馬 響,鄧 勇,張書練
(1.南通大學(xué) 機(jī)械工程學(xué)院,南通226019;2.清華大學(xué)精密儀器系精密測試技術(shù)及儀器國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,北京100084)
在玻璃生產(chǎn)過程中,常用一些物理或者化學(xué)方法進(jìn)行鋼化處理,處理后的玻璃會產(chǎn)生預(yù)應(yīng)力,從而提高其抗沖擊強(qiáng)度和機(jī)械強(qiáng)度[1]。半鋼化玻璃的性能介于鋼化玻璃與平板玻璃之間,其強(qiáng)度是平板玻璃的兩倍以上,相比鋼化玻璃具有平整度較好、不易自爆[2]等特點(diǎn)。此外,半鋼化玻璃具有抗風(fēng)壓性、沖擊性和寒暑性等特點(diǎn),常用于幕墻和外窗,應(yīng)用場合較為廣泛[3]。半鋼化玻璃中的應(yīng)力大小會受到生產(chǎn)工藝的影響,國家標(biāo)準(zhǔn)GB15763中規(guī)定,玻璃的鋼化程度可以由應(yīng)力表征,即半鋼化玻璃的應(yīng)力指標(biāo)是檢驗(yàn)其安全性能的一項(xiàng)重要標(biāo)準(zhǔn)[4]。因此測量分析半鋼化玻璃的應(yīng)力,對提高半鋼化玻璃產(chǎn)品品質(zhì)和安全性能具有實(shí)際意義。常用的半鋼化玻璃應(yīng)力測量方法各具特點(diǎn),傳統(tǒng)的薄切片光彈法和反射光法結(jié)合涂層法,其測量效率較高,但存在樣品制作周期長、測量誤差大等缺點(diǎn),只適用于直觀粗略分析應(yīng)力的場合;光波導(dǎo)法[5]精確度較高,測量誤差在10nm以內(nèi),但需要測量玻璃表面的折射率,并與集成光路技術(shù)協(xié)同作用,操作步驟較復(fù)雜。干涉色法測量裝置簡單但測量誤差較大,一般在20nm~50nm;除此之外,超聲波法、X射線法[6]和Senarmont光學(xué)測量法[7]等物理方法因精度高而受到廣泛關(guān)注,但仍然存在裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜、價(jià)格昂貴、調(diào)試周期長等問題。近年來,激光回饋效應(yīng)和應(yīng)用技術(shù)的研究引起了國內(nèi)外專家的關(guān)注。激光回饋效應(yīng)又稱為自混合干涉,它描述的是激光照射在外物上,部分反射光被物體反射回激光腔內(nèi)后與腔內(nèi)光場相互作用的調(diào)制現(xiàn)象[8]。由于激光回饋系統(tǒng)具有易準(zhǔn)直、成本低、結(jié)構(gòu)緊湊和精度高等特點(diǎn),所以廣泛應(yīng)用在速度、位移、振動等測量領(lǐng)域。
為同時(shí)滿足性價(jià)比、測量效率和測量重復(fù)性等工業(yè)要求,本文中選擇精密光學(xué)元件搭建應(yīng)力雙折射自動測量系統(tǒng),通過分析三鏡腔理論模型中將回饋腔等效為腔鏡反射率變化的過程,具體論述了激光回饋效應(yīng)中出現(xiàn)的偏振跳變現(xiàn)象,深入研究了應(yīng)力雙折射的測量原理。該技術(shù)的主要特點(diǎn)是,利用偏振跳變曲線中特征點(diǎn)的位置,計(jì)算由半鋼化玻璃應(yīng)力引起的應(yīng)力雙折射大小,得到較精確的測量結(jié)果。在實(shí)際應(yīng)用中,系統(tǒng)的控制程序根據(jù)o光和e光低電平占空比,自動判斷半鋼化玻璃的主應(yīng)力方向,采用降低輸入電壓變化梯度的方法,減小電壓波動,提高壓電陶瓷位移穩(wěn)定性,故激光回饋半鋼化應(yīng)力雙折射測量技術(shù)相比其它應(yīng)力測量技術(shù)具有更高的可靠性。
