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        一種數(shù)字陣列雷達(dá)小視場快速成像方法

        2018-06-25 02:57:54孟宏峰楊經(jīng)緯王文晴
        上海航天 2018年3期
        關(guān)鍵詞:近程幅相視場

        唐 琳,孟宏峰,楊經(jīng)緯,王文晴

        (上海無線電設(shè)備研究所,上海 200090)

        0 引言

        隨著高速數(shù)據(jù)采集、傳輸和高速數(shù)字信號處理技術(shù)的發(fā)展,數(shù)字陣列雷達(dá)成為新一代雷達(dá)技術(shù)的一個重要發(fā)展方向[1]。該種雷達(dá)融合了數(shù)字技術(shù)和雷達(dá)陣列信號處理技術(shù),實(shí)現(xiàn)了數(shù)字波束形成對傳統(tǒng)模擬波束形成的替代,為雷達(dá)軟件化和智能化提供了重要的實(shí)現(xiàn)途徑。與傳統(tǒng)雷達(dá)相比,數(shù)字陣列雷達(dá)具有更靈活的系統(tǒng)重構(gòu)能力、更高效的系統(tǒng)資源利用率,具備實(shí)現(xiàn)更多任務(wù)、更多功能的適應(yīng)能力[2]。數(shù)字陣列雷達(dá)瞬時多波束形成能力強(qiáng)、動態(tài)范圍大,使其在穿墻、探地、安檢等近程成像中得到了廣泛應(yīng)用[3-10]。由于近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)的通道眾多,因此在通道長時間幅相穩(wěn)定性和幅相一致性測量中,如何快速評估系統(tǒng)性能指標(biāo)成為難題。解決該問題的一種切實(shí)可行方法是實(shí)時測量成像結(jié)果的成像性能,考慮到系統(tǒng)性能評估測試應(yīng)用中通常采用點(diǎn)目標(biāo),視場相對較小,因此,可以采用小視場成像來實(shí)現(xiàn)性能指標(biāo)的快速評估。這也使得小視場快速成像在近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)的系統(tǒng)性能評估測試中具有重要地位。

        近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)中包含大量的收發(fā)通道。天線的安裝誤差、通道延時和增益的不一致以及時鐘信號的不同步將會導(dǎo)致系統(tǒng)出現(xiàn)多通道幅相誤差,而回波散射場的球面特性則會導(dǎo)致系統(tǒng)出現(xiàn)RCM(距離單元徙動)幅相誤差,兩種誤差的耦合出現(xiàn)給近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)快速成像帶來極大挑戰(zhàn)。文獻(xiàn)[11-12]研究了快速時域成像方法,利用子孔徑劃分來實(shí)現(xiàn)快速成像,該方法主要關(guān)注大場景下RCM幅相誤差的快速校準(zhǔn),可以大幅減少SAR成像的計(jì)算量,不過由于缺乏小視場約束,且成像過程未考慮多通道幅相誤差,成像效率較低,因此不能應(yīng)用于小視場快速成像;文獻(xiàn)[13]研究了基于感興趣區(qū)域搜尋的波數(shù)域快速成像方法,通過小視場約束來提高成像方法的時效性,該方法能有效提高成像效率,但依然未討論多通道幅相誤差的校準(zhǔn)問題;文獻(xiàn)[14]研究了一種能同時校準(zhǔn)近程數(shù)字陣列雷達(dá)多通道幅相誤差和RCM幅相誤差的成像方法,通過電磁仿真獲得多通道幅相誤差的粗估計(jì),利用自聚焦算法獲得多通道幅相誤差的精估計(jì),同時實(shí)現(xiàn)RCM幅相誤差的校準(zhǔn),該方法能精確實(shí)現(xiàn)近程成像,然而電磁仿真和迭代運(yùn)算量大,依然不能應(yīng)用到快速成像中。

        本文針對系統(tǒng)性能評估測試應(yīng)用中難以實(shí)現(xiàn)小視場快速成像的問題,提出了一種在小視場條件下快速實(shí)現(xiàn)數(shù)字陣列雷達(dá)近程成像的方法。研究了近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)的小視場快速成像方法,針對數(shù)字陣列成像雷達(dá)的特點(diǎn),建立了數(shù)字陣列雷達(dá)的回波信號模型,研究了DBF(數(shù)字波束合成)成像中的幅相誤差來源,給出多通道幅相誤差和RCM幅相誤差的校準(zhǔn)公式,給出了數(shù)字陣列雷達(dá)小視場快速DBF成像的模型,通過實(shí)驗(yàn)進(jìn)行驗(yàn)證。

