申麗亞　楊清立

原磁場模擬測試系統(tǒng)系統(tǒng)搬入磁屏蔽間后，磁場模擬系統(tǒng)中磁標準傳感器三軸磁環(huán)（x軸、Y軸、Z軸）校準誤差均超出校準技術(shù)指標范圍，給后續(xù)測試產(chǎn)品帶來隱患。在檢測產(chǎn)品中發(fā)現(xiàn)：將調(diào)試合格的產(chǎn)品更換測試通道再檢測，其重要技術(shù)指標磁電轉(zhuǎn)換系數(shù)有3uV/nT左右的變化，測試產(chǎn)品一致性、可靠性很差，為保證該產(chǎn)品測試指標的一致性、可靠性，對磁屏蔽室內(nèi)環(huán)境進行相關(guān)測試、磁場模擬系統(tǒng)的三軸（x軸、Y軸、z軸）線性度、均勻性測試，分析其原因，尋求最佳測試產(chǎn)品工藝，保證該型產(chǎn)品測試可靠性，并適用于后續(xù)產(chǎn)品生產(chǎn)。

磁屏蔽間環(huán)境測量

測試方法。將PC磁力儀設(shè)備放置在磁屏蔽間中央地面上，采用充電寶供電方式。測試原理為：利用配套的磁力儀設(shè)備中的三軸磁通門磁傳感器實時采集磁屏蔽室內(nèi)的磁場信號，并轉(zhuǎn)換為電壓信號輸出，輸出的電壓通過數(shù)據(jù)采集模塊處理上傳給筆記本電腦，上位機軟件接收數(shù)據(jù)并實時顯示及保存留盤。最后通過MATLAB程序處理繪制出磁屏蔽室內(nèi)的磁場噪聲波形。

測試數(shù)據(jù)及分析。磁屏蔽間從通電到無電過程磁測試系統(tǒng)x、Y、z三軸數(shù)據(jù)波形。

通過對三軸波形圖的放大分析，三軸整體測試約10分鐘數(shù)據(jù)可以大致分為4個階段：第一階段為磁屏蔽間有電階段，可以看出磁屏蔽間在有電時三軸的本底直流偏量約25nT，測試的1分鐘數(shù)據(jù)波形可以看出有不規(guī)則的脈沖波形，波形峰值約47nT。第二階段為磁屏蔽間供電線纜物理斷開過程階段，該階段是將屏蔽間供電的物理連接線斷開抽出過程，此時通過數(shù)據(jù)波形可以看出有很大的脈沖干擾，脈沖磁場值約2900nT。第三個階段為磁屏蔽無電階段，可以看出磁屏蔽間在無電時三軸的本底直流偏量約20nT，測試的9分鐘數(shù)據(jù)可以看出磁場波動比較大，有脈沖和階躍式干擾信號，最大磁場波動有40nT。第四個階段為磁屏蔽間供電上電階段，從測試波形可以看出上電過程中會引起巨大的磁場波動，上電后波動變小。

磁屏蔽間環(huán)境測試結(jié)果。通過對上述數(shù)據(jù)分析，可以清晰的看到磁屏蔽間有電時存在很大的磁場干擾，嚴重影響測試系統(tǒng)指標的測量，說明磁屏蔽間供電系統(tǒng)帶入干擾。當磁屏蔽間無電時磁場干擾較小，利于磁產(chǎn)品的測量。因此，磁屏蔽間供電存在嚴重干擾信號，不利于磁產(chǎn)品的測量。

磁屏蔽間渦流效應測量。通過調(diào)試原系統(tǒng)軟件，調(diào)取過程數(shù)據(jù)，發(fā)現(xiàn)在測試過程中線性誤差主要發(fā)生在施加磁場的反向過程中，即正向加磁場，負方向的磁場發(fā)生器的磁場誤差大，反向加磁場，正方向的磁場發(fā)生器的磁場誤差大。見表1。

從測試的現(xiàn)象看，磁屏蔽房有明顯的磁渦流效應引起的反向磁場，導致磁場模擬系統(tǒng)的線性度下降。如果要達到技術(shù)指標要求的線性度，各測試點的誤差必須小于145nT。

磁模擬測試系統(tǒng)磁環(huán)的均勻性測試

為了減小磁屏蔽間對測量數(shù)據(jù)的影響，將磁環(huán)搬移到磁屏蔽室中央位置，x、Y軸磁環(huán)的空間均勻性得到較大改善。

z軸磁環(huán)受磁屏蔽間環(huán)境的影響，軸向空間均勻性較差，中平面的均勻性較好，鑒于此結(jié)果，檢測產(chǎn)品時，將測試產(chǎn)品均放置于磁環(huán)中平面位置，經(jīng)過對產(chǎn)品實際測試，滿足產(chǎn)品測量要求，且產(chǎn)品測試結(jié)果一致性、可靠性穩(wěn)定。

研究結(jié)論

從磁屏蔽間測試及磁模擬系統(tǒng)三軸磁環(huán)均勻性測試的結(jié)果分析，可以得出如下結(jié)論：磁屏蔽間對靜磁有明顯的屏蔽效果，環(huán)境的靜磁場大約40000nT，屏蔽室內(nèi)可以小于40nT，甚至更?。淮牌帘伍g對低頻磁場屏蔽效果有限，對于汽車通過等引起的磁場變化，僅能衰減6dB；生產(chǎn)環(huán)境產(chǎn)生的低頻干擾會大量的進入屏蔽室。磁力儀的測試結(jié)果證明了這一點；屏蔽間有磁渦流效應，該效應影響了磁場模擬系統(tǒng)的線性度。通過對磁環(huán)空間均勻性測試，x、Y軸空間均勻性較好，z軸中平面均勻性滿足產(chǎn)品測試要求。檢測產(chǎn)品時，將測試產(chǎn)品均放置于磁環(huán)中平面位置滿足產(chǎn)品測量要求。

（作者單位：山西汾西重工有限責任公司）endprint