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        電化學(xué)腐蝕法制備STM探針針尖的探究

        2018-04-24 05:40:58劉升光李浥晨姜程予牟宗信李雪春
        物理實驗 2018年4期
        關(guān)鍵詞:鎢絲電解池針尖

        劉升光,李浥晨,姜程予,牟宗信,李雪春

        (大連理工大學(xué) 基礎(chǔ)物理國家級實驗教學(xué)示范中心,遼寧 大連 116024)

        掃描隧道顯微鏡(STM)是利用量子理論中的隧道效應(yīng)探測物質(zhì)表面結(jié)構(gòu)的儀器,主要原理是通過探針針尖與物質(zhì)表面原子間的相互作用來測量物質(zhì)表面結(jié)構(gòu). 它的發(fā)現(xiàn)使科學(xué)家可以觀察和操縱單個原子,由于其強大的功能使它在表面科學(xué)、材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的研究中有著重大的意義和廣泛的應(yīng)用前景[1]. 目前有多種制備STM探針的方法,如電化學(xué)腐蝕法、剪切法、液膜法[2-3]、下端腐蝕法[4]等. 而制備探針的原材料也不盡相同[5],對于電化學(xué)腐蝕法一般選用鎢絲為原材料,目前也出現(xiàn)了鎢絲與其他鍍層材料結(jié)合的針尖[6]. 探針針尖的好壞是影響STM觀察效果的主要因素之一. 一般來說,最理想的針尖在尖端只有1個原子,這種針尖可以得到穩(wěn)定的隧道電流,從而獲得清晰的原子圖像. 而影響針尖質(zhì)量的因素有很多,如針尖的長度、曲率半徑、表面是否存在氧化層等[7-8]. 本文主要探究在電化學(xué)腐蝕方法下制備鎢絲針尖的影響因素,分析不同因素對針尖質(zhì)量的影響程度,從而得出在實驗室條件下制備針尖的最優(yōu)化條件.

        1 實驗裝置及原理

        利用純凈水配制NaOH溶液,待溶液冷卻后將鎢絲垂直插入溶液中. 實驗裝置圖如圖1所示,將2根高純鎢絲分別作為陽極和陰極置于NaOH溶液中,即兩端分別接直流電源的正負極,電路中接有100Ω的保護電阻. 將數(shù)字電壓表連接在電解池兩端,實時監(jiān)測鎢絲兩端電壓變化. 溶液中,陽極發(fā)生氧化反應(yīng),鎢絲不斷溶解最終融斷,陰極產(chǎn)生H2氣泡.

        陽極反應(yīng)為

        陰極反應(yīng)為

        總反應(yīng)式為

        圖1 實驗裝置示意圖

        圖2 針尖形成的原理示意圖

        2 實驗結(jié)果與分析

        2.1 腐蝕電壓影響

        在針尖腐蝕過程中,電源電壓影響電化學(xué)反應(yīng)的快慢程度. 在相同的溶液濃度和鎢絲浸入深度(c=1mol/L,L=1cm)下,經(jīng)過大量的實驗發(fā)現(xiàn),當電源電壓低于6V時,反應(yīng)進行得平穩(wěn)緩慢,雖然得到針尖的質(zhì)量比較好,但是制作針尖的效率很低,尤其當電源電壓低至4V時,電化學(xué)反應(yīng)雖然發(fā)生,但速率幾乎為零,這在實際應(yīng)用是無法接受的,降低了針尖的制作效率;而當電壓大于20V時,溶液反應(yīng)較為劇烈,陰極會產(chǎn)生大量氣泡,引起液面波動,并在反應(yīng)進行不久后氣泡便充滿了整個溶液,陽極處溶液濃度分布梯度難以穩(wěn)定,腐蝕得到高質(zhì)量針尖的概率很低,針尖形狀大多是不均勻的,難以利用. 因此,重點研究腐蝕電壓在6~20V時針尖曲率半徑的演化規(guī)律.

        由于針尖的尺寸超出了人眼的最小分辨能力,如何準確地測量其曲率半徑就變得十分重要. 本文利用Matlab自編程序?qū)D像進行處理和分析,從而準確地求出針尖的曲率半徑. 針尖曲率半徑的求解方法如圖3所示,首先把顯微鏡下針尖的圖像提取出來導(dǎo)入到Matlab程序中,并用程序?qū)︶樇膺M行放大處理;然后利用程序繪制不同尺寸的標準圓,使其和針尖尖端輪廓線條內(nèi)切,反復(fù)調(diào)節(jié)后確定其最大內(nèi)切圓;緊接著利用Matlab畫圖軟件中的DataCursor光標,在內(nèi)切圓上取點,從而確定內(nèi)切圓的半徑;最后根據(jù)顯微鏡的標尺,通過換算求出針尖的實際曲率半徑.

