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        淀粉顆粒形貌表征研究進展

        2018-05-01 18:11:12閆溢哲周亞萍劉華玲史苗苗劉延奇
        食品工業(yè)科技 2018年8期
        關(guān)鍵詞:結(jié)構(gòu)研究

        閆溢哲,周亞萍,劉華玲,史苗苗,劉延奇,*

        (1.鄭州輕工業(yè)學院 食品與生物工程學院,河南鄭州 450002; 2.食品生產(chǎn)與安全河南省協(xié)同創(chuàng)新中心,河南鄭州 450002)

        淀粉存在于多種植物中,主要貯存于植物的根、莖、種子和果實等,是自然界中存在最豐富的碳水化合物之一。淀粉是所有碳水化合物中唯一以顆粒形式存在的,顆粒結(jié)構(gòu)緊密、形態(tài)多樣。淀粉的顆粒尺寸一般在0.1~200 μm之間,形狀大致可以分為圓形、橢圓形、腎形和多角形等[1-3],而且淀粉顆粒并不是簡單存在。研究表明幾乎所有的淀粉顆粒都具有孔隙結(jié)構(gòu),稱為淀粉的“臍”,這個發(fā)現(xiàn)使得研究者對淀粉顆粒的認知有了進一步提高,也促使大家在淀粉結(jié)構(gòu)研究方面進行更深入的探索[4-5]。

        研究表明淀粉顆粒形貌對淀粉性能有一定的影響,因此顆粒形貌一直是淀粉研究領(lǐng)域必不可少的分析指標。隨著檢測技術(shù)的不斷改進,我們對淀粉顆粒形貌的研究水平也不斷提高[6]。如掃描電子顯微鏡用于觀察淀粉的顆粒外貌;透射電子顯微鏡是用來觀察淀粉顆粒超微結(jié)構(gòu);偏振光顯微鏡可用于觀察淀粉顆粒外貌以及確定淀粉結(jié)晶結(jié)構(gòu)的變化;激光共聚焦顯微鏡用來測定淀粉顆粒內(nèi)部結(jié)構(gòu);原子力顯微鏡更加精細,用于觀察淀粉顆粒的納米結(jié)構(gòu)等。本文針對運用掃描電子顯微鏡(Scanning Electrical Microscope,簡稱SEM)、透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM)、偏光顯微鏡(Polarizing Microscope,簡稱PLM)、激光共聚焦顯微鏡(Confocal Laser Scanning Microscopy,簡稱CLSM)和原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,簡稱AFM)這五種檢測設備對淀粉顆粒形貌的表征方法進行相應概述。

        1 淀粉顆粒形貌的表征方法

        1.1 掃描電子顯微鏡(SEM)法

        SEM是用來觀察物體表面的一種高倍顯微鏡,主要是根據(jù)電子與物質(zhì)之間的相互作用,利用二次電子信號微觀成像來觀察樣品表面形態(tài)。SEM是一種細胞生物學研究工具,也被廣泛用于材料學、食品藥品、紡織纖維等諸多領(lǐng)域[7]。在淀粉研究領(lǐng)域,SEM是研究淀粉顆粒形貌的主要方法,使用SEM能夠很好的觀察到淀粉的表面形貌。樣品檢測前無需進行預處理,直接取微量樣品粉末粘附于雙面導電膠或者取微量樣品懸浮液滴于鋁箔片上固定樣品,然后置于離子濺射儀中進行噴金,給樣品鍍上一層導電薄膜,避免二次電子在樣品表面累積而降低圖像質(zhì)量。

