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        基于最大熵分布的控制圖改進與評價研究

        2020-01-16 01:02:04宋明順方興華
        中國管理科學 2019年12期
        關(guān)鍵詞:馬爾科夫失控正態(tài)分布

        宋明順,楊 銘,方興華

        (中國計量大學經(jīng)濟與管理學院,浙江 杭州 310018)

        1 引言

        以休哈特(Shewhart)控制圖為代表的控制圖技術(shù)在統(tǒng)計過程控制(Statistical Process Control,SPC)中具有很好的應用,許多研究已經(jīng)證明Shewhart控制圖對服從正態(tài)分布的質(zhì)量特性參數(shù)具有較好的監(jiān)控能力[1-2]。但在很多情況下,過程的質(zhì)量特性參數(shù)并不服從正態(tài)分布,若此時仍按照正態(tài)分布構(gòu)建控制圖就會引起監(jiān)控能力的下降。因此,研究一般分布情況下的控制圖具有重要意義。

        在控制圖的研究中,多數(shù)學者主要是從控制圖的構(gòu)建和控制圖效果的評價兩方面展開。在控制圖的構(gòu)建方面,Page[3]基于正態(tài)分布,提出了累積和(Cumulative Sum,CUSUM)控制圖,通過把每個樣本值的偏移進行累加,可以更快的發(fā)現(xiàn)偏移。Roberts[4]在Page[3]的基礎(chǔ)上,提出了指數(shù)加權(quán)移動平均(Exponentially Weighted Moving Average,EWMA)控制圖,利用歷史樣本數(shù)據(jù),同樣可以監(jiān)控過程發(fā)生的小偏移。Tran等[5]基于CUSUM控制圖對二元正態(tài)分布下的人口比例進行監(jiān)控,證明了在小偏移的情況下CUSUM控制圖具有更好的監(jiān)控效果。Park等[6]提出了最小水平集合的理論,在給定第Ⅰ類錯誤α的情況下,依據(jù)最小水平集確定控制界限。在此基礎(chǔ)上,Das和Zhou[7]、Fang Xinghua等[8]基于最大熵,將該理論應用于控制圖的構(gòu)建,與傳統(tǒng)控制圖相比,新構(gòu)建的控制圖可以不用假定分布的形式,更適合于一般分布的情況。

        在控制圖效果的評價方面,平均運行長度(Average Run Length, ARL)理解容易、計算簡單,能夠較好評價控制圖的效果,因此作為控制圖常用的評價指標。王兆軍等[9]詳細闡述了不同控制圖ARL的計算方法,Sanusi等[10]聯(lián)合Shewhart和CUSUM控制圖構(gòu)建了一種聯(lián)合控制圖,通過ARL對該控制圖進行評價,給出了聯(lián)合控制圖在不同偏移情況下的應用。Shu Lianjie等[11]用馬爾科夫鏈方法推導了自適應CUSUM控制圖的ARL的計算公式,推廣了馬爾科夫鏈的應用范圍。Vargas等[12]對比了CUSUM控制圖和EWMA控制圖,以ARL作為檢測失控狀態(tài)的指標,得出了兩種控制圖在不同控制區(qū)域下的應用情況。

        綜上所述,盡管有很多的學者在控制圖的構(gòu)建和評價方面進行了研究,但這些研究大部分建立在質(zhì)量特性參數(shù)服從正態(tài)分布的基礎(chǔ)上的。而當這種假設(shè)不滿足時,應用這些控制圖進行過程監(jiān)測容易產(chǎn)生較大的偏差。因此,本研究提出一種建立在質(zhì)量特性參數(shù)“分布自由型”基礎(chǔ)上的控制圖的構(gòu)建方法。由于最大熵作為一種分布估計方法,不對分布進行人為假定,可以更好地反映質(zhì)量特性參數(shù)服從的真實分布[13],在借鑒Barzdajn[14]、Alwan等[15]、Chiang等[16]的研究之后,本文應用最大熵分布對質(zhì)量特性參數(shù)進行擬合,并依此構(gòu)建控制圖和評價方法。

