3總孔體積依次增大,但由于微孔體積依次減小,所以總孔體積的增大主要源自其介孔體積的增大。分子篩介孔體積的增大并沒(méi)有促進(jìn)其對(duì)SO2的吸附,SO2的飽和吸附容量與HY分子篩介孔體積成反比關(guān)系。當(dāng)吸附劑表面孔徑大小接近吸附質(zhì)分子臨界尺寸時(shí),吸附質(zhì)最易被吸附,吸附效率最高;而當(dāng)吸附劑孔徑過(guò)大或過(guò)小時(shí),吸附作用迅速減弱。當(dāng)吸附劑的孔徑為吸附質(zhì)分子直徑的1.7~3.0倍時(shí),吸附劑利用率最高[15]。SO2分子臨界直徑為0.411 nm,HY分子篩十二元環(huán)孔道直徑為0.74 nm,超籠空腔內(nèi)徑約為1.3 nm,因此HY分子篩微孔結(jié)構(gòu)較適合SO2的吸附,而當(dāng)HY分子篩形成介孔結(jié)構(gòu)后,其對(duì)SO2的吸附作用減弱。

        2.3 晶相結(jié)構(gòu)分析

        圖5為3種不同硅鋁比HY分子篩的XRD圖譜。從圖5可以看出,HY-1,HY-2,HY-3的衍射峰峰型與Y分子篩的特征衍射峰一致,說(shuō)明HY-1,HY-2,HY-3分子篩均為典型的八面沸石型立方晶系結(jié)構(gòu)。

        圖5 HY分子篩的XRD圖譜

        2.4 酸性質(zhì)分析

        分子篩中B酸酸性位主要來(lái)源于三配位Al與Si形成的Al—OH—Si結(jié)構(gòu)上的羥基基團(tuán),L酸酸性位則是骨架上或骨架外配位不飽和的鋁物種,如AlO+、AlxOy或其他骨架外陽(yáng)離子。不同硅鋁比HY分子篩的酸性質(zhì)如表3所示。從表3可以看出,隨著分子篩硅鋁比增大,HY-1,HY-2,HY-3的總酸量和中強(qiáng)酸酸量依次減小,B酸酸量依次減小,L酸酸量依次增大。分子篩總酸量和中強(qiáng)酸酸量逐漸減小可能是由分子篩脫鋁所致,分子篩骨架鋁脫除會(huì)形成一部分非骨架鋁,形成的非骨架鋁會(huì)平衡一部分骨架負(fù)電荷,從而導(dǎo)致分子篩B酸酸量隨著硅鋁比的增大而減小[16]。分子篩脫鋁過(guò)程中部分鋁從骨架上脫除后并未完全脫離分子篩,而是轉(zhuǎn)變成非骨架鋁繼續(xù)提供酸性位,L酸酸性位來(lái)源于骨架外配位不飽和的鋁物種,因此L酸酸量隨分子篩硅鋁比的增大而增大[17]。

        表3 HY分子篩的酸性質(zhì)分析結(jié)果

        Deo等[6]研究認(rèn)為SO2在HY分子篩上通過(guò)表面羥基形成氫鍵而進(jìn)行物理吸附。Marcu等[5]研究認(rèn)為SO2在Y分子篩上主要通過(guò)表面羥基基團(tuán)形成線性連接和橋式連接進(jìn)行物理吸附和化學(xué)吸附,其吸附結(jié)構(gòu)示意如圖6所示。由以上分子篩酸性質(zhì)分析發(fā)現(xiàn),HY-1,HY-2,HY-3的B酸酸量依次減小,可見(jiàn)HY分子篩的SO2飽和吸附容量隨著B(niǎo)酸酸量的減小而減小,由此推測(cè),B酸酸性位是SO2的吸附位,SO2在B酸酸性位上形成氫鍵而進(jìn)行吸附。同時(shí),HY-1,HY-2,HY-3的L酸酸量依次增大,但SO2飽和吸附容量并未隨之增大,所以L酸酸性位不是SO2的吸附位。

