秘海曉

摘? 要：隨著科技的逐漸發(fā)展，電子產(chǎn)品的種類也得到了相應(yīng)的擴(kuò)充與豐富。電子元器件作為組成電子產(chǎn)品的基本單元，其功能與性能也得到了提升與優(yōu)化。本文以網(wǎng)絡(luò)化的電子元器件作為研究對(duì)象，探討其當(dāng)下的各種應(yīng)用性能指標(biāo)，并對(duì)其可靠性進(jìn)行測(cè)試與分析， 尤其是當(dāng)前電子元器件被廣泛應(yīng)用于航空、航天、船舶等重要軍工企業(yè)的關(guān)口，討論電子元器件的可靠性與各項(xiàng)指標(biāo)更是有了特別的意義。

關(guān)鍵詞：網(wǎng)絡(luò)化? 電子元器件? 可靠性? 測(cè)試

中圖分類號(hào)：TP273 ? ? ? ? ? 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1674-098X（2020）07（a）-0098-03

Abstract： With the gradual development of science and technology， the types of electronic products have been correspondingly expanded and enriched. As the basic unit of electronic products， the function and performance of electronic components have been improved and optimized. In this paper， the networked electronic components are taken as the research object， and their current application performance indexes are discussed， and their reliability is tested and analyzed， especially the electronic components are widely used in aviation， aerospace， ships and other important military enterprises. It is of special significance to discuss the reliability and indexes of electronic components.

Key Words： Networking; Electronic components; Reliability; Test

1? 可靠性試驗(yàn)的原理

可靠性試驗(yàn)總體上來說是一種效率極高的試驗(yàn)技術(shù)手段，它可以充分地顯現(xiàn)產(chǎn)品的不足之處，所基于的原理是，施加給電子元器件一定的強(qiáng)化環(huán)境應(yīng)力，借此來激發(fā)其失效?？煽啃栽囼?yàn)包含應(yīng)力壽命試驗(yàn)、步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)等。在網(wǎng)絡(luò)化的電子元器件的組成系統(tǒng)中，可靠性試驗(yàn)的主要作用就是及時(shí)找出元器件中存在的問題與故障，并對(duì)該問題存在的原因進(jìn)行深入探討?？煽啃栽囼?yàn)為了實(shí)現(xiàn)上述效果，應(yīng)當(dāng)采取的措施是，采用系統(tǒng)的方式，逐漸地增加工作的應(yīng)力和周圍的環(huán)境壓力，而不是對(duì)單個(gè)元器件進(jìn)行詳盡的排查。當(dāng)前，可靠性試驗(yàn)主要應(yīng)用于電子元器件的設(shè)計(jì)應(yīng)用初期，起到把關(guān)的作用。一方面，可靠性試驗(yàn)可以率先起到測(cè)試的效果，以精準(zhǔn)的方式給出具體全面的檢測(cè)數(shù)值;另一方面，通過可靠性試驗(yàn)檢測(cè)出的產(chǎn)品缺陷，可以盡快地交予技術(shù)部門，責(zé)令其改進(jìn)，以免產(chǎn)品缺陷得到大范圍的傳播，影響武器裝備的使用[1]。

2? 可靠性試驗(yàn)的測(cè)試流程

2.1 建立試驗(yàn)剖面

可靠性試驗(yàn)的第一環(huán)節(jié)，就是獲取電子元器件的失效機(jī)理。這就要求試驗(yàn)人員首先確定電子元器件的試驗(yàn)應(yīng)力，根據(jù)電子元器件所適用的工作環(huán)境建立可靠性試驗(yàn)參數(shù)剖面。在試驗(yàn)開始前，預(yù)先搜集與該電子元器件相同類別的其他電子元器件，或者在功能上、使用性能上類似的電子元器件的相關(guān)資料，分析它們?cè)?jīng)出現(xiàn)的失效機(jī)理，結(jié)合在本電子元器件上的試驗(yàn)結(jié)果分析，最后能夠得到具體的試驗(yàn)結(jié)果。

