孫婧婧　陳瑩　廉冀瓊　孫東亞　許彬彬　雷彩霞

摘要：透射電子顯微鏡（TEM）由于其高分辨率及精細(xì)的結(jié)構(gòu)分析，廣泛應(yīng)用于納米材料等新材料的分析研究，是材料分析測(cè)試的一種重要方法，也是材料類學(xué)生在今后的工作、科研中應(yīng)掌握的一門必備技術(shù)。但由于其理論要求較高、價(jià)格昂貴、設(shè)備資源稀少，主要用于教師科研工作，很少發(fā)揮其在本科教學(xué)中的作用。為提升高校分析測(cè)試技術(shù)課程的教學(xué)效果，通過綜合分析TEM在本科教學(xué)中存在的問題，從理論知識(shí)學(xué)習(xí)到實(shí)踐操作指導(dǎo)及最后的激勵(lì)考核機(jī)制進(jìn)行了一系列的探索，有效發(fā)揮其在本科教學(xué)中的作用，起到為科研服務(wù)的同時(shí)有效地提升本科教學(xué)水平的作用。

關(guān)鍵詞：透射電子顯微鏡（TEM）;材料測(cè)試;本科教學(xué)

中圖分類號(hào)：G642.0? ? ?文獻(xiàn)標(biāo)志碼：A? ? ?文章編號(hào)：1674-9324（2020）16-0150-02

TEM由于其結(jié)構(gòu)精密、操作復(fù)雜，對(duì)使用者具有很高的技術(shù)要求，有時(shí)很小的錯(cuò)誤操作，也可能導(dǎo)致儀器發(fā)生故障，影響正常使用。同時(shí)，其價(jià)格一般都比較昂貴，在高校固定資產(chǎn)中占很大比重，設(shè)備資源有限。由于管理和資源相對(duì)緊缺，目前主要用于教師、研究生的課題研究。而在本科實(shí)踐教學(xué)中，只注重理論知識(shí)的了解而非實(shí)驗(yàn)技能的掌握，在培養(yǎng)學(xué)生自己動(dòng)手解決實(shí)際問題的能力、自我學(xué)習(xí)能力、培養(yǎng)創(chuàng)新精神和創(chuàng)造能力等方面沒有發(fā)揮其應(yīng)有的作用和潛能，絕大部分學(xué)生在學(xué)習(xí)期間沒有辦法接觸到設(shè)備。廈門理工學(xué)院材料科學(xué)與工程學(xué)院大型儀器分析測(cè)試中心針對(duì)透射電鏡用于材料類本科生培養(yǎng)方案進(jìn)行了一系列探索和研究，取得較好的教學(xué)效果。

一、透射電鏡主要特點(diǎn)

1.原理。透射電鏡的成像原理是阿貝提出的相干成像，用電子束代替平行入射光束，用薄膜狀的樣品代替周期性結(jié)構(gòu)物體，就可重復(fù)衍射成像過程。透射電鏡是用高能電子束（加速電壓一般在200kV以上）照射樣品，透過樣品的電子由于樣品厚度、元素、缺陷、晶體結(jié)構(gòu)等不同，會(huì)產(chǎn)生不同的花樣或圖像襯度，由此可以推測(cè)樣品的相關(guān)信息。電子束要能透過樣品，因此樣品厚度要求很薄，一般要小于100納米。

2.微量物質(zhì)內(nèi)部精細(xì)結(jié)構(gòu)分析。常用的晶體結(jié)構(gòu)及缺陷的測(cè)試方法主要有X射線衍射儀（XRD）、EBSD和TEM等，XRD由于其樣品需求量較大，對(duì)于少量物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)無法測(cè)量。TEM通過對(duì)某一微小區(qū)域的選區(qū)電子衍射，分析樣品的結(jié)構(gòu)及缺陷。

3.納米材料微區(qū)元素分布分析。TEM在掃描透射模式下（STEM）下，場(chǎng)發(fā)射電子源發(fā)射出電子，通過在樣品前磁透鏡以及光闌把電子束會(huì)聚成原子尺度的束斑。電子束斑聚焦在試樣表面后，通過線圈控制逐點(diǎn)掃描樣品的一個(gè)區(qū)域。由于其極高的分辨率，可精確完成材料微小區(qū)內(nèi)的元素分布掃描，可以實(shí)現(xiàn)元素的定性，能方便地直接觀察、研究材料的內(nèi)部的相組成和分布，是研究材料微觀組織最有力的工具之一，廣泛應(yīng)用于核殼結(jié)構(gòu)及復(fù)合納米材料中。

