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        (Au-Probe)@SiO2單層納米粒子膜制備及表面增強拉曼光譜研究

        2020-09-05 03:44:56張晨杰徐敏敏姚建林
        光譜學(xué)與光譜分析 2020年9期
        關(guān)鍵詞:信號

        劉 恪, 張晨杰, 徐敏敏, 姚建林

        蘇州大學(xué)材料與化學(xué)化工學(xué)部, 江蘇 蘇州 215123

        引 言

        表面增強拉曼光譜(SERS)由于其高增強效應(yīng)和高選擇性, 在表面科學(xué)領(lǐng)域的研究中具有巨大優(yōu)勢, 在化學(xué)、 材料科學(xué)、 納米科學(xué)及生命科學(xué)等領(lǐng)域的基礎(chǔ)和應(yīng)用研究中應(yīng)用廣泛, 如電催化[1]、 高分子材料[2]、 生物傳感器、 單分子檢測[3]等。 研究表明, 金屬基底的種類、 表面粗糙度、 表面形貌結(jié)構(gòu)、 粒子的大小及間距等因素均顯著影響SERS信號[4-6]。 表面等離激元共振(surface plasmons resonance, SPR)作為SERS信號的最主要貢獻(xiàn)者, 同時受基底狀態(tài)、 激發(fā)波長、 周圍環(huán)境等多種因素的影響[7-9]。 而SERS的應(yīng)用環(huán)境如空氣, 水、 有機溶劑等介質(zhì)也對檢測也產(chǎn)生重要影響。 因此, 有必要研究SERS效應(yīng)的影響。

        迄今為止, 對影響基底增強效應(yīng)的多種因素已有廣泛研究, 然而對所處環(huán)境介質(zhì)的影響研究鮮有報道, 究其原因, 主要是大多數(shù)SERS基底的均勻性與重現(xiàn)性較差, 難以進行橫向的對比, 進而無法準(zhǔn)確、 靈敏地分析環(huán)境改變對SERS效應(yīng)的影響。

        Li等[11]發(fā)明了殼層隔絕納米粒子增強拉曼光譜(shell-isolated nanoparticle-enhanced Raman spectroscopy, SHINERS), 將具有高SERS效應(yīng)的金或銀納米粒子表面包裹一層超薄致密無針孔的惰性SiO2或Al2O3殼層, 以殼層內(nèi)的金、 銀納米粒子為電磁場增強源。 作為一種非接觸模式, SHINERS模型避免了待測分子與SERS增強源間的直接接觸, 使結(jié)果更具真實性, 能準(zhǔn)確反映分子在目標(biāo)基底上的吸附行為[11], SHINERS技術(shù)的出現(xiàn)再次將SERS的普適性、 靈活性和便捷性提升到新的高度, 這類基底若能進行組裝, 則可望得到具有較好重現(xiàn)性的SERS基底。

        本研究制備了Au@SiO2二元核殼結(jié)構(gòu), 將探針分子修飾在包裹層內(nèi), 形成(Au-probe)@SiO2粒子, 分別以對巰基苯甲酸(pMBA)和對硝基苯硫酚(PNTP)為探針, 制備不同粒徑的(110 nm Au- pMBA)@SiO2和(55 nm Au- PNTP)@SiO2二元核殼納米粒子, 由于探針分子的表面覆蓋度確定, 通過探針分子的SERS信號可反映SERS基底的增強行為, 因此在研究外界環(huán)境的影響時具有顯著的優(yōu)越性。 通過液液兩相界面法制備(Au-probe)@SiO2納米粒子的單層膜(nanoparticles monolayer films, NMFs), 以此為SERS基底, 考察了介質(zhì)環(huán)境對SERS效應(yīng)的影響。

        1 實驗部分

        1.1 Au納米粒子的制備

        (1)15 nm Au納米粒子的制備。 100 mL的0.01%(w/v%)的氯金酸水溶液劇烈攪拌下加熱至沸騰, 迅速注入2 mL 1%(w/v%)檸檬酸鈉水溶液, 溶液由淺黃色變黑再逐漸變?yōu)榱良t色。 繼續(xù)攪拌回流15 min后冷卻至室溫, 即得到15 nm Au納米粒子。

        (2)55 nm Au粒子的制備。 與15 nm Au制備類似, 注入0.75 mL 1%(w/v%)檸檬酸鈉水溶液即可。

        (3)110 nm Au的制備。 取400 μL的15 nm Au納米粒子溶膠加入96 mL超純水、 220 μL 1%(w/v%)的檸檬酸鈉水溶液和1 mL 1%(w/v%)氯金酸水溶液, 攪拌下快速注入1 mL 3.3 mg·mL-1的對苯二酚水溶液, 溶液即刻由淡黃色變?yōu)樽宵S色, 直到變?yōu)橥咙S色, 即得到110 nm的Au納米粒子, 將制備的110 nm Au放置過夜, 于90 ℃下加熱煮沸1 h去除還原劑, 冷卻備用。

