牛小勇

摘 要： 近年來，隨著社會經(jīng)濟的發(fā)展，科學(xué)技術(shù)水平的提高，對于各個產(chǎn)業(yè)的技術(shù)應(yīng)用也越來越頻繁，并且都取得了較好的成果，通用電子元器件的選用以及檢測是是十分重要的，通過對電子元器件的試驗和分析，進(jìn)行一定程度的篩選，之后進(jìn)行有效的檢測，對于整機的故障修理和維護(hù)具有十分重要的意義。本文通過對通用電子元器件的選用與檢測進(jìn)行分析，提出一些建議，為電子元器件的使用可靠性提供一些參考意見。

關(guān)鍵詞： 通用電子元器件;選用;檢測

【中圖分類號】TU723.3 ? ? 【文獻(xiàn)標(biāo)識碼】A ? ? 【文章編號】1674-3733（2020）13-0192-01

隨著時代的發(fā)展，科學(xué)技術(shù)水平的提高，電子技術(shù)得到了飛速的發(fā)展，并且已經(jīng)廣泛應(yīng)用于航空以及航天領(lǐng)域，對我國的國民經(jīng)濟具有十分重要的意義。電子元器件是在整機系統(tǒng)中占據(jù)十分重要地位的基礎(chǔ)性技術(shù)，隨著其發(fā)展，已經(jīng)逐漸成為核心性技術(shù)。電子的整機系統(tǒng)是由元器件組成的，因此，其質(zhì)量與整機的性能與質(zhì)量息息相關(guān)。整機發(fā)生故障時，絕大部分的原因要歸屬于電子元器件的失效，因此，要對電子元器件的選用與檢測給予極高的重視，保證其質(zhì)量問題。

1 關(guān)于通用電子元器件的選用分析

電子元器件在使用時會存在一些缺陷問題，當(dāng)其受某些因素的影響時，就會呈現(xiàn)出早期失效的現(xiàn)象，因此，在對電子元器件進(jìn)行上機安裝之前，要對一些存在失效風(fēng)險的元器件進(jìn)行篩選，保證整機的性能和安全運轉(zhuǎn)[1]。因此，對電子元器件進(jìn)行選用是十分重要的，對電子元器件進(jìn)行選用，是通過一些實驗方法，將存在潛在風(fēng)險的元器件進(jìn)行排除，從而提煉出符合標(biāo)準(zhǔn)的器件。首先，針對電子元器件的失效問題，主要呈現(xiàn)三個階段，也就是早期失效期以及偶然和損耗失效期，選用階段就是將早期失效的電子元器件進(jìn)行剔除，從而保證電子元器件存在較長并且穩(wěn)定的工作期，提高整機性能的穩(wěn)定性。針對器件的選用主要分為這幾個階段，一級選用、二級選用、補充選用以及升級選用。首先是通過制造廠的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范結(jié)合用戶的需求等進(jìn)行一級選用;之后通過電子元器件的質(zhì)量、規(guī)格等，進(jìn)行試驗項目，整機性能與元器件的性能能否協(xié)調(diào)工作，是否滿足整機運行的標(biāo)準(zhǔn)，對一級選用再次進(jìn)行甄選。補充選用是生產(chǎn)方針對使用方的需求，再次進(jìn)行甄選;升級選用是電子元器件是根據(jù)特殊要求生產(chǎn)，其生產(chǎn)的質(zhì)量高于生產(chǎn)商，對其進(jìn)行針對性的試驗。

針對電子元器件的主要選用方面，有常規(guī)選用，通過典型的試驗性項目，對元器件存在的缺陷進(jìn)行分析。首先，利用存貯試驗對元器件內(nèi)部情況進(jìn)行檢測，內(nèi)部的污染問題、引線焊接問題一級氧化層存在缺陷等，將這類元器件進(jìn)行提前暴露。使用溫度循環(huán)試驗，對元器件的溫度系數(shù)進(jìn)行檢測，是否存在不匹配的現(xiàn)象，并且溫度循環(huán)試驗可以對元器件的芯片存在裂紋的問題進(jìn)行篩選。通過恒定加速度可以對元器件的結(jié)構(gòu)以及機械類型進(jìn)行檢測，并且PIND方法可以對元器件的內(nèi)部存在可移動的多余物質(zhì)情況進(jìn)行排除。使用老煉方法可以對元器件的電氣失效問題進(jìn)行有效的檢測，并且可以得出其時間與應(yīng)力的關(guān)系。