2.2 進(jìn)行應(yīng)力分析

根據(jù)第一環(huán)節(jié)得到的試驗(yàn)結(jié)果，結(jié)合試驗(yàn)人員的專業(yè)技能，對(duì)該電子元器件進(jìn)行相關(guān)的應(yīng)力分析。首先，應(yīng)當(dāng)將各項(xiàng)可能的影響因素進(jìn)行分類，根據(jù)具體的應(yīng)力數(shù)值，將已分類的影響因素套用到相應(yīng)數(shù)值上。隨后，試驗(yàn)人員應(yīng)當(dāng)進(jìn)行多次的模擬仿真試驗(yàn)，對(duì)已分析過的電子元器件的試驗(yàn)剖面進(jìn)行一定的優(yōu)化與升級(jí)，并根據(jù)得到的各項(xiàng)敏感參數(shù)，制定具體的測(cè)試分析方法，選取適當(dāng)?shù)臏y(cè)試工具，以便后續(xù)制定完善的試驗(yàn)方案，注意要及時(shí)記錄試驗(yàn)的各項(xiàng)進(jìn)程與各項(xiàng)參數(shù)，以保證在后續(xù)總結(jié)歸檔時(shí)有據(jù)可依。

2.3 快速溫變循環(huán)試驗(yàn)

根據(jù)以往的工作經(jīng)驗(yàn)，試驗(yàn)人員經(jīng)常使用的可靠性試驗(yàn)的分析方法是快速溫變循環(huán)試驗(yàn)，該種方法的試驗(yàn)要求可具體劃分為以下五部分。

（1）溫度上下線。溫度上下線的含義是指，電子元器件的缺陷在運(yùn)行最終發(fā)展為故障時(shí)，循環(huán)數(shù)最少的情況下，上下線溫度的具體數(shù)值。所謂上限，就是指在高溫工作的極限值處減去5℃時(shí)數(shù)值。所謂下限，就是指比低溫工作極限還要在再上調(diào)5℃。當(dāng)然，這一規(guī)定并不是一成不變的，在實(shí)際試驗(yàn)進(jìn)行中，試驗(yàn)人員也可以根據(jù)具體情況靈活調(diào)整，例如，可以選擇不高于電子元器件毀壞的臨界點(diǎn)的80%作為溫度上下限。

（2）溫變率。通常來說，溫度的變化率會(huì)控制在每分鐘不低于15℃，不高于60℃范圍之內(nèi)。因?yàn)閷?duì)于實(shí)際的可靠性試驗(yàn)來說，溫度變化過于頻繁，即溫度的變化率的數(shù)值過于復(fù)雜，就會(huì)導(dǎo)致試驗(yàn)的時(shí)間被延長(zhǎng)，或者試驗(yàn)的結(jié)果不夠精準(zhǔn)，這都會(huì)使得工作效率減慢，進(jìn)而造成時(shí)間和資源的浪費(fèi)。

（3）上下限溫度保持時(shí)間。這一保持時(shí)間指的是一段范圍，即網(wǎng)絡(luò)化電子元器件的上下限的浸泡時(shí)間，以及電子元器件的溫度想要達(dá)到穩(wěn)定的狀態(tài)所需要的完整時(shí)間。通常來說，上下限的浸泡時(shí)間一般要持續(xù)10min以上，但不高于30min。由于此前提到的失效循環(huán)試驗(yàn)并不是對(duì)電子元器件高溫低溫極限的分析。而是對(duì)其耐受溫度變化率的測(cè)量，因此，在實(shí)際的試驗(yàn)過程中，電子元器件的上下限溫度一般會(huì)持續(xù)在20min左右。

（4）溫度循環(huán)的次數(shù)。控制溫度循環(huán)的次數(shù)對(duì)于試驗(yàn)人員來說還是很有必要的，因?yàn)榇螖?shù)過多，造成的試驗(yàn)方所花費(fèi)的實(shí)際金額也會(huì)增多，這在一定程度上會(huì)給試驗(yàn)方帶來一定的經(jīng)濟(jì)壓力。因此，建議在溫度變化率達(dá)到每分鐘30℃時(shí)，所需要的循環(huán)次數(shù)盡量控制在6次以內(nèi)，如果在實(shí)際操作中，電子元器件并沒有出現(xiàn)故障，那么試驗(yàn)人員可以結(jié)合實(shí)際情況與自己的工作經(jīng)驗(yàn)適當(dāng)?shù)靥岣邷囟鹊淖兓省?/p>

