孫雪晨,呂恒毅,薛旭成,石俊霞,傅 瑤
(中國(guó)科學(xué)院 長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,吉林 長(zhǎng)春 130033)
信噪比、動(dòng)態(tài)范圍等是空間光學(xué)相機(jī)設(shè)計(jì)[1-3]的重要指標(biāo),用于表征相機(jī)的輻射性能和評(píng)價(jià)相機(jī)圖像品質(zhì)??臻g遙感相機(jī)電子學(xué)系統(tǒng)的性能,會(huì)極大程度的影響整個(gè)成像系統(tǒng)的成像質(zhì)量[4]、信噪比[5]和動(dòng)態(tài)范圍等。在航天應(yīng)用中,通常對(duì)CCD信號(hào)進(jìn)行相關(guān)雙采樣(Correlated Double Sample,CDS)處理,這樣可以消除復(fù)位噪聲的干擾,對(duì)低頻噪聲也有抑制作用,可以顯著改善信噪比,提高信號(hào)檢測(cè)精度[6-7]。
為了使相關(guān)雙采樣信號(hào)(SHP,SHD)位置[8]與CCD信號(hào)最佳位置對(duì)準(zhǔn),通常會(huì)在地面實(shí)驗(yàn)階段選取最佳的采樣位置,進(jìn)行固化。但是由于空間環(huán)境溫度的大范圍變化,成像電路的器件會(huì)受到溫度[9]的影響而產(chǎn)生時(shí)序上的延時(shí),從而導(dǎo)致采樣位置的不準(zhǔn)確。為了解決采樣位置受到溫度的影響而造成的圖像質(zhì)量下降,曲利新[10]提出將CCD驅(qū)動(dòng)器的輸出信號(hào)進(jìn)行分壓整形,以此作為采樣信號(hào)SHP與SHD的基準(zhǔn),去除CCD驅(qū)動(dòng)器件受溫度影響后的延時(shí),提高采樣信號(hào)與CCD信號(hào)之間相位的穩(wěn)定性。在航天應(yīng)用上,CCD驅(qū)動(dòng)信號(hào)種類(lèi)很多,占空比與采樣信號(hào)不一致,需要的整形電路過(guò)于復(fù)雜且難于實(shí)現(xiàn),新加入的電路也會(huì)帶來(lái)新的溫度延時(shí)效應(yīng);而且通過(guò)RC(Resistor-Capacitance)電路來(lái)調(diào)整延遲,精度不足。潘衛(wèi)軍[11]提出對(duì)CCD信號(hào)采樣位置進(jìn)行自適應(yīng)調(diào)整,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)CCD信號(hào)的相位變化,在線調(diào)整采樣時(shí)鐘相位來(lái)保證采樣位置,其采樣信號(hào)的選取依舊利用CCD驅(qū)動(dòng)信號(hào)進(jìn)行分壓整形,帶來(lái)了與上述同樣的問(wèn)題。
針對(duì)以上問(wèn)題,本文首先對(duì)造成溫度延時(shí)的鏈路進(jìn)行分析,提出高分辨力遙感相機(jī)CCD采樣位置自適應(yīng)補(bǔ)償技術(shù);然后將該技術(shù)用于CCD成像中,并進(jìn)行了相關(guān)實(shí)驗(yàn)。實(shí)驗(yàn)表明,相關(guān)雙采樣信號(hào)的采樣位置與CCD信號(hào)在溫度大范圍變化的情況下,仍能精密對(duì)準(zhǔn),保證了圖像信噪比的穩(wěn)定性,實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量成像。
成像電子學(xué)CCD采樣電路的設(shè)計(jì)中,CCD驅(qū)動(dòng)信號(hào)的時(shí)序與采樣信號(hào)(SHP,SHD)的時(shí)序均由FPGA給出,其中SHP對(duì)復(fù)位區(qū)進(jìn)行采樣,SHD對(duì)信號(hào)區(qū)進(jìn)行采樣。由于復(fù)位區(qū)與信號(hào)區(qū)的信號(hào)平坦區(qū)域非常小(幾納秒),因此采樣位置的確定是相關(guān)雙采樣中最重要的工作,一旦采到其他位置會(huì)對(duì)圖像質(zhì)量有著很大的影響。在整個(gè)CCD采樣鏈路中,驅(qū)動(dòng)信號(hào)經(jīng)過(guò)驅(qū)動(dòng)器與CCD從而產(chǎn)生CCD視頻信號(hào),視頻處理器通過(guò)采樣信號(hào)對(duì)CCD視頻信號(hào)進(jìn)行采樣從而得到圖像數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)的設(shè)計(jì)中,采樣時(shí)序信號(hào)由FPGA產(chǎn)生,直接通過(guò)視頻處理器進(jìn)行采樣,如圖1所示。