崔 詩(shī) 琦, 張 秀 芳, 王 聰
( 大連工業(yè)大學(xué) 輕工與化學(xué)工程學(xué)院, 遼寧 大連 116034 )
染料廢水在排放前需要進(jìn)行降解或脫色處理[1]。在眾多染料降解方法中,光催化技術(shù)具有反應(yīng)條件溫和、能耗低、操作簡(jiǎn)便、可減少二次污染等突出優(yōu)點(diǎn),已成為目前最為活躍的研究方向之一[2]。過(guò)去幾年,研究人員嘗試?yán)貌煌雽?dǎo)體制備光催化劑,基于半導(dǎo)體的光催化技術(shù)已經(jīng)成為解決全球環(huán)境凈化和能源問(wèn)題的主要技術(shù)[3]。 但是,傳統(tǒng)半導(dǎo)體光催化材料仍存在兩個(gè)主要缺陷:一是由于它們的寬帶隙導(dǎo)致的低可見(jiàn)光利用率,另一個(gè)是光生電子空穴對(duì)分離效率低[4-5]。近年來(lái),誘導(dǎo)兩種帶隙適宜的半導(dǎo)體界面間形成異質(zhì)結(jié)的光催化劑改性方法,不僅可以提高電子空穴對(duì)的分離速率,還可以有效提高光催化效率。
g-C3N4被公認(rèn)為碳氮化合物最穩(wěn)定的同素異形體。g-C3N4具有良好的可見(jiàn)光響應(yīng)和化學(xué)穩(wěn)定性[6],其sp2鍵合結(jié)構(gòu)使其具有良好的吸附電子能力,在分解水中污染物方面得到廣泛應(yīng)用[7-8]。與其他光催化劑相比, g-C3N4還具有成本低、無(wú)毒等特點(diǎn)[9]。此外,g-C3N4具有較大比表面積和二維共軛結(jié)構(gòu),使其成為良好的制造異質(zhì)結(jié)構(gòu)光催化劑的復(fù)合物[10]。
半導(dǎo)體金屬氧化物SnWO4在可見(jiàn)光下有響應(yīng)并且資源豐富,正逐漸走入人們的視線[11],但其仍有電子-空穴復(fù)合率高和載流子遷移速度慢等性能和結(jié)構(gòu)上的缺陷[12]。本研究通過(guò)靜電力作用,在薄層g-C3N4和β-SnWO4界面間構(gòu)造異質(zhì)結(jié),制備出了具有較高光催化活性的薄層g-C3N4/β-SnWO4復(fù)合光催化劑。
試劑:羅丹明B(AR),三聚氰胺,冰醋酸,氯化亞錫,兩水合鎢酸鈉,無(wú)水乙醇,去離子水。
儀器:CEL-HXF300型氙燈光源,XRD-6100型X射線衍射分析儀,JSM-6460LV型掃描電子顯微鏡,JEM-2100(UHR)型透射電子顯微鏡,UV-2450型紫外可見(jiàn)漫反射分析儀,LS-55型熒光光譜儀,L5型紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)。
薄層g-C3N4的制備:將6 g三聚氰胺置入坩堝中,550 ℃下煅燒4 h,取出研磨,再于550 ℃煅燒4 h。
薄層g-C3N4/β-SnWO4的制備:2.2 mmoL氯化亞錫溶于2.5 mL pH為4的醋酸溶液。稱取適量薄層g-C3N4置入上述溶液,超聲30 min。2.5 mL兩水合鎢酸鈉溶液倒入超聲后的溶液中,攪拌2 h。水洗醇洗數(shù)次,干燥后研磨即可得到。薄層g-C3N4/β-SnWO4中復(fù)合的薄層g-C3N4的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為70%、80%、90%,分別標(biāo)記為70%-CSW、80%-CSW和90%-CSW。
X射線衍射分析儀(XRD)用于表征樣品的晶型。掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)用于表征樣品的形貌。紫外可見(jiàn)漫反射分析儀(UV-Vis)用于表征樣品的吸光性能。熒光光譜儀(PL)用于表征樣品的光生電子和空穴的分離性能。紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)用于對(duì)RhB溶液進(jìn)行定量分析。
光催化實(shí)驗(yàn)采用氙燈光源模擬太陽(yáng)光,通過(guò)羅丹明B的降解率來(lái)評(píng)價(jià)樣品的光催化性能。在80 mL質(zhì)量濃度為5 mg/L的Rh B溶液中加入30 mg復(fù)合光催化劑樣品,暗吸附30 min達(dá)到吸附脫附平衡后,打開氙燈進(jìn)行光降解實(shí)驗(yàn)。每4 min取樣一次,每次取2 mL,離心后用紫外分光光度計(jì)測(cè)量吸光度,計(jì)算樣品的降解率。