2.4 敏感參數(shù)在線測(cè)試

網(wǎng)絡(luò)化電子元器件的某些結(jié)構(gòu)性參數(shù)在實(shí)際投入到應(yīng)力環(huán)境中時(shí)，會(huì)存在一定的偏差，在學(xué)術(shù)上來說，這些偏差數(shù)值就是人們常會(huì)碰到的敏感參數(shù)。敏感參數(shù)的作用，就是會(huì)影響可靠性試驗(yàn)的效果，使得電子元器件的各項(xiàng)具體的參數(shù)值出現(xiàn)偏差。如電子元器件的性能指標(biāo)、功能指標(biāo)、應(yīng)用技術(shù)指標(biāo)等。因此，應(yīng)當(dāng)在試驗(yàn)過程中對(duì)敏感參數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)的檢測(cè)與跟進(jìn)，以免電子元器件本身出現(xiàn)了某種缺陷而不為人所知，這就會(huì)為后續(xù)的試驗(yàn)操作帶來無法估量的影響[2]。

3? 電子元器件可靠性設(shè)計(jì)

電子元器件的可靠性設(shè)計(jì)，是指盡可能地彌補(bǔ)元器件產(chǎn)生的失效表現(xiàn)，使其能達(dá)到正常的運(yùn)行和參數(shù)指標(biāo)，并符合國(guó)家相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)。這對(duì)于試驗(yàn)設(shè)計(jì)人員來說，是不小的考量，因?yàn)橐龊秒娮釉骷目煽啃栽O(shè)計(jì)，首先需要試驗(yàn)設(shè)計(jì)人員對(duì)該電子元器件具有最基本的掌握和了解，其次，試驗(yàn)設(shè)計(jì)人員應(yīng)當(dāng)對(duì)其他類別的電子元器件的失效情況有基本的認(rèn)知，除此之外，工作人員試驗(yàn)設(shè)計(jì)人員應(yīng)當(dāng)對(duì)外界環(huán)境也有一定的認(rèn)知，即對(duì)電子元器件貯存、使用的位置有一定的掌握，其周圍的自然環(huán)境、運(yùn)輸條件等，也需要相關(guān)的了解。

3.1 電子元器件的降額使用

如果對(duì)電子元器件施加的作用應(yīng)力越大，那么其失效的程度可能越嚴(yán)重，因此必須控制好電子元器件上的作用應(yīng)力，以免降低它的失效率，進(jìn)而延長(zhǎng)電子元器件的運(yùn)行年限。降額就是其中的一項(xiàng)措施，但這種方法不是對(duì)所有的電子元器件都能適用，而是要根據(jù)電子元器件的具體工作參數(shù)和實(shí)際的運(yùn)行性能，由試驗(yàn)方和委托方綜合判斷，才能實(shí)施[3]。

3.2 電子元器件網(wǎng)絡(luò)化系統(tǒng)簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)

網(wǎng)絡(luò)化電子元器件的系統(tǒng)，可以適當(dāng)?shù)厝コ嘤嗟牧慵?，以求提高系統(tǒng)的工作效率與可靠度。這項(xiàng)操作的基本前提是，不能影響系統(tǒng)的正常功能。其次，當(dāng)選擇最初的設(shè)計(jì)方案時(shí)，設(shè)計(jì)人員可以優(yōu)先考慮部件較少的方案，在保證各項(xiàng)功能都能完整實(shí)現(xiàn)的情況下，盡可能地提升運(yùn)行的效率。需要注意的是，不能因?yàn)檫^度追求方案的簡(jiǎn)便和易操作性，而過分地刪減設(shè)計(jì)方案中的電子元器件，這不僅會(huì)導(dǎo)致最終的運(yùn)行效果無法滿足用戶的實(shí)際需求，也可能會(huì)使設(shè)計(jì)人員過多地將精力投放在系統(tǒng)的優(yōu)化上，可謂得不償失。

4? 結(jié)語(yǔ)

電子產(chǎn)品在武器裝備中所扮演的角色越來越重要，與電子產(chǎn)品密切相關(guān)的電子元器件的可靠性被廣泛關(guān)注。當(dāng)下，與網(wǎng)絡(luò)化電子元器件相關(guān)的可靠性測(cè)試試驗(yàn)與分析應(yīng)用較廣，通過一系列試驗(yàn)驗(yàn)證流程的操作，可以較快地發(fā)現(xiàn)電子元器件存在的缺陷與不足，并通過一定手段的改進(jìn)，使得電子元器件的性能和工作參數(shù)指標(biāo)均實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的提升。

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