        本文應用最大熵分布對控制圖進行改進的基本思想為:首先確定質(zhì)量特性參數(shù)的最大熵分布,然后根據(jù)最大熵分布對Shewhart控制圖進行改進,并結(jié)合ARL作為評價指標,對改進后的控制圖進行評價。最后,還提出了基于最大熵的CUSUM控制圖的性能評價方法。本研究通過一個仿真案例來闡釋最大熵對Shewhart控制圖和CUSUM控制圖的改進過程,以及對改進結(jié)果的比較。

        2 基于最大熵分布的控制圖的構(gòu)建和評價

        本節(jié)首先介紹了最大熵,然后提出基于最大熵的Shewhart控制圖的構(gòu)建方法和CUSUM控制圖的評價方法。

        2.1 最大熵原理

        信息熵(Entropy)最早由Shannon[17]提出,用來表示信息的不確定性程度,熵越大,信息的不確定性程度越高,之后,Jaynes[18]在這基礎(chǔ)上提出了最大熵(Maximum Entropy, ME)的概念,并且證明“在部分信息的基礎(chǔ)上,熵值達到最大時的分布是隨機變量唯一的無偏分布估計”,學者把基于以上原則確定分布的思想稱為最大熵原理(Principle of Maximum Entropy, PME)。

        近年來,應用PME確定隨機變量分布已經(jīng)廣泛的應用于工程設(shè)計[19]、可靠性評估[20]、金融產(chǎn)品定價[21]等。通常,根據(jù)PME估計隨機變量X的最大熵分布的過程可以轉(zhuǎn)化為求解如下數(shù)學規(guī)劃的問題:

        (1)

        其中,H(x)為變量X的熵函數(shù),f(x)為變量X的最大熵分布概率密度函數(shù),ui(x)表示X的若干函數(shù),Mi為常數(shù)。約束條件一般從X已有的先驗信息提取,并且進一步轉(zhuǎn)化為數(shù)學函數(shù)ui(x),而ui(x)的形式在很大程度上決定了公式(1)中規(guī)劃模型的復雜程度,如ui(x)為原點矩、中心矩函數(shù)時,高階矩時模型求解的復雜性要明顯高于低階矩的情況。

        為了獲得f(x)的表達式,引入拉格朗日乘子法[22],得到f(x)為:

        (2)

        其中λ0,λ1,λ2,…,λm為拉格朗日乘子,為待定系數(shù)。為了進一步得到f(x)的顯性表達式,本研究利用Matlab中的非線性規(guī)劃功能求解λ0,λ1,λ2,…,λm。

        2.2 最大熵分布對Shewhart控制圖的改進

        在控制圖的構(gòu)建中,控制界限是最重要的參數(shù)之一,圖1給出了質(zhì)量特性參數(shù)的控制界限示意圖,其中UCL為上控制限,LCL為下控制限。傳統(tǒng)的Shewhart控制圖采用[μ-3σ,μ+3σ]作為最佳控制區(qū)域,其中μ和σ分別為質(zhì)量特性參數(shù)的均值和標準差,但這個控制區(qū)域適用于質(zhì)量特性值為正態(tài)分布的情況,而當質(zhì)量特性參數(shù)偏移正態(tài)分布時,應用該控制區(qū)域進行過程監(jiān)控時就會產(chǎn)生較大的風險。

        圖1 質(zhì)量特性參數(shù)X控制區(qū)域構(gòu)建的示意圖

        2.2.1 控制圖的構(gòu)建原則

        Shewhart控制圖構(gòu)建的核心思想是當質(zhì)量特性參數(shù)服從正態(tài)分布時,控制區(qū)域[μ-3σ,μ+3σ]的兩類錯誤之和(第Ⅰ類錯誤和第Ⅱ類錯誤)最小,在實際的產(chǎn)品質(zhì)量控制中,應用這個控制界限可以使“虛發(fā)報警”和“漏發(fā)報警”的概率之和達到最小,因而企業(yè)在質(zhì)量控制中承擔的風險最小,是一種“經(jīng)濟性”的做法。