        在淀粉研究領(lǐng)域,SEM被廣泛應用。王紹清等[8]運用SEM觀察比較多種淀粉的顆粒形貌,結(jié)果表明,淀粉植物來源不同,顆粒大小和形貌也會相異,如圖1所示,淀粉顆粒形態(tài)有球形、橢球形、腎形和多面體形等;顆粒大小從幾微米到100 μm;顆粒結(jié)構(gòu)有單粒、有復粒得出淀粉顆粒與淀粉來源在形貌上具有相似性,例如馬鈴薯淀粉顆粒形狀像馬鈴薯,呈現(xiàn)橢球型;豆類淀粉顆粒呈現(xiàn)腎型,與豆類外貌相似;相近科屬之間淀粉顆粒形貌也相似,如大米、糯米和紫米等米類淀粉顆粒均呈多面體型;部分淀粉顆粒在超微形貌上具有獨特性,如棒形的蓮藕淀粉、鐵餅形的A 型小麥淀粉等。對淀粉超微形貌的觀察,可以進行淀粉種類鑒定。劉延奇等[9-11]在研究A、B型淀粉球晶的制備時,運用SEM觀察微晶淀粉形貌,發(fā)現(xiàn)B-型微晶的顆粒大小均一且顆粒之間多黏連;A-型微晶表面有凹陷和沉積,如圖2所示,得出B-型微晶的黏連可能由于解凍導致淀粉表面的結(jié)晶區(qū)存在部分晶體融化,使鄰近晶體之間融合粘結(jié);而A-型微晶的形貌可能是由于高濃度導致懸浮液中的部分淀粉鏈在晶體表面發(fā)生沉積。后期劉延奇等[12]研究使用B-型微晶與正癸醇復合得V-型微晶淀粉。SEM下發(fā)現(xiàn)V-型顆粒形貌是圓餅狀,類似于血紅細胞,并且V-型淀粉顆粒表面更粗糙,研究結(jié)果表明復合過程中淀粉顆粒形狀和大小均發(fā)生變化,如圖2。

        圖1 SEM不同倍數(shù)下淀粉的顆粒形貌Fig.1 The morphology of starch granules in different multiples of SEM[8].注:A1,A2為高粱;B1,B2為馬鈴薯;C1,C2為綠豆,D1,D2為玉米;1和2分別為放大倍數(shù)×1000和×5000。

        圖2 A,B和V-型微晶淀粉的SEM圖像Fig.2 SEM images of A,B and V-type microcrystalline starch

        Thirumdas等[13]在研究低溫等離子體處理對印度香米理化特性影響時,通過SEM來觀察等離子體處理前后淀粉顆粒表面變化,表明等離子體處理后,淀粉顆粒表面呈現(xiàn)均勻的凹凸,這種效應稱為“表面蝕刻”。并且,隨著處理功率和時間的增加蝕刻顯著增加。這種蝕刻作用導致印度香米在烹飪時吸水性增加,有效降低烹飪時間。Sarangapani等[14]也通過低壓等離子體處理來改變大米的烹飪特性。結(jié)果和Thirumdas等的類似,等離子體處理能夠有效地減少谷物烹飪時間,但在烹飪過程中,大米吸水率和損失也會有所增加。

        在淀粉顆粒形貌表征方面,SEM是最常用的手段。其測試簡單、易于操作,能夠檢測淀粉顆粒大小尺寸,清晰地觀察淀粉顆粒的表面情況,對于淀粉的研究必不可少。

        1.2 透射電子顯微鏡(TEM)法

        TEM是一種用來觀察物體亞顯微或超微結(jié)構(gòu)的電子光學儀器。TEM的成像原理與光學顯微鏡基本一致,但TEM是以波長極短的電子束作為燈源,利用電磁透鏡聚焦成像,來展示物體表面或內(nèi)部特征[15-16]。TEM最大的特點是高分辨率和放大倍率,但由于在檢測時電子易發(fā)生散射,穿透力極低,因此樣品的密度、厚度等都會影響成像質(zhì)量,這就要求被測樣品足夠薄。樣品的存在狀態(tài)不同,前處理不同,固體樣品需超微切片;粉末樣品需制膜;有的樣品在觀察前還需要染色[17]。TEM主要用于材料學和生物學,在研究淀粉時也常使用TEM來檢測淀粉顆粒、淀粉糊以及淀粉衍生物的外貌結(jié)構(gòu),對于淀粉顆粒形態(tài)的分析具有重要作用。