        圖6 SO2在Y分子篩羥基基團(tuán)的吸附結(jié)構(gòu)示意

        2.5 堿性位測(cè)定

        分子篩結(jié)構(gòu)中的堿中心來(lái)源于帶有負(fù)電荷的[AlO4]-四面體,當(dāng)被具有低電負(fù)性的陽(yáng)離子補(bǔ)償時(shí)足以產(chǎn)生堿性骨架氧作L堿中心。分子篩的堿性質(zhì)與其骨架氧電負(fù)性直接有關(guān),同時(shí)還與分子篩化學(xué)組成(如分子篩中Al含量)、陽(yáng)離子性質(zhì)和分子篩結(jié)構(gòu)(如鍵長(zhǎng)和鍵角)有關(guān)[18-19]。采用CO2-TPD表征分子篩表面堿性,定義溫度低于300 ℃時(shí)的脫附峰為弱堿性位[20-21],溫度為300~500 ℃時(shí)的脫附峰為中強(qiáng)堿性位,溫度高于500 ℃時(shí)的脫附峰為強(qiáng)堿性位[22]。不同硅鋁比分子篩的CO2-TPD曲線如圖7所示。

        圖7 HY分子篩的CO2-TPD曲線 —HY-1; —HY-2; —HY-3

        從圖7可以看出,HY-1,HY-2,HY-3的CO2脫附峰主要位于溫度小于300 ℃的區(qū)間內(nèi),說(shuō)明3種分子篩的堿性位主要為弱堿性位。HY-1,HY-2,HY-3的CO2脫附峰面積依次減小,說(shuō)明3種分子篩堿性位含量依次降低。另外,HY-1,HY-2,HY-3分子篩CO2脫附峰位置向低溫方向移動(dòng),說(shuō)明3種分子篩堿性強(qiáng)度隨硅鋁比的增大而降低。這主要是因?yàn)榉肿雍Y堿中心主要來(lái)源于帶有負(fù)電荷的[AlO4]-四面體,且氧上電荷隨Al含量降低而降低,因此,分子篩的堿性位含量和堿性強(qiáng)度隨硅鋁比的增大而降低[19]。

        隨著硅鋁比增大,HY-1,HY-2,HY-3的堿性位含量依次降低的趨勢(shì)與SO2動(dòng)態(tài)吸附試驗(yàn)得到的SO2飽和吸附容量變化趨勢(shì)一致,即分子篩堿性位含量越高,SO2飽和吸附量越大。分子篩堿性橋氧原子Al—O—Si可與SO2相互作用,堿性氧原子與SO2的硫原子通過(guò)電子供體-受體相互作用成鍵[7],因此HY分子篩的堿性位是SO2的吸附位,SO2在HY分子篩堿性位上的吸附結(jié)構(gòu)示意如圖8所示。

        圖8 SO2在HY分子篩堿性位上的吸附結(jié)構(gòu)示意

        2.6 O2-TPD分析

        圖9 HY分子篩的O2-TPD曲線 —HY-1; —HY-2; —HY-3

        從圖9可以看出:HY-1,HY-2,HY-3的O2脫附峰位置主要位于溫度小于350 ℃的區(qū)間內(nèi),說(shuō)明HY-1,HY-2,HY-3的表面氧物種主要為表面物理吸附氧和弱化學(xué)鍵鍵合的超氧離子,并以表面物理吸附氧為主;隨著硅鋁比增大,HY-1,HY-2,HY-3的表面化學(xué)吸附氧含量依次降低。

        2.7 TG-MS測(cè)定

        HY-1,HY-2,HY-3吸附SO2飽和后,用N2吹掃,直至吸附試驗(yàn)裝置出口氣體中SO2含量紅外光譜測(cè)量值為0,取出分子篩(分別標(biāo)記為S-HY-1,S-HY-2,S-HY-3)進(jìn)行TG-MS測(cè)定。測(cè)定條件為:以10 ℃/min的升溫速率由50 ℃升溫至1 000 ℃,在1 000 ℃下穩(wěn)定20 min。