        1.2 (Au-probe)@SiO2二元納米粒子的制備

        參照文獻(xiàn)[10]的方法, 在Au納米粒子表面包裹SiO2殼層。 由于在其內(nèi)嵌入探針分子, 需對制備步驟稍加修正。

        (1)取10 mL 110 nm Au納米粒子溶膠加入15 μL 1 mmol·L-1的pMBA乙醇溶液, 攪拌30 min后加入135 μL 1 mmol·L-1的(3-巰丙基)三甲氧基硅烷(MPTMS)乙醇溶液, 再次攪拌15 min后加入1 080 μL 0.54(w/v%)的Na2SiO3水溶液(pH 10.5左右), 3 min后立即轉(zhuǎn)移至96 ℃的水浴中, 反應(yīng)1.5 h, 取出置于冰水浴中急速冷卻至室溫, 離心清洗2~3次, 即可得到以110 nm Au為內(nèi)核的(Au-pMBA)@SiO2, 濃縮至5 mL待用。

        (2) (55 nm Au-PNTP)@SiO2二元核殼納米粒子的制備方法與(110 nm Au-pMBA)@SiO2相似, 其中使用的探針分子為PNTP, 硅烷偶聯(lián)劑為氨丙基三甲氧基硅烷(APTMS)的水溶液, 96 ℃的水浴鍋中反應(yīng)時間為0.5 h, 其余實驗條件均保持不變。

        1.3 液液界面(Au-probe)@SiO2二元納米粒子單層膜的制備

        采取液液兩相界面法制備(Au-pMBA)@SiO2二元納米粒子單層膜。 首先, 取2 mL濃縮后的(Au-probe)@SiO2溶膠加入至10 mL小燒杯中, 再加入400 μL甲苯, 形成甲苯在上層、 溶膠在下層清晰的油水兩相界面。 沿?zé)诰徛渭覦MF, 發(fā)現(xiàn)粒子由水相向油相運動, 并在兩相界面上被捕獲形成單層納米粒子膜。 靜置1 min后, 再沿著燒杯壁緩慢滴加丙酮。 迅速用提拉法將單層膜轉(zhuǎn)移至硅片表面, 以無水乙醇多次沖洗后晾干備用。

        1.4 拉曼光譜測定

        首先在干燥基底上測得探針分子的SERS譜圖。 隨后, 在基底表面滴加少量的液體介質(zhì), 獲得介質(zhì)環(huán)境中的SERS譜圖。 由于表面張力, 液滴在基底表面呈中間厚邊緣薄的半球形。 激光在穿透該液膜時會發(fā)生反射和折射等光學(xué)過程, 降低了到達(dá)基底表面的激光功率, 從而降低SERS信號。 為了降低該現(xiàn)象對實驗的影響, 采用在樣品表面覆蓋極薄的石英片的方法, 有效削弱光的衰減。

        2 結(jié)果與討論

        2.1 納米粒子和單層膜的形貌表征

        納米粒子表征圖1(a)和(c)是合成的55和110 nm的Au納米粒子的TEM圖。 由圖可見, 兩種納米粒子均呈準(zhǔn)球形。 圖1(b)和(d)為(Au-probe)@SiO2二元核殼納米粒子的TEM圖, 其中b以55 nm Au為核, 平均殼層厚度約為3.5 nm, d以110 nm Au為核, 平均殼層厚度約為4.0 nm, 所制備的SiO2殼層連續(xù)性、 完整性和均一性良好。

        單層膜的形貌表征圖2(a)和(b)分別為SiO2殼層厚度為3.5 nm的(55 nm Au-PNTP)@SiO2和殼層厚度為4 nm的(110 nm Au-pMBA)@SiO2二元納米粒子單層膜的SEM。 納米粒子排列緊密, 分散性較好, 幾乎未觀察到雙層或多層結(jié)構(gòu)。

        圖1 55 nm Au (a), (55 nm Au-PNTP)@SiO2 (b), 110 nm Au (c) and (110 nm Au-pMBA)@SiO2 (d)納米粒子的TEM形貌圖

        圖2 (55 nm Au-pMBA)@SiO2單層膜(a)和(110 nm Au-pMBA)@SiO2單層膜(b)的SEM表征(標(biāo)尺: 200 nm)