圖1為不同樣品的XRD譜圖。圖1中27.5°的衍射峰為薄層g-C3N4對(duì)應(yīng)的(002)晶面,這個(gè)峰是由于芳香族層間堆疊所形成[13],與卡片(JCPDS 87-1526)一致。隨著薄層g-C3N4質(zhì)量分?jǐn)?shù)的增大,復(fù)合光催化劑的衍射峰強(qiáng)度逐漸增強(qiáng),并向左偏移,說(shuō)明薄層g-C3N4層間距發(fā)生變化。圖上薄層g-C3N4/β-SnWO4復(fù)合樣品中β-SnWO4的衍射峰不明顯,是因?yàn)棣?SnWO4的含量少,且其衍射峰與 g-C3N4較接近。
圖1 薄層g-C3N4/β-SnWO4的XRD圖
由圖2可見(jiàn),β-SnWO4的形貌呈團(tuán)聚的顆粒,薄層g-C3N4的加入,使復(fù)合催化劑的形貌趨于片狀結(jié)構(gòu)。由圖3可見(jiàn),薄層g-C3N4的形貌為較均勻的薄膜狀結(jié)構(gòu),β-SnWO4顆粒鑲嵌在了薄層g-C3N4的薄膜中,這種納米粒鑲嵌在薄膜中的結(jié)構(gòu)能夠顯著提高光催化劑的比表面積,進(jìn)而提高光催化效率。
(a) β-SnWO4
(b) 80%-CSW
(a) 薄層g-C3N4
(b) 80%-CSW
由圖4可知,制備的薄層g-C3N4/β-SnWO4復(fù)合光催化劑在可見(jiàn)光范圍內(nèi)都有較好的吸光性能。對(duì)比薄層g-C3N4,復(fù)合光催化劑均發(fā)生了紅移現(xiàn)象,且80%-CSW的吸收波長(zhǎng)最大,這暗示了在質(zhì)量分?jǐn)?shù)80%薄層g-C3N4包裹下,復(fù)合光催化劑吸光性能最好。由圖5可知,薄層g-C3N4的禁帶寬度為3.03 eV,80%-CSW的禁帶寬度為2.93 eV,相比單一組分薄層g-C3N4有所減小,說(shuō)明復(fù)合產(chǎn)物對(duì)光譜響應(yīng)范圍增寬,對(duì)光的吸收性能增強(qiáng)。
圖4 薄層g-C3N4/β-SnWO4的UV-Vis譜圖
圖6為不同樣品在激發(fā)波長(zhǎng)為330 nm處的熒光光譜圖。圖中3種不同復(fù)合比例樣品的發(fā)射峰均較低,且均低于薄層g-C3N4,這說(shuō)明g-C3N4
圖5 80%-CSW的(ahν)2-hν譜圖
和β-SnWO4的復(fù)合有效地抑制了光生電子空穴對(duì)的復(fù)合。由上至下,70%-CSW、90%-CSW、80%-CSW的熒光發(fā)射峰逐漸減弱。由此可以分析,包裹在β-SnWO4外的薄層g-C3N4的厚度大或小都不利于光生電子與空穴分離效率。圖中80%-CSW的發(fā)射峰最低,可以推斷薄層g-C3N4的最佳包裹厚度為80%。
圖6 薄層g-C3N4和g-C3N4/β-SnWO4的PL譜圖
由圖7可見(jiàn),復(fù)合光催化劑的光催化活性均明顯高于純?chǔ)?SnWO4和純薄層g-C3N4,且薄層g-C3N4質(zhì)量分?jǐn)?shù)為80%時(shí),光催化效率最高,16 min 后可達(dá)96%。這是因?yàn)楸觛-C3N4與β-SnWO4復(fù)合后形成了異質(zhì)結(jié),光生電子由薄層g-C3N4導(dǎo)帶轉(zhuǎn)移至β-SnWO4導(dǎo)帶,光生空穴由β-SnWO4價(jià)帶轉(zhuǎn)移到薄層g-C3N4價(jià)帶,這樣的結(jié)構(gòu)有效抑制了光生電子空穴對(duì)的復(fù)合,進(jìn)而大大提高了光催化活性。
圖8為80%-CSW在可見(jiàn)光下降解RhB的5次循環(huán)實(shí)驗(yàn)。由圖可知,制備的樣品在5次循環(huán)實(shí)驗(yàn)后,光催化效率皆高于90%,且變化較小,這說(shuō)明制備的該異質(zhì)結(jié)光催化劑具有良好的穩(wěn)定性和重復(fù)利用性。
圖7 薄層g-C3N4/β-SnWO4的光催化活性對(duì)比
Fig.7 Photocatalytic activities of different thin g-C3N4/β-SnWO4samples
圖8 80%-CSW在可見(jiàn)光下5次循環(huán)降解RhB的性能曲線
Fig.8 Photocatalytic degradation of RhB over 80%-CSW under visible light illumination for five cycling runs
以β-SnWO4和薄層g-C3N4為原料,利用帶隙差制備了不同比例的具有異質(zhì)結(jié)結(jié)構(gòu)的薄層g-C3N4/β-SnWO4光催化劑。
薄層g-C3N4的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為80%時(shí),復(fù)合光催化劑g-C3N4/β-SnWO4光催化活性最高,16 min 后RhB降解率可達(dá)96%。
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