王 濤，黃坤超，李晨陽(yáng)

(中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十研究所，四川 成都 610036)

0 引 言

隨著FPGA在航空、航天、通信、識(shí)別等領(lǐng)域的廣泛使用，以及業(yè)內(nèi)對(duì)FPGA驗(yàn)證質(zhì)量要求的不斷提高，傳統(tǒng)的仿真驗(yàn)證已難以滿足日益增長(zhǎng)的驗(yàn)證需求，驗(yàn)證技術(shù)也由傳統(tǒng)仿真驗(yàn)證逐漸轉(zhuǎn)移到新一代的驗(yàn)證方法學(xué)中.

目前主流的驗(yàn)證方法學(xué)分別是VMM，OVM和UVM，其中UVM已成為業(yè)內(nèi)廣泛使用的驗(yàn)證技術(shù)[1]，屬于TLM級(jí)驗(yàn)證，具有較高層次，主流的EDA工具均支持UVM，已成為各大公司驗(yàn)證趨勢(shì).國(guó)內(nèi)航天等科研單位都在積極開(kāi)展FPGA自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)研究，對(duì)UVM驗(yàn)證方法表現(xiàn)出極大興趣.UVM主要是針對(duì)相似的FPGA接口進(jìn)行驗(yàn)證，據(jù)統(tǒng)計(jì)，現(xiàn)有的大部分UVM驗(yàn)證平臺(tái)的實(shí)現(xiàn)與DUT呈現(xiàn)緊耦合性[2]，導(dǎo)致驗(yàn)證組件不能直接在不同項(xiàng)目平臺(tái)中使用，其可重用性需要通過(guò)重建或替換已有驗(yàn)證平臺(tái)的部分代碼來(lái)實(shí)現(xiàn)，使得多重測(cè)試環(huán)境復(fù)雜度增加，產(chǎn)生大量的工作量[3,4].

面對(duì)多接口的復(fù)雜設(shè)計(jì)環(huán)境，為滿足多重驗(yàn)證環(huán)境需要，利用通用UVM驗(yàn)證平臺(tái)架構(gòu)進(jìn)行重新優(yōu)化設(shè)計(jì)，建立一種基于UVM的高層次化測(cè)試平臺(tái)，提出層次化設(shè)計(jì)、通用數(shù)據(jù)庫(kù)共享、事件同步化控制、自動(dòng)化執(zhí)行等技術(shù)，建立一套新的重用機(jī)制，使得重用性即能在相似接口內(nèi)重用，又可以在多種不同接口的復(fù)雜環(huán)境中重用，提升測(cè)試的可重用性.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明改進(jìn)后的平臺(tái)可使測(cè)試時(shí)間縮短40%以上，并滿足多種接口測(cè)試需要.

1 FPGA通用接口自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)

1.1 通用接口分析

目前FPGA設(shè)計(jì)較多的是采用DSP+FPGA設(shè)計(jì)構(gòu)架，對(duì)歷屆測(cè)試項(xiàng)目統(tǒng)計(jì)FPGA對(duì)外接口主要包括UART，SPI和DSP等.一般情況下UART，SPI和DSP接口設(shè)計(jì)是通過(guò)總線架構(gòu)形式配合使用，如圖1所示.

圖1 FPGA通用接口關(guān)系

根據(jù)UART，SPI和DSP 3種接口支持的不同類(lèi)型協(xié)議，通過(guò)思維導(dǎo)圖分解接口需求，主要包含DSP的只讀、只寫(xiě)、可讀可寫(xiě)測(cè)試，UART和SPI的收發(fā)功能一致性測(cè)試、緩沖測(cè)試、幀格式測(cè)試，校驗(yàn)位測(cè)試、幀長(zhǎng)測(cè)試、毛刺測(cè)試、波特率測(cè)試等，可通過(guò)配置寄存器組合出不同的實(shí)現(xiàn)模式.

1.2 通用接口自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)

基于UVM測(cè)試平臺(tái)，改進(jìn)后的FPGA通用接口自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)如圖2所示.