        當質(zhì)量特性參數(shù)的分布為單峰分布時,并且應用最大熵分布對其進行擬合,遵循控制圖的“經(jīng)濟性”原則,并借鑒Park等[6]的研究,將質(zhì)量特性參數(shù)的監(jiān)測分布總體分為兩個部分:受控區(qū)域和失控區(qū)域。如果監(jiān)測的樣本在受控區(qū)域內(nèi),則稱為過程受控,否則為過程失控(如圖1所示)。其中受控區(qū)域A可表示為:

        A={X|P(X∈A)≥1-α,X~F0}

        (3)

        其中α為第Ⅰ類錯誤概率(在圖1中,在對稱分布中α1=α2=0.5α),X為用于過程監(jiān)測的質(zhì)量特性參數(shù),通常為產(chǎn)品的技術(shù)特性參數(shù),F(xiàn)0表示X的分布,概率密度函數(shù)為f(x)。在特定的α值下,從統(tǒng)計上可以找到無數(shù)多個滿足公式(3)的集合A。根據(jù)Shewhart控制圖的“經(jīng)濟性”原則,此時必須找到使第Ⅱ類錯誤β達到最小時的集合,我們稱之為最佳受控區(qū)域A*,此時兩類錯誤之和α+β達到最小。

        當過程失控時,此時從統(tǒng)計學上看,X偏離了原分布F0,若監(jiān)測的樣本落在受控區(qū)域內(nèi),則會產(chǎn)生第Ⅱ類錯誤β,即“漏發(fā)報警”。假設(shè)失控狀態(tài)下的分布為F1,相應的概率密度函數(shù)為f'(x),則第Ⅱ類錯誤為:

        (4)

        在實際的產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)測的過程中,過程失控的原因往往是比較復雜的,可能由多種原因引起,因而f'(x)的表達式通常是未知的。為了便于計算,我們采用核密度估計對未知分布進行擬合。由于核密度估計被證明與原分布的一致性,而且能夠較好的體現(xiàn)數(shù)據(jù)特征,具有較好的擬合效果[23],這也是目前在分布估計中常用的一種方法。

        (5)

        其中K(·)表示核函數(shù)(非負,積分為1,均值為0,具有概率密度的性質(zhì)),hn為帶寬,n為樣本總量,Xi為單個質(zhì)量特性參數(shù)的觀測值。因此將公式(5)代入公式(4),得到:

        (6)

        由于核密度估計時積分計算很復雜,為了簡化求解,我們經(jīng)常采用經(jīng)驗分布估計核密度積分計算[25],其中經(jīng)驗分布函數(shù)Ln(A)為:

        (7)

        (8)

        因此當質(zhì)量特性參數(shù)為服從單峰分布的隨機變量時,給定第Ⅰ類錯誤α,則當控制控制區(qū)間長度(UCL-LCL)取最短時,則兩類錯誤之和α+β最小。

        2.2.2 基于最大熵分布控制圖的構(gòu)建步驟

        應用最大熵分布對Shewhart控制圖進行改進,其改進的思想是用最大熵分布近似質(zhì)量特性參數(shù)的分布,并根據(jù)“經(jīng)濟性”原則構(gòu)建控制圖,其主要的步驟如下:

        (1)應用最大熵分布擬合質(zhì)量特性參數(shù)X分布的概率密度函數(shù)f(X),如公式(1)所示;

        (2)給定第Ⅰ類錯誤α,尋找最佳控制區(qū)域A*=[LCL,UCL]以滿足:

        (9)

        可以應用數(shù)值法等近似求解,并利用Matlab等軟件實現(xiàn);

        (3)對過程進行監(jiān)控,當觀測樣本落在受控區(qū)域外,則過程失控報警。

        2.2.3 對改進Shewhart控制圖的評價

        在控制圖效果的評價中,通常采用ARL作為評價標準。當過程受控時,ARL表示開始檢測到發(fā)生報警信號平均抽取的樣本數(shù),此時我們希望其越大越好;反之,當過程失控時,ARL表示開始檢測到發(fā)現(xiàn)失控信號平均抽取的樣本數(shù),此時其值越小越好。

        對于Shewhart控制圖,只需要知道第Ⅰ類錯誤α和第Ⅱ類錯誤β,就可以計算出受控狀態(tài)下和失控狀態(tài)下的ARL,如下所示:

        (10)

        (11)

        其中ARL0表示過程受控時的平均運行長度,ARL1表示過程失控時的平均運行長度。由于本研究中第Ⅰ類錯誤α是一個確定值,對不同控制圖沒有影響,因此本研究應用ARL1來評價控制圖的性能。

        2.3 最大熵分布對CUSUM控制圖評價方法的改進

        一般來說,Shewhart控制圖對過程大偏移的監(jiān)控比較有效,而對于過程中的小偏移的監(jiān)測不敏感,為此Page[3]、Tran等[5]基于序貫比檢驗,構(gòu)建了更適用于小偏移監(jiān)測的累積和(CUSUM)控制圖。針對CUSUM控制圖的評價,本部分提出了基于最大熵分布的控制圖評價方法,并以自適應CUSUM控制圖為例進行說明。

        2.3.1 自適應CUSUM控制圖

        傳統(tǒng)CUSUM控制圖的原理是對每一個觀測值的偏移進行累加,從而達到局部放大的效果。但在現(xiàn)實的生產(chǎn)中,很難獲取偏移的確切值,這給控制圖的設(shè)計帶來了困擾,Shu Lianjie和Jiang Wei[26]提出了自適應CUSUM控制圖,可以很好地解決這個問題。對于檢測向上漂移,采用檢測統(tǒng)計量為:

        (12)

        在上式中,ARL0表示受控狀態(tài)下的平均運行長度,在試驗中可取100-1000,本文中取ARL0=370。大量文獻表明(如Sparks和Ross[27],Huang等[28]),當k=δ/2,可以得到一個最優(yōu)的CUSUM控制圖。

        2.3.2 基于最大熵分布的CUSUM控制圖的評價

        針對CUSUM控制圖的評價,在計算ARL時,通常采用積分法、蒙特卡洛仿真法和馬爾科夫鏈法[29]。相較于其他兩種方法,馬爾科夫鏈法適用于復雜的計算,同時準確度較高,因此本文采用馬爾科夫鏈法計算CUSUM控制圖的ARL。該方法的核心思想是把監(jiān)控的質(zhì)量特性參數(shù)近似看作一個狀態(tài)有限的馬爾可夫鏈,把質(zhì)量特性參數(shù)的各取值區(qū)間作為馬爾可夫鏈的各狀態(tài)空間,以此構(gòu)建轉(zhuǎn)移概率矩陣,從而根據(jù)轉(zhuǎn)移概率矩陣確定平均運行長度ARL的大小[30]。

        對于一個馬爾科夫鏈模型,主要由S、P兩種元素構(gòu)成,其中:

        (1)S表示整個系統(tǒng)所有可能的狀態(tài)所組成的非空的狀態(tài)集,也可稱為系統(tǒng)的狀態(tài)空間,它可以是有限集合、可列集合或是有限可列集合。本文假定S是數(shù)集(即有限或可列),用小寫字母a,b或(Sa,Sb)來表示狀態(tài)。

        (2)P為系統(tǒng)的轉(zhuǎn)移概率矩陣,Pab表示在時刻l為狀態(tài)a,而在時刻l+1時為狀態(tài)b的概率。

        本文以向上的單側(cè)偏移為例,假設(shè)受控區(qū)域為(0,H),將該區(qū)域分為m個子區(qū)間,則每個子區(qū)間的寬度d=H/m,其中狀態(tài)0到m-1為受控狀態(tài),狀態(tài)m為失控狀態(tài),如圖2所示。

        圖2 馬爾科夫鏈狀態(tài)轉(zhuǎn)移空間

        該馬爾科夫鏈的一步轉(zhuǎn)移概率矩陣P可表示為:

        (13)

        其中I為單位矩陣,1為元素全為1的列向量,R為m×m階矩陣,R中元素表示由狀態(tài)a轉(zhuǎn)移到狀態(tài)b的概率pab,即pab代表Ct-1落在狀態(tài)a時,Ct落在狀態(tài)b的概率,所以有:

        (1)當b=0時,

        pab=Pr(Ct∈S0|Ct-1∈Sa)=

        Pr(Xa≤m-ad+d/2)=

        F(Xa≤m-ad+d/2)

        其中:a=1,2,3…,m-1,b=0

        (2)當1

        pab=Pr(Ct∈Sb|Ct-1∈Sa)=Pr[(b-a)d-d/2

        (3)當b=m時,

        pab=Pr(Ct∈Sb|Ct-1∈Sa)=Pr(X-K≤(m-a)d+d/2)=Pr(X≤(m-a+0.5)d+K)=F(X≤(m-a+0.5)d+K)

        其中:a,b=1,2,3,…,m-1;b=m,F(xiàn)(·)為分布函數(shù)。

        根據(jù)馬爾科夫鏈的性質(zhì)[31],可以得到平均運行長度ARL的公式:

        ARL=P0(I-R)-11

        (14)

        其中,P0是初始狀態(tài)概率矩陣,為簡單起見,設(shè)初始概率由中間點出發(fā),即P0=[0,0,…,1,…,0,0]1×m。根據(jù)m的奇偶性,中間值的位置可分為:

        (1)若m為偶數(shù),則令P0為第m/2列為中間值,即P0(1,m/2)=1,其余值為0的向量。

        (2)若m為奇數(shù),則P0為中間值為1,其余值為0的向量。

        由以上分析可以看出,在用馬爾科夫鏈法計算CUSUM控制圖的ARL時,需要知道觀測值Xt的分布,且在大部分的研究中,ARL的計算建立在受控時過程參數(shù)都已知的假設(shè)基礎(chǔ)上[32],如假設(shè)均值μ0=0和標準差σ0=1的正態(tài)分布,但在實際的生產(chǎn)中,這個分布往往是未知的,本研究用總體觀測值的最大熵分布近似估計其真實分布,基于此對馬爾科夫鏈中的轉(zhuǎn)移概率進行計算,并依次計算CUSUM控制圖的ARL值,實現(xiàn)對CUSUM的評價。

        3 仿真案例

        為了詳細地說明最大熵分布對Shewhart控制圖構(gòu)建及對CUSUM控制圖評價方法的改進,本文設(shè)計了仿真案例來進行說明。在機械制造、電氣等領(lǐng)域的質(zhì)量控制中,考慮到質(zhì)量特性參數(shù)服從重尾分布的情況比較多[33-34],基于此,我們以威布爾分布為例,對控制圖的性能進行分析。假設(shè)質(zhì)量特性參數(shù)X的真實分布為威布爾分布,其概率密度函數(shù)f(X)為

        (15)

        其中λ為比例系數(shù),k為形狀系數(shù),且λ>0,k>0。

        由于在實際生產(chǎn)過程中,很難確切地知道質(zhì)量特性參數(shù)的真實分布情況,本節(jié)首先應用最大熵估計對真實分布進行近似,然后依此構(gòu)建最大熵控制圖,并對控制圖進行評價,最后基于最大熵分布應用馬爾科夫鏈法計算自適應CUSUM控制圖ARL值,并與真實分布下控制圖的ARL值進行比較。

        3.1 最大熵分布對威布爾分布的擬合

        為了求解最大熵函數(shù),我們利用Matlab軟件進行仿真。生成1000個服從比例參數(shù)λ=1,形狀參數(shù)k=2的威布爾分布的離散隨機數(shù),并把這些信息作為質(zhì)量特性參數(shù)X最大熵分布的先驗信息,參考Zhang和Xu[35]的研究,把X的先驗信息轉(zhuǎn)化為函數(shù):u1(x)=lnx,u2(x)=x2因此根據(jù)公式(1),可得到以下最大熵分布的規(guī)劃模型:

        (16)

        從而得到最大熵分布函數(shù)為:

        f(x)=exp[λ0+λ1ln(x)+λ2x2]

        通過對約束條件中參數(shù)的計算,得到M1=-0.2589,M2=0.1968。利用Matlab軟件的非線性規(guī)劃工具,求解未知參數(shù)的值,得到:

        λ0=0.6931,λ1=1.0022,λ2=-0.9874

        因此,最大熵函數(shù)為:

        f(x)=exp[0.6931+1.0022ln(x)