基于激光回饋效應(yīng)搭建光學(xué)測量系統(tǒng)如圖1所示。采用全內(nèi)腔He-Ne激光器作為系統(tǒng)光源,波長為632.8nm,增益管長為140mm,輸出單縱模線偏振光。腔鏡是反射率分別為99.9%和98.5%的高反鏡?;仞伹挥汕荤R(cavity mirror,M1)和回饋鏡(feedback mirror,M2)組成,M1為反射率98.9%的高反鏡,回饋鏡M2反射率為20%,并與壓電陶瓷粘接。壓電陶瓷為PI公司制造的高精度壓電陶瓷[9],耐壓1kV,三角波驅(qū)動電壓低于200V。計(jì)算機(jī)控制采集卡輸出的三角波電壓經(jīng)數(shù)模轉(zhuǎn)換(digital-to-analog converter,DAC)后,利用放大電路(amplifier,AMP)放大并施加到壓電陶瓷上,繼而驅(qū)動回饋鏡前后往復(fù)運(yùn)動,調(diào)諧回饋外腔長度。系統(tǒng)采用渥拉斯頓棱鏡進(jìn)行分光,與光電探測器D2組合使用,采集的o光、e光偏振態(tài)信號經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換(analog-to-digital converter,ADC)后輸入電腦,同時(shí),光電探測器D1采集的光強(qiáng)信號也由采集卡輸入電腦,便于后續(xù)的程序處理。測量之前,需調(diào)節(jié)渥拉斯頓棱鏡及衰減片,保證無掃描外腔時(shí),只出現(xiàn)o光或者e光[10]。承載半鋼化玻璃的電動控制臺置于回饋外腔中,它的工作電流在1.5A以內(nèi),步距角為1.8°,細(xì)分?jǐn)?shù)為16,在通光范圍內(nèi)不會遮擋光束,具有精確定位和長時(shí)間工作的性能。根據(jù)系統(tǒng)特性配備多功能電箱,其主要作用是:提供壓電陶瓷驅(qū)動電壓、采集并放大光電信號等。
Fig.1 Automatic stress birefringencemeasurement system for heat-strengthened glass based on laser feedback
半鋼化玻璃中的應(yīng)力會表現(xiàn)出雙折射的特性[11],根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)GB903-87規(guī)定,可以通過光學(xué)玻璃的應(yīng)力雙折射(nm/cm),即主應(yīng)力方向上單位厚度的雙折射光程差σ表征應(yīng)力:
式中,Δ是應(yīng)力雙折射光程差,d是玻璃樣品的厚度。一般很難對Δ進(jìn)行直接測量,而是通過o光、e光的相位差δ間接求得,關(guān)系為:
式中,λ為波長。由(1)式和(2)式可以得到o光和e光的相位差與玻璃的應(yīng)力雙折射之間的關(guān)系:
三鏡腔理論模型于1988年由GROOT等研究人員建立[12],理論模型如圖2所示。
圖中初始光場分為兩個部分,一部分被腔鏡M1直接反射回腔內(nèi),一部分透過M1后被回饋鏡M2反射回腔內(nèi),此時(shí)兩光場相互疊加。將M1,M2等效腔鏡與腔鏡M3構(gòu)成F-P腔,等效腔鏡的反射系數(shù)為:
式中,r1,r2分別為 M1,M2的反射系數(shù),t1是腔鏡 M1的透射系數(shù),l為回饋腔腔長,k=2π/λ,由此可得等效腔鏡的反射率為:
Fig.2 The three-mirror cavitymodel
當(dāng)回饋腔中放入存在應(yīng)力的樣品時(shí),回饋腔分為兩個不同的物理腔長,樣品產(chǎn)生的相位差為δ,o光和e光兩個方向上有不同的外腔光程,o光和e光的等效反射率分別為:
式中,R1為M1強(qiáng)度反射率。(6)式表示測量系統(tǒng)中回饋腔的作用等價(jià)于腔鏡反射率的變化,此時(shí)則能在激光腔內(nèi)利用半經(jīng)典的氣體激光器理論研究激光回饋效應(yīng)[13]。
Fig.3 Polarization flipping schematic
如圖3所示,設(shè)o光方向?yàn)閤方向,e光方向?yàn)閥方向,當(dāng)激光器本征偏振態(tài)為x方向時(shí),偏振態(tài)x的等效反射率等于正常激光回饋反射率,即 Rx-x,eff=Rx,eff,此時(shí)y偏振光未進(jìn)入外腔,等效反射率等于腔鏡反射率,即Rx-y,eff=R1。同理可得,當(dāng)本征偏振態(tài)為y方向時(shí),Ry-y,eff=Ry,eff,Ry-x,eff=R1。一般情況下,出射光的偏振方向取決于兩個偏振態(tài)的損耗,在本文中可近似認(rèn)為,激光器本征偏振態(tài)的等效反射率決定其相應(yīng)的損耗大小,等效反射率越小,損耗越大,該偏振態(tài)在模式競爭中則處于劣勢,較難起振[14]。當(dāng)激光器本征偏振態(tài)為x方向時(shí),AB段Rx-x,eff>R1,出射光為x偏振態(tài);B點(diǎn)以后,Rx-x,eff<R1,出射光跳變成 y偏振態(tài),BC段Ry-y,eff>R1,出射光保持 y偏振態(tài);CD段 Ry-y,eff<R1,出射光應(yīng)該跳變成x偏振態(tài),但是由于 Rx-x,eff<R1,此時(shí)偏振態(tài)取決于 Ry-y,eff和 Rx-x,eff大小,因?yàn)?Ry-y,eff>Ry-y,eff,故出射光仍為y偏振態(tài),同理DE段偏振態(tài)為x偏振態(tài),以此類推可得光強(qiáng)信號曲線?;谏鲜鲈懋?dāng)兩個偏振態(tài)的等效反射率受到回饋腔腔長的調(diào)制時(shí),得到如圖4所示的完整的調(diào)制曲線。
Fig.4 Modulation curve of laser
圖4 中光強(qiáng)信號和偏振態(tài)信號由D1和D2探測,當(dāng)壓電陶瓷 (piezoelectric ceramic,PZT)掃描外腔時(shí),o光和e光交替出現(xiàn),若將探測器D2放大至飽和狀態(tài),偏振態(tài)信號則被整形成方波[15]。一個調(diào)諧周期中包含幾個特征點(diǎn),a點(diǎn)、d點(diǎn)為光強(qiáng)最小點(diǎn),c點(diǎn)、b點(diǎn)為等光強(qiáng)點(diǎn),b點(diǎn)為偏振跳變點(diǎn)。光強(qiáng)曲線上的a點(diǎn)、b點(diǎn)、c點(diǎn)、d點(diǎn)分別對應(yīng)o光和e光曲線上的A點(diǎn)、B點(diǎn)、C點(diǎn)、D點(diǎn)。在回饋腔中激光兩次經(jīng)過樣品,B-C點(diǎn)的相位差是樣品相位差的兩倍,A-D點(diǎn)為一個間隔為2π的調(diào)諧周期。由此可得相位差與偏振跳變點(diǎn)的關(guān)系式:
由于o光、e光之間的相位差是由樣品中的應(yīng)力引起,故樣品的應(yīng)力雙折射可表示為:
式中,σ為樣品的應(yīng)力雙折射大小,λ為波長,d為樣品厚度,lbc和 lad分別表示 b點(diǎn)、c點(diǎn)之間的長度和 a點(diǎn)、d點(diǎn)之間的長度。