圖2 通用接口自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)

FPGA軟件通用接口自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)分為測(cè)試平臺(tái)和管理平臺(tái)兩部分.管理平臺(tái)為自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的實(shí)施提供所對(duì)應(yīng)的可視化操作窗口，提供接口參數(shù)配置和結(jié)果輸出界面，通過(guò)腳本方式完成管理平臺(tái)與測(cè)試平臺(tái)之間的數(shù)據(jù)交互.

測(cè)試平臺(tái)在UVM基礎(chǔ)上改進(jìn)形成，由一個(gè)TOP頂層封裝起來(lái)，首先在TEST層控制發(fā)送sequence_high(高層次序列)給序列器sequencer；Sequencer將sequence_high以指針的形式傳遞給驅(qū)動(dòng)器Driver；其次在BASE_TEST層中建立通用數(shù)據(jù)庫(kù)和ENV層之間的各個(gè)組件連接關(guān)系，建立數(shù)據(jù)傳輸通道；Driver根據(jù)接收到的高層次序列命令sequence_high，從通用數(shù)據(jù)庫(kù)sequence_low_lib中提取相應(yīng)的底層次序列sequence和系統(tǒng)配置參數(shù)sequence_sys，將底層次序列送給被測(cè)件DUT；監(jiān)控器Monitor收集DUT輸出數(shù)據(jù)和覆蓋率數(shù)據(jù)等，將收集好的數(shù)據(jù)傳遞給Collect_lib(數(shù)據(jù)收集庫(kù))，Collect_lib負(fù)責(zé)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理和覆蓋率收集；比較器Scoreboard從數(shù)據(jù)收集庫(kù)Collect_lib提取要比較的數(shù)據(jù)，在Scoreboard比較完成后，打印輸出結(jié)果.最終實(shí)現(xiàn)測(cè)試指令與測(cè)試設(shè)計(jì)相分離，測(cè)試設(shè)計(jì)與被測(cè)設(shè)計(jì)相分離的設(shè)計(jì)，完成整個(gè)測(cè)試過(guò)程.

2 關(guān)鍵性技術(shù)實(shí)現(xiàn)

2.1 層次化設(shè)計(jì)

對(duì)于任何一種新型的驗(yàn)證方法學(xué)來(lái)說(shuō)，分層的測(cè)試平臺(tái)是一個(gè)關(guān)鍵概念，分層有助于驗(yàn)證平臺(tái)的可移植性和可維護(hù)性[5].研究表明，越是高層次化的驗(yàn)證則驗(yàn)證效率越高[6].傳統(tǒng)的仿真采用平面式的驗(yàn)證環(huán)境，層次化程度很低，不利于重用，難以處理各種情境下的驗(yàn)證問(wèn)題.

現(xiàn)有的UVM驗(yàn)證平臺(tái)在TLM級(jí)組件之間的通信通過(guò)專門(mén)PORT端口傳遞消息[7]，在TEST頂層直接實(shí)現(xiàn)和控制測(cè)試序列產(chǎn)生，同時(shí)還要考慮多序列之間的同步問(wèn)題，抽象層次級(jí)別低，同時(shí)驗(yàn)證組件之間呈現(xiàn)緊耦合關(guān)系，導(dǎo)致其可重用性較差.當(dāng)多重環(huán)境存在時(shí)，驗(yàn)證的復(fù)雜度和出錯(cuò)概率都急劇增加[8,9].因此，為提高代碼的可重用性，需要在一個(gè)UVM驗(yàn)證平臺(tái)下，即要保留TLM級(jí)處理能力，又要同時(shí)滿足多重環(huán)境需要.為此，在UVM基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)出一種新的高層次化結(jié)構(gòu)，如圖3所示.

