王甫明

摘要：對(duì)電子元器件可靠性評(píng)價(jià)及質(zhì)量控制進(jìn)行研究，總結(jié)影響電子元器件使用的因素，旨在通過(guò)評(píng)價(jià)方案的完善以及質(zhì)量控制策略的完善等，優(yōu)化電子元器件的設(shè)計(jì)方案，以更好地推動(dòng)電子產(chǎn)業(yè)的穩(wěn)步運(yùn)行。

關(guān)鍵詞：電子元器件;可靠性評(píng)價(jià);質(zhì)量控制

一、電子元器件可靠性評(píng)價(jià)

（一）電子元器件的可靠性

在電子元器件使用中，缺陷現(xiàn)象是較為常見(jiàn)的，為了更好地提高系統(tǒng)運(yùn)行效率，需要將非破壞性篩選試驗(yàn)作為核心，以便及時(shí)發(fā)現(xiàn)元器件中存在的隱患問(wèn)題。而且，在設(shè)備的可靠性篩選中，相關(guān)設(shè)備操作者可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)元器件的故障損害，而且也可以通過(guò)各個(gè)流程的設(shè)計(jì)以及制造方案的優(yōu)化，創(chuàng)新電子元器件的可靠性質(zhì)量審查體系，以增強(qiáng)產(chǎn)品的可靠性[1]。

（二）電子元器件可靠性評(píng)價(jià)

1.芯片級(jí)。在電子元器件的可靠性評(píng)價(jià)中，芯片級(jí)的可靠性評(píng)價(jià)是較為重要的，主要是在芯片生產(chǎn)的過(guò)程中，對(duì)失效的芯片進(jìn)行評(píng)價(jià)，通過(guò)芯片使用方法以及使用狀況的分析，提高芯片的可靠性及整體質(zhì)量，以實(shí)現(xiàn)芯片工藝監(jiān)測(cè)的目的。而且，在芯片級(jí)的可靠性評(píng)價(jià)中，通過(guò)各項(xiàng)數(shù)據(jù)監(jiān)測(cè)，可以準(zhǔn)確、科學(xué)的評(píng)價(jià)出集成電路中的電子原件使用狀況，并按照系統(tǒng)操作的特點(diǎn)，進(jìn)行芯片級(jí)原件的數(shù)據(jù)監(jiān)測(cè)，有效提高電子元器件的可靠性[2]。

2.微電子測(cè)試結(jié)構(gòu)。根據(jù)電子元器件的使用特點(diǎn)，在可靠性評(píng)價(jià)中，通過(guò)微電子測(cè)試結(jié)構(gòu)的設(shè)定，可以在可靠性技術(shù)評(píng)價(jià)中，對(duì)集成電路的可靠狀態(tài)進(jìn)行分析，以增強(qiáng)各個(gè)設(shè)備檢測(cè)以及評(píng)價(jià)的效果。而且，在對(duì)不同器件的失效模式診斷中，系統(tǒng)會(huì)根據(jù)元器件的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，繪制成差異性的微電子結(jié)構(gòu)圖形，有效避免微電子測(cè)試結(jié)構(gòu)故障隱患的出現(xiàn)。

3.結(jié)構(gòu)工藝質(zhì)量。 第一，對(duì)于電子元器件中的試驗(yàn)?zāi)Ｊ?，需要?duì)設(shè)備的結(jié)構(gòu)及材料進(jìn)行可靠性論證，以增強(qiáng)元器件結(jié)構(gòu)的工藝性能。第二，在生產(chǎn)線的工藝設(shè)備質(zhì)量控制中，為了增強(qiáng)設(shè)備系統(tǒng)的可控制力以及檢測(cè)能力，相關(guān)的技術(shù)人員以及檢測(cè)人員需要掌握電子元器件的設(shè)計(jì)方案，通過(guò)結(jié)構(gòu)工藝的整合，保證各項(xiàng)設(shè)備操作的一致性，實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)工藝質(zhì)量可靠性評(píng)價(jià)的目的[3]。