        Monika和Jerzy在研究天然和水解淀粉顆粒的孔隙特征時,用TEM觀察玉米、小麥、大米和馬鈴薯淀粉水解時的顆粒內(nèi)部變化。實驗結(jié)果表明酶的作用使孔面積增加,活性酶能夠通過孔隙進入顆粒內(nèi)部,由內(nèi)而外進行水解??淄ǖ乐饕菬o定形區(qū),所以酶首先水解淀粉無定型區(qū)。且與玉米、小麥和大米淀粉相比,馬鈴薯淀粉顆粒結(jié)構(gòu)更緊密,耐酶性更強。Monika 和Jerzy在2013年研究超聲波處理淀粉時,運用TEM觀察淀粉在水和乙醇介質(zhì)中以20 KHz、70 W,在20 ℃下超聲處理30 min后顆粒形貌的變化。TEM結(jié)果顯示超聲處理導致淀粉顆粒表面裂紋和凹陷(如圖3);從TEM圖中可以明顯看到在超聲處理后淀粉顆粒內(nèi)部的空腔似乎更大。實驗還得出與乙醇相比,以水為介質(zhì)的超聲處理對淀粉形貌影響更大[18-19]。

        圖3 天然和改性淀粉顆粒的TEM顯微照片F(xiàn)ig.3 TEM micrographs of native and modified starch granules注:A,B,C和D分別為天然的玉米,水稻,小麥和馬鈴薯淀粉顆粒;1和2分別以水和無水乙醇作為介質(zhì)。

        姜歲歲等[20]在研究短直鏈淀粉納米顆粒時,用TEM觀察酶解不同時間得到的蠟質(zhì)玉米淀粉納米顆粒形貌。結(jié)果表明,隨著酶解時間的延長,淀粉的顆粒形態(tài)變的不規(guī)則,有的難形成顆粒,這可能由于長時間酶解形成聚合度不同的短直鏈淀粉,而聚合度偏大的淀粉發(fā)生重結(jié)晶導致的。

        相比SEM檢測法而言,通過TEM可以獲得淀粉內(nèi)部清晰圖像,研究淀粉改性處理時淀粉的內(nèi)部變化,這對于進一步了解復雜的淀粉顆粒聚集態(tài)結(jié)構(gòu)具有十分重要的意義。

        1.3 偏光顯微鏡(PLM)法

        PLM是用來檢測物質(zhì)的各向異性和雙折射性的顯微設備。PLM是在光學顯微鏡的光學系統(tǒng)中插入了起偏振鏡和檢偏振器,以單波長光線為光源,檢測生物體內(nèi)某些有序結(jié)構(gòu)及其折射光學性質(zhì)[21]。凡具有雙折射性質(zhì)的物質(zhì),在偏光顯微鏡下都能分辨清楚。淀粉具有一定的雙折射性質(zhì),因此,PLM可用于淀粉表征,在PLM下淀粉顆粒內(nèi)部晶體和非晶結(jié)構(gòu)的密度和折射率差異即各向異性產(chǎn)生極化交叉,出現(xiàn)偏光十字。

        杜雙奎等[22-23]在研究蕨根淀粉顆粒形貌及其特性時,用PLM觀察蕨根、紅薯和馬鈴薯淀粉顆粒,根據(jù)淀粉樣品不同,偏光十字位置、形狀和亮暗程度會有很大差別,進而可以有效的鑒定和檢測淀粉樣品,結(jié)果表明紅薯淀粉顆粒偏光十字位于中央,而蕨根和馬鈴薯淀粉顆粒的偏光十字位于粒端。作者在2011年還研究了山藥淀粉,在PLM下發(fā)現(xiàn)山藥淀粉顆粒偏光十字處于顆粒一邊。