在測量半鋼化玻璃樣品應(yīng)力的過程中,需判別樣品的主應(yīng)力方向,并使其與激光初始偏振方向保持一致[16]。在轉(zhuǎn)動樣品的過程中,回饋腔腔長與偏振態(tài)信號間變化呈現(xiàn)一定規(guī)律,當(dāng)樣品的主應(yīng)力方向逐漸接近初始偏振方向時(shí),隨著回饋腔長度增加,偏振態(tài)光強(qiáng)增大。至兩者方向完全一致時(shí),其中垂直于主應(yīng)力軸方向的偏振態(tài)分量會被完全隔離,只能探測到一種偏振態(tài)信號,出現(xiàn)谷底值為0V的標(biāo)準(zhǔn)方波信號,此時(shí)表示主應(yīng)力方向與初始偏振方向相同,如圖5所示。一般使用采集信號的電壓值來表征光的強(qiáng)度。
Fig.5 a—the stress axis is close to the initial polarization direction b—the stress axis is aligned with the initial polarization direction
在設(shè)計(jì)自動控制系統(tǒng)時(shí),半鋼化玻璃主應(yīng)力方向的判別尤為重要,將上述規(guī)律進(jìn)行總結(jié)設(shè)計(jì)程序,采用計(jì)算o光和e光低電平占空比的方法對主應(yīng)力方向進(jìn)行自動判別。理論上,當(dāng)主應(yīng)力方向與激光初始偏振方向一致時(shí),經(jīng)過渥拉斯頓棱鏡后分開的o光和e光總的低電平占空比應(yīng)為0.5。但在實(shí)際調(diào)節(jié)樣品的過程中,系統(tǒng)受到外界溫度、振動、雜散光等因素的影響[17],低電平的占空比往往不能達(dá)到理論值。圖6是多次調(diào)節(jié)樣品后偏振光低電平占空比的測量結(jié)果。
Fig.6 The duty cycle of the low level of polarized light
經(jīng)過重復(fù)測試分析后得到,當(dāng)兩束光的低電平占空比不小于0.47即可獲得標(biāo)準(zhǔn)的方波信號,該值與理論值誤差小于6%,認(rèn)為該值具有可信度,予以采納。因此自動控制程序通過處理NI-6009數(shù)據(jù)采集卡接收的o光和e光信號實(shí)時(shí)判斷其低電平占空比,驅(qū)動電動載物臺運(yùn)動[18]自動尋找樣品的主應(yīng)力方向,具有較高的定位精度與靈敏度,能有效地提高測量效率。
選用廠家生產(chǎn)的長20cm、寬8cm、厚0.3cm的半鋼化玻璃作為樣品,如圖7所示。
Fig.7 Sample of heat strengthened glass
將樣品放置在自動載物臺上,以樣品的一端點(diǎn)作為原點(diǎn)建立坐標(biāo)系,在a區(qū)域中坐標(biāo)為(0.5,0.5)cm處重復(fù)測量10次以評估系統(tǒng)重復(fù)性,測量結(jié)果如圖8所示。單點(diǎn)測量最大偏差為6.7nm/cm,標(biāo)準(zhǔn)差為2.52nm/cm。
Fig.8 Measurement results of stress birefringence at coordinate point(0.5,0.5)cm
在上述測量過程中作者注意到電箱的輸出電壓存在漂移和波動的現(xiàn)象,導(dǎo)致壓電陶瓷掃描外腔時(shí)的驅(qū)動電壓不穩(wěn)定,對測量結(jié)果的精確度與重復(fù)性產(chǎn)生較大影響。經(jīng)過排除電箱中電源模塊及信號放大模塊等影響因素后,認(rèn)為在相同時(shí)間內(nèi),電箱較大的電壓變化梯度會導(dǎo)致其穩(wěn)定性下降。因此為平衡電箱穩(wěn)定性與電壓輸出范圍的關(guān)系,通過增大控制電壓的時(shí)間間隔降低輸出電壓的變化梯度,使電箱持續(xù)穩(wěn)定地為器件供電。
