劉賢軍, 孫遠航, 王永松, 施英瑩, 孫習武, 余建波,*
(1. 同濟大學機械與能源工程學院, 上海 201804; 2. 上海航天設備制造總廠有限公司, 上海 200245)
導電滑環(huán)作為衛(wèi)星太陽電池陣驅(qū)動機構(gòu),其工作可靠與否,直接關(guān)系到整星能源供給與任務成敗,是飛行器名副其實的“生命線”。作為衛(wèi)星的核心部件,滑環(huán)的可靠性成為了衡量整個衛(wèi)星可靠性的重要指標之一,由于滑環(huán)屬于高精度、長壽命、高可靠性產(chǎn)品,壽命試驗周期長,所需的試驗費用昂貴,無法獲取大樣本的壽命數(shù)據(jù),滑環(huán)可靠性難以評估。
滑環(huán)摩擦副是典型的載流摩擦副,摩擦副磨損受多因素影響,除觸頭和盤面的機械磨損外,由于電流介入,使得摩擦副的摩擦比同等條件下的干摩擦磨損更為嚴重[1],電流流經(jīng)觸頭和盤面產(chǎn)生焦耳熱,伴隨著電弧放電現(xiàn)象使得摩擦副磨損加劇,產(chǎn)生的大量磨屑將導致滑環(huán)出現(xiàn)短路、斷路現(xiàn)象,進而導致滑環(huán)的失效[2]。針對載流摩擦,國內(nèi)外學者也取得了很多成果,Ding等[3]通過載流摩擦試驗機測量不同載荷下磨屑量產(chǎn)生情況,發(fā)現(xiàn)磨損總量隨載荷的增加呈“U”字形變化,且存在最優(yōu)接觸載荷使得磨屑量最低,闡述了磨屑量和接觸載荷間的關(guān)系;Xie等[4]通過試驗的方法在不同載荷和滑動速度下,觀察滑環(huán)摩擦副的電接觸性能,得出接觸電壓與接觸載荷、速度的關(guān)系。熱力電多場耦合建模方面,Monnier等[5]通過有限元分析方法建立了熱力電多場耦合下的電接觸靜摩擦模型,分析電流流通區(qū)的接觸形變,針對接觸區(qū)域,將有限元法與赫茲理論比較,證明赫茲接觸理論在熱力電耦合場下預測接觸面形變的適用性,但其只分析了靜態(tài)環(huán)境下的電接觸摩擦;于艷艷[6]研究了風電滑環(huán)導電環(huán)與刷絲的硬度匹配對壽命的影響,探尋了溫度對材料硬度的影響,但其模型是純機械磨損模型。目前的研究更多集中在接觸載荷、材料特性、摩擦副匹配[7-8]等磨損機理的揭示,未針對載流摩擦副運行過程中的微觀磨損進行建模,提出量化摩擦副磨損程度的可靠性評估方法。
采用摩擦磨損模型進行滑環(huán)可靠性評估時,主要的困難是模型指定環(huán)境參數(shù)下,模型預測的壽命結(jié)果只有一組,由于數(shù)據(jù)量極少,無法進行可靠性分析??煽啃苑治鲱I域已經(jīng)有很多涉及小子樣的可靠性分析方法,其中Bootstrap方法作為可靠性分析中常用的樣本增廣方法,應用廣泛[9-10]。但由于傳統(tǒng)的Bootstrap方法在隨機樣本的生成方面存在不足,樣本的取值局限于原始樣本范圍內(nèi),已有大量專家學者對此進行了改進。黃瑋等[11]采用Sigmoid形Boltzmann函數(shù)和三次多項式函數(shù)分別擬合全局樣本以修正樣本經(jīng)驗分布函數(shù),拓寬了采樣范圍;劉建等[12]針對此問題每個樣本點做鄰域拓展,并給出拓展經(jīng)驗公式,但在鄰域內(nèi)部區(qū)間上采樣概率是一致的,當鄰域范圍設置不合理、樣本量較小時,均勻抽樣可能將導致抽樣結(jié)果偏離真實分布;鄒艷和羅文強[13]對抽樣方法最大統(tǒng)計量與最小統(tǒng)計量進行重新界定,將采樣范圍拓展至非觀測點,從而降低了樣本極值本身存在偏差時對抽樣結(jié)果的影響,但針對連續(xù)型變量,此方法在樣本點采集范圍上有所欠缺。