        淀粉顆粒偏光十字的變化可定性表征顆粒結(jié)晶結(jié)構(gòu)改變,只要淀粉顆粒內(nèi)部淀粉分子鏈有序排列的結(jié)晶結(jié)構(gòu)遭到破壞,偏光十字就會消失[24]。劉佳男等[25]在研究微波改性白高粱淀粉時,用PLM觀察淀粉。結(jié)果發(fā)現(xiàn),在900 W下微波間歇作用80 s預熟化處理后白高粱淀粉顆粒偏光十字模糊甚至消失、部分顆粒膨脹,這表明微波破壞了淀粉分子內(nèi)部有序結(jié)晶結(jié)構(gòu)。李永平[26]在研究多孔淀粉顆??涨唤Y(jié)構(gòu)及其晶體結(jié)構(gòu)時,運用0.5%的α-淀粉酶和糖化酶復合酶解玉米和馬鈴薯淀粉,使用PLM觀察淀粉顆粒球晶結(jié)構(gòu)。結(jié)果表明,在一定酶解時間下的淀粉顆粒表面粗糙,但仍然具有很好的偏光十字,因此適當酶解并不會破壞淀粉顆粒的球晶結(jié)構(gòu),顆粒仍具有一定強度,繼而得到理想的多孔淀粉。Zhu等[21]在研究超聲處理對馬鈴薯淀粉超分子結(jié)構(gòu)的改變時,在PLM下發(fā)現(xiàn)處理后淀粉顆粒的極化交叉保持不變(如圖4所示),也就是說在該實驗中超聲處理對淀粉顆粒的晶型結(jié)構(gòu)無影響。Zhang等[27]在研究輝光放電等離子體對淀粉多尺度結(jié)構(gòu)和功能特性的影響時,也運用了PLM觀察發(fā)現(xiàn),隨著等離子體處理時間的增加,馬鈴薯淀粉表面出現(xiàn)明顯的蝕刻現(xiàn)象,這與Thirumdas等[13]的研究結(jié)果類似。

        圖4 天然和超聲處理的淀粉在偏振光下的顯微鏡圖像Fig.4 Microscope images of native and ultrasonic treated starches under polarized light注:A0,天然馬鈴薯淀粉;A1,A2和A3,處理功率分別60,105和155 W。

        因此,PLM不僅可以用來表征淀粉,也可以用來鑒定淀粉和檢測淀粉顆粒結(jié)晶結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變。

        1.4 激光共聚焦顯微鏡(CLSM)法

        CLSM是一種采用激光、電子攝像等高科技手段,根據(jù)共軛聚焦原理成像的先進分子生物學分析儀器[28-29]。CLSM已廣泛用于形態(tài)學、分子生物學、食品科學等領(lǐng)域。近年來CLSM在淀粉研究領(lǐng)域常被用來測定淀粉的顆粒結(jié)構(gòu)和特性,以及變性淀粉和淀粉材料的性能。CLSM檢測需要對樣品進行染色和切片處理,然后進行多層面掃描來獲得樣品內(nèi)部圖像。根據(jù)染色劑與淀粉還原基末端反應呈熒光來測定淀粉,在相同分子量條件下,直鏈淀粉含有的還原末端高于支鏈淀粉[30-31]。與傳統(tǒng)顯微鏡相比,CLSM分辨率更高、放大倍率更大、更加靈敏。

        Hong等[32]在2016年研究改性劑滲透時間對淀粉性能的影響時,用CLSM來表征變性玉米和小麥淀粉顆粒形貌。結(jié)果顯示,淀粉顆粒外表面的反應帶隨著試劑滲透時間的增加而變寬,進而作者可以通過控制試劑滲透時間來有效地控制淀粉改性。同年Bie等[33]研究等離子體處理對淀粉結(jié)構(gòu)和流變性影響時,用CLSM觀察不同處理時間下的玉米淀粉。結(jié)果表明,隨著處理時間的增加,顆粒的整體亮度增加,且玉米淀粉獨特的孔結(jié)構(gòu)變的更明顯(如圖5)。因此,等離子體處理不僅影響淀粉顆粒表面,而且還可以通過孔結(jié)構(gòu)滲透到顆粒內(nèi)部,導致淀粉分子還原末端的增加,熒光更強。

