鄭 輝,劉春明,張峻霞,王東菲
(1.天津科技大學(xué) 機(jī)械工程學(xué)院,天津 300222;2.天津市輕工與食品工程機(jī)械裝備集成設(shè)計(jì)與在線監(jiān)控重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,天津 300222)
隨著市場(chǎng)化的蓬勃發(fā)展,產(chǎn)品成本愈加受到重視,結(jié)合成本要素的經(jīng)濟(jì)性控制圖應(yīng)運(yùn)而生。經(jīng)濟(jì)性控制圖必須依據(jù)產(chǎn)品生產(chǎn)加工過程的成本情況,進(jìn)行統(tǒng)計(jì)性和經(jīng)濟(jì)性優(yōu)化,實(shí)現(xiàn)以最低成本產(chǎn)出最優(yōu)產(chǎn)品的目的[1]。
傳統(tǒng)經(jīng)濟(jì)性控制圖模型主要考慮抽檢成本、次品成本、誤報(bào)成本、檢修成本等費(fèi)用,以過程成本平均損失最小為目標(biāo)??刂茍D經(jīng)濟(jì)性優(yōu)化參數(shù)較多,無論選定何種質(zhì)量成本模型,控制圖的經(jīng)濟(jì)性優(yōu)化都可以定義為尋求最佳控制圖參數(shù)組合,并保證質(zhì)量成本降到最低。而在統(tǒng)計(jì)過程控制方法中,貝葉斯理論經(jīng)常用來監(jiān)控小批量生產(chǎn)過程。目前國內(nèi)外學(xué)者從多個(gè)視角對(duì)貝葉斯理論展開研究,積極探索經(jīng)濟(jì)性最優(yōu)控制圖方法與貝葉斯理論相結(jié)合的發(fā)展途徑。Wang等[2]展開了具有多個(gè)可分配原因的貝葉斯過程控制研究,基于結(jié)構(gòu)結(jié)果進(jìn)一步推導(dǎo)了控制限的分析界限;Marcellus[3]研究了均值漂移過程的貝葉斯方法,論證了貝葉斯方法相比累積和控制圖具有更好的生產(chǎn)過程預(yù)期性能;Nenes[4]證明了自適應(yīng)無限級(jí)過程優(yōu)化貝葉斯控制圖,該模型使用貝葉斯定理估計(jì)的經(jīng)濟(jì)最優(yōu)設(shè)計(jì)參數(shù)可以顯著改善經(jīng)濟(jì)效益;Makis[5-6]分析了部分觀察過程3個(gè)狀態(tài)量的聯(lián)合抽樣和控制問題,并對(duì)基于狀態(tài)維修的多元貝葉斯控制圖進(jìn)行經(jīng)濟(jì)分析設(shè)計(jì);Naderkhani[7]研究了基于兩采樣間隔的多元貝葉斯控制圖,通過與具有單個(gè)采樣間隔的多變量貝葉斯控制圖和最近開發(fā)的多元指數(shù)加權(quán)移動(dòng)平均(Multivariate Exponentially Weighted Moving Average, MEWMA)控制圖進(jìn)行比較,證明了所提控制圖的有效性;Nenes等[8]研究了均值—標(biāo)準(zhǔn)差均發(fā)生偏移的自適應(yīng)貝葉斯控制圖,提出一種可能發(fā)生兩種可分配原因的過程操作的經(jīng)濟(jì)優(yōu)化新模型;Razmy等[9]對(duì)均值—標(biāo)準(zhǔn)差均發(fā)生偏移的休哈特控制圖展開性能研究,通過監(jiān)測(cè)正態(tài)分布過程的平均值和方差,論證了幾種聯(lián)合監(jiān)測(cè)方案的監(jiān)控性能;胡雪龍等[10]針對(duì)過程方差估計(jì)不精確的問題,采用t統(tǒng)計(jì)量代替?zhèn)鹘y(tǒng)統(tǒng)計(jì)量,提出一種單邊合格品鏈長t控制圖來監(jiān)控過程均值偏移。