本文提出的基于多場耦合建模與改進Bootstrap的空間用滑環(huán)可靠性評估方法,主要的貢獻點如下:①對空間用滑環(huán)摩擦副進行微觀機理研究,建立了基于熱、力、電多物理場耦合的摩擦副磨損預測模型,可有效地進行滑環(huán)摩擦副的壽命預估;②結(jié)合虛擬樣本增廣技術(shù)以及改進Bootstrap方法,在保留鄰域拓展方法的同時,用截斷正態(tài)分布擬合樣本點鄰域內(nèi)部的樣本經(jīng)驗分布函數(shù),拓寬樣本抽樣范圍的同時,增加了樣本點本身的抽樣權(quán)重,仿真對比結(jié)果表明,改進后的方法具有更高的估計精度;③空間用滑環(huán)的全壽命預測與可靠性評估表明,模型的輸出結(jié)果符合工程實際,對提高空間用滑環(huán)的可靠性與質(zhì)量一致性具有重要意義。
近年來,導電滑環(huán)在在役衛(wèi)星投入使用過程中發(fā)生的各類嚴重故障,均是因為導電滑環(huán)失效而導致的整星報廢,其中大部分是由于摩擦副磨損產(chǎn)生的磨屑過多,從而引起如短路、斷路等致命性問題[14],針對這些問題,對滑環(huán)工藝優(yōu)化和可靠性測試分析也在持續(xù)開展中,但由于滑環(huán)造價昂貴,可靠性試驗成本高,如何充分運用已有的材料特征、工藝參數(shù)等信息構(gòu)建可靠性評估模型,對降低可靠性評估成本,優(yōu)化工藝參數(shù)具有重要意義。
本文所提的滑環(huán)可靠性評估方法流程見圖1,具體包括3個部分:
1) 針對滑環(huán)摩擦副熱力電多場耦合環(huán)境,提出基于赫茲理論的摩擦副接觸模型,計算多耦合場下摩擦副接觸面積的變化,運用熱輻射理論與傳熱學相關(guān)知識,計算摩擦副的溫升變化,結(jié)合粘著磨損理論,量化熱力電多場耦合對摩擦副的影響,建立多場耦合磨損計算模型。
2) 根據(jù)模型所得的壽命均值與方差,運用虛擬樣本增廣法進行擴充,為Bootstrap方法提供原始樣本數(shù)據(jù)點,針對方法的不足之處,在拓寬采樣范圍的基礎上增加原樣本點的權(quán)重,修改采樣的經(jīng)驗分布函數(shù),最后對威布爾兩參數(shù)進行特征參數(shù)的估計,得到了壽命分布的參數(shù)值。
3)由威布爾分布的可靠性相關(guān)公式,結(jié)合Bootstrap方法所得的壽命分布參數(shù)值,對滑環(huán)進行可靠性分析,得到滑環(huán)的失效分布函數(shù)和失效密度函數(shù),進而可得到滑環(huán)的可靠度函數(shù)與失效率函數(shù),得出包括中位壽命、特征壽命在內(nèi)的可靠性指標。
圖1 滑環(huán)可靠性評估流程圖Fig.1 Reliability evaluation flowchart of slip ring
滑環(huán)運行過程中,摩擦副觸頭和匯流盤之間通過一定的壓力連接在一起,傳遞穩(wěn)定的電信號與功率電流,觸頭和匯流盤兩者間產(chǎn)生相對滑動,滑環(huán)處在熱、力、電三個場組成的耦合場中,電流和摩擦的存在使得摩擦副溫度升高,溫度的升高影響摩擦材料的性能,進而影響磨損過程。
通過對磨損后滑環(huán)滑道微觀形貌的分析得知滑環(huán)的電弧侵蝕作用并不顯著,磨損形式主要為粘著磨損,本文運用赫茲理論和傳熱學相關(guān)知識,將熱力電三場耦合對摩擦副的影響轉(zhuǎn)化為溫升對摩擦副硬度的影響,提出了熱力電耦合場的粘著磨損計算模型,解決了熱力電三場耦合問題。
1) 基于赫茲理論的摩擦副接觸模型
導電滑環(huán)摩擦副電刷觸頭和匯流盤之間為點接觸,由于材料的彈性形變,兩者的接觸面向鄰近四周逐漸擴展變成半徑為c的近似圓[15],根據(jù)赫茲理論可計算半徑c的值,從而得到摩擦副的接觸面積為
(1)
式中:E為當量彈性模量;Fg為兩球體上的法向接觸壓緊力,在本文體現(xiàn)為簧片觸頭與匯流盤間的接觸壓力;r為當量曲率半徑。E和r由式(2)和式(3)得
