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        基于逆Gaussian過程的MEMS加速度計壽命融合預測方法

        2018-01-29 09:28:38呂衛(wèi)民
        中國慣性技術學報 2017年6期
        關鍵詞:零位后驗估計值

        周 源,呂衛(wèi)民,孫 媛

        (1. 海軍航空大學,煙臺 264001;2. 海軍工程大學,武漢 430000)

        MEMS(Micro-Electro-Mechanical Systems)加速度計是武器裝備慣導系統(tǒng)的核心部件,其可靠性與穩(wěn)定性直接決定了武器裝備的作戰(zhàn)使用效能,準確掌握MEMS加速度計的壽命信息對于有效開展預防性維修、視情維修等工作至關重要。MEMS加速度計是高精度的機電一體化產(chǎn)品,某些性能參數(shù)在工作或長期貯存過程中不可避免發(fā)生退化,退化量的累積最終會導致產(chǎn)品失效。已有研究結論表明,MEMS加速度計內部的性能退化綜合表現(xiàn)為零位電壓的測量值增大[1],因此,如果將零位電壓作為性能退化指標建立退化失效模型,能夠預測出 MEMS加速度計的壽命信息。MEMS加速度計的失效機理較為復雜,尚不能通過失效物理分析的手段建立其退化失效模型,這種情況下可考慮采用退化數(shù)據(jù)擬合的手段建立產(chǎn)品的退化失效模型[2-4]。隨機過程由于天然適合描述產(chǎn)品退化的不確定性,目前廣泛用于基于退化數(shù)據(jù)擬合的性能退化建模。將MEMS性能退化數(shù)據(jù)與Wiener、Gamma、逆Gaussian[5-8]這三種廣泛使用的隨機過程分別進行擬合表明,逆Gaussian隨機過程具有最優(yōu)的擬合效果,因此本文嘗試利用逆Gaussian隨機過程構建MEMS加速度計的退化失效模型,從而預測其壽命信息。

        產(chǎn)品壽命包括兩個層面:第一是產(chǎn)品的總體壽命特征,例如可靠壽命、平均壽命,可作為實施批次產(chǎn)品預防性維修的重要參考[4];第二是產(chǎn)品中某個體的壽命指標,例如個體剩余壽命,這是開展視情維修工作的重要依據(jù)[9]。從發(fā)展歷史上看,總體壽命特征預測屬于傳統(tǒng)可靠性領域,采用概率論與數(shù)理統(tǒng)計方法進行預測,而個體剩余壽命預測屬于PHM(Prognostics and health management)領域,通常采用卡爾曼濾波、向量機等智能算法進行預測。文獻[10]通過某型加速度計的歷年故障數(shù)據(jù)評估貯存壽命的分布特征,利用了若干個壽命分布模型與故障數(shù)據(jù)進行擬合,最終得出此加速度計貯存壽命服從極值分布,貯存壽命為12.94年的結論。此方法需要累積一定數(shù)量的故障數(shù)據(jù),并不適用于新型MEMS加速度計的壽命預測。文獻[11]在預測某型寶石軸承支撐擺式加速度計貯存壽命時,將加速度計時標因數(shù)作為性能退化參數(shù),設計了溫度加速退化試驗高效預測出貯存壽命為64 200 h。此方法是對產(chǎn)品的總體壽命特征進行預測,沒能實現(xiàn)個體剩余壽命的預測。文獻[12-13]也探討了利用加速試驗快速預測某型加速度計貯存壽命的方法,其中依然探討的是總體壽命特征的離線預測方法。

        以往的研究工作大都沒有考慮兩類壽命預測的融合,這不僅額外增加了壽命預測的工作量,而且制約了壽命預測水平的發(fā)展。為此,本文基于逆Gaussian隨機過程,提出了總體壽命特征預測與個體剩余壽命預測的一體化解決方案,并且為了應對目前 MEMS加速度計的樣本量較小、測試數(shù)據(jù)有限的不足,采用融合預測方法提高預測結果的準確性。

        1 總體壽命特征預測方法

        以上模型中沒有考慮產(chǎn)品個體間的退化過程差異,現(xiàn)有研究表明,考慮產(chǎn)品個體之間的退化過程差異有助于提高壽命預測結果的準確性。為了描述產(chǎn)品個體之間的退化差異性,可分別設為服從某種概率分布的隨機參數(shù)[5,8,15-16]。為了便于統(tǒng)計分析,本文設服從如下共軛先驗分布:λ服從 Gamma分布,如;記,且服從如下條件正態(tài)分布,如,其中為超參數(shù)。

        相對于式(3)中基于固定參數(shù)逆 Gaussian過程推導出的 CDF,MEMS加速度計基于隨機參數(shù)逆Gaussian過程的CDF為

        2 個體剩余壽命預測方法

        圖1 產(chǎn)品剩余壽命示意圖Fig.1 Residual life of the product

        聯(lián)合后驗密度函數(shù) π (δ,λ|Y1:n)由Bayes公式推導出:

        其中,

        代入式(4),則:

        共軛先驗分布與其后驗分布具有相同的分布函數(shù),區(qū)別只是參數(shù)值的變化,據(jù)此從式(10)中推導出超參數(shù)的后驗估計、、、分別為

        當?shù)玫礁嗟默F(xiàn)場數(shù)據(jù)時,超參數(shù)的后驗估計值可不斷更新。將、、、、代入式(6),得到后驗剩余壽命的分布函數(shù),進一步可獲得后驗剩余壽命期望值。即為利用Bayes方法獲取的個體剩余壽命預測值。