改進(jìn)后的UVM和通用UVM的層次關(guān)系不同之處在于：一方面，將原有的測(cè)試序列sequence按層次分成4類(lèi)，分別為高層次序列、底層次序列庫(kù)、數(shù)據(jù)收集庫(kù)和系統(tǒng)配置4個(gè)部分，由于原來(lái)的序列使用過(guò)于直接，級(jí)別低，劃分不明確，每次測(cè)試都需要用戶重新開(kāi)始設(shè)計(jì)，因此，通過(guò)分解，序列不僅提高了重用性，而且提升序列的抽象級(jí)別，同時(shí)解決了多序列帶來(lái)的同步化問(wèn)題，消除了采用vrtual sequencer和virtual sequencer進(jìn)行同步的復(fù)雜序列設(shè)計(jì)；另一方面，在ENV層中統(tǒng)一Driver，Monitor，Scoreboard和Ref_model4個(gè)組件，其中只保留sequencer和Drive組件之間采用PORT端口傳遞信息，繼承UVM特性，其余組件之間信息傳遞使用通用數(shù)據(jù)庫(kù)共享方式替代PORT端口傳遞消息，取消agent代理層設(shè)計(jì)，這樣做可以大大地簡(jiǎn)化測(cè)試環(huán)境之間的耦合關(guān)系，不僅提高了可重用性，而且在處理不同信息時(shí)得到了擴(kuò)展，處理方式更加簡(jiǎn)潔和透明.使用一個(gè)平臺(tái)，即可完成對(duì)不同的多接口測(cè)試環(huán)境需要.

2.2 通用數(shù)據(jù)庫(kù)共享

通用數(shù)據(jù)庫(kù)是在建立測(cè)試用例過(guò)程中引入的一種專家知識(shí)庫(kù)概念[10]，是一個(gè)中央存儲(chǔ)數(shù)據(jù)庫(kù)，由一組產(chǎn)生各種激勵(lì)序列的sequence類(lèi)組成，可以與UVM驗(yàn)證環(huán)境中的任何組件進(jìn)行信息交互，整合了仿真所需要的多個(gè)獨(dú)立的數(shù)據(jù)庫(kù)，數(shù)據(jù)庫(kù)的創(chuàng)建從需求中提取高價(jià)值的信息，結(jié)合隨機(jī)約束特性，進(jìn)行高效利用.高層次序列、底層次序列庫(kù)、數(shù)據(jù)收集庫(kù)、系統(tǒng)配置4個(gè)部分與組件之間的共享方式如圖4所示.

圖4 數(shù)據(jù)庫(kù)與組件之間的共享方式

sequence_high按照需求規(guī)格提煉出驗(yàn)證特性，將驗(yàn)證特性進(jìn)行歸類(lèi)處理后，對(duì)應(yīng)測(cè)試用例的功能測(cè)試點(diǎn)表示，sequence_low_lib就是每個(gè)功能測(cè)試點(diǎn)具體輸入數(shù)據(jù)序列的集合.高層次序列抽象級(jí)別較高，為決策者，低層次序列是直接測(cè)試序列，抽象級(jí)別較低，為執(zhí)行者，兩者將決策與具體執(zhí)行聯(lián)合在一起.collect_lib主要是收集DUT輸出的各種實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)，同時(shí)也收集參考模型或底層序列庫(kù)傳遞來(lái)的期望數(shù)據(jù)以及覆蓋收集等，在收集數(shù)據(jù)完成后，產(chǎn)生不同的同步標(biāo)志信息，供比較器Scoreboard使用.由于DUT是一種時(shí)序電路，驅(qū)動(dòng)接口時(shí)會(huì)有時(shí)序參數(shù)要求，因此，必須要有sequence_sys系統(tǒng)配置，sequence_sys主要包括建立控制接口信號(hào)正確時(shí)序關(guān)系的各種時(shí)序參數(shù)，如時(shí)鐘頻率、建立時(shí)間、保持時(shí)間、發(fā)包間隔等.