        2.2 單層膜的性能表征

        雖然由之前的TEM表征可初步判斷核殼結(jié)構(gòu)納米粒子殼層結(jié)構(gòu)的完整性, 但由于不同Au晶面上Na2SiO3的水解速率可能存在差異, 導(dǎo)致其殼層包裹和生長的速度快慢不一, 從而形成不連續(xù)島狀結(jié)構(gòu)SiO2。 因此, 進一步借助CV技術(shù)對粒子的殼層結(jié)構(gòu)進行考察。 將(Au-probe)@SiO2納米粒子濃縮液滴加在玻碳電極表面進行CV測試(如圖3所示), 其中(c)為未包裹SiO2的110 nm Au的CV曲線, 可以明顯觀察到位于1.3 V左右的Au的氧化峰和位于0.8 V左右的還原峰。 (a)和(b)的CV曲線上均未觀察到上述兩個峰, 表明此時溶膠中所有的粒子均處于完全包裹的狀態(tài)。

        若SiO2殼層存在微小針孔, 但整體殼層是連續(xù)的, 依然可以將內(nèi)核Au與電極隔絕, 從而使Au納米粒子不會發(fā)生電化學(xué)氧化還原反應(yīng)。 為此, 選取吡啶(Py)為探針分子對SiO2殼層進行針孔效應(yīng)測試。 滴加5 μL 10 mmol·L-1的吡啶(Py)水溶液在所制備的(55 nm Au-PNTP)@SiO2或(110 nm Au-pMBA)@SiO2單層膜表面, 蓋上石英片, 等待3 min后進行SERS檢測, 結(jié)果如圖4。

        圖3 (55 nm Au-PNTP)@SiO2 (a), (110 nm Au-pMBA)@SiO2 (b)和110 nm Au (c)納米粒子的循環(huán)伏安曲線

        通常, 若未檢測到吡啶的SERS信號, 則表明SiO2殼層致密無針孔。 圖4(a)和(b)中, 曲線(1)為預(yù)吸附了探針分子的單層膜的譜圖, 所觀察的為典型的探針分子的特征SERS光譜, 曲線(2)為滴加了吡啶溶液后測得的譜圖。 在所制備的(55 nm Au-PNTP)@SiO2和(110 nm Au-pMBA)@SiO2單層膜上的吡啶測試中, 位于1 013 cm-1(吡啶的ν1環(huán)呼吸振動)以及1 038 cm-1(吡啶的ν12對稱三角環(huán)呼吸振動)處[12]的吡啶SERS特征峰均未出現(xiàn), 如圖4(a)和(b)中曲線(2)所示; 表明制備的二元核殼納米粒子的SiO2殼層是致密、 無針孔。

        研究介質(zhì)對SERS效應(yīng)的影響, 需在多個基底上進行橫向的比較, 進而準(zhǔn)確、 靈敏地分析介質(zhì)的改變對SERS效應(yīng)的影響。 這對研究所使用的基底均勻性提出較高的要求。 在二元核殼納米粒子單層膜表面任意選取7 μm×10 μm的區(qū)域, 以1 μm為步長, 對其進行SERS的mapping測試, 考察基底的SERS信號均勻性, 結(jié)果如圖5(a)和(b)所示。 (55 nm Au-PNTP)@SiO2單層膜上PNTP位于1 338 cm-1處峰強度的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差(relative standard deviation, RSD)約為5.38%[見圖5(a)], (110 nm Au-pMBA)@SiO2單層膜上pMBA位于1 077 cm-1處峰強度的RSD約為5.97%[見圖5(b)], 通常RSD為10%以內(nèi)則證明基底的均勻性較好, 因此兩種二元核殼納米粒子單層膜的SERS均勻性良好。

        2.3 介質(zhì)對(Au-probe)@SiO2膜SERS影響

        SERS增強因子與金屬的介電常數(shù)、 介質(zhì)的介電常數(shù)密切相關(guān)。 介質(zhì)的折射率數(shù)值上等于相對介電常數(shù)的平方根, 因此, 可以選擇不同折射率的介質(zhì)研究介電常數(shù)對SERS的影響。 在對Au@SiO2進行針孔測試時, 對Au@SiO2單層膜表面滴加水溶液, 可看作Au@SiO2介質(zhì)由空氣變?yōu)樗?對比圖4(a)和(b)中曲線(1, 2)可知, 水層的加入導(dǎo)致SERS信號強度略降低, 主要由于液體介質(zhì)和石英片的存在, 導(dǎo)致激光和SERS信號穿透液層時不可避免地發(fā)生吸收、 折射和反射等光學(xué)過程, 從而使SERS信號略有降低。