(2)
(3)
式中:Ec與Ed分別為觸頭與匯流盤材料的彈性模量;uc與ud分別觸頭與匯流盤材料的泊松比;rc與rd分別為觸頭與匯流盤初始接觸點處的曲率半徑,在此模型中匯流盤接觸半徑rd視為無窮大,即取極限后的當量曲率半徑r值為rc。
2) 摩擦副溫升計算
滑環(huán)摩擦副運行時,熱量的產(chǎn)生通常由三部分組成:接觸電阻熱、盤面焦耳熱與摩擦熱,其產(chǎn)熱功率分別記為P1、P2與P3。接觸電阻熱與盤面焦耳熱都屬于焦耳熱,由電阻產(chǎn)熱公式計算可得,后者摩擦產(chǎn)熱可由摩擦產(chǎn)熱公式計算?;h(huán)在運行過程中不斷地產(chǎn)生焦耳熱和摩擦熱,同時又處在不斷散熱的狀態(tài),兩者最終會達到動態(tài)平衡,散熱速率由熱輻射公式[16]得出,從而得到產(chǎn)熱與散熱的動態(tài)平衡公式:
(4)
式中:Tt為產(chǎn)熱功率與散熱功率達到動態(tài)平衡時的穩(wěn)態(tài)溫度;Sa為單個盤道的有效散熱面積;C0為常數(shù),值為5.76 W(m2·K4)。代入相應計算式,可得穩(wěn)態(tài)溫度的為
(5)
式中:P2計算代入的電阻值為旋轉(zhuǎn)一周的電阻平均值,由積分式所得;R1為觸頭與匯流盤之間的接觸電阻;I為滑環(huán)工作電流;Rd為匯流盤環(huán)道半徑;ρ為盤面鍍層材料電阻率;μ為匯流盤與觸頭間的摩擦系數(shù);v為觸頭和匯流盤間的相對速度。
由式(5)可知摩擦副溫度受到包括接觸載荷、電流等多因素的影響,融合了熱、力、電三因素的耦合關(guān)系,耦合場下滑環(huán)的溫升變化將影響摩擦副材料的硬度特性,進而影響摩擦副的磨損速率,硬度隨溫度的變化關(guān)系尚無準確函數(shù)來表征,一般根據(jù)摩擦副的材料特征查表或試驗得到。
3) 基于粘著磨損的多場耦合模型
導電滑環(huán)磨損階段同一般磨損階段一致,可分為三階段:跑合預磨損階段、穩(wěn)定磨損階段、劇烈磨損階段,本文研究的內(nèi)容都是基于穩(wěn)定磨損階段展開的。穩(wěn)定階段粘著磨損滿足如下基本定律:①磨損的體積與滑動距離、載荷成正比;②磨損產(chǎn)生的磨屑量與較軟材料的屈服極限(或硬度)成反比。在穩(wěn)定磨損階段下,粘著磨損產(chǎn)生的磨屑體積[17]為
(6)
式中:S為摩擦副觸頭滑動距離;kw為粘著磨損常系數(shù),需要在試驗中測定;H為材料硬度,受溫度影響。定義摩擦副粘著磨損強度σm,表示摩擦副在一定粘著磨損因子下的磨損程度:
(7)
式中:z為安全系數(shù),大于1;fm為粘著磨損因子;λm為材料的影響系數(shù),與材料硬度有關(guān),其計算公式為[18]
(8)
(9)
式中:σc與σd分別為觸頭與匯流盤的粘著磨損程度,可由式(7)得出。由于摩擦副間是圓周滑動,根據(jù)圓周長公式,聯(lián)立式(6)~式(9)進一步可得摩擦副運轉(zhuǎn)圈數(shù)N的表達式為
(10)
式中:C為摩擦副旋轉(zhuǎn)一周軌跡的周長;Hc、Hd分別代表觸頭、匯流盤硬度值。
由公式可知,滑環(huán)的運轉(zhuǎn)壽命與摩擦副接觸面積、材料的硬度等密切相關(guān),而摩擦副接觸面積又受到摩擦副電流、溫度、載荷等影響,綜合考慮了多耦合場對滑環(huán)壽命的影響,在此基礎上,結(jié)合磨屑失效閾值可對滑環(huán)進行壽命預估。
Bootstrap方法是一種常用的統(tǒng)計推斷方法,目的是用現(xiàn)有的樣本去模仿未知的分布,經(jīng)典的Bootstrap方法是美國Stanford大學統(tǒng)計系教授Efron于1979年提出的,方法大致步驟如下:
(11)
(12)
(13)
(14)