        3 參數(shù)估計方法

        無論是進行總體壽命特征預測還是個體剩余壽命預測,前提是必須要獲得時間參數(shù)及超參數(shù)的估計值。

        3.1 估計時間參數(shù)

        3.2 估計超參數(shù)

        可首先估計出每個產(chǎn)品的逆Gaussian退化模型的參數(shù)值,然后再進一步利用每個產(chǎn)品對應的估計 ,然而,文獻[17-18]指出此兩步估計法的參數(shù)估計精度不如 EM(Expectation Maximization)算法,因此本節(jié)設計了EM算法一體化估計出。

        M-step:將式(17)中的各隱含數(shù)據(jù)項利用對應的期望值代替后,得到:

        式(26)中,ψ-1(?)為逆digamma函數(shù)。

        第L+1次迭代:

        4 案例應用

        對某型 MEMS加速度計的零位電壓輸出值進行了定期測量,發(fā)現(xiàn)此款產(chǎn)品的零位電壓輸出值在長期貯存過程中有逐漸增大的趨勢,將t時刻零位電壓測量值相當于初始時刻測量值的百分比增量

        表1 MEMS加速度計零位電壓的百分比增量Tab.1 The percentage increments of zero voltage of MEMS accelerometers

        4.1 總體壽命特征預測

        首先利用假設檢驗方法對每個樣品的性能退化是否為逆Gaussian過程進行驗證。假定每個樣品的性能退化為逆 Gaussian過程,并估計出每個樣品對應的退化模型參數(shù)值,如表2所示。根據(jù)文獻[5,17],如果 服從自由度為1的分布,則樣品性能退化服從逆Gaussian過程。設顯著性水平為0.05,采用Anderson-Darling方法判斷是否接受零假設,驗證出所有樣品的性能退化都服從逆Gaussian過程。

        表2 逆Gaussian退化模型參數(shù)估計值Tab.2 Parameter estimates of inverse Gaussian model

        利用式(16)對所有樣品的性能退化數(shù)據(jù)進行一體化參數(shù)估計,獲得極大似然估計值為。設超參數(shù)的初始值為,結束條件為10-5,利用 EM 算法經(jīng)過10751次迭代獲得超參數(shù)估計值為(138.230,0.008, 3.537, 0.056),迭代收斂過程如圖2所示。

        確定 MEMS加速度計基于隨機參數(shù)逆 Gaussian過程的CDF為

        從而得到累積失效概率變化曲線如圖3所示,根據(jù)圖中曲線可知產(chǎn)品在最初40 000 h前的失效風險幾乎為0,而50 000 h后失效風險明顯增加。

        圖2 超參數(shù)估計值的迭代收斂過程Fig.2 Iteration convergence process of hype-parameter estimates

        圖3 MEMS加速度計累積失效概率曲線Fig.3 Accumulative failure curves of MEMS accelerometer

        表3 總體壽命特征預測值及其置信區(qū)間Tab.3 The predictions and confidence intervals of the population life

        4.2 個體剩余壽命預測

        對樣品9的零位電壓進行了6次測量,各次測量時間及計算出的零位電壓百分比增量如表4所示。將表4中的數(shù)據(jù)作為現(xiàn)場信息,表1中的數(shù)據(jù)作為先驗信息,利用Bayes信息融合理論對樣品9的剩余壽命進行預測。

        表4 樣品9的零位電壓百分比增量Tab.4 The percentage increments of zero voltage of sample 9

        表5 超參數(shù)的后驗估計值Tab.5 The posteriori estimates of hyper-parameters

        圖4 超參數(shù)后驗估計值的更新過程Fig.4 The updating process of hyper-parameters’posteriori estimates

        如表6及圖5所示,得出如下主要結論:

        表6 剩余壽命預測值Tab.6 The residual life predictions

        1)在對個體性能退化測量較少的情況下,傳統(tǒng)方法無法預測出剩余壽命值,而本文所提方法克服了此缺陷;

        2)傳統(tǒng)方法獲得的壽命預測值波動幅度較大,顯示出預測結果具有較大的不確定性,而本文所提方法由于融合了充分的先驗信息,有效降低了預測結果的不確定性;

        3)由于本文方法采用了隨機參數(shù)的共軛先驗分布,每獲取新的性能退化數(shù)據(jù)后可立即更新超參數(shù)的后驗估計值,能夠實現(xiàn)個體剩余壽命的實時預測。

        圖5 個體剩余壽命估計情況Fig.5 Evaluation of the individual residual life

        5 結 論

        為了高效預測MEMS加速度計的總體壽命特征與個體剩余壽命,提出了基于逆Gaussian退化模型的一體化壽命預測方法。主要結論如下:

        1)MEMS加速度計零位電壓具有較為明顯的趨勢,以此作為性能退化指標毋須產(chǎn)品失效即可預測出產(chǎn)品的失效信息,進而實現(xiàn)產(chǎn)品的壽命預測,具有較好的工程應用價值。

        2)逆 Gaussian隨機過程具有良好的統(tǒng)計特性,利用隨機參數(shù)的共軛先驗分布函數(shù)可描述個體退化間的差異性,EM 算法提供了一種估計共軛先驗分布函數(shù)超參數(shù)值的有效手段。

        3)融合先驗信息和現(xiàn)場信息預測個體剩余壽命在現(xiàn)場退化數(shù)據(jù)有限的情況下是非常必要的,能夠克服僅利用現(xiàn)場退化數(shù)據(jù)預測的剩余壽命不確定性較大的缺陷。

        4)本文基于逆Gaussian退化模型將總體壽命預測方法與個體剩余壽命預測方法結合到一起,為產(chǎn)品壽命的融合預測提供了有益參考和借鑒。

        ):

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