作為當(dāng)前研究熱點(diǎn),近年來國內(nèi)外部分高校、科研單位和企業(yè)也相繼對(duì)經(jīng)濟(jì)性貝葉斯控制圖展開了初步研究。范文貴[11]運(yùn)用貝葉斯理論分析了小批量生產(chǎn)質(zhì)量過程,對(duì)傳統(tǒng)統(tǒng)計(jì)方法進(jìn)行了很好的補(bǔ)充;張鵬偉等[12-13]開展了多元貝葉斯控制圖的經(jīng)濟(jì)性動(dòng)態(tài)研究,效果顯著;朱慧明等[14]進(jìn)行了動(dòng)態(tài)控制設(shè)計(jì),完善了貝葉斯序貫分析質(zhì)量監(jiān)控模型;陳洪根[15]針對(duì)生產(chǎn)過程質(zhì)量特性均值漂移由設(shè)備異常導(dǎo)致的可修系統(tǒng),提出一種可變樣本容量指數(shù)加權(quán)移動(dòng)平均均值控制圖和預(yù)防維修聯(lián)合經(jīng)濟(jì)設(shè)計(jì)模型。為提高控制圖監(jiān)測(cè)誤差波動(dòng)的統(tǒng)計(jì)性能,有學(xué)者提出了快速初始響應(yīng)(Fast Initial Response, FIR)方法,將特定的FIR方法應(yīng)用到不同類型的質(zhì)量控制圖,可以提高控制圖監(jiān)測(cè)誤差波動(dòng)的能力。Knoth[16]提出指數(shù)加權(quán)移動(dòng)平均(Exponentially Weighted Moving Average, EWMA)控制圖的FIR方法,提高了EWMA的監(jiān)測(cè)靈敏度。
上述研究為經(jīng)濟(jì)性貝葉斯迅速識(shí)別控制圖的研究提供了借鑒。因此,本文構(gòu)建了一種將經(jīng)濟(jì)性分析與過程仿真相結(jié)合的貝葉斯迅速識(shí)別控制圖。在該控制圖中,為實(shí)現(xiàn)經(jīng)濟(jì)性與迅速識(shí)別的雙向功能,基于最優(yōu)經(jīng)濟(jì)指標(biāo)設(shè)立了最優(yōu)控制限和操作規(guī)則;為分析基于經(jīng)濟(jì)性分析的貝葉斯控制圖的統(tǒng)計(jì)性能,采用蒙特卡洛仿真模擬技術(shù),以過程失控時(shí)的平均運(yùn)行鏈長(Average Run Length, ARL)差值效率比為性能指標(biāo),與傳統(tǒng)休哈特控制圖及當(dāng)前普通經(jīng)濟(jì)性控制圖進(jìn)行對(duì)比分析。結(jié)果證明,基于經(jīng)濟(jì)性分析的貝葉斯迅速識(shí)別控制圖可以高效識(shí)別過程偏移并報(bào)警,具有一定的成本優(yōu)勢(shì)和應(yīng)用價(jià)值。
傳統(tǒng)經(jīng)濟(jì)控制圖假設(shè)過程失控時(shí)產(chǎn)品的生產(chǎn)才會(huì)產(chǎn)生成本損失,沒有考慮到產(chǎn)品質(zhì)量特性和目標(biāo)函數(shù)值的偏離程度,因此存在一定的局限性。本文將質(zhì)量損失函數(shù)應(yīng)用到質(zhì)量控制圖的經(jīng)濟(jì)性分析中,質(zhì)量損失函數(shù)將質(zhì)量與成本要素相結(jié)合,為質(zhì)量波動(dòng)及其定量分析開辟了新思路。質(zhì)量大師田口采用高次損失函數(shù)量化產(chǎn)品質(zhì)量特征值和期望值存在偏差的質(zhì)量損失,并命名為“質(zhì)量損失函數(shù)”,該公式為
(1)
某樣本包括n件產(chǎn)品,假設(shè)質(zhì)量特性值依次為x1,x2,…,xn,則樣本的質(zhì)量損失