由3.1節(jié)的步驟可知,Bootstrap方法可通過大量的再生子樣進行參數(shù)的估計,但其中采樣方式具有一定的局限性,樣本的累積經(jīng)驗分布函數(shù)將樣本的取值范圍限制在了[x(1),x(n)]中,且樣本的取值是離散的,對于連續(xù)取值的變量無法獲取樣本點之外的信息。針對這些問題,構(gòu)造新的樣本累積經(jīng)驗分布函數(shù),采用對稱分布(截斷正態(tài)分布)修正樣本點鄰域的采樣密度函數(shù),具體做法如下:
1) 把觀測樣本x1,x2,…,xn,按照從小到大的順序進行排列,得到樣本的順序統(tǒng)計量x(1),x(2),…,x(n),對每個觀測值x(i)做如下鄰域[12]:
(15)
(16)
(17)
式中:j為控制系數(shù)(j≥2),系數(shù)值的大小控制著每個抽樣子區(qū)間的長度,值越大,區(qū)間長度越窄,抽取的新樣本越集中在原始樣本點的附近,當樣本量較小時,宜取較小的j值,增大鄰域區(qū)間的寬度,當樣本量較大時,可適當增大j值。
2) 確定鄰域指標P(Ui),其分布特性滿足:
(18)
i=1,2,…,n
(19)
式中:μi為鄰域區(qū)間的中心值,即自助樣本的觀測值;ai與bi分別對應各鄰域區(qū)間的始末端點;σi為各鄰域區(qū)間取值的標準差,依據(jù)原觀測樣本的樣本容量大小和樣本點數(shù)據(jù)經(jīng)驗給出,不同的標準差將反映自助樣本對原樣本的依賴程度高低;φ(·)與Φ(·)分別為標準正態(tài)分布的概率密度函數(shù)和標準正態(tài)分布的累積分布函數(shù)。
1) 產(chǎn)生[0,n]區(qū)間的均勻分布的隨機數(shù)β,令i=|β|,即本次抽樣應在順序統(tǒng)計量x(1),x(2),…,x(n)的第i個鄰域區(qū)間內(nèi)進行采樣。
xF=arcF(γ;μi,σi,ai,bi)
(20)
即為此次抽取的一個新數(shù)據(jù)樣本。
為驗證多場耦合摩擦磨損模型的合理性,得到合理的滑環(huán)壽命數(shù)據(jù),將同型號的滑環(huán)進行跑合試驗,對比磨屑值。
用于試驗驗證的滑環(huán)需進行兩次跑合試驗和一系列環(huán)模試驗,試驗的順序一般為:大氣跑合試驗→加速度試驗→沖擊試驗→正弦振動試驗→隨機振動試驗→熱真空試驗→真空跑合試驗,兩次跑合試驗的參數(shù)見表1。
將5組滑環(huán)進行大氣條件下預跑合,跑合試驗主要在常溫、常壓、空載條件下進行,跑合采用快速模式,正反轉(zhuǎn)各跑合24 h,每隔12 h變換一次跑合方向,并保證跑合過程中正反轉(zhuǎn)累計跑合時間一致。跑合過程中主要檢查產(chǎn)品正、反向運轉(zhuǎn)是否正常,并持續(xù)監(jiān)測產(chǎn)品的單刷通斷測試數(shù)據(jù),根據(jù)單刷通斷數(shù)據(jù)判斷滑環(huán)內(nèi)部環(huán)刷接觸狀態(tài)是否良好。跑合結(jié)束時,需保證滑環(huán)產(chǎn)品正反轉(zhuǎn)連續(xù)12 h均無斷點,磨屑總量不大于10 mg,且電壓降和電噪聲符合性能指標要求。
在產(chǎn)品完成力學試驗和熱真空試驗后,在真空環(huán)節(jié)下進行產(chǎn)品的連續(xù)跑合,設置摩擦副接觸載荷Fg的范圍為0.2 ~0.36 N,間距為0.04 N,5組滑環(huán)均在真空環(huán)境下累計運轉(zhuǎn)5萬轉(zhuǎn),跑合期間滑環(huán)正常通電,跑合過程中,連續(xù)監(jiān)測產(chǎn)品的電性能、絕緣性能,跑合結(jié)束后利用精度優(yōu)于1 mg的電子天平檢測磨屑質(zhì)量,磨屑實測質(zhì)量分別為1 112、1 192、1 230、1 280 mg與1 290 mg,利用電鏡觀察到觸頭磨損后表面形貌如圖2所示。