        -0.9874x2]

        (17)

        為了驗證最大熵函數(shù)的有效性,將求得的f(x)與威布爾分布的密度函數(shù)進行對比,如圖3所示。從圖中可以看出,此處最大熵分布對威布爾分布的擬合較好。因此基于最大熵分布構(gòu)建Shewhart控制圖和對CUSUM控制圖進行評價,可以有效實現(xiàn)對質(zhì)量特性參數(shù)的控制。

        圖3 最大熵函數(shù)與威布爾分布概率密度函數(shù)對比

        3.2 基于最大熵分布控制圖控制界限的確定

        確定了質(zhì)量特性參數(shù)X的最大熵分布函數(shù)f(x)之后,就可以確定Shewhart控制圖和CUSUM控制圖的控制界限。

        基于最大熵分布對Shewhart控制圖的改進。給定第Ⅰ類錯誤α=0.05,將公式(17)中的最大熵函數(shù)帶入公式(9)中,通過數(shù)值法近似求得最佳控制區(qū)域為:A*=[0.076, 1.766]。而在傳統(tǒng)的Shewhart控制圖中,X被假設(shè)為服從正態(tài)分布,其控制圖的控制界限設(shè)置為[μ-3σ,μ+3σ](通過對離散值的估計,得到均值和標準差分別為μ=0.8977,σ=0.4436),得到X的Shewhart控制界限為[-0.433,2.228]。表1和圖4給出了應用最大熵分布對Shewhart控制圖進行改進前后的比較,從實際的威布爾分布看,X>0,而傳統(tǒng)的控制圖LCL的值小于0,因而沒有意義。而改進后的控制圖的控制區(qū)域比傳統(tǒng)方法得到的控制區(qū)域更短,且更符合分布的實際情況。

        圖4 改進前后的Shewhart控制圖的控制區(qū)域

        表1 改進前后Shewhart控制圖的控制界限

        3.3 基于ARL的最大熵Shewhart控制圖評價

        用失控狀態(tài)下的ARL來比較最大熵對Shewhart控制圖進行改進前后的控制性能,即在第Ⅰ類錯誤α=0.05下,當過程失控時,ARL越小越好。而當過程失控時,X不服從公式(15)中的威布爾分布,因此本文用參數(shù)λ的偏移來表示過程失控,若參數(shù)λ的偏移數(shù)值越大,代表過程失控程度越嚴重。由于在X的原分布中,比例參數(shù)λ=1,形狀參數(shù)k=2,則原分布概率密度函數(shù)為:

        f(x)=2x·exp(-x2)

        (18)

        設(shè)過程失控時,即λ≠1。設(shè)失控狀態(tài)下密度函數(shù)為f'(X),則:

        (19)

        在參數(shù)λ不同的偏移下,通過f'(X)可計算第Ⅱ類錯誤β,即:

        (20)

        其中UCL和LCL分別為用改進前后控制界限計算方法得到控制區(qū)域的上控制限和下控制限(如表1所示)。

        對于Shewhart控制圖,根據(jù)公式(20),可以求得第Ⅱ類錯誤β,并將其代入公式(11),就可以得到改進前Shewhart控制圖和改進后最大熵Shewhart控制圖在失控狀態(tài)下的ARL(如表2所示)。

        表2 失控狀態(tài)下改進前后Shewhart控制圖的ARL值

        由表2可知,隨著觀測值漂移量的增加,即λ的增大,最大熵Shewhart控制圖和Shewhart控制圖的ARL值都在減少。當偏移量較小時(λ<2,均值偏移量<2σ),最大熵Shewhart控制圖比傳統(tǒng)Shewhart控制圖的ARL小的多,因此在這種情況下,最大熵Shewhart控制圖比傳統(tǒng)Shewhart控制圖能更快地檢測到觀測值的漂移。但當偏移量較大時(λ>2,均值偏移量>2σ),改進后的Shewhart控制圖ARL值也小于改進前的ARL值,因此也可以更快地發(fā)現(xiàn)過程偏移。總的來說,最大熵Shewhart控制圖具有更好的監(jiān)控效果。