二、電子元器件的質(zhì)量控制方案

（一）確定電子元器件的可靠性篩選方案

第一，在電子元器件裝機(jī)之前，設(shè)備維護(hù)人員應(yīng)該及時(shí)發(fā)現(xiàn)失效元器件，通過(guò)對(duì)設(shè)備故障的診斷及處理，避免失效電子元器件的使用，以提高電子元器件的質(zhì)量控制目的。第二，在進(jìn)行電子元器件篩選中，可以降低設(shè)備故障及電子元器件的損耗，所以，在具體的篩選中，需要明確篩選方案：首先，去除早期的實(shí)效產(chǎn)品;其次，在強(qiáng)力篩選中，提高故障電子元器件的篩選效率，有效避免電子設(shè)備出現(xiàn)新的失效模式;最后，電子元器件篩選中，應(yīng)該考慮元器件的性能，最后按照電子元器件的使用需求，確定科學(xué)化的篩選方案。第三，細(xì)化篩選項(xiàng)目。首先，高溫貯藏法。對(duì)于該種篩選方法而言，主要是根據(jù)電子元器件的溫度變化，對(duì)元器件的內(nèi)部及表面變化進(jìn)行分析，具體的篩選條件如表一所示。如，在電子元器件篩選中，當(dāng)出現(xiàn)溫度增高的問(wèn)題，會(huì)使電子元器件的化學(xué)反應(yīng)加速，從而導(dǎo)致元器件失效了過(guò)高。其次，電功率篩選。在電子元器件質(zhì)量控制中，為了提高元器件的可靠性，需要確定電功率篩選方式。對(duì)于該種方式而言，需要使用專業(yè)的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，在一定的時(shí)間條件下，可以對(duì)不同的電子元器件的功率進(jìn)行分析，之后按照電子元器件的不同條件，確定適合性的篩選方案（表1）。

（二）電子元器件設(shè)計(jì)中的質(zhì)量控制

在電子元器件設(shè)計(jì)中，應(yīng)該設(shè)計(jì)以下質(zhì)量控制方案：第一，在電子元器件的設(shè)計(jì)方案確定中，需要按照設(shè)備的操作狀況，擬定元器件的選擇及控制準(zhǔn)備，并建立元器件的選擇目錄，以增強(qiáng)電子元器件的控制及處理辦法，充分展現(xiàn)元器件設(shè)備控制的規(guī)范性。第二，在工程樣機(jī)的設(shè)計(jì)階段，需要對(duì)電子元器件的測(cè)試、篩選等進(jìn)行分析，并保證各項(xiàng)參數(shù)確定的可靠性，避免失效電子元器件對(duì)電子設(shè)備造成的影響，并確定電子元器件的篩選等級(jí)。第三，結(jié)合電子元器件的設(shè)定方案，需要將技術(shù)設(shè)計(jì)、參數(shù)固化等作為重點(diǎn)，要求電子元器件的質(zhì)量控制人員按照項(xiàng)目生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量等級(jí)以及驗(yàn)收條件等，對(duì)電子元器件進(jìn)行專項(xiàng)評(píng)審，以提高電子元器件設(shè)計(jì)質(zhì)量的控制效果。第四，在電子元器件的信息統(tǒng)計(jì)中，質(zhì)量控制人員應(yīng)該結(jié)合元器件的制造工藝、質(zhì)量等級(jí)等，確定元器件的質(zhì)量特性，并按照可靠性指標(biāo)方案，確定最優(yōu)化的集成方案，以增強(qiáng)電子元器件設(shè)計(jì)階段的質(zhì)量控制效果，為電子元器件的設(shè)計(jì)及質(zhì)量審查提供支持。