        圖4中給出了腐蝕電壓在6~20V時,針尖曲率半徑的演化曲線. 從圖4可以看出,所制備針尖的曲率半徑均在μm量級,可以較好地滿足實驗室中的實際應(yīng)用. 從圖4中還發(fā)現(xiàn),在電源電壓等于18V時,腐蝕的速度較快,而且制備出的針尖曲率半徑很小、質(zhì)量較好,此電壓下得到優(yōu)質(zhì)針尖的概率較大,適合實驗室使用. 下文將在此條件下探究濃度與針尖質(zhì)量的關(guān)系.

        圖3 針尖曲率半徑的確定

        圖4 針尖曲率半徑隨腐蝕電壓的變化曲線

        2.2 溶液濃度影響

        不同的NaOH溶液濃度將對針尖的曲率半徑產(chǎn)生較大影響. 在相同的電源電壓和浸入深度下(U=18V,L=1cm),選取了不同的溶液濃度對鎢絲進行腐蝕. 圖5給出了在不同的溶液濃度下,針尖曲率半徑的演化曲線. 從圖5中可以看出,當濃度較低時,腐蝕得到的針尖曲率半徑較小,隨著濃度的不斷增大,曲率半徑也不斷增加. 當濃度大于2mol/L時,針尖質(zhì)量整體降低.

        圖6(a)~(d)分別是NaOH濃度為1.5,2.0,2.5,3.0mol/L制備的針尖在600倍顯微鏡下的照片,從照片中可以看出,1.5mol/L時制備出的針尖質(zhì)量明顯較好. 在溶液濃度大于2mol/L時,制備出的針尖質(zhì)量相對較差,這是由于過高的溶液濃度會對陽極針尖處的濃度梯度產(chǎn)生影響,繼而影響了針尖的形成機制,使針尖質(zhì)量較低. 當濃度低至0.5mol/L時,腐蝕速度極為緩慢,雖然此條件下針尖質(zhì)量較好,不過此條件下制作效率較低. 在實際應(yīng)用中,效率是必須考慮的因素. 綜合實驗結(jié)果以及實際應(yīng)用要求,選取1mol/L的濃度較為合適.

        圖5 曲率半徑隨NaOH溶液濃度的變化

        圖6 不同NaOH溶液濃度下制備的針尖形貌圖

        2.3 腐蝕過程中的電壓變化

        在針尖的腐蝕過程中,電解池的電阻不斷變化,一般從幾百Ω至幾kΩ不等. 探究此因素的變化對于設(shè)計電化學(xué)腐蝕STM針尖的自動控制電路有關(guān)鍵性的作用. 只有了解電壓變化的規(guī)律,才能根據(jù)規(guī)律設(shè)計出合適的控制電路.

        圖7中給出了電源電壓為9V、溶液濃度為1mol/L時,電極之間的電壓隨時間的演化曲線. 圖中的電壓曲線是利用數(shù)據(jù)采集卡獲取的,采集速率為每秒采集20個數(shù)據(jù)點. 從圖7中可以看出,隨著腐蝕時間的增加,電解池兩端電壓不斷緩慢升高,這是因為反應(yīng)初期電解池電阻較低,隨著反應(yīng)的不斷進行,浸入到溶液中的鎢絲逐漸變細,使電阻不斷升高,所以電解池兩端電壓不斷升高;而在鎢絲脫落前的瞬間,電解池兩端電壓迅速升高,這是因為鎢絲脫落后,浸入到溶液中的鎢絲深度發(fā)生改變,電解池電阻隨之變大.

        圖7 腐蝕過程中電壓隨時間的演化曲線

        圖7中的插圖給出了鎢絲脫落瞬間的電壓變化曲線,可以看出,鎢絲脫落是極其快速的過程,發(fā)生在約50ms的時間內(nèi). 因此,下一步準備根據(jù)電壓的變化,對采集數(shù)據(jù)進行實時分析并設(shè)計控制電路,從而使鎢絲在脫落的瞬間迅速取出針尖并關(guān)閉電路[9-10],以保證鎢絲脫落后形成的針尖不再參與化學(xué)反應(yīng),從而提高針尖制備的質(zhì)量.

        3 結(jié)束語

        不同的電源電壓和溶液濃度對針尖的曲率半徑均有很大的影響. 電源電壓直接影響了反應(yīng)速率,過低的速率在實際條件下難以應(yīng)用,過高的速率會使整個反應(yīng)變得極其不穩(wěn)定,針尖的質(zhì)量難以保證. 而濃度的變化影響了針尖的形成機制,過低的濃度使得反應(yīng)進行得十分緩慢,而過高的濃度會對液面處的離子濃度梯度產(chǎn)生影響,降低了濃度梯度的變化,從而影響針尖的質(zhì)量. 綜合實驗結(jié)果并考慮實際應(yīng)用,當電源電壓為18V、溶液濃度為1mol/L時為制備針尖的最佳條件. 除了電源電壓、溶液濃度之外,還有很多因素會對針尖的質(zhì)量產(chǎn)生影響,例如不同的浸入深度、鎢絲的直徑、鎢絲的插入角度、溶液的溫度[4]等,我們將在接下來的工作中,分別探究其他因素對電化學(xué)腐蝕STM探針的影響以及產(chǎn)生影響的機理.

        參考文獻:

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