        1 信號模型

        數(shù)字陣列雷達(dá)通常由收發(fā)通道陣列組件、數(shù)據(jù)采集組件和信號處理組件組成。其中,收發(fā)通道陣列組件負(fù)責(zé)信號的發(fā)射與接收,數(shù)據(jù)采集組件負(fù)責(zé)信號的采集,信號處理組件負(fù)責(zé)信號的處理。由于收發(fā)通道具有互易性,本文只考慮接收通道。圖1為數(shù)字陣列雷達(dá)的組成架構(gòu)。由圖可知:目標(biāo)反射回波經(jīng)近場傳播后由數(shù)字陣列天線接收,經(jīng)高頻接收前端組件和中頻處理組件下變頻和放大后,由數(shù)據(jù)采集組件采集變成數(shù)字信號,最終由信號處理組件在數(shù)字域?qū)崿F(xiàn)成像處理。接收系統(tǒng)的成像處理不僅包括校正數(shù)字陣列天線、高頻接收前端組件、中頻處理組件帶來的多通道幅相誤差, 還需要校正近場傳播帶來的RCM幅相誤差。

        在數(shù)字陣列雷達(dá)架構(gòu)下,近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)的回波信號處理主要包括數(shù)字正交解調(diào)、脈沖壓縮、RCM校正和成像處理等處理過程。通常,可假設(shè)發(fā)射系統(tǒng)發(fā)射的信號波形為

        s(t)=cos(2πf0t+θ(t))

        (1)

        式中:t為時間;θ(t)為調(diào)制的窄帶波形;f0為載頻;s(t)為發(fā)射的參考信號,經(jīng)某個點(diǎn)目標(biāo)反射后,信號被數(shù)字陣列天線接收,其中第n個接收陣元接收到的回波信號為

        sn(t)= (1+αn)Acos(2πf0(t-τn)+

        θ(t-τn)+φn)

        (2)

        式中:τn為回波延時;φn為第n個接收通道的相位誤差;αn為第n個接收通道的幅度誤差;A為回波強(qiáng)度;sn(t)為接收到的回波信號。經(jīng)數(shù)字正交解調(diào)后,第n個接收通道的信號為

        sn1= (1+αn)Aexp(-j2πf0τn+

        jθ(t-τn)+jφn)

        (3)

        圖1 數(shù)字陣列雷達(dá)組成架構(gòu)Fig.1 Digital array radar structure

        式中:j為虛數(shù)單位;sn1(t)為回波數(shù)字正交解調(diào)后的復(fù)數(shù)信號。脈沖壓縮后,第n個接收通道的信號變?yōu)?/p>

        sn2= (1+αn)Ap(t-τn)

        exp(-j2πf0τn+jφn)

        (4)

        式中:p(t-τn)為脈沖壓縮中匹配濾波的結(jié)果函數(shù);sn2(t)為脈壓后的回波信號。τn可能引起RCM,當(dāng)RCM不明顯,且小于單個距離分辨單元時,τn可忽略;在小視場成像中,即使RCM明顯大于單個距離分辨單元,也可簡單通過插值實(shí)現(xiàn)RCM校正,校正后的信號可等效表示為

        sn3= (1+αn)Ap(t-τ0)

        exp(-j2πf0τn+jφn)

        (5)

        近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)信號處理總流程如圖2所示。圖中:第n個接收通道由AD采樣后獲得的信號為sn(t),在信號采集組件中首先進(jìn)行數(shù)字正交解調(diào),解調(diào)后的信號為sn1(t),然后對該復(fù)信號進(jìn)行匹配濾波脈沖壓縮,獲得幅相校準(zhǔn)后的復(fù)信號sn2(t),該復(fù)信號經(jīng)RCM校正后,獲得無跨RCM的信號sn3(t),最后由信號處理組件進(jìn)行幅度與相位的校正,最終實(shí)現(xiàn)DBF成像。

        圖2 近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)信號處理流程Fig.2 Short-range imaging digital array radar signal processing flow

        2 成像模型

        近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)成像的本質(zhì)是多個收發(fā)通道的同相疊加,因此其成像過程為幅相補(bǔ)償和校正的過程。經(jīng)數(shù)字正交解調(diào)、脈沖壓縮和RCM后,近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)通道間相位差主要由τn和φn決定,通道間幅度差主要受αn影響。正由于τn和φn決定的相位誤差耦合在一起,才使傳統(tǒng)快速成像方法失效。實(shí)際上,多通道幅相誤差主要由系統(tǒng)本身決定,不隨目標(biāo)位置的變化而變化。RCM誤差主要由天線和目標(biāo)相對位置決定,其值為空變。在系統(tǒng)性能評估測試應(yīng)用中,目標(biāo)場景通常很小,在這樣的小視場下,通??烧J(rèn)為RCM幅相誤差同樣不隨目標(biāo)位置的變化而變化。