將真空跑合的環(huán)境參數(shù)輸入到多場耦合摩擦磨損模型中,同樣設置運轉(zhuǎn)5萬轉(zhuǎn)進行仿真試驗,
表1 滑環(huán)跑合試驗參數(shù)Table 1 Running-in test parameters of slip ring
圖2 觸頭表面電鏡形貌圖Fig.2 Contact surface morphology by electron microscopy
所得磨屑結(jié)果與真實試驗結(jié)果進行對比,對比結(jié)果如圖3所示。由圖可知,多場耦合摩擦磨損模型的計算結(jié)果與試驗結(jié)果吻合程度高,最大偏差出現(xiàn)在0.36 N處,為52 mg,偏差僅為4.03%,其余波動均在合理范圍內(nèi),可見模型的預測結(jié)果具有較高的合理性與準確性。
圖3 試驗結(jié)果與模型結(jié)果對比圖Fig.3 Comparison between test results and model results
摩擦磨損模型建立了一定環(huán)境參數(shù)范圍下滑環(huán)磨屑值和跑合圈數(shù)的數(shù)學模型,在實際運行過程中,滑環(huán)由于受到環(huán)境變量和滑環(huán)工藝參數(shù)波動的影響,磨屑閾值應在一定范圍內(nèi)小幅波動。某廠制造的某型號空間用盤式滑環(huán),在指定工藝環(huán)境條件下,技術(shù)指標書中指定的失效閾值為1 000 mg,為得到更加合理滑環(huán)的偽壽命值,設定模型磨屑閾值輸入在950~1 050 mg間隨機波動。
其余參數(shù)的余量控制范圍由該廠提供的技術(shù)指標書可得,為了簡化參數(shù)波動對模型結(jié)果的影響,綜合考慮參數(shù)本身加工精度、對壽命的影響程度,只設定接觸載荷在一定范圍內(nèi)隨機波動,環(huán)境參數(shù)設定如表2所示。
設定好環(huán)境和條件參數(shù)后,在磨屑閾值950~1 050 mg之間抽取10 000組隨機閾值輸入到模型中,得到的滑環(huán)跑合壽命分布圖如圖4所示,這里將轉(zhuǎn)數(shù)壽命轉(zhuǎn)化為在軌壽命,按低軌運行14.4 r/d折算。壽命的均值和標準差為:4 280.9 d、123.2 d。
表2 模型部分輸入?yún)?shù)Table 2 Some of model input parameters
圖4 模型壽命分布圖Fig.4 Life distribution of model
衛(wèi)星長壽命機電產(chǎn)品主要的壽命分布類型為威布爾分布和對數(shù)正態(tài)分布[19],威布爾分布是可靠性中最常用的分布之一,其最大的特點在于,分布形狀參數(shù)的不同能夠擬合多種不同失效機理的分布,大量的實際經(jīng)驗說明[20-21],凡是因某一局部失效而導致全局不能正常工作的原件、設備等,其壽命都可看成或近似看成威布爾分布,滑環(huán)本質(zhì)上是機電部件,普遍認為其壽命服從威布爾分布。
運用修正后的累積經(jīng)驗分布函數(shù)進行Bootstrap采樣,需要確定原始樣本的數(shù)量,Bootstrap方法很好地解決了樣本量n≥10的小子樣試驗評估問題[22],一般在10~15之間取值[23-25],本文參照文獻[25]的做法,取虛擬樣本增廣的樣本數(shù)為13,即原始樣本的數(shù)量為13。
針對增廣后的壽命樣本,運用改進后的Bootstrap理論進行參數(shù)特征值的估計,具體實現(xiàn)如下:
1) 先對原始的13個樣本分別用威布爾分布和正態(tài)分布進行Kolmogorov-Smirnov(K-S)檢驗,觀察原始樣本的分布擬合情況,分布假設檢驗結(jié)果如表3所示。