        圖10為HY分子篩吸附SO2前后的熱重曲線,其中虛線為未吸附SO2時(shí)的熱重曲線,實(shí)線為吸附SO2后的熱重曲線。對(duì)吸附SO2后分子篩熱重測(cè)試過(guò)程中的SO2進(jìn)行質(zhì)譜檢測(cè),結(jié)果如圖11所示。

        圖10 HY分子篩吸附SO2前后的TG曲線

        圖11 吸附SO2后HY分子篩熱重測(cè)試過(guò)程中的SO2質(zhì)譜檢測(cè)曲線■—S-HY-1; ●—S-HY-2; ▲—S-HY-3

        從圖10可以看出,吸附SO2后的HY分子篩存在3個(gè)主要的失重段,第一個(gè)失重段在50~250 ℃之間,主要由分子篩物理吸附水和少量物理吸附SO2失重產(chǎn)生,第二個(gè)失重段在250~550 ℃之間,主要由分子篩化學(xué)吸附水和以弱化學(xué)鍵結(jié)合的SO2失重產(chǎn)生,第三個(gè)失重段在550~1 000 ℃之間,主要由分子篩強(qiáng)化學(xué)吸附的SO2失重產(chǎn)生。

        從圖11可以看出:質(zhì)譜在550 ℃之后可檢測(cè)到S-HY-1表面硫酸鹽熱分解產(chǎn)生的SO2信號(hào),約在900 ℃時(shí)SO2信號(hào)達(dá)到最高;S-HY-2表面吸附硫在熱重測(cè)試過(guò)程分解產(chǎn)生的SO2主要在350~750 ℃之間被檢測(cè)到,在900 ℃附近產(chǎn)生了一個(gè)SO2信號(hào)峰;S-HY-3在整個(gè)熱重測(cè)試過(guò)程中幾乎檢測(cè)不到SO2信號(hào),在850 ℃附近產(chǎn)生了一個(gè)較小的SO2信號(hào)峰。以上結(jié)果說(shuō)明,隨著硅鋁比的增大,HY分子篩化學(xué)吸附SO2的量依次降低,即SO2發(fā)生氧化吸附的程度隨分子篩硅鋁比的增大而降低。

        與2.6節(jié)O2-TPD分析結(jié)果對(duì)比發(fā)現(xiàn),HY分子篩表面化學(xué)吸附氧含量隨硅鋁比增大而依次降低的規(guī)律與HY分子篩化學(xué)吸附SO2的量有較好的對(duì)應(yīng)關(guān)系,即低硅鋁比分子篩表面含有更豐富的化學(xué)吸附氧物種,促進(jìn)了SO2在分子篩表面的化學(xué)吸附,由此可以推斷,分子篩表面氧和堿性位的共同作用促進(jìn)了SO2的吸附。

        3 結(jié) 論

        (1)隨著硅鋁比增大,HY分子篩的SO2穿透時(shí)間依次減短,SO2飽和吸附容量依次減小,說(shuō)明增大硅鋁比不利于HY分子篩吸附SO2。

        (2)HY-1,HY-2,HY-3的SO2飽和吸附容量隨著分子篩B酸酸量的減小而減小,說(shuō)明B酸酸性位是分子篩吸附SO2的吸附位;HY-1,HY-2,HY-3的L酸酸量依次增大,但SO2飽和吸附容量并未隨著分子篩L酸酸量的增大而增大,所以L酸酸性位不是分子篩吸附SO2的活性位。

        (3)隨著硅鋁比增大,HY分子篩堿性位含量依次降低,分子篩的SO2飽和吸附容量與分子篩的堿性位含量成正相關(guān),說(shuō)明分子篩表面的堿性位是分子篩吸附SO2的活性位。

        (4)隨著硅鋁比增大,HY分子篩表面化學(xué)吸附氧含量依次降低,與其化學(xué)吸附SO2的量有較好的對(duì)應(yīng)關(guān)系,即低硅鋁比分子篩表面含有更豐富的化學(xué)吸附氧物種,促進(jìn)了SO2在分子篩表面的化學(xué)吸附。

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