圖5～圖8 分別是高層次序列、底層次序列庫(kù)、數(shù)據(jù)收集庫(kù)、系統(tǒng)配置設(shè)計(jì)示例，每類(lèi)序列設(shè)計(jì)允許創(chuàng)建、修改、新增、刪除等操作.實(shí)現(xiàn)機(jī)制采用class形式將序列封裝起來(lái)形成一組參數(shù)化，提高繼承者的配置功能和通用功能.通過(guò)利用UVM的Field_Automation宏機(jī)制注冊(cè)，使用`uvm_field_*系列宏體注冊(cè)不同數(shù)據(jù)類(lèi)型的變量，宏的使用實(shí)際上相當(dāng)于是一種對(duì)數(shù)據(jù)變量的控制開(kāi)關(guān)，使用if/case判決條件語(yǔ)句判決高層次序列激活時(shí)啟用不同的數(shù)據(jù)變量.利用該機(jī)制用戶能夠很方便地產(chǎn)生所需要的各種序列.

圖5 高層次序列設(shè)計(jì)

圖8 數(shù)據(jù)收集設(shè)計(jì)

通用數(shù)據(jù)庫(kù)是作為uvm_object的class類(lèi)產(chǎn)生所有相關(guān)的數(shù)據(jù)分類(lèi)設(shè)計(jì)，數(shù)據(jù)庫(kù)可以在任何的component or object中共享.共享方式在BASE_TEST層完成配置，主要作用是建立數(shù)據(jù)庫(kù)和ENV層的各個(gè)組件之間連接關(guān)系，建立數(shù)據(jù)傳輸通道，其基本結(jié)構(gòu)如圖9所示.使用uvm_config_db::set(源文件使用)函數(shù)將需要共享的數(shù)據(jù)庫(kù)傳遞給指定的模塊；組件調(diào)用時(shí)，使用uvm_config_db::get(目的文件使用)函數(shù)將該指定的模塊導(dǎo)出共享的數(shù)據(jù)庫(kù).

圖9 數(shù)據(jù)庫(kù)在不同組件之間的映射

利用數(shù)據(jù)庫(kù)充分挖掘UVM驗(yàn)證環(huán)境中數(shù)據(jù)的有用信息，提高數(shù)據(jù)分析的有效性，支撐決策制定，聯(lián)合不同的DSP，UART，SPI等接口最優(yōu)數(shù)據(jù)格式需求，構(gòu)建一種可共享和跨項(xiàng)目的通用數(shù)據(jù)庫(kù)，有效提高跨組件的通信和互操作能力，實(shí)現(xiàn)資源合理配置，滿足多個(gè)平臺(tái)重用.

2.3 事件同步化控制設(shè)計(jì)

測(cè)試平臺(tái)組件Driver，Monitor，Scoreboard 3者之間必須有密切的時(shí)序配合才能正常工作，基于時(shí)鐘周期級(jí)的測(cè)試平臺(tái)對(duì)于具體時(shí)鐘的緊耦合性很強(qiáng)，需要處理執(zhí)行過(guò)程中初始化、驅(qū)動(dòng)、監(jiān)控和比較等組件，組件之間的信息交互難以處理同步化關(guān)系，同時(shí)還存在一定的時(shí)序競(jìng)爭(zhēng)問(wèn)題.事件觸發(fā)對(duì)于具體時(shí)鐘的緊耦合性不強(qiáng)，采用事件觸發(fā)解決組件之間信息傳遞同步化處理是一種很好的解決辦法，如圖10所示.

圖10 基于事件的同步化控制

2.4 自動(dòng)化執(zhí)行

測(cè)試平臺(tái)的自動(dòng)化執(zhí)行，是提升測(cè)試效率的有效手段，平臺(tái)可以同時(shí)提供兩種自動(dòng)化執(zhí)行方法，包括人機(jī)交互界面自動(dòng)調(diào)試和命令行的腳本化輸入方式.