        因此,在小視場條件約束下,近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)多通道幅相誤差、RCM幅相誤差在場景內(nèi)都不隨目標(biāo)位置的變化而變化,任意位置的多通道幅相誤差和RCM幅相誤差都可以通過同一場景內(nèi)其它位置測得的幅相誤差數(shù)據(jù)補(bǔ)償?;谠摍C(jī)理,本文給出一種小視場下快速實(shí)現(xiàn)數(shù)字陣列雷達(dá)近程成像的方法,通過采集近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)場景中心目標(biāo)的數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)場景內(nèi)多通道幅相誤差和RCM幅相誤差的同時校準(zhǔn)和補(bǔ)償,通過單次FFT (快速傅里葉變換)實(shí)現(xiàn)小視場的快速成像。

        圖3為數(shù)字陣列近程成像雷達(dá)的成像幾何模型,以分析成像系統(tǒng)的幅相誤差來源。圖中:用于近程成像的均勻稀疏數(shù)字陣列天線位于xoy平面;坐標(biāo)原點(diǎn)o位于陣列中心;r0為目標(biāo)到陣列中心的距離;θ0為目標(biāo)方位角;φ0為目標(biāo)俯仰角。

        圖3 成像幾何模型Fig.3 Geometry model for imaging

        在直角坐標(biāo)系中,目標(biāo)位置為(r0cosφ0sinθ0,r0cosφ0cosθ0,r0sinφ0)。

        對于位于(x,y,0)位置的第n個數(shù)字陣列天線陣元,其信號延時為

        (6)

        式中:c為光速。在原點(diǎn)附近,對延時進(jìn)行二階泰勒展開,得

        (7)

        RCM校正后,信號可等效表示為

        sn,ref=(1+αn)exp(jφn)·A0p(t-τ0)

        (8)

        式中:(1+αn)表示幅度不一致性;τ0為RCM校正后一致的距離延時;第1個指數(shù)項(xiàng)為多通道相位誤差,對于特定的數(shù)字陣列雷達(dá),在特定時間內(nèi)其保持穩(wěn)定;第2個指數(shù)項(xiàng)為成像所需的相位項(xiàng),由目標(biāo)所在位置決定;第3個指數(shù)項(xiàng)為近場誤差,由目標(biāo)位置決定;對于場景中心位于(r0,θ0,φ0)的小成像視場,當(dāng)視場足夠小時,視場內(nèi)的任意點(diǎn)目標(biāo)為(r,θ,φ),第3個指數(shù)項(xiàng)可認(rèn)為是固定的。此時,可對場景中心采集到的信號sn,ref進(jìn)行校正,表達(dá)式為

        sn,cor=sn3/sn,ref

        (9)

        校正后的結(jié)果為

        (10)

        式中:第1,2個指數(shù)項(xiàng)為成像所需的相位項(xiàng),由目標(biāo)所在位置決定;第3~5個指數(shù)項(xiàng)為校正后的殘差,該殘差對小視場近程成像效果的影響可忽略不計(jì),其表達(dá)式為

        (11)

        此時可通過IFFT(快速逆傅里葉變換)來實(shí)現(xiàn)目標(biāo)的成像,即

        I=IFFT(sn,cor)=

        PSFy((cosφcosθ-cosφ0cosθ0))

        (12)

        式中:I為DBF成像獲得的成像結(jié)果;PSFx,PSFy為成像結(jié)果的點(diǎn)擴(kuò)展函數(shù)。

        3 試驗(yàn)結(jié)果

        使用IFFT進(jìn)行快速DBF成像的相位殘差通常由目標(biāo)和數(shù)字陣列陣元位置決定,具體包括3項(xiàng)相位殘差:第1項(xiàng)殘差與方位向陣元位置x2有關(guān),第2項(xiàng)殘差與俯仰向陣元位置y2有關(guān),第3項(xiàng)殘差與方位與俯仰位置的交叉項(xiàng)xy有關(guān)。為評估相位殘差對成像結(jié)果的影響,進(jìn)行了如下仿真試驗(yàn):根據(jù)一般的場景設(shè)置,視場中心(r0,θ0,φ0)位于(5 m,0 m,0 m)處,視場范圍為方位角|θ|≤10°、俯仰角|φ|≤10°,陣列尺寸范圍|x|≤1 m,|y|≤1 m,考慮到各項(xiàng)的絕對殘差與孔徑大小成正比,選取陣元位于x=1 m和y=1 m的位置進(jìn)行殘差仿真結(jié)果如圖4所示。由圖可見:3項(xiàng)殘差中最大為0.02λ,對應(yīng)的相位小于π/25,顯然遠(yuǎn)不能滿足成像中相位誤差的要求。