表3中,h=0表示接受假設,h=1表示拒絕假設;p為服從假設的分布函數(shù)的概率;k為K-S檢驗的統(tǒng)計量;c′為是否顯著的臨界值,當統(tǒng)計量不超過c′時,接受假設,反之拒絕。由檢驗結(jié)果可知,原樣本均接受威布爾分布和正態(tài)分布,但威布爾分布的概率最高,由此可確定虛擬增廣的壽命樣本服從威布爾分布,符合預期,進而得出樣本的威布爾分布的形狀參數(shù)為3.261 9,尺度參為4 374.1。得到服從威布爾分布的原始樣本及參數(shù)估計后,進行累積分布函數(shù)的構(gòu)建。
i=2,3,…,n-1
(21)
首末樣本點的區(qū)間內(nèi)部標準差取相應鄰側(cè)表達式值。
表3 分布假設檢驗結(jié)果Table 3 Test results of distribution hypothesis
根據(jù)4.2節(jié)求得的威布爾分布兩參數(shù),代入威布爾分布的相關(guān)函數(shù)表達式,可得滑環(huán)相關(guān)的可靠性指標如下:
1) 失效分布函數(shù)F(t)和失效密度函數(shù)f(t)分別為
F(t)=1-e-(t/η)m=1-exp(-2.11×
10-12×t3.172 3)
(22)
t2.172 3×exp(-2.11×10-12×t3.172 3)
(23)
由式(23)可得滑環(huán)失效分布密度函數(shù)曲線,如圖7所示。
2) 由式(22)得滑環(huán)的可靠度函數(shù)式(24),可靠度函數(shù)的曲線如圖8所示。
R(t)=1-F(t)=exp(-2.11×10-12×t3.172 3)
(24)
圖5 尺度參數(shù)η概率密度分布Fig.5 Probability density curves of scale parameter η
圖6 形狀參數(shù)m概率密度分布Fig.6 Probability density curves of shape parameter m
圖7 滑環(huán)概率密度函數(shù)曲線Fig.7 Probability density function curve of slip ring
由可靠性曲線可知,隨著任務時間的增長,產(chǎn)品的可靠性呈現(xiàn)下降趨勢,滑環(huán)壽命初期的可靠性較高,在該型號額定的任務時間5年(1 825天)其可靠度為0.954,與設計要求0.998相差4.4%,評估效果較好;此外到2 987天(8.18年)左右可靠度減至0.8,其后可靠度迅速遞減,說明滑環(huán)是一個性能退化產(chǎn)品,在磨屑量增多情況下將加劇磨損,加速滑環(huán)的失效,和實際情況相符。
3) 滑環(huán)失效率函數(shù)為
(25)
由此可得滑環(huán)失效率函數(shù)曲線如圖9所示。由圖9可知,滑環(huán)的失效率函數(shù)為遞增型,在運行到6 000天時,其失效率達到1.1×10-3個/天,即表示每1 000組該型號的滑環(huán)在本文設定的環(huán)境條件下工作6 000天后,單位時間內(nèi)失效的滑環(huán)為1.1個。在此時間節(jié)點前,各時刻滑環(huán)的失效率均低于1.1×10-3個/天。由此可見,該型號滑環(huán)的可靠性較高。
4) 滑環(huán)的可靠壽命表達式為
tR=η(-lnR)1/m=4 792.4×(-lnR)3.172 3
(26)
式中:R為可靠度。
圖8 滑環(huán)可靠度函數(shù)曲線Fig.8 Reliability function curve of slip ring
圖9 滑環(huán)失效率函數(shù)曲線Fig.9 Failure rate function curve of slip ring