二、透射電鏡在材料分析測(cè)試方法課程改革中的探討

1.理論課程模塊化。目前透射電鏡課程的教學(xué)傳統(tǒng)上是遵循先理論后實(shí)踐的教學(xué)程序，即先進(jìn)行電子光學(xué)原理、分辨率原理、成像原理、儀器結(jié)構(gòu)、像差原理、制樣技術(shù)等內(nèi)容的課堂教學(xué)，再進(jìn)行樣品制備及儀器操作內(nèi)容的實(shí)驗(yàn)。這樣做的優(yōu)點(diǎn)是由淺入深、循序漸進(jìn)，學(xué)生容易接受，但在進(jìn)行實(shí)驗(yàn)之前，學(xué)生對(duì)儀器設(shè)備沒有感官的認(rèn)識(shí)，僅靠書本上的圖片在頭腦中形成一個(gè)抽象的儀器。傳統(tǒng)教學(xué)思路的弊端在于它拉開學(xué)生與儀器之間的距離，將理論知識(shí)與實(shí)踐操作孤立開來，同時(shí)，透射電鏡理論知識(shí)較深，降低了學(xué)生操作儀器的積極性，從而影響整體教學(xué)效果。我們嘗試在講課前先讓學(xué)生參觀儀器設(shè)備，通過近距離的觀察和現(xiàn)場(chǎng)講解讓學(xué)生對(duì)設(shè)備實(shí)物及其結(jié)構(gòu)部件進(jìn)行認(rèn)識(shí)，克服了以往學(xué)生對(duì)設(shè)備只限于抽象認(rèn)識(shí)的問題，在清楚其構(gòu)造的基礎(chǔ)上再進(jìn)行理論知識(shí)的講解，讓枯燥高深的理論知識(shí)淺顯易懂。此外，TEM作為材料測(cè)試分析的一種工具，對(duì)于大部分學(xué)生只需掌握如何利用TEM為自己的科研服務(wù)，如何從實(shí)驗(yàn)結(jié)果中獲得所需要的重要信息和結(jié)論，因此提高學(xué)生對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果的分析技巧是TEM服務(wù)于本科教學(xué)的重點(diǎn)。我們將透射電鏡理論課程模塊化，主要分為儀器結(jié)構(gòu)模塊、電子光學(xué)模塊、真空系統(tǒng)模塊、數(shù)據(jù)分析處理模塊，根據(jù)學(xué)生實(shí)際應(yīng)用有側(cè)重點(diǎn)地講解，取得了較好的教學(xué)成果。

2.實(shí)踐課程多元化。我校定位于應(yīng)用型大學(xué)，培養(yǎng)具有較強(qiáng)社會(huì)適應(yīng)能力和競(jìng)爭(zhēng)能力的高素質(zhì)應(yīng)用型人才，應(yīng)注重學(xué)生實(shí)踐能力的培養(yǎng)。透射電鏡價(jià)格昂貴，操作專業(yè)性強(qiáng)，樣品制備要求高，因此在材料分析測(cè)試方法課程中基本只有3—4課時(shí)的實(shí)驗(yàn)課，學(xué)生只是走馬觀花式參觀，實(shí)驗(yàn)印象不深刻，實(shí)踐教學(xué)效果不好。但由于科研的需要，不可能為本科教學(xué)提供大量的實(shí)習(xí)時(shí)間，我們采取固定時(shí)間實(shí)驗(yàn)和與科研結(jié)合的分散實(shí)踐教學(xué)相結(jié)合的教學(xué)方法。透射電鏡在樣品測(cè)試期間，有興趣的同學(xué)可以前來觀看學(xué)習(xí)，學(xué)生根據(jù)測(cè)試中的樣品進(jìn)行透射電鏡的分析學(xué)習(xí)，這樣既能服務(wù)于科研又能兼顧本科教學(xué)，學(xué)生接觸的樣品種類廣泛，對(duì)電鏡的應(yīng)用分析也有更深入的了解;第二，在綜合實(shí)驗(yàn)期，選取典型樣品，學(xué)生分成5—7人一組，從透射電鏡的樣品制備、儀器簡(jiǎn)單操作到數(shù)據(jù)分析進(jìn)行為期一周的實(shí)踐課，前期完成的同學(xué)可以指導(dǎo)后期實(shí)驗(yàn)的同學(xué)，采取同學(xué)間互相幫扶模式，從而進(jìn)一步鞏固其實(shí)踐效果。此外，在學(xué)期間也會(huì)開設(shè)開放性實(shí)驗(yàn)，進(jìn)行一部分針對(duì)TEM的操作及維護(hù)保養(yǎng)，另外一部分是數(shù)據(jù)處理及分析，主要針對(duì)高分辨圖像及能譜數(shù)據(jù)的解析，電子衍射圖譜的標(biāo)定等知識(shí)因材施教，對(duì)電鏡比較有興趣的同學(xué)可有針對(duì)性地進(jìn)行電鏡操作維護(hù)方面的培養(yǎng)，同時(shí)也為設(shè)備使用和管理的可持續(xù)發(fā)展培養(yǎng)人才，通過多方面分層次教學(xué)進(jìn)一步提高本科生的實(shí)踐動(dòng)手能力。