(2)
通過分析式(1)和式(2)可知,不合格品與合格品都會(huì)產(chǎn)生損失,這是對(duì)傳統(tǒng)質(zhì)量損失概念很好的補(bǔ)充,因此將合格品質(zhì)量損失成本引入經(jīng)濟(jì)控制圖的控制模型具有現(xiàn)實(shí)意義。本文下一步細(xì)化過程受控和失控時(shí)的質(zhì)量損失,設(shè)平均質(zhì)量損失
E(L)=k[σ2(μ-T)2]。
(3)
本節(jié)模型構(gòu)建需要設(shè)置如下參數(shù)及條件:
(1)質(zhì)量特性服從正態(tài)分布,過程初始狀態(tài)受控。
(2)標(biāo)準(zhǔn)差控制圖的中心線和上、下控制線分別為:
CL=C4σ;
(4)
(3)過程受控時(shí)間滿足均值為1/λ的指數(shù)分布。
(4)生產(chǎn)過程具有雙邊等值的容差Δ0,質(zhì)量特性為正態(tài)對(duì)稱。
(5)失控過程上下偏移的概率均為0.5。
控制模型中涉及的參數(shù)說明如下:
a1為一次抽驗(yàn)的固定費(fèi)用;
a2為抽樣的非固定成本;
a3為搜尋失控成因的費(fèi)用;
a4為監(jiān)測(cè)一次誤發(fā)警報(bào)的費(fèi)用;
a5為失控時(shí)操作的單件產(chǎn)品損失成本;
H為抽樣檢驗(yàn)一個(gè)產(chǎn)品所需要的時(shí)間,取常數(shù);
S為分析失控信號(hào)所需要的時(shí)間,取常數(shù);
α為受控時(shí)點(diǎn)出界的概率,為第一類錯(cuò)誤,即拒絕原假設(shè)的錯(cuò)誤;
β為失控時(shí)點(diǎn)處于控制限內(nèi)的概率,為第二類錯(cuò)誤,即接受原假設(shè)的錯(cuò)誤。
隨機(jī)抽取n個(gè)樣本x1,x2,…,xn,s/σ在生產(chǎn)過程中是大于零的數(shù),同理假設(shè)該過程標(biāo)準(zhǔn)差從σ偏移到了δσ。
(5)
(6)
R圖控制限
(7)
R圖警戒限
UWLR=k4σ0。
(8)
式中:k3為R圖的控制限系數(shù),k4為R圖的警戒限系數(shù),k3>k4。
(9)
式中Φ為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的分布函數(shù)。
過程受控時(shí),R控制圖出現(xiàn)第一類錯(cuò)誤的概率
(10)
式中Fn(ε)為標(biāo)準(zhǔn)化極差ε=R/σ0的分布函數(shù),
[Φ(u)-Φ(u-ε)]n-1du。
(11)
(12)
因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)差控制圖是用來控制過程的離散程度,要求越低越好,所以不設(shè)置過程標(biāo)準(zhǔn)差控制限的下限,或?qū)⑵湓O(shè)置為零。取標(biāo)準(zhǔn)差均值大于等于零,則0≤C4<1。因?yàn)橘ゑR函數(shù)中定義域不為零,所以n≠1。此時(shí)標(biāo)準(zhǔn)差控制圖的檢出功效(第二類錯(cuò)誤)
(13)
(14)
(15)
(16)
則一個(gè)控制周期的時(shí)間長度
(17)
若時(shí)間t控制圖存在異常的概率為e-λtλ,則在第k和第k+1個(gè)樣本區(qū)之間存在異常的時(shí)間為t-kh,該區(qū)間存在異常的平均時(shí)間
(18)
ETC=E(C)/E(T)。
(19)
依據(jù)式(19)列出基于質(zhì)量損失函數(shù)的均值—標(biāo)準(zhǔn)差經(jīng)濟(jì)性優(yōu)化模型為:
(20)
s.t.