在實際工程應用中,可通過式(26)計算可靠度要求為R時的可靠壽命tR,其代表著,要滿足可靠度R,當該型號滑環(huán)在文中所設的運行參數(shù)中連續(xù)運轉(zhuǎn)tR后,不論失效與否,都應進行更換。由式(26)可得該批次滑環(huán)的中位壽命t0.5和特征壽命t0.368分別為
t0.5=η(ln 2)1/m=4 269.5 d
t0.368=η(-ln 0.368)1/m=4 791.9 d
由中位壽命t0.5可知,該滑環(huán)工作到4 269.5天后,將約有一半的滑環(huán)失效。
為了驗證本文所提改進Bootstrap方法的優(yōu)越性,與文獻[23]所提的改進Bootstrap方法進行對比。根據(jù)文獻[23]的改進思路,對累積分布函數(shù)的尾部運用指數(shù)分布進行擬合,拓寬右尾的采樣范圍,針對抽樣樣本的范圍受限于原樣本的最小次序統(tǒng)計量的問題,在次序統(tǒng)計量的最小值x(1)的左側(cè)增設一個新樣本,修正后的累積經(jīng)驗分布函數(shù)為
Fn(x)=
(27)
式中:l表示從順序統(tǒng)計量的倒數(shù)第l個樣本開始,用指數(shù)分布修正累積分布函數(shù);參數(shù)ε為
(28)
為了避免偶然性,采用威布爾分布隨機數(shù)來驗證兩種改進方法的評估效果,仿真產(chǎn)生壽命分布服從m=3,η=4 000威布爾分布的13個隨機數(shù)為{1 256.02,2 186.03,2 238.05,2 338.83,2 405.54,2 812.267 994,2 894.59,3 195.05,3 310.01,4 461.38,4 966.09,5 108.06,5 113.49},代入兩個模型當中計算相應的威布爾參數(shù)估計值,選取抽樣次數(shù)為10 000,根據(jù)兩方法得到的威布爾參數(shù)值,繪制各自的概率密度函數(shù)曲線如圖10所示。
圖10 不同方法的估計結(jié)果Fig.10 Estimation result of different methods
由圖10結(jié)果可知,本文提出的截斷正態(tài)分布擬合法得出的概率密度函數(shù)曲線形狀和趨勢更加貼近真實分布,采用指數(shù)分布構(gòu)造樣本的累積分布函數(shù),極大地增廣了抽樣的右尾范圍,但方法賦予右尾區(qū)間的采樣概率偏大,導致估計結(jié)果不理想,且方法在左尾新增樣本的公式雖擴寬了樣本的抽樣下限,但主觀性較大,不具有普適性,綜上所示,本文所提的改進Bootstrap方法充分利用原始樣本信息,有操作簡單、估計精度高等優(yōu)點。
1) 針對某型號滑環(huán)多場耦合的環(huán)境特點,建立滑環(huán)摩擦副磨損物理模型,量化了多場環(huán)境對滑環(huán)磨損的影響,并針對模型進行了試驗驗證,結(jié)果表明,模型在一定環(huán)境參數(shù)范圍內(nèi),跑合圈數(shù)最大偏差為4.03%,對該型號滑環(huán)的壽命預估結(jié)果精度較高。
2) 構(gòu)造了新的樣本累積經(jīng)驗分布函數(shù),改進原Bootstrap方法,拓展抽樣區(qū)間范圍,包括樣本點附近的數(shù)據(jù)以及樣本極值點,對滑環(huán)壽命數(shù)據(jù)進行樣本增廣,對比分析表明,改進Bootstrap方法具有良好的評估效果,具有實用強、估計精度高等優(yōu)點。
3) 由改進Bootstrap方法得到的壽命分布參數(shù)值,對滑環(huán)進行可靠性評估,得到的任務時間內(nèi)可靠度估計偏差為4.4%,評估結(jié)果較為準確,方法得到的其他各項可靠性指標均符合工程實際,具有一定的工程應用價值。