        圖4 (55 nm Au-PNTP)@SiO2單層膜(a)和(110 nm Au-pMBA)@SiO2單層膜(b)表面吡啶的SERS光譜

        圖5 PNTP吸附在(55 nm Au-PNTP)@SiO2 (a)和(110 nm Au-pMBA)@SiO2(b)單層膜表面的SERS成像光譜

        已有文獻(xiàn)報道當(dāng)Au納米粒子間距較小或處于聚集狀態(tài)時, 其SPR吸收峰位置向長波長方向移動; 反之, 當(dāng)Au納米粒子間距較大或處于分散狀態(tài)時, 其SPR吸收峰位置則向短波長方向移動[13]。 在目前研究中, (110 nm Au-pMBA)@SiO2粒子殼層厚度約為4.5 nm, 基底上粒子間間距較大, SPR吸收峰向低波長方向位移。 且由于粒子間距的增加, 相鄰Au納米粒子之間的“熱點”效應(yīng)急劇減小[14], 導(dǎo)致信號強度顯著降低。 (55 nm Au-PNTP)@SiO2粒子殼層厚度約為3.5 nm, 相比于(110 nm Au-pMBA)@SiO2基底SERS活性更強, 為此選用該基底進行不同介質(zhì)及不同激發(fā)線下SERS效應(yīng)的研究, 結(jié)果如圖6(a)和(b)。 在不同波長下, 介質(zhì)由空氣變?yōu)樗畷r, SERS信號幾乎不發(fā)生改變。 由于納米粒子間距較小, Au納米粒子之間的“熱點”效應(yīng)較強, SERS信號明顯強于(110 nm Au-pMBA)@SiO2基底, 因此, 液膜對激光和SERS信號的衰減的影響較小, SERS信號的降低可以忽略。 值得說明的是, 由于不同激發(fā)光下納米粒子對分子拉曼信號的增強具有譜峰位置關(guān)聯(lián)性, 以及檢測器對不同波長的響應(yīng)效率存在差別, 由此導(dǎo)致檢測到或收集到的拉曼信號相對強度發(fā)生變化。

        根據(jù)本課題組以往研究, 在Au納米單層膜表面存在一定的水溶液時, 其SERS信號顯著增強, 這由于Au周圍的介質(zhì)發(fā)生變化所致, 理論模擬表明其SPR的位置發(fā)生位移, SPR與所用的激光更加匹配, 由此SERS信號增強[16]。 本研究中的二元核殼納米粒子單層膜表面, Au核被致密無針孔效應(yīng)的SiO2殼層包裹, 且探針分子內(nèi)嵌其中, 由此完全隔絕了電磁場增強源Au納米粒子及探針分子與介質(zhì)的直接接觸, 當(dāng)改變基底上的介質(zhì)時, 實際上Au核所處的介質(zhì)環(huán)境仍為SiO2(n=1.57), 因此SERS信號不發(fā)生改變。 在上述實驗中, 還發(fā)現(xiàn)作為探針分子的PNTP或pMBA, 由于被包裹在SiO2殼層內(nèi), 介質(zhì)溶劑及氧氣等均無法參與反應(yīng), 因此探針分子未發(fā)生SPR催化反應(yīng), 始終保持穩(wěn)定的光譜特征。 在SiO2的隔絕下, 作為電磁場增強源的Au與變化的介質(zhì)環(huán)境隔絕, 故在(Au-probe)@SiO2二元核殼納米粒子單層膜上, 改變外部介質(zhì)的折射率, 無法引起SERS效應(yīng)的變化, 證明基底上的SERS效應(yīng)只與電磁場增強源周圍的局部折射率相關(guān)。 由此可見類內(nèi)嵌探針分子的二元核殼納米粒子單層膜可作為一種多環(huán)境介質(zhì)下使用的SERS基底, 即可作為增強源用于高靈敏度檢測, 又可作為穩(wěn)定的內(nèi)標(biāo)或標(biāo)記。

        圖6 (55 nm Au-PNTP)@SiO2單層膜分別在638 nm (a)和785 nm (b)激光下空氣和水中的SERS光譜

        3 結(jié) 論

        合成了內(nèi)核尺寸及修飾分子不同的兩種(Au-probe)@SiO2二元核殼納米粒子, 并通過液液兩相成膜的方法制備了單層膜SERS基底。 該基底以殼層內(nèi)的金納米粒子作為電磁場增強源, 具有較高的檢測靈敏度和較好的均勻性。 同時, 通過超薄致密無針孔的惰性SiO2殼層包裹高SERS效應(yīng)的金納米粒子, 避免介質(zhì)環(huán)境與待測分子和SERS增強源間的直接接觸。 在兩種基底上, 不同激發(fā)波長下, 改變外部介質(zhì), SERS效應(yīng)均不發(fā)生明顯變化, 表明介質(zhì)需直接接觸SPR增強源才對SERS產(chǎn)生顯著影響。 此類基底在高靈敏度檢測以及作為穩(wěn)定SERS內(nèi)標(biāo)方面具有重要潛在用途。

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