為實(shí)現(xiàn)本文提出的控制圖模型的經(jīng)濟(jì)性優(yōu)化,進(jìn)行控制圖的經(jīng)濟(jì)性仿真分析,要求運(yùn)用均值—標(biāo)準(zhǔn)差控制圖對(duì)過程進(jìn)行控制,并使單位時(shí)間的平均費(fèi)用最小。選擇最優(yōu)的一組數(shù)據(jù):a1=1,a2=1,a3=30,a4=50,a5=100,δ=1.5,λ=1/40,H=1/30,S=1,A0=5,ο/Δ0=0.2,P=100,質(zhì)量損失系數(shù)k=1。運(yùn)用MATLAB仿真求解,得出均值—標(biāo)準(zhǔn)差控制圖經(jīng)濟(jì)性能分析結(jié)果,如表1所示。
為選用重要參數(shù)進(jìn)行分析計(jì)算,對(duì)所得參數(shù)進(jìn)行敏感性分析,搜尋出影響程度較高的參數(shù),得出敏感性檢驗(yàn)結(jié)果,如表2所示。
表2 參數(shù)敏感性分析表
由表2可知:
(1)經(jīng)過控制變量法計(jì)算得出,參數(shù)a1~a5和λ對(duì)n值及最終結(jié)果影響較小,而σ,δ成比例的變化對(duì)最優(yōu)解的結(jié)果影響較大。將假設(shè)值σ=0.05,δ=0.5代入模型,計(jì)算得n=17;將σ=0.15,δ=1.5代入模型,計(jì)算得n=10,即n值明顯減小,從17變?yōu)?0;同時(shí)h值也明顯減小,從1.080變?yōu)?.865,k1~k4整體存在同趨變化。通過敏感性分析可知,只需確定σ,δ的精確值并計(jì)算出其他參數(shù)值,便能得出優(yōu)良的結(jié)果。例如,若采用傳統(tǒng)方法,每間隔1 h抽取5個(gè)樣本,畫在3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差為上下控制限的控制圖上,則其平均費(fèi)用為5.954元;若采用表1所示的經(jīng)濟(jì)控制方法 ,則每小時(shí)4.898元(n=5);若采用最優(yōu)經(jīng)濟(jì)控制圖,則每小時(shí)僅4.578元(n=10)。因此,相比傳統(tǒng)控制圖的方法,本文所提方法表現(xiàn)出了較大的優(yōu)勢(shì)。
π0(i),π1(i),π2(i)分別表示ht時(shí)刻,過程處于受控狀態(tài)、發(fā)生第一類和第二類錯(cuò)誤的后驗(yàn)概率,π0(i-1),π1(i-1),π2(i-1)為其對(duì)應(yīng)的先驗(yàn)概率。在時(shí)間ht-ht-1內(nèi),通過對(duì)先驗(yàn)概率π0(i-1),π1(i-1),π2(i-1)進(jìn)行迭代來計(jì)算后驗(yàn)概率π0(i),π1(i),π2(i),繼而計(jì)算出樣本均值yi。
設(shè)過程在ht-1時(shí)刻為受控狀態(tài),從ht-1~ht時(shí)段,過程從受控變?yōu)槭Э貭顟B(tài),則轉(zhuǎn)化為發(fā)生第一類錯(cuò)誤和第二類錯(cuò)誤的概率分別為:
(21)
(22)
過程在時(shí)間ht-1~ht處于受控的狀態(tài)為
a0(i)=1-a1(i)-a2(i)。
(23)
在ht時(shí)刻抽樣前,過程發(fā)生第一類錯(cuò)誤和第二類錯(cuò)誤的概率分別為a1(i)×π0(i-1)+π1(i-1)和a2(i)×π0(i-1)+π2(i-1),取得樣本均值yi后,失控概率變?yōu)椋?/p>
(24)
(25)