        3.4 基于最大熵分布的CUSUM控制圖評價

        為了驗證基于最大熵分布的CUSUM控制圖的評價方法。本文應用自適應CUSUM控制圖對過程進行監(jiān)測。為求控制界限,我們給出不同的偏移δ,取值為0.25~1.5,取值間隔為0.25。根據(jù)公式(12),得到了不同偏移下,監(jiān)測上偏移的自適應CUSUM控制圖的控制界限,如表3所示。

        表3 自適應CUSUM控制圖的控制界限

        對自適應CUSUM控制圖的評價。本研究應用2.3.2中的馬爾科夫鏈法計算控制圖的ARL,在這個過程中,分別應用真實威布爾分布(公式(18))、最大熵分布(公式(17))以及正態(tài)分布(數(shù)學期望和標準差為:μ=0.8977,σ=0.4436)作為總體分布的估計,并進行轉(zhuǎn)移概率的計算,最后得到三種分布下的ARL值,如表4所示。

        表4 失控狀態(tài)兩種CUSUM控制圖的ARL值

        從表4可以看出,在小偏移的情況下(λ<2),自適應CUSUM控制圖的ARL要比相同偏移下的Shewhart控制圖的小(對比表3),這也說明了自適應CUSUM控制圖對小偏移的監(jiān)測效果比Shewhart控制圖要好。而隨著偏移增大,所有控制圖的ARL都在減小。且當偏移后的比例參數(shù)λ為1.1至1.7時,基于正態(tài)分布 CUSUM控制圖的ARL與真實值的差距較大,而基于最大熵分布計算的CUSUM控制圖的ARL與真實值的差距較小。當λ超過2時,CUSUM控制圖的ARL下降速度明顯變慢。同時可以明顯地看出,在威布爾分布下,基于最大熵的CUSUM控制圖ARL值較正態(tài)分布下的結(jié)果更接近于真實值。這說明在重尾分布的情況下,應用基于最大熵的方法對CUSUM控制圖進行評價的結(jié)果更接近與真實分布的情況,結(jié)果也更客觀。

        3.5 小結(jié)

        從仿真案例的結(jié)果看,不同控制圖在過程的不同偏移下監(jiān)控效果不同,在實際情況中,應結(jié)合最大熵Shewhart控制圖和自適應CUSUM控制圖特點,即在過程發(fā)生不同偏移時采用不同的控制圖進行監(jiān)控。當過程發(fā)生的偏移較小時,可采用自適應CUSUM控制圖進行監(jiān)控;當過程發(fā)生的偏移較大且不一定服從正態(tài)分布時,應采用最大熵Shewhart控制圖進行監(jiān)控。當過程發(fā)生的偏移較大且服從正態(tài)分布時,可直接選擇Shewhart控制圖進行監(jiān)控;在對CUSUM控制圖的控制效果的評價中,基于質(zhì)量特性參數(shù)最大熵分布的控制圖評價方法能得到更接近于真實分布的結(jié)果。

        4 結(jié)語

        本文對質(zhì)量特性參數(shù)為一般分布下的Shewhart控制圖進行了改進和評價,并針對自適應CUSUM控制圖,提出了基于最大熵的評價方法。首先,根據(jù)最大熵原理,對分布進行了擬合,求出了質(zhì)量特性參數(shù)的最大熵分布,以此構(gòu)建了最大熵Shewhart控制圖,并選用失控狀態(tài)下ARL作為控制圖的評價指標;其次,針對自適應CUSUM控制圖,本研究提出了結(jié)合最大熵的馬爾科夫鏈方法對控制圖性能進行評價。最后通過仿真實驗,選取一個重尾分布進行驗證。結(jié)果表明,基于最大熵Shewhart控制圖的控制效果要優(yōu)于傳統(tǒng)的Shewhart控制圖。基于最大熵的CUSUM控制圖性能評價方法得到的結(jié)果與真實分布的情況更為接近。同時,本文還總結(jié)了不同偏移和分布情況下控制圖的適用情況,為實際生產(chǎn)中進行質(zhì)量控制提供參考。

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