利用腳本執(zhí)行測(cè)試平臺(tái)，測(cè)試結(jié)果自動(dòng)呈現(xiàn).腳本的開(kāi)發(fā)關(guān)鍵是要處理好測(cè)試平臺(tái)工作目錄配置以及腳本處理對(duì)象，即方便腳本設(shè)計(jì)又可以便利平臺(tái)重用，利用腳本將平臺(tái)工作目錄下的各個(gè)組件銜接形成一個(gè)整體進(jìn)行無(wú)縫工作.測(cè)試平臺(tái)的腳本目錄及工作流程如圖11 和圖12所示.

圖11 測(cè)試平臺(tái)腳本目錄

圖12 測(cè)試平臺(tái)工作流程

同時(shí)利用Qt工具開(kāi)發(fā)出人機(jī)交互界面，用戶選擇不同接口的預(yù)設(shè)測(cè)試用例即可執(zhí)行測(cè)試，通過(guò)調(diào)用仿真工具執(zhí)行并打印測(cè)試結(jié)果，管理界面如圖13所示.

圖13 人機(jī)交互式的管理界面

3 測(cè)試結(jié)果分析

利用改進(jìn)后的自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，對(duì)一個(gè)包含多個(gè)接口項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，軟件主要實(shí)現(xiàn)功能包括接收DSP接口寫(xiě)入的數(shù)據(jù)并緩存到FIFO中，再將數(shù)據(jù)讀出通過(guò)UART接口發(fā)送出去；同時(shí)將UART接口接收到的數(shù)據(jù)緩存到另一個(gè)FIFO中，再由DSP將數(shù)據(jù)讀出.通過(guò)仿真工具Questa Sim 10.5運(yùn)行腳本文件run.fdo，仿真完畢后打印測(cè)試結(jié)果和覆蓋率信息，圖14 和圖15 是測(cè)試完成后的部分輸出結(jié)果.

圖14 打印結(jié)果

圖15 覆蓋率報(bào)告

經(jīng)測(cè)試，UART接口的波特率余量約為：(39.46～38.46 kHz)/38.46 kHz=2.6%，與通常要求的20%余量相比，其UART模塊抗干擾性較差.另外此次測(cè)試還檢查出奇校驗(yàn)、偶校驗(yàn)報(bào)錯(cuò)，無(wú)校驗(yàn)正確，與源代碼的無(wú)校驗(yàn)設(shè)計(jì)特性相符合，DSP讀寫(xiě)功能正常.統(tǒng)計(jì)測(cè)試過(guò)程中的消耗時(shí)間，包括腳本編輯、參數(shù)配置、接口配置、用例編譯鏈接、結(jié)果記錄、測(cè)試執(zhí)行、環(huán)境搭建等占用時(shí)間統(tǒng)計(jì)，總消耗時(shí)間為13.7 h.同時(shí)將該項(xiàng)目在傳統(tǒng)測(cè)試和UVM驗(yàn)證平臺(tái)上試運(yùn)行，統(tǒng)計(jì)測(cè)試時(shí)間分別為36 h和23 h，經(jīng)對(duì)比，該平臺(tái)有效降低測(cè)試時(shí)間40%以上，測(cè)試效率得到有效提升.

4 結(jié)束語(yǔ)

FPGA通用接口自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)主要面向FPGA軟件測(cè)試，解決FPGA軟件通用接口在測(cè)試過(guò)程中自動(dòng)化測(cè)試環(huán)境缺乏、支撐功能不足等問(wèn)題.通過(guò)利用層次化設(shè)計(jì)、通用數(shù)據(jù)庫(kù)共享、事件同步化控制、腳本執(zhí)行等技術(shù)，改進(jìn)UVM驗(yàn)證架構(gòu)，提高測(cè)試平臺(tái)的可重用性和自動(dòng)化水平.通用數(shù)據(jù)庫(kù)還需進(jìn)一步通過(guò)實(shí)踐檢驗(yàn)，形成一種廣泛認(rèn)可方式，將更豐富的方法應(yīng)用于測(cè)試平臺(tái)，提高軟件研制進(jìn)度和質(zhì)量.