通過對失效元器件的檢漏檢查，可以根據(jù)其封裝的質(zhì)量推斷出其內(nèi)部的泄露程度。除此之外，通過X射線可以有效的篩選塑封電路的工作性能，通過對元器件的外殼進(jìn)行觀察，可以了解到其內(nèi)部是否存在多余的物體、引線是否發(fā)生了斷裂、芯片是否傾斜等。對于電子元器件的應(yīng)力選用，對元器件進(jìn)行選用時，所使用的應(yīng)力不能超過元器件所規(guī)定的應(yīng)力值，強度也不可超過標(biāo)準(zhǔn)。其中使用到的應(yīng)力主要是電應(yīng)力、熱應(yīng)力以及時間應(yīng)力等，并且選用的應(yīng)力也不能過低，不能達(dá)到選用的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，對于缺陷的敏感性不強，應(yīng)力過高也會導(dǎo)致元器件失去正常的功效。因此，根據(jù)元器件的使用標(biāo)準(zhǔn)來對應(yīng)力進(jìn)行選定，通過試驗方法，對失效的元器件進(jìn)行原因分析。

2 關(guān)于電子元器件的檢測分析

以往的電子元器件檢測手段是較為單一的，通過測量元件的一個參數(shù)數(shù)據(jù)，實現(xiàn)多個參數(shù)數(shù)據(jù)的傳遞、定位以及測量，這會在一定程度上造成元件的表面產(chǎn)生不同程度的摩擦，降低產(chǎn)品的質(zhì)量[2]。通過一個測量元件的多個參數(shù)數(shù)據(jù)測量，可以大大降低元器件的上下料輔助時間，提高檢測的效率，降低元器件的損傷概率，提高產(chǎn)品的應(yīng)用價值。在對元器件進(jìn)行檢測時，采用單片機實現(xiàn)對繼電器和模擬開關(guān)的控制，以此將元器件的引腳接入到電阻測量中，包括電容測量等，通過對不同的參數(shù)進(jìn)行測量，將測量的結(jié)果進(jìn)行自動的記錄。其中引腳的測量方式需要滿足在同一引腳的前提下對來對各個不同的區(qū)點進(jìn)行測量，因此，另外的參數(shù)數(shù)據(jù)需要在管腳之間進(jìn)行測量，這是需要選取三個測量點予以測量。

對于元器件的引腳進(jìn)行檢測，需要使用單片機進(jìn)行驅(qū)動，也就是CCD傳感器檢測系統(tǒng)。這一系統(tǒng)對于檢測的信號同樣會進(jìn)行感應(yīng)，實現(xiàn)與其他參數(shù)的共同運作，通過將檢測系統(tǒng)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行整合分析，以此來判斷元器件的引腳標(biāo)準(zhǔn)，之后會將結(jié)果反饋到檢測單片機。之后檢測系統(tǒng)會將所有的參數(shù)數(shù)據(jù)進(jìn)行研究，對電子元器件的質(zhì)量進(jìn)行整體的判斷，實現(xiàn)與上位機的通訊連接，將結(jié)果和數(shù)據(jù)進(jìn)行展示，實現(xiàn)記錄和存儲，方便日后的查閱。電子元器件的引腳可焊性要給予重視，在一定程度的溫度以及助焊劑存在的情況下，要使母線表面以及軟焊的材料進(jìn)行良好的結(jié)合，其存在母線表面較容易受熔融材料潤濕的特性。

總結(jié)：

隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，電子元器件的使用也逐漸頻繁，其對整機性能的穩(wěn)定性具有十分重要的意義。根據(jù)研究表明，整機性能故障與電子元器件的故障具有十分重要的聯(lián)系，因此，對電子元器件的選用以及檢測是尤為重要的。通過對元器件進(jìn)行故障的誘發(fā)，予以試驗，將潛在失效的元器件進(jìn)行排除，利用自動技術(shù)對電子元器件進(jìn)行檢測，實現(xiàn)元器件的選用與檢測的高效性。電子元器件的性能穩(wěn)定，失效性降低，對整機的正常運行以及壽命周期具有積極意義。

參考文獻(xiàn)

[1] 謝宗華， 趙慶松. 基于電子元器件技術(shù)的光滑工件尺寸檢驗和測量器具的選用[J]. 電子技術(shù)與軟件工程， 2016， 94（20）：258-258.

[2] 段旭紅. 軍用電子元器件等級及選用[J]. 大科技， 2017， 000（023）：289.