（三）電子元器件檢測(cè)的質(zhì)量控制

電子元器件檢測(cè)中的質(zhì)量控制方案如下：第一，物理檢測(cè)技術(shù)。對(duì)于物理檢測(cè)技術(shù)而言，主要是對(duì)采購(gòu)或是接收的電子元器件進(jìn)行反復(fù)檢查。如，在具體的電子元器件質(zhì)量控制中，需要使用熱像儀對(duì)設(shè)備的元器件進(jìn)行檢測(cè)，避免設(shè)備工藝質(zhì)量、內(nèi)部結(jié)構(gòu)不合理問(wèn)題的出現(xiàn)，以提高電子元器件檢測(cè)的整體效果。第二，在可靠性篩選的過(guò)程中，設(shè)備維護(hù)人員應(yīng)該對(duì)全部電器元件進(jìn)行檢查，通過(guò)電子元器件可靠性、制造工藝以及屬性的分析，確定篩選條件。對(duì)于操作人員而言，需要按照不同設(shè)備的運(yùn)行狀況，合理選擇電子元器件，以更好的提高電子元器件及相關(guān)設(shè)備的操作性能，展現(xiàn)電子元器件產(chǎn)品的質(zhì)量控制效果。第三，電子元器件的壽命篩選，按照電子元器件存儲(chǔ)壽命、工作壽命等，確定設(shè)備的操作環(huán)境，保證設(shè)備篩選的穩(wěn)定性，為電子元器件的質(zhì)量控制提供技術(shù)支持。

（四）構(gòu)建完善質(zhì)量跟蹤處理方案

結(jié)合電子元器件質(zhì)量控制特點(diǎn)，在電子元器件質(zhì)量跟蹤處理中，應(yīng)該做到以下內(nèi)容：第一，在電子元器件安裝完成之后，為了提高設(shè)備的操作性能，需要對(duì)電子元器件的進(jìn)行試驗(yàn)整合，并對(duì)元器件的質(zhì)量進(jìn)行詳細(xì)核查，以增強(qiáng)實(shí)驗(yàn)控制的有效性，為電子元器件的質(zhì)量控制及跟蹤處理提供支持。而且，在質(zhì)量跟蹤的試驗(yàn)分析以及元器件失效問(wèn)題判斷中，可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)電子元器件的故障隱患，而且也可以根據(jù)設(shè)備存在問(wèn)題以及元器件的質(zhì)量，確定設(shè)備質(zhì)量的跟蹤處理標(biāo)準(zhǔn)，以提高設(shè)備故障的審查效果，提高電子元器件的設(shè)備使用效率。

三、結(jié)語(yǔ)

總而言之，在當(dāng)前電子行業(yè)發(fā)展的背景下，由于不同行業(yè)對(duì)電子元器件的需求量逐漸增加，為了避免電子元器件的損耗，在具體的產(chǎn)品設(shè)計(jì)及生產(chǎn)中，應(yīng)該將電子元器件的可靠性評(píng)價(jià)以及質(zhì)量控制作為重點(diǎn)，細(xì)化電器元件的設(shè)備管理體系。同時(shí)，在電子元器件的可靠性診斷中，需要將芯片級(jí)、微電子測(cè)試結(jié)構(gòu)的可靠性檢查作為重點(diǎn)，并根據(jù)以往的經(jīng)驗(yàn)，確定電子元器件的質(zhì)量控制體系，以提高電子元器件的使用效率。而且，在具體的設(shè)備質(zhì)量診斷中，操作人員需要按照不同設(shè)備的運(yùn)行狀況，合理選擇電子元器件，以更好地提高電子元器件及相關(guān)設(shè)備的操作性能，展現(xiàn)電子元器件產(chǎn)品的質(zhì)量控制效果，為行業(yè)的運(yùn)行及產(chǎn)業(yè)的可持續(xù)發(fā)展提供參考。

參考文獻(xiàn)：

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[3]劉靚燕.淺析航天電子元器件質(zhì)量控制與可靠性保障[J].科技與創(chuàng)新， 2017， 000（001）：11-13.