        圖5 等離子體處理不同時間后玉米淀粉顆粒的CLSM圖像[33]Fig.5 CLSM images of corn starch granules at different times after plasma treatment[33]注:A0,天然玉米淀粉;A1,A2和A3,處理時間分別為1,5和10 min。

        陳佩等[34]在研究糯小麥淀粉特性時,在CLSM下對比普通小麥和糯小麥淀粉,根據(jù)淀粉顆粒熒光強弱來檢測顆粒中直鏈淀粉分布。結(jié)果表明,兩種小麥淀粉顆粒的中心部位熒光較強,也就是說直鏈淀粉更多的存在于顆粒中心。整體來說,小麥淀粉的熒光強于糯小麥淀粉,其顆粒內(nèi)部直鏈淀粉含量更高。李貴蕭等[35]在研究高壓均質(zhì)對綠豆淀粉的影響時,在均質(zhì)不同次數(shù)下運用CLSM觀察淀粉顆粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)。隨著均質(zhì)次數(shù)增加,淀粉顆粒內(nèi)部的熒光逐漸減弱,根據(jù)減弱的區(qū)域作者發(fā)現(xiàn)高壓均質(zhì)首先破壞顆粒內(nèi)部的無定型結(jié)構(gòu)。

        CLSM是用來表征淀粉顆粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)的主要方法之一,它綜合了普通顯微鏡和熒光顯微鏡的功能,使一些物質(zhì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)以熒光強弱的方式展現(xiàn)出來,為研究者對淀粉顆粒內(nèi)部的了解提供更多可能。

        1.5 原子力顯微鏡(AFM)法

        AFM是一種研究物質(zhì)表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它主要通過檢測樣品表面和力敏感元件之間的微觀力來獲得納米級分辨率的物質(zhì)表面結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。AFM的應用范圍十分廣泛,適用于生物、高分子、金屬等的納米結(jié)構(gòu)觀測,以及微球顆粒形狀、尺寸及粒徑分布的觀測等[36]。在淀粉研究領(lǐng)域,AFM可用來表征淀粉顆粒表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu),研究淀粉分子鏈結(jié)構(gòu),使得人們對淀粉的了解更進一步[37]。

        Baker等[38]利用接觸式AFM觀察淀粉顆粒內(nèi)部的納米結(jié)構(gòu),結(jié)果發(fā)現(xiàn)玉米淀粉顆粒存在放射狀結(jié)構(gòu),臍心周邊環(huán)繞著400~500 nm的生長環(huán),有些顆粒臍心完全暴露,臍心出現(xiàn)不同深度空洞。這使研究者對玉米淀粉的顆粒結(jié)構(gòu)有了進一步了解。Ridout等[39]用AFM觀察玉米和馬鈴薯淀粉的內(nèi)部結(jié)構(gòu),發(fā)現(xiàn)淀粉顆粒結(jié)晶結(jié)構(gòu)較明顯,在圖像中表現(xiàn)為較亮區(qū)域。結(jié)果表明,淀粉內(nèi)無定形區(qū)和結(jié)晶區(qū)的AFM圖像呈亮暗交替排列,繼而呈現(xiàn)了淀粉顆粒內(nèi)結(jié)晶區(qū)和無定形區(qū)的排列方式。Neethirajan等[40]用AFM對硬粒小麥淀粉顆粒表面形態(tài)進行表征,如圖6展示了AFM下小麥淀粉的顆粒形貌以及淀粉的生長環(huán)結(jié)構(gòu)。結(jié)果發(fā)現(xiàn),與非硬質(zhì)顆粒相比,硬質(zhì)小麥淀粉顆粒的尺寸更小;觀察淀粉顆粒生長環(huán)表明,與硬質(zhì)淀粉相比,非硬質(zhì)顆粒內(nèi)支鏈淀粉含量更高。