實(shí)驗(yàn)表明,在兩個(gè)鏈路中受溫度影響而產(chǎn)生延時(shí)最大的是驅(qū)動(dòng)器芯片,F(xiàn)PGA與CCD器件受環(huán)境溫度變化產(chǎn)生的延時(shí)非常小。由于只有驅(qū)動(dòng)時(shí)序經(jīng)過(guò)了CCD驅(qū)動(dòng)芯片,這就帶來(lái)了采樣信號(hào)(SHP、SHD)與CCD信號(hào)在不同溫度下會(huì)有不同的延時(shí)、信號(hào)之間無(wú)法跟隨的問(wèn)題??紤]到航天應(yīng)用的可行性以及穩(wěn)定性,在不引入過(guò)多電路的前提下,在采樣信號(hào)鏈路中增加相同的驅(qū)動(dòng)器芯片,使在不同的環(huán)境溫度下,采樣信號(hào)與CCD信號(hào)產(chǎn)生相同的溫度偏移量,補(bǔ)償驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的溫度延時(shí),達(dá)到相位動(dòng)態(tài)跟隨的效果,從而獲取高質(zhì)量的圖像。該自適應(yīng)補(bǔ)償技術(shù)信號(hào)鏈路圖如圖2所示。
圖1 傳統(tǒng)的CCD采樣鏈路Fig.1 Traditional CCD sampling link
圖2 自適應(yīng)補(bǔ)償CCD采樣鏈路Fig.2 Adaptive compensation CCD Sampling link
圖2中采樣信號(hào)與視頻信號(hào)經(jīng)過(guò)相同型號(hào)的驅(qū)動(dòng)芯片,在溫度發(fā)生大范圍變化的時(shí)候,可以建立起一定的跟隨關(guān)系。這里假設(shè)驅(qū)動(dòng)時(shí)序鏈路上的驅(qū)動(dòng)器A受到溫度影響而產(chǎn)生的延時(shí)為γ1,采樣時(shí)序鏈路上的驅(qū)動(dòng)器B與CCD受到溫度影響而產(chǎn)生的延時(shí)為γ2與γ3,在溫度變化時(shí),兩個(gè)鏈路的溫度延時(shí)之差是一個(gè)溫變值,將其定義為:
γDelay(T)= |γ1+γ2-γ3|,
(1)
其中T為溫度,在設(shè)計(jì)時(shí)將驅(qū)動(dòng)芯片A和B選用同種類(lèi)芯片,使得γ1與γ2基本一致,而CCD受到溫度變化產(chǎn)生的信號(hào)延遲γ3非常小,因此該設(shè)計(jì)使得兩個(gè)鏈路之間的延遲γDelay(T)達(dá)到最小化,在(-25~60 ℃)的溫度范圍內(nèi),該延時(shí)最大僅為0.46 ns,具體參見(jiàn)后續(xù)實(shí)驗(yàn)。
CCD采樣鏈路中,驅(qū)動(dòng)時(shí)序與采樣時(shí)序均由一個(gè)FPGA給出,由于兩個(gè)鏈路中的信號(hào)經(jīng)過(guò)不同的走線與器件到達(dá)視頻處理器,這會(huì)導(dǎo)致采樣時(shí)兩個(gè)信號(hào)之間存在一個(gè)固定的初始相位差。為了獲取高質(zhì)量的圖像,需要對(duì)采樣位置進(jìn)行精密調(diào)節(jié),使其對(duì)準(zhǔn)于CCD信號(hào)的最佳位置。利用DCM的PhaseShift功能可以實(shí)現(xiàn)輸入時(shí)鐘的相位移動(dòng),以達(dá)到對(duì)采樣位置的精密調(diào)節(jié)。DCM的PhaseShift功能包括固定相位移動(dòng)和可變相位移動(dòng),當(dāng)采用可變相位移動(dòng)時(shí),可以動(dòng)態(tài)實(shí)現(xiàn)輸入信號(hào)的相位延時(shí),延時(shí)時(shí)間定義為:
PhaseShift(ns)=
(2)
其中:PhaseShift Value的范圍為-255~255,CLKINperiod為CCD像元時(shí)鐘周期。
使用相位延時(shí)后時(shí)鐘對(duì)采樣信號(hào)進(jìn)行同步,即可實(shí)現(xiàn)采樣位置的高精度延時(shí),如圖3所示。本文成像系統(tǒng)采用100 M時(shí)鐘,因此調(diào)節(jié)精度可達(dá)到0.039 ns(10 ns/256)。在CCD的復(fù)位區(qū)和信號(hào)區(qū)之內(nèi)調(diào)節(jié)采樣位置SHP與SHD,調(diào)節(jié)范圍各為±1 ns(信號(hào)平坦區(qū)),在該范圍內(nèi)調(diào)節(jié)到最佳位置。
圖3 采樣信號(hào)同步時(shí)序圖Fig.3 Sampling signal synchronization timing