        為驗(yàn)證數(shù)字陣列雷達(dá)快速DBF成像方法的有效性,使用了1臺Ka波段的數(shù)字陣列雷達(dá)試驗(yàn)樣機(jī)進(jìn)行驗(yàn)證。該樣機(jī)包含384個接收通道,采用24×16的均勻稀疏陣列天線,天線陣元水平間距為2.620 4λ,垂直間距為1.461 9λ,陣面尺寸約為315 mm×269 mm,采用單音頻信號進(jìn)行了2組成像試驗(yàn)。

        第1組試驗(yàn)為點(diǎn)目標(biāo)成像試驗(yàn),成像距離為2.5 m,在場景中心位置放置了喇叭天線,采集到相應(yīng)的校準(zhǔn)數(shù)據(jù),在視場內(nèi)移動喇叭天線,采集到成像數(shù)據(jù),使用上述方法實(shí)現(xiàn)單點(diǎn)目標(biāo)成像,成像中采用了契比雪夫窗來實(shí)現(xiàn)旁瓣抑制。點(diǎn)目標(biāo)成像結(jié)果如圖5所示。由圖可見,單點(diǎn)目標(biāo)聚焦效果良好,旁瓣也得到了很好控制,基本在-30 dB以下。

        圖4 相位殘差Fig.4 Phase residual error

        圖5 點(diǎn)目標(biāo)成像結(jié)果Fig.5 Point target imaging results

        第2組試驗(yàn)為陶瓷刀成像試驗(yàn),成像距離為2.8 m,在場景中心位置放置喇叭天線,采集到相應(yīng)的校準(zhǔn)數(shù)據(jù),同時使用喇叭天線照射目標(biāo)場景,采集到陶瓷刀回波,使用快速DBF成像方法實(shí)現(xiàn)成像。圖6為陶瓷刀快速DBF成像的結(jié)果。由圖6可見,本文提出的快速DBF成像方法,對復(fù)雜目標(biāo)依然有效。

        圖6 陶瓷刀成像結(jié)果Fig.6 Ceramic knife imaging results

        為進(jìn)一步評估成像效率,對本文成像方法的運(yùn)算量進(jìn)行了評估,運(yùn)算量主要來源于兩部分:一是用于多通道幅相誤差和RCM的幅相誤差校準(zhǔn)和補(bǔ)償?shù)男?zhǔn)操作;二是DBF成像的IFFT操作。對于Nr×Na的目標(biāo)場景,校準(zhǔn)操作需要6NrNa次浮點(diǎn)運(yùn)算,DBF成像需要5NrNalog2(NrNa)次浮點(diǎn)運(yùn)算。對于Nr=1 024,Na=512的場景,成像總共需要50.5 M次浮點(diǎn)運(yùn)算,優(yōu)于現(xiàn)有快速成像方法,能很好實(shí)現(xiàn)實(shí)時成像。

        4 結(jié)束語

        近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)中,多通道幅相誤差與近場幅相誤差的同時出現(xiàn)會影響雷達(dá)成像效率。本文通過研究數(shù)字陣列雷達(dá)的回波信號模型,建立了近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)的快速DBF成像模型,通過研究DBF成像中幅相誤差的來源,提出了一種適用于近程成像數(shù)字陣列雷達(dá)的小視場成像方法,只需單次FFT即可實(shí)現(xiàn)數(shù)字陣列雷達(dá)的小視場成像。理論分析和試驗(yàn)驗(yàn)證表明:該方法能滿足數(shù)字陣列雷達(dá)小視場的快速成像要求,在系統(tǒng)性能評估測試應(yīng)用中具有較好的應(yīng)用前景。值得注意的是,該方法以小視場為前提,未考慮目標(biāo)空變對RCM幅相誤差的影響,同時對相位二階泰勒展開,因此在相對大視場的應(yīng)用中成像質(zhì)量將有所下降,為進(jìn)一步擴(kuò)展該方法應(yīng)用范圍,可將本文方法獲得數(shù)據(jù)代替電磁仿真數(shù)據(jù)進(jìn)行幅相誤差的粗校準(zhǔn),然后使用自校準(zhǔn)算法進(jìn)一步提高成像分辨率或擴(kuò)大成像視場。

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