式中z(yi,i)=g0(yi)×a0(i)×π0(i-1)+g1(yi)×(a1(i)×π0(i-1))+g2(yi)×(a2(i)×π0(i-1))。根據(jù)后驗(yàn)概率π1(i),π2(i)決定是否進(jìn)行故障診斷。若不檢查,則將后驗(yàn)概率轉(zhuǎn)化為下階段計(jì)算前的先驗(yàn)概率。若故障被檢出,則根據(jù)監(jiān)測(cè)結(jié)果調(diào)整后驗(yàn)概率??梢?,只有使先驗(yàn)和后驗(yàn)概率持續(xù)迭代更新,才能保證貝葉斯控制圖的正常運(yùn)行。
為了提高監(jiān)控偏差的效率和靈敏度,在原有貝葉斯控制圖的基礎(chǔ)上,根據(jù)累積和(CUmulative Sum,CUSUM)控制圖和EWMA控制圖的迅速識(shí)別策略,通過改善參數(shù)和制定規(guī)則,提出如下貝葉斯控制圖迅速識(shí)別策略:
在ht時(shí)刻抽樣后,根據(jù)式(24)和式(25)計(jì)算出π1(i),π2(i),然后設(shè)置控制限q(0 (1)若π1(i)+π2(i)≥q,則根據(jù)π1(i)和π2(i)的關(guān)系進(jìn)行更新。若π1(i)>π2(i),則檢查第一類錯(cuò)誤是否發(fā)生,根據(jù)結(jié)果更新π1(i)和π2(i);若π1(i)<π2(i),則檢查第二類錯(cuò)誤是否發(fā)生,根據(jù)結(jié)果更新π1(i)和π2(i);若π1(i)=π2(i),則同時(shí)檢查第一類錯(cuò)誤和第二類錯(cuò)誤發(fā)生的概率,根據(jù)結(jié)果更新π1(i)和π2(i)。 (2)若π1(i)+π2(i) 最優(yōu)標(biāo)準(zhǔn)差控制圖繪制于CL=0.865σ,UCL=1.721σ的控制圖上,最優(yōu)控制圖如圖3所示。然后設(shè)定并仿真貝葉斯迅速識(shí)別初始控制圖的初始控制限,以驗(yàn)證其識(shí)別效果。 (3)從圖4和圖5可見,當(dāng)q=0.2時(shí),控制圖效率增值存在一個(gè)拐點(diǎn),之后的效率增量逐漸降低,并逐漸趨于平穩(wěn)。 (4)從圖6可見,在偏移量遞增的情況下,基于經(jīng)濟(jì)性分析的貝葉斯迅速識(shí)別控制圖與傳統(tǒng)貝葉斯及休哈特控制圖的效率比率總體呈下降趨勢(shì);在偏移量0-1階段,效率比率呈穩(wěn)定趨勢(shì),偏移量1.0為一個(gè)節(jié)點(diǎn),是經(jīng)濟(jì)性分析的貝葉斯迅速識(shí)別控制圖最佳效率的體現(xiàn)。隨著偏移量的繼續(xù)增加,效率比率逐漸收斂。 控制圖的經(jīng)濟(jì)性設(shè)計(jì)主要研究如何選擇控制圖參數(shù),使控制過程中的各種成本費(fèi)用的總和更小,而控制圖參數(shù)選擇主要是控制圖選定樣本容量n、抽樣時(shí)間間隔λ、抽樣區(qū)間h和控制限系數(shù)k等參數(shù)。生產(chǎn)過程受控時(shí)使用較大的TARL進(jìn)行統(tǒng)計(jì),失控時(shí)使用較小的TARL,以迅速地發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過程出現(xiàn)的偏移。以過程失控時(shí)的TARL作為性能評(píng)價(jià)指標(biāo),將本文構(gòu)建的控制圖模型與傳統(tǒng)經(jīng)濟(jì)性控制圖進(jìn)行比較分析,運(yùn)用仿真法對(duì)優(yōu)化前后的貝葉斯控制圖進(jìn)行分析,主要步驟為:2.3 仿真分析
2.4 經(jīng)濟(jì)性貝葉斯控制圖與傳統(tǒng)經(jīng)濟(jì)性控制圖對(duì)比分析
3 結(jié)束語