在改善電箱的穩(wěn)定性能后,繼續(xù)在 a,b,c,d 4個邊緣區(qū)域中選擇 A點(diǎn)(0.5,0.5)cm、B點(diǎn)(19.5,0.5)cm、C點(diǎn)(0.5,7.5)cm、D點(diǎn)(19.5,7.5)cm作為測量點(diǎn)進(jìn)行10次重復(fù)測量,記錄各次測量的應(yīng)力雙折射平均值與極值,測量結(jié)果如表1所示。
由表中數(shù)據(jù)可知,4個測量點(diǎn)的應(yīng)力雙折射值均在半鋼化玻璃國家標(biāo)準(zhǔn)[19]中規(guī)定的 624nm/cm~1794nm/cm范圍內(nèi),樣品屬于合格的半鋼化玻璃。其中單點(diǎn)最大偏差為5.1nm/cm,最大標(biāo)準(zhǔn)差為1.73nm/cm,多次測量結(jié)果的重復(fù)性較好。為檢測系統(tǒng)長期工作的重復(fù)性與穩(wěn)定性,隨機(jī)選取同一批次中的另一塊半鋼化玻璃作為實(shí)驗(yàn)樣品,重復(fù)上述測量過程,測量結(jié)果如表2所示。
Table 1 Stress birefringencemeasurement data of semi-tempered glass(1)
Table 2 Stress birefringencemeasurement data of semi-tempered glass(2)
同樣,測量結(jié)果驗(yàn)證了該樣品符合國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,該次測量的單點(diǎn)最大偏差為6.1nm/cm,標(biāo)準(zhǔn)差為1.79nm/cm,重復(fù)性較好。綜合兩組不同樣品的測試結(jié)果進(jìn)行對比,4個測試點(diǎn)中的單次測量最小偏差為3.7nm/cm,偏差最大為6.1nm/cm,造成測量偏差的原因除了測試環(huán)境的細(xì)微差別外,還有激光器自身特性的微小變化[20],均屬于正常的隨機(jī)誤差范圍,測量結(jié)果標(biāo)準(zhǔn)差平均低于2.0nm/cm,在一定程度上達(dá)到穩(wěn)定測量的要求。
為保證半鋼化玻璃的生產(chǎn)質(zhì)量,提升其在各種應(yīng)用場合的安全性,對基于激光回饋效應(yīng)的半鋼化玻璃應(yīng)力雙折射自動測量技術(shù)展開研究。根據(jù)系統(tǒng)實(shí)際需要,選擇合適的激光器參量和其它光學(xué)元件搭建了光學(xué)測量系統(tǒng),以三鏡腔理論和半經(jīng)典理論為基礎(chǔ)解釋了由半鋼化玻璃應(yīng)力引起的偏振跳變現(xiàn)象及其應(yīng)力雙折射測量方法。
(1)系統(tǒng)對半鋼化玻璃的測量是依靠激光器內(nèi)部偏振態(tài)直接反映應(yīng)力雙折射大小的,多次重復(fù)測量的偏差控制在3.7nm/cm~6.1nm/cm范圍內(nèi),標(biāo)準(zhǔn)差低于2.0nm/cm,相比波導(dǎo)法具有結(jié)構(gòu)簡單、操作便捷等特點(diǎn),相比干涉色法與Senarmont補(bǔ)償法,在精度和重復(fù)性上具有優(yōu)越性。
(2)自動控制程序與精密電動載物臺配合能夠快速準(zhǔn)確地定位樣品的主應(yīng)力軸方向,占空比可達(dá)0.47以上,進(jìn)一步提高測量效率和自動化水平。
(3)測量裝置采用的器件均為精密光學(xué)元件,系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單、性價(jià)比高,能夠在實(shí)際生產(chǎn)過程中靈活運(yùn)用,為在線測量半鋼化玻璃應(yīng)力雙折射大小提供重要思路。