3.評(píng)價(jià)及考核機(jī)制合理化。材料分析測(cè)試方法課程傳統(tǒng)的考核評(píng)價(jià)方式以理論課程為主，這種評(píng)價(jià)機(jī)制本身就弱化了學(xué)生的實(shí)踐操作能力，學(xué)生自身也會(huì)模糊實(shí)際操作的重要性，在提交的實(shí)驗(yàn)報(bào)告中經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)班級(jí)大部分同學(xué)報(bào)告雷同情況。針對(duì)此現(xiàn)象，我們建立了平時(shí)成績(jī)與多種考核方式相結(jié)合的評(píng)價(jià)機(jī)制。理論課成績(jī)主要是考查學(xué)生對(duì)理論知識(shí)掌握程度，實(shí)驗(yàn)報(bào)告可以考查學(xué)生實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)思路及數(shù)據(jù)分析能力，課堂表現(xiàn)主要體現(xiàn)在學(xué)生上課的參與性與積極性，通過提問回答情況可體現(xiàn)其知識(shí)掌握情況，將課堂表現(xiàn)納入考核成績(jī)，可有效提高學(xué)生的主觀能動(dòng)性，綜合實(shí)驗(yàn)課可有效考查學(xué)生的實(shí)際動(dòng)手能力及分析問題、解決問題的能力。通過多方面綜合考評(píng)來激發(fā)學(xué)生的學(xué)習(xí)積極性，提高其綜合技能，為后續(xù)的畢業(yè)論文設(shè)計(jì)打下堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。

三、結(jié)論

1.在透射電鏡理論課程設(shè)計(jì)方面，通過分模塊教學(xué)，調(diào)整側(cè)重點(diǎn)，針對(duì)學(xué)生的需求及后續(xù)發(fā)展有針對(duì)性地教學(xué)，真正實(shí)現(xiàn)其在本科教學(xué)中的作用。

2.在實(shí)踐應(yīng)用課程中，采用多模式教學(xué)，邊研究邊學(xué)習(xí)的方式可以讓學(xué)生更廣泛地了解透射電鏡的應(yīng)用范圍及先進(jìn)的材料研究方向，綜合實(shí)驗(yàn)課程中通過典型樣品的制備分析流程，學(xué)生可充分認(rèn)識(shí)透射電鏡的整個(gè)操作流程，而開放性實(shí)驗(yàn)課程則可根據(jù)學(xué)生的興趣愛好因材施教，發(fā)揮其特長(zhǎng)，本科學(xué)生在校期間通過各種方式接觸和使用此設(shè)備，對(duì)于提高其實(shí)驗(yàn)技能、開拓專業(yè)視野、培養(yǎng)創(chuàng)新思維和意識(shí)具有重要作用。

3.綜合的考試評(píng)價(jià)制度可以客觀公正的評(píng)價(jià)學(xué)生的理論知識(shí)及實(shí)踐動(dòng)手能力，通過多方面的考評(píng)激發(fā)與調(diào)動(dòng)學(xué)生的學(xué)習(xí)積極性。

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ApplicationResearch on Transmission Electron Microscope in Undergraduate Experiment Teaching

SUN Jing-jing1，CHEN Ying1，LIAN Ji-qionog1，SUN Dong-ya1，XU Bin-bin2，LEI Cai-xia3

（1.Xiamen University of Technology，Xiamen，F(xiàn)ujian 361002，China;

2.Xiamen University，Xiamen，F(xiàn)ujian 361002，China;

3.Guangxi University，Nanning，Guangxi 530000，China）

Abstract：Because of its high resolution and fine structure analysis，Transmission Electron Microscopy （TEM） is widely used in the analysis and research of nanomaterial，It is unimportant method for Material analysis and an essential skill for the student in future research and work.Because of its high theoretical requirement，high price and scarcity of equipment resources，it is mainly used in research work and seldom playing role in undergraduate teaching.In order to improve the teaching effect of the course of Analytical Testing Technology in Colleges and universities，We comprehensively analysis of the problems of TEM in undergraduate teaching，a series of explorations have been carried out from theoretical knowledge learning to practical operation guidance and the final incentive and assessment mechanism，which can effectively play its role in undergraduate teaching and improve the undergraduate teaching level while serving for scientific research.

Key words：transmission electron microscope;material test;undergraduate teaching

收稿日期：2019-05-24

基金項(xiàng)目：國家自然科學(xué)基金青年科學(xué)基金項(xiàng)目，（51601162）;福建省教育廳中青年教師教育科研項(xiàng)目，（JT180423）;廈門理工學(xué)院2018年教育教學(xué)改革項(xiàng)目（JG2018010）

作者簡(jiǎn)介：孫婧婧（1983-），福建廈門人，工程師，實(shí)驗(yàn)教輔，研究生，研究方向：主要從事大型儀器管理及分析測(cè)試教學(xué)與研究工作，新能源材料研發(fā)。