未進(jìn)行精密調(diào)節(jié)時(shí)雙采樣初始相位誤差約為2.3 ns,采用本文方法精密調(diào)節(jié)后誤差可小于0.039 ns。
為驗(yàn)證該方法的可行性,將帶有自適應(yīng)補(bǔ)償技術(shù)設(shè)計(jì)與傳統(tǒng)方法的兩個(gè)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行對(duì)比成像。將兩個(gè)測(cè)試系統(tǒng)放于高低溫箱中,在常溫下(25 ℃)分別對(duì)兩個(gè)成像系統(tǒng)的初始采樣位置(SHP,SHD)進(jìn)行精密調(diào)節(jié),保證兩個(gè)系統(tǒng)在常溫下初始采樣位置都處在最佳點(diǎn),成像質(zhì)量良好。在-25~60 ℃(空間相機(jī)地面環(huán)境試驗(yàn)測(cè)試溫度)的溫度范圍下對(duì)兩個(gè)系統(tǒng)分別進(jìn)行成像試驗(yàn),并實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)CCD采樣位置。其中每副圖像中左右兩部分各為全色圖像和多光譜圖像。
圖4 傳統(tǒng)方法圖像Fig.4 Image with and traditional method
從圖5高低溫圖像與常溫圖像的對(duì)比可以看出,帶有本文方法的測(cè)試系統(tǒng)在高低溫下成像效果均良好,全色圖像與多光譜圖像均與常溫對(duì)比沒(méi)有明顯變化。而傳統(tǒng)方法的測(cè)試系統(tǒng)在高溫和低溫的情況下,圖像的均勻性以及成像質(zhì)量受到了溫度的影響,在高溫條件下,全色圖像與多光譜圖像均出現(xiàn)不同程度的飽和現(xiàn)象,低溫條件下,圖像較常溫圖像變暗,如圖4所示。
圖6是示波器采集的不同溫度下傳統(tǒng)方法中CCD信號(hào)與采樣信號(hào)的相對(duì)位置圖,高溫時(shí)CCD信號(hào)由于驅(qū)動(dòng)芯片的原因,相位滯后于采樣信號(hào),導(dǎo)致采樣信號(hào)SHP采到了CCD的復(fù)位電平上,圖像數(shù)據(jù)出現(xiàn)錯(cuò)誤。低溫時(shí)CCD信號(hào)由于受到驅(qū)動(dòng)芯片的影響,相位提前于采樣信號(hào),使采樣信號(hào)SHD落在了下一個(gè)信號(hào)的上升沿,得到的圖像偏暗。
圖5 本文方法圖像Fig.5 Image with proposed method
圖6 傳統(tǒng)方法采樣位置Fig.6 Sampling position with traditional method
在-25~60 ℃的溫度范圍下,對(duì)各溫度點(diǎn)下的相關(guān)雙采樣信號(hào)采樣位置與常溫下(25 ℃)的最佳位置之間的延時(shí)進(jìn)行了測(cè)試,同時(shí)與傳統(tǒng)方法的采樣位置延時(shí)進(jìn)行了對(duì)比,結(jié)果如圖7所示??梢院苊黠@的看出,在溫度大范圍變化時(shí),本文方法的采樣位置延時(shí)量遠(yuǎn)小于傳統(tǒng)方法。其中采樣位置受溫度而產(chǎn)生的延時(shí)最大值為0.46 ns,采樣信號(hào)依然落在CCD信號(hào)可采樣范圍之內(nèi),不會(huì)對(duì)成像質(zhì)量造成影響。
圖7 本文方法采樣位置偏移量與傳統(tǒng)方法采樣位置偏移量Fig.7 Sampling position offset with proposed method and traditional method
本文根據(jù)遙感相機(jī)在空間工作時(shí)大范圍溫度變化的現(xiàn)狀,提出了遙感相機(jī)CCD采樣位置自適應(yīng)補(bǔ)償技術(shù)。文中首先對(duì)成像鏈路中的溫度延時(shí)進(jìn)行了分析,針對(duì)延時(shí)電路給出了航天應(yīng)用中可以實(shí)現(xiàn)的溫度補(bǔ)償方法,并對(duì)采樣位置進(jìn)行初始精密調(diào)節(jié)。對(duì)本文的方法與傳統(tǒng)方法進(jìn)行了高低溫試驗(yàn)對(duì)比及分析,試驗(yàn)結(jié)果表明:相關(guān)雙采樣信號(hào)的初始位置調(diào)節(jié)精度小于0.039 ns;在-25~60 ℃的溫度范圍下,相關(guān)雙采樣信號(hào)延時(shí)最大值為0.46 ns,保證了準(zhǔn)確的采樣位置,成像質(zhì)量均為良好。該方法已在某空間遙感相機(jī)上得到了在軌應(yīng)用,下傳圖像的質(zhì)量良好。