        圖6 小麥淀粉顆粒的AFM圖像Fig.6 AFM images of wheat starch granules注:1和2分別是小麥顆粒形貌和生長環(huán)結(jié)構(gòu)形貌。

        孫平等[41]以乙醇為介質(zhì)堿法催化法對淀粉進行改性處理,制備冷水可溶性淀粉,用AFM對原玉米和冷溶玉米淀粉顆粒的微觀結(jié)構(gòu)進行掃描觀測。研究結(jié)果表明,與原淀粉相比,變性淀粉顆粒表面突起更尖銳。孫平認為這可能是由于在改性處理中,強堿性作用破壞了微晶束的簇狀結(jié)構(gòu),使微晶束失去了氫鍵間的結(jié)合力,導致淀粉分子間不規(guī)則排列,從而使顆粒表面粗糙。與前4種測定方法相比,AFM的分辨明顯更高,成為淀粉研究領(lǐng)域的一種新納米工具,使淀粉的結(jié)構(gòu)分析達到分子水平,進而使人們對淀粉顆粒結(jié)構(gòu)有了更直觀認識。

        2 五種表征方法對比

        淀粉顆粒形貌表征的五種方法中(表1),SEM是最常用的一種方法,樣品無需預處理,其放大倍數(shù)大、視野寬廣、成像立體,可直接觀察到樣品表面凹凸不平的細微結(jié)構(gòu),且成本低;TEM涂覆樣品必須薄,對真空要求高,常用于物質(zhì)超微結(jié)構(gòu)分析,分辨率比SEM更高,但是樣品預處理復雜,檢測成本高;PLM樣品處理簡單,可直接觀察到淀粉顆粒形貌,還可以根據(jù)淀粉顆粒偏光十字和熒光來判斷淀粉顆粒結(jié)晶特性;CLSM可以對樣品進行斷層掃描成像,無損傷觀察和分析樣品內(nèi)部三維空間結(jié)構(gòu),但樣品預處理步驟繁多,檢測費用極高;AFM可用來觀察淀粉顆粒表面納米級分辨率以及顆粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)和分子鏈結(jié)構(gòu),其工作環(huán)境要求低,但樣品制備難度大,檢測費用高。

        表1 淀粉顆粒形貌5種表征方法對比Table 1 Comparsion among five determination methods for morphology of starch granules

        3 結(jié)論與展望

        SEM、TEM、PLM、CLSM和AFM可分別用于表征淀粉顆粒外貌、超微結(jié)構(gòu)、結(jié)晶結(jié)構(gòu)、顆粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)以及納米結(jié)構(gòu)。這幾種方法都可以用來觀察淀粉的外部形貌、立體分布、顆粒堆積等,做為一種輔助工具來研究淀粉改性處理前后的性能變化。由于淀粉顆粒形態(tài)多樣、結(jié)構(gòu)復雜,對其深入研究需要多種設備輔助,研究人員可以根據(jù)自己的實驗要求來選擇合適的檢測方法。

        綜上所述,在研究淀粉形貌時,其表征方法和設備的選擇十分重要,具有極大的研究價值。但是受現(xiàn)階段儀器設備及其檢測方法所限,我們對淀粉顆粒形貌的研究精細度還遠遠不夠。為了滿足淀粉結(jié)構(gòu)精細度研究要求,開發(fā)更先進的儀器設備,發(fā)展更快速更精密的檢測方法,是將來該領(lǐng)域的發(fā)展方向。例如,2017年的諾貝爾獎化學獎頒發(fā)給了冷凍電鏡研究者理查德·亨德森等人,他們開發(fā)的冷凍電鏡,能在低溫條件下,更好地確保光束的強度以及被測樣品的原生態(tài)。這些新技術(shù)的應用將提高淀粉工業(yè)的行業(yè)競